JPH04329513A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JPH04329513A
JPH04329513A JP12844491A JP12844491A JPH04329513A JP H04329513 A JPH04329513 A JP H04329513A JP 12844491 A JP12844491 A JP 12844491A JP 12844491 A JP12844491 A JP 12844491A JP H04329513 A JPH04329513 A JP H04329513A
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JP
Japan
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light
laser
collimator lens
laser light
scanning
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JP12844491A
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English (en)
Inventor
Jun Koide
純 小出
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光走査装置に関し、特に
レーザ光源からの光変調したレーザ光で感光体や静電記
録体等の像担持体である被走査面を光走査することによ
り、画像形成するようにした例えば電子写真プロセスを
有するレーザービームプリンターやカラーレーザービー
ムプリンター、マルチカラーレーザープリンター等の装
置に好適な光走査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりレーザービームプリンター等の
光走査装置に於いては、像担持体面上を光変調されたレ
ーザ光(光束)で光走査することにより画像情報の書き
込み等を行っている。
【0003】図8は従来の光走査装置の要部概略図、図
9は図8の光走査装置を主走査断面内において光路を展
開したときの要部概略図、図10は図8の光走査装置を
副走査断面内において光路を展開したときの要部概略図
である。
【0004】図8〜図10に於いて半導体レーザー等の
光源部101より出射した光束をコリメーターレンズ1
02により平行光束とし絞り103を介し副走査方向に
のみ屈折力を持つシリンドリカルレンズ104で集光し
、回転多面鏡等から成る光偏向器105の偏向反射面1
05aへ線状に入射させている。
【0005】該偏向反射面105aで反射偏向させた光
束を走査レンズ106に依って被走査面107上に導光
し、スポットを形成している。そして前記光偏向器10
5を回転軸105cを中心にモーター等の駆動手段(不
図示)により矢印105b方向に回転させることにより
被走査面107上を矢印107a方向に光走査している
【0006】一般にレーザービームプリンターやレーザ
ービーム複写機等における光走査装置では光源部として
半導体レーザやHe−Neレーザ等を用いている。これ
らのレーザ光源から放射されるレーザ光の光振幅強度分
布は図11に示すようにガウシアン分布をしている。従
来の光走査装置ではこのガウシアン分布のレーザ光を利
用してコリメーターレンズや絞りを介して像担持体面上
に導光して光走査を行っている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の光走査装置では
図11に示すガウシアン分布の光振幅強度分布を有した
レーザ光のうち実線で示す中央部分111aのレーザ光
を用いている。そして、このような光振幅強度分布のレ
ーザ光を走査レンズ系で被走査面上に集光しスポットを
形成している。
【0008】このときの被走査面上のレーザ光のスポッ
トの光強度分布は図11の光振幅強度分布をフーリエ変
換し、自乗したものとなり、図12に示すような輪帯状
のサイドローブを有した光強度分布のレーザ光となって
くる。
【0009】従ってこのようなスポット形状のレーザ光
を用いて光走査し画像形成を行うと各画素の周辺に輪帯
が生じ、画像全体がガサついた低品位の画像となってく
るという問題点があった。
【0010】本発明はレーザ光源からのレーザ光を2つ
のコリメーターレンズと絞りを利用し、レーザ光の光振
幅強度分布がベッセル分布となるようにして、被走査面
上に導光し、被走査面上で良好なる形状の光強度分布の
光束として光走査を行うことができるようにし、これに
よりサイドローブのあるガウシアン分布のレーザ光を用
いて光走査した場合に比べてエッジの切れが良く、ノイ
ズの少ない高品位の画像が容易に得られる光走査装置の
提供を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の光走査装置は、
レーザ光源からの光変調したレーザ光を第1コリメータ
ーレンズで平行光束に変換して、絞りに入射させ、該絞
りで回折したレーザ光を第2コリメーターレンズで平行
光束に変換した後、光偏向器に入射させ、該光偏向器で
偏向させたレーザ光を像担持体面上に導光させて光走査
するようにしたことを特徴としている。
【0012】この他本発明では、前記絞りで回折したレ
ーザ光をビームコンプレッサーに入射させ、該回折光の
回折角を拡大させた後、前記第2コリメーターレンズに
入射させていることや前記第1コリメーターレンズから
のレーザ光をビームコンプレッサーを介した後に前記絞
りに入射させていること等を特徴としている。
【0013】
【実施例】図1は本発明の実施例1の要部概略図、図2
は図1の主走査断面内における光路を展開したときの要
部概略図、図3は図1の副走査断面内における光路を展
開したときの要部概略図である。
【0014】図1〜図3において、1は半導体レーザー
等から成る光源部(レーザ光源)であり、該光源部1か
ら出射された光束(レーザ光)は第1コリメーターレン
ズ2により略平行光束とされ、小径の開口の絞り3に入
射する。
【0015】絞り3に入射した光束は回折し、発散光束
となって絞り3から射出する。絞り3からの回折光は第
2コリメーターレンズ4により平行光束とされ、光束絞
り5によってその光束断面の大きさが整形されてシリン
ドリカルレンズ6に入射する。
【0016】シリンドリカルレンズ6は副走査断面に関
しては屈折力を持ち主走査断面に関しては屈折力を持っ
ていない。この為シリンドリカルレンズ6を通過した光
束は主走査断面では平行光束で、副走査断面ではほぼ線
状に結像されて光偏向器である回転多面鏡7の偏向面7
aに入射する。回転多面鏡7は矢印7bの方向に等速で
高速回転しており、回転多面鏡7の偏向面(反射面)7
aの点Pに入射した該光束は反射されて主走査断面にお
いて偏向走査され、アナモフィック系より成る走査レン
ズ系8に入射する。
【0017】走査レンズ系8は主走査断面と副走査断面
において屈折力の異なるトーリック面を有するレンズを
有している。(図では1枚のレンズしか示していないが
通常球面レンズとトーリックレンズの2つのレンズより
成っている。)走査レンズ系8は主走査断面内において
f−θ特性を有しており、走査レンズ系8を通過した光
束は被走査面である感光ドラム(像担持体)9面上に結
像されてその面上を略等速度直線運動で光走査する。
【0018】尚、図1〜図3においてPは回転多面鏡7
の反射面7aの反射位置を示しており、副走査断面にお
ける光束は上述した様にシリンドリカルレンズ6を介し
略この反射位置Pに集光される。
【0019】ここで図3に示すように副走査断面内にお
いて反射位置Pと感光ドラム9は光学的にほぼ共役な関
係に設定されているので、例えば反射面7aが副走査断
面において回転軸7cに対して平行でなく倒れても(即
ち面倒れがあっても)、又回転多面鏡7が回転に伴って
才差運動を起こしても、更に回転多面鏡7の各反射面の
角度が相対的に異っていても光束は感光ドラム9上の同
一走査線上に結像される。このようにして走査レンズ系
8は所謂回転多面鏡7の反射面7aの面倒れ補正系を構
成している。
【0020】次に本実施例において感光ドラム面9上に
入射する光束の光強度分布について説明する。
【0021】一般に半導体レーザやHe−Neレーザ等
のレーザ光源から放射されるレーザ光の光振幅強度分布
はガウシアン分布をしている。本実施例において第1コ
リメータレンズ2を通過した点aにおける光束の光振幅
強度分布はレーザ光源1からの光振幅強度分布と同様に
図4に示すようなガウシアン分布となっている。
【0022】そして図4の斜線部分に相当する光束のみ
を小径開口の絞り3に入射させている。絞り3で入射光
束を回折させて該回折光を第2コリメーターレンズ4で
所定のビーム径の平行光束に変換し、光束絞り5を通過
させて、外側の不要な光束を遮光している。
【0023】このとき光束絞り5を通過した点bにおけ
る光束の光振幅強度分布は絞り3と第2コリメーターレ
ンズを介することにより変換されて図5に示す第1種1
次のベッセル分布となってくる。
【0024】以後、図5に示すベッセル分布の光振幅強
度を有した光束をシリンドリカルレンズ6を介して回転
多面鏡7によって偏向し、走査レンズ系8によって感光
ドラム面9に集光している。このとき感光ドラム面9(
点c)上での光束の光強度分布は図6に示す円筒形に近
い光強度分布となっている。
【0025】即ち、感光ドラム面9上ではベッセル分布
の光束が走査レンズ系5を介することによりフーリエ変
換され円筒形状に近い光振幅分布となり、これが2乗さ
れて図6に示す略円筒形状の光強度分布となってくる。
【0026】本実施例では図6に示す略円筒形状の光強
度分布の光束で感光ドラム面9上を光走査することがで
きるので従来の図12に示す光強度分布の光束を用いた
場合に比べて高品位の画像形成が可能となる。
【0027】図7(A)、(B)は本発明の実施例2、
3の一部分の要部概略図である。
【0028】図7(A)の実施例2ではレーザ光源1か
ら放射された光束を第1コリメーターレンズ11で平行
光束に変換し、比較的大きな開口の絞り12に入射させ
ている。そして絞り12によって入射光束を僅かに回折
させて、このときの回折光71aの回折角を2つのレン
ズ13a,13bより成るビームコンプレッサー13に
よって拡大した光束71bとして第2コリメーターレン
ズ4に入射させている。これによりレーザ光源1からの
光束の有効利用を図っている。
【0029】第2コリメーターレンズ4は入射光を平行
光束として射出させており第2コリメーターレンズ4を
通過後の光束は図1の実施例と同じである。
【0030】図7(B)の実施例3ではレーザ光源1か
ら放射された光束を第1コリメーターレンズ11で平行
光束とし、2つのレンズ13a,13bより成るビーム
コンプレッサー13によって光束の光エネルギー密度を
増加させた後、小径開口の絞り15に入射させている。 そして絞り15で回折させた回折光を第2コリメーター
レンズ4で平行光束としている。
【0031】これにより図7(A)の実施例2と同様に
レーザ光源1からの光束の有効利用を図っている。第2
コリメーターレンズ4を通過後は図1の実施例と同じで
ある。
【0032】
【発明の効果】本発明によればレーザ光源からのレーザ
光を前述の如く2つのコリメーターレンズと絞りを、又
必要に応じてビームコンプレッサーを利用し、レーザ光
の光振幅強度分布がベッセル分布となるようにして、被
走査面上に導光し、被走査面上で良好なる円筒形状の光
強度分布の光束として光走査を行うことができるように
し、これによりサイドローブのあるガウシアン分布のレ
ーザ光を用いて光走査した場合に比べてエッジの切れが
良く、ノイズの少ない高品位の画像が容易に得られる光
走査装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1の要部概略図
【図2】図1の
主走査断面内の要部概略図
【図3】図1の副走査断面内
の要部概略図
【図4】図2の点aにおける光束の光振幅
強度分布の説明図
【図5】図2の点bにおける光束の光振幅強度分布の説
明図
【図6】図2の点cにおける光束の光強度分布の説明図
【図7】本発明の他の実施例の要部概略図
【図8】従来
の光走査装置の要部概略図
【図9】図8の主走査断面内
の要部概略図
【図10】図8の副走査断面内の要部概略
【図11】図9の点dにおける光束の光振幅強度分布
の説明図
【図12】図9の点eにおける光束の光強度分布の説明
【符号の説明】
1  レーザ光源 2,11  第1コリメーターレンズ 3,12,15  絞り 4  第2コリメーターレンズ 5  光束絞り 6  シリンドリカルレンズ 7  光偏向器 8  走査レンズ系 9  被走査面 13  ビームコンプレッサー

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  レーザ光源からの光変調したレーザ光
    を第1コリメーターレンズで平行光束に変換して、絞り
    に入射させ、該絞りで回折したレーザ光を第2コリメー
    ターレンズで平行光束に変換した後、光偏向器に入射さ
    せ、該光偏向器で偏向させたレーザ光を像担持体面上に
    導光させて光走査するようにしたことを特徴とする光走
    査装置。
  2. 【請求項2】  前記絞りで回折したレーザ光をビーム
    コンプレッサーに入射させ、該回折光の回折角を拡大さ
    せた後、前記第2コリメーターレンズに入射させている
    ことを特徴とする請求項1の光走査装置。
  3. 【請求項3】  前記第1コリメーターレンズからのレ
    ーザ光をビームコンプレッサーを介した後に前記絞りに
    入射させていることを特徴とする請求項1の光走査装置
JP12844491A 1991-04-30 1991-04-30 光走査装置 Pending JPH04329513A (ja)

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JP12844491A JPH04329513A (ja) 1991-04-30 1991-04-30 光走査装置

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ID=14984877

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JP12844491A Pending JPH04329513A (ja) 1991-04-30 1991-04-30 光走査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013171288A (ja) * 2012-02-21 2013-09-02 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd レーザスキャン装置及びレーザスキャン方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013171288A (ja) * 2012-02-21 2013-09-02 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd レーザスキャン装置及びレーザスキャン方法

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