JPH0434319A - 微小振動測定装置 - Google Patents

微小振動測定装置

Info

Publication number
JPH0434319A
JPH0434319A JP14199890A JP14199890A JPH0434319A JP H0434319 A JPH0434319 A JP H0434319A JP 14199890 A JP14199890 A JP 14199890A JP 14199890 A JP14199890 A JP 14199890A JP H0434319 A JPH0434319 A JP H0434319A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
weight
vibration
tunnel current
conductive part
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14199890A
Other languages
English (en)
Inventor
Masakazu Hayashi
正和 林
Fumihiko Ishida
文彦 石田
Tamiyoshi Yasunaga
安永 民好
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP14199890A priority Critical patent/JPH0434319A/ja
Publication of JPH0434319A publication Critical patent/JPH0434319A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、微小な振動を広帯域に亘って測定することが
可能な微小振動測定装置に関する。
(従来の技術) 例えば、従来の振動測定装置は、振動変位計と振動加速
度計とに大別される。このうち振動変位計としては、お
もり、ばね、および電磁誘導検出器等を利用するものが
あり、一般にこのタイプのものの特性は、例えば、帯域
が1〜200Hzであり、感度が数1100n以上であ
る。
(発明が解決しようとする課題) ところで、これらのうち振動変位計を例にとると、振動
変位計には、帯域が1〜200Hzと狭く、特に1 、
k Hz以下の成分を測定することができないという不
具合がある。また、感度が100ni(0,1μm)程
度であり、例えば除振台の上でしばしば問題となるよう
な、これ以下の小さなレヘルの振動成分を測定すること
ができないという不具合がある。
本発明の目的とするところは、広い帯域に亘って、微小
な振動を高感度で測定することが可能な微小振動測定装
置を提供することにある。
[発明の構成〕 (課題を解決するための手段および作用)上記目的を達
成するために本発明は、外部振動を受けて振動する筐体
と、導電部を有し筐体に取付けられるとともに筐体の振
動を反映して導電部の位置を一定に保つ振動体と、導電
部に対して近接するとともに離間し筐体と一体に変位す
る探針と、この探針の位置を導電部に対して微調整する
位置調整体とを備え、探針と導電部との間のトンネル電
流を検出し、探針と導電部との相対変位に伴うトンネル
電流の変化を基にして振動測定を行うようにしたことに
ある。
こうすることによって本発明は、DC近傍から数kHz
までに亘る広い帯域に亘って、数μm以下の微小な振動
をO,lnm程度の超高感度で測定できるようにしたこ
とにある。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を第1図〜第3図に基づいて説
明する。
第1図は本発明の一実施例を示すもので、図中1は微小
振動測定装置(以下、測定装置と称する)、2はこの測
定装置1の本体を示している。
上記本体2には、例えば気密的に形成された立方形で箱
状の筐体3が設けられている。そして、この筐体3はそ
の内部空間を、外部の音響振動や気流の流れ、および温
度変化等に対して遮断するようになっている。
また、筐体3には、筐体3の中に位置する探針4(後述
する)を一体に連結された探針送り機構部5が設けられ
ている。そして、この探針返り機構部5には粗動送り機
構部6と、筐体3の内側に位置する位置調整体としての
微動送り機構部7とが同軸的に設けられている。
このうち粗動送り機構部6は、分解能が0. 1〜1μ
m程度のマイクロメータを応用したもので、上下方向、
即ち図中に示す直交座標の2方向に伸縮するようになっ
ている。そして、粗動送り機構部6は筐体3の天井部を
上下に貫通した状態で筐体3に一体に固定されており、
その上端部を筐体3の外側に、また、下端部を筐体3の
内側に位置させている。
また、上記微動送り機構部7は、単層型或いは積層型の
圧電(電歪)素子を用いたもので、上記探針4を細かく
位置決めするようになっている。
さらに、この微動送り機構部7は粗動送り機構部6の下
端部に一体に連結されている。そして、微動送り機構部
7は、その移動分解能を0.001〜lnmに設定され
ており、さらに、その2方向の移動ストロークを0.5
〜50μmに設定されている。
上記探針(Tunneling Tjp) 4は白金等
の導電性物質を加工してなるもので、その先端を鋭利に
尖らせている。そして、この探針4は、絶縁性のガラス
等からなる探針ホルダ8により保持されており、この探
針ホルダ8を介して、微動機構部7に一体に固定されて
いる。そして、探針4は、筐体3の外側から粗動機構部
6を操作されることにより2方向に大まかに変位し、さ
らに、微動機構部7が電歪する二とにより同じくz方向
に細かく変位するようになっている。
二こでは、探針4の先端は、電解研磨や電解エツチング
等により加工したものを用いている。
さらに、第1図中に9で示すのは、銅やばね鋼等を加工
してなる振動吸収体としての板ばねである。この板ばね
9は、筐体3の内部の下側に配置されており、探針4の
下方に位置している。そして、板ばね9は、その外枠1
0を筐体3に一体に固定されており、筐体3内で略水平
に保持されている。
また、板ばね9は、第2図中に示すようにその板面に、
例えば打抜かれてなるパターンを形成されている。つま
り、板ばね9は、矩形状の外枠10と、この外枠10の
内側中央部に位置し、後述する導電部としての錘11を
保持した正方形状の錘保持部12とを有している。さら
に、板ばね9は、外枠10の各辺の内縁部と錘保持部1
2の各辺の外縁部との間に形成され、その中間の複数箇
所を略直角に折曲されてX方向とy方向とに延びる鉤状
の、4つのばね部13・・・を有している。
上記#111は、例えば導電性の材料からなるもので、
板ばね9の錘載置部12に載置固定されている。そして
、錘11はその真円状の上面を平坦に加工されており、
さらに、この上面の加工を、例えばフロートポリッシン
グ加工等により極めて高精度に行われている。そして、
錘11はその上面を探針4に下側から対向させており、
その上面と探針4との間隔を、錘11と探針4との間に
生じたトンネル電流を検出できる程度に保たれている。
また、この測定装置1には、第3図に示すような制御系
14が設けられている。そして、この制御系14は、探
針4と錘11との間のトンネル電流を受ける電流電圧変
換器15、対数増幅器16、設定電圧源17、作動増幅
器18、積分器19、および、微動機構部7へ出力する
高圧増幅器20等を備えている。そして、制御系14は
、検出したトンネル電流を基に探針4と錘11との距離
をフィードバック制御し、測定装置1は、探針4と錘1
1との距離を常に一定に保つようになっている。
つまり、上述の測定装置1は、粗動機構部61;より探
針4を2軸方向に変位させ、探針4の先端を錘11の上
面に近付ける。そして、探針4と錘11との間にトンネ
ル電流を検出した時点で探針4の粗動を止める。そして
、筐体3が静止した状態にあるときには、一定の値のト
ンネル電流を検出する。
また、測定装置1は、筐体3に外部振動を受けた場合に
は、筐体3を外部振動に応じて振動させる。そして、こ
の外部振動を粗動機構部6および微動機構部7を介して
探針4に伝え、探針4を筐体3と一体に変位させる。さ
らに、筐体3の振動を板ばね9の外枠に伝達し、筺体3
の振動に応じて板ばね9のばね部13を例えば2方向に
弾性変形させる。そして、筐体3は振動し、板ばね9に
より錘11の位置は慣性的に一定に保たれる。したかっ
て、探針4と錘保持部]3上に固定された錘11との2
方向の相対変位はZ振幅となる。
さらに、測定装置1は、探針4と錘11との相対変位に
伴って変化したトンネル電流を、第3図中に示すように
制御系14に入力し、電流電圧変換器15でその電流値
に応じた電圧に変換する。
そして、この電圧を対数増幅器16で増幅し、作動増幅
器18に送る。
そして、測定装置1は、この作動増幅器18により、対
数増幅器16の出力電圧と、設定電圧源17の出力電圧
との偏差を求め、この偏差に応じた電圧を積分器19で
積分処理する。そして、積分処理された電圧を、探針4
と錘11との相対変位量をあられす変位信号21として
、図示しない表示装置等へ取出す。
また、測定装置1は、積分器19からの積分電圧を高圧
増幅器20に印加し、この高圧増幅器20で増幅して微
動機構部7へ入力する。そして、高圧増幅器20の出力
に応じて微動機構部7を電歪させ、探針4を錘11に追
従させて、両部材4.11の2方向の距離を、トンネル
電流の値が筐体3の振動前の値に一致するよう修正する
すなわち、この測定装置1では、探針4と錘11との間
のトンネル電流を基に両部材4.11の変位量を求めて
振動の測定を行っているので、広い帯域に亘って、微小
な振動を高感度でmJ定することができる。
つまり、この測定装置1では、探針4と錘11との間の
相対変位量は、微動機後部7に印加される電圧を換算す
ることにより求められる。そして、例えば、微動機後部
7の圧電素子として05μm/1kVのもの、高圧増幅
器2oとしてS/N−10−5のものを用いると、外部
振動に対して区別することが不可能な電気ノイズは、0
.5μmx]、oo−5−5pとなり、逆にこれが振動
振幅の分解能となる。
しかし、一般に錘]1の表面には原子の凹凸か存在する
ため、この原子の凹凸の値である0、〕nm程度か、現
状の測定の限界となる。
また、測定装置1は制御系14においてフィードバック
制御を行っているため、制御系14の構成要素のうちの
最も帯域の狭いものによって測定帯域を決定される。そ
して、制御系14の構成要素のうちの最も帯域の狭いも
のは、現状では高圧増幅器20であり、高圧増幅器20
の帯域は数kHz〜数100kHzである。このため、
測定装置1の測定帯域は、数kHz (微動機構部7へ
例えばlkVを出力する場合)〜数100kHz(微動
機構部7へ例えば数100Vを出力する場合)となる。
そして、これらのことから、DC近傍から数kHzまで
に亘って、0.1nmオーダの振動を測定することが可
能になる。
また、この測定装置1は、従来の振動変位計や振動加速
度計等に比べて構成要素を少なく設定することができる
ため、小型で軽量なものとすることができる。
さらに、板ばね9にパターンを形成し、錘11を載置し
た錘保持部12をX方向およびX方向に延びるばね部1
3・・・で支えているので、板ばね9の2方向の剛性を
X方向およびX方向の剛性よりも大幅に小さく設定する
ことができる。そして、錘11に関するX5YsZの3
方向の各ばね定数kxSk、、k、の関係を、k、/に
、>100、k、/に、>100とすることができる。
したがって、この測定装置1では、錘11の上記3方向
の固有振動数ω8、ω7、ω8の関係を、ω8/ω、〉
10、ω、/ω8〉10とすることができ、X方向、X
方向の振動の影響をほとんど受けることなく、2方向の
みの振動を検出して測定することができる。
なお、導電部としての錘11の全体に導電性の材料を用
いる必要はなく、例えば、錘11に絶縁性の材料を採用
し、この錘11の上面を金などでコーティングして導電
部を形成するようにしてもよい。
また、錘11に関するばね定数には、板ばね9に同一の
材料を用いた場合でも、板ばね9のパターンの変更に伴
って変化する。つまり、固有振動数ω、ばね定数に1お
よび錘の質量Mの関係、ω−JTフ]W から、ばね定数kを変化させることにより、錘11に関
する固有振動数ωを任意に設定することができる。
そして、本実施例では錘保持部12を正方形状とし、ば
ね部13・・・をX方向およびX方向に延びる鉤形とし
ているが、本発明はこれに限定されるものではなく、板
ばね9のパターンを、例えば第4図および第5図に示す
ように設定してもよい。
つまり、第4図に示す板ばね9は、錘保持部12を真円
形状とし、ばね部13・・・を、錘保持部12の径方向
に延び互いに約90度間隔で配置された直線状としてい
る。また、第5図に示す板ばね9は、錘保持部12を正
方形状とし、ばね部13・・・を錘保持部12の側へ徐
々に広幅になるよう成形するとともに約90度間隔で配
置している。
また、本実施例では、振動体として板ばね9を採用して
いるが、本発明はこれに限定されるものではなく、例え
ば、振動体としてコイルスプリングを採用してもよい。
また、振動体の材質には、金属の外に、ゴムなどの高分
子材料を採用してもよい。
さらに、前述の実施例では、1゛軸方向(Z軸方向)の
みの振動を測定するようにしているが、探針4や探針送
り機構部5、および錘11等を、体的に例えば2.3軸
方向に組合わせて複数方向の振動を同時に測定できるよ
うにしてもよい。
そして、複数方向の微小な振動を測定する装置として、
第6図に示すようなものが考えられる。
すなわち、この測定装置1aは、1つの錘11を筐体3
の中央部に、振動体としてのコイルスプリング22・・
・により支持するとともに、複数の探針4.4を、錘1
1に複数方向から近接するよう配設している。
また、筐体3の内部に例えばN2ガスやArガスなどの
不活性ガスを封入するようにしてもよい。
[発明の効果] 以上説明したように本発明は、外部振動を受けて振動す
る筐体と、導電部を有し筐体に取付けられるとともに筐
体の振動を反映して導電部の位置を慣性的に一定に保つ
振動体と、導電部に対して近接するとともに離間し筐体
と一体に変位する探針と、この探針の位置を導電部に対
して微調整する位置調整体とを備え、探針と導電部との
間のトンネル電流を検aし、探針と導電部との相対変位
に伴うトンネル電流の変化を基にして振動測定を行うよ
うにしたものである。
したがって本発明は、DC近傍から数kHzまでに亘る
広い帯域に亘って、数μm以下の微小な振動を0.ln
m程度の超高感度で測定できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の一実施例を概略的に示すもの
で、第1図は側断面図、第2図は板ばねの平面図、第3
図は制御系を示すブロック図、第4図〜第6図は変形例
を示すもので、第4図および第5図は板ばねを示す平面
図、第6図は複数方向の振動を測定できるようにしたも
のの側断面図である。 1・・・微小振動測定装置、3・・・筐体、4・・・探
針、7・・・微動機構部(位置調整体) 9・・・板ば
ね(振動体)、11・・・錘(導電部)。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  外部振動を受けて振動する筐体と、導電部を有し上記
    筐体に取付けられるとともに上記筐体の振動を反映して
    上記導電部の位置を一定に保つ振動体と、上記導電部に
    対して近接するとともに離間し上記筐体と一体に変位す
    る探針と、この探針の位置を上記導電部に対して微調整
    する位置調整体とを備え、上記探針と上記導電部との間
    のトンネル電流を検出し、上記探針と上記導電部との相
    対変位に伴う上記トンネル電流の変化を基にして振動測
    定を行う微小振動測定装置。
JP14199890A 1990-05-31 1990-05-31 微小振動測定装置 Pending JPH0434319A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14199890A JPH0434319A (ja) 1990-05-31 1990-05-31 微小振動測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14199890A JPH0434319A (ja) 1990-05-31 1990-05-31 微小振動測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0434319A true JPH0434319A (ja) 1992-02-05

Family

ID=15305011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14199890A Pending JPH0434319A (ja) 1990-05-31 1990-05-31 微小振動測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0434319A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6829941B2 (en) * 2002-10-10 2004-12-14 Andrey Gennadievich Alexenko Tunnel effect nanodetector of mechanical vibrations and method for preparation thereof
GB2497482B (en) * 2010-09-02 2016-08-03 Baker Hughes Inc Acoustic transducers using quantum tunneling composite active elements

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6829941B2 (en) * 2002-10-10 2004-12-14 Andrey Gennadievich Alexenko Tunnel effect nanodetector of mechanical vibrations and method for preparation thereof
GB2497482B (en) * 2010-09-02 2016-08-03 Baker Hughes Inc Acoustic transducers using quantum tunneling composite active elements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Liu et al. A high-precision, wide-bandwidth micromachined tunneling accelerometer
US3926271A (en) Microbalance
US4344004A (en) Dual function transducer utilizing displacement currents
US7714584B2 (en) Gravity gradiometer
US7559149B2 (en) Gravity gradiometer
JP2008070373A (ja) 多次元容量変換器
JPH08338776A (ja) センサ範囲を拡張した超小型機械式圧力ゲージ
US3519095A (en) Precision electromagnetic balance
US5563344A (en) Dual element electron tunneling accelerometer
JPH0617705B2 (ja) 動的耐振装置
Hao et al. A micromechanical mode-localized voltmeter
US4267731A (en) Force balanced vibratory rate sensor
JP3314187B2 (ja) 慣性質量測定器の力補償器
US7600429B2 (en) Vibration spectrum sensor array having differing sensors
US20060267596A1 (en) Spring constant calibration device
JPH0434319A (ja) 微小振動測定装置
Johnson et al. An acoustically driven Kelvin probe for work‐function measurements in gas ambient
Pike et al. Design, fabrication and testing of a micromachined seismometer with NANO-G resolution
JP3561344B2 (ja) サーボ型速度・変位センサ
JPH109944A (ja) 振動センサ
Auerswald et al. MEMS acoustic emission sensor with mechanical noise rejection
JPH07243846A (ja) 変位測定プローブ
JPH10332504A (ja) 圧力センサ
US3948087A (en) Vibration apparatus for minute vibrations
JP4522143B2 (ja) 真空計