JPH0434462Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0434462Y2 JPH0434462Y2 JP1985036598U JP3659885U JPH0434462Y2 JP H0434462 Y2 JPH0434462 Y2 JP H0434462Y2 JP 1985036598 U JP1985036598 U JP 1985036598U JP 3659885 U JP3659885 U JP 3659885U JP H0434462 Y2 JPH0434462 Y2 JP H0434462Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diode
- pipe
- air
- opening
- diodes
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- Expired
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、第２図に示すように、素子１を電極
となる一対のデユメツト２，２の間に挟み込んで
ガラスパイプ３内に封着して構成されるリードレ
ス型ダイオードの電気的特性を測定検査する前工
程に利用される装置に関する。[Detailed description of the invention] (Industrial application field) As shown in FIG. The present invention relates to a device used in a pre-process for measuring and inspecting the electrical characteristics of a leadless diode constructed of leadless diodes.
（従来の技術）
リードレス型ダイオードは、形状が単純である
ため、チユーブに縦列状に供給してエアーで圧送
することがよく行なわれるのであるが、このエア
ー移送においては、チユーブの出口から送り出さ
れたダイオードは、受け止め部材に相当の勢いで
受け止められることが多く、軸心方向に衝撃を受
ける。(Prior art) Because leadless diodes have a simple shape, they are often supplied to a tube in tandem and pumped with air. A diode that has been removed is often received by the receiving member with considerable force, and is subjected to an impact in the axial direction.
ところが、この種のダイオードは軸心方向に衝
撃を受けると、素子１とデユメツト２との接触状
態が悪化してその電気的特性が劣化したり、時に
は完全な接触不良を招くおそれがある。そこで、
従来は、このようなダイオードに予め外部から機
械的な振動を加えた後、その電気的特性を測定検
査することにより、品質管理を行うようにしてい
る。 However, if this type of diode is subjected to an impact in the axial direction, the contact between the element 1 and the dumet 2 may deteriorate, resulting in deterioration of its electrical characteristics or, in some cases, a complete contact failure. Therefore,
Conventionally, quality control has been carried out by applying mechanical vibrations to such diodes from the outside in advance and then measuring and inspecting their electrical characteristics.
（考案が解決しようとする問題点）
しかしながら、上記のように、単にダイオード
に外部から機械的な振動を加えただけでは、軸心
方向の衝撃の再現性には程遠く、このため、この
ような加振検査では耐久性の品質管理を行う上で
不十分なものであつた。(Problem to be solved by the invention) However, as mentioned above, simply applying mechanical vibration to the diode from the outside is far from reproducible in the axial direction; The vibration test was insufficient for quality control of durability.
本考案は、このような事情に鑑みてなされたも
のであつて、電気的測定検査の前工程として簡単
にダイオードに軸心方向衝撃を与えて、その耐久
性を確認できる装置を提供しようとすることを目
的とする。 The present invention was developed in view of these circumstances, and aims to provide a device that can easily apply an axial shock to a diode and check its durability as a pre-process of electrical measurement and inspection. The purpose is to
（問題点を解決するための手段）
本考案は、このような目的を達成するために、
ダイオード装填口を備えたパイプに、ダイオード
圧送用エアーを供給可能に構成するとともに、こ
のパイプのエアー排出側の開口に対向して固定壁
を設置した構造とした。(Means for solving the problem) In order to achieve this purpose, the present invention
A pipe equipped with a diode loading port is configured to be able to supply air for pressure feeding the diode, and a fixed wall is installed opposite the opening on the air discharge side of this pipe.
（作用）
上記構造の装置に、ダイオードを供給してエア
ー圧送をすればそのダイオードがパイプから出て
固定壁に衝突することで、実際のエアー移送時に
匹敵する軸心方向衝撃をこのダイオードに与える
ことができる。(Function) When a diode is supplied to the device with the above structure and air is pumped, the diode comes out of the pipe and collides with the fixed wall, giving the diode an axial shock comparable to that during actual air transfer. be able to.
（実施例）
以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。第１図に示すように、ベース４上
には、ダイオード５の外径よりやや大径の内径を
有するパイプ６が横架固定され、その一端は図外
のコンプレツサー等のエアー源から導かれたエア
ー圧送ホース７が接続されている。また、パイプ
６の一端側箇所には、ダイオード５を横向き姿勢
で挿入する装填口８が開口されるとともに、これ
には蓋９が装備されている。パイプ６の他端開口
１０の対向位置には、圧送されて排出されたダイ
オード５を受け止める固定壁１１がベース４から
立設されるとともに、受け止めされたダイオード
５を回収するシユート１２が設けられている。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings. As shown in Fig. 1, a pipe 6 having an inner diameter slightly larger than the outer diameter of the diode 5 is horizontally fixed on the base 4, and one end of the pipe 6 is led from an air source such as a compressor (not shown). An air pressure feed hose 7 is connected. Further, a loading opening 8 into which the diode 5 is inserted in a horizontal position is opened at one end of the pipe 6, and a lid 9 is provided on this opening. At a position opposite to the opening 10 at the other end of the pipe 6, a fixed wall 11 is erected from the base 4 to receive the diodes 5 that have been pumped and discharged, and a chute 12 is provided to collect the received diodes 5. There is.
この装置は、電気的測定検査を受ける前のダイ
オードに軸心方向衝撃を与えるものであつて、検
査を能率的に行うためには、装填口８へのサンプ
ルの供給、蓋９の開閉、エアー供給、および回収
したダイオード５の電気的検査装置への供給等を
一連に自動化できるよう構成することが望まれ
る。 This device applies an axial shock to the diode before it undergoes an electrical measurement test.In order to perform the test efficiently, it is necessary to supply the sample to the loading port 8, open and close the lid 9, and It is desirable to have a configuration that can automate the supply, the supply of the collected diode 5 to the electrical testing device, etc. in a series.
（効果）
以上のように、本考案装置を用いることで、実
際のエアー移送時と同条件か、もしくはこれに近
い状態でダイオードに軸心方向衝撃を与えること
ができるので、実用条件下での耐衝撃性の評価を
簡単にかつ確実に行えるようになつた。(Effects) As described above, by using the device of the present invention, it is possible to apply an axial shock to the diode under the same or similar conditions as during actual air transfer, so it is possible to Impact resistance can now be evaluated easily and reliably.
第１図は本考案の実施例に係る送致の斜視図、
第２図はチツプ型ダイオードの断面図である。
図中、符号６はパイプ、８はダイオード装填
口、１０は開口。
FIG. 1 is a perspective view of a delivery system according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a cross-sectional view of a chip diode. In the figure, numeral 6 is a pipe, 8 is a diode loading port, and 10 is an opening.
Claims (1)
ード圧送用のエアーを供給可能に構成するととも
に、 パイプ６のエアー排出側の開口１０に対向して
固定壁１１を設けてあるリードレス型ダイオード
の検査装置。[Claims for Utility Model Registration] A pipe 6 equipped with a diode loading port 8 is configured to be capable of supplying air for pumping the diode, and a fixed wall 11 is provided opposite to an opening 10 on the air discharge side of the pipe 6. An inspection device for a certain leadless diode.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985036598U JPH0434462Y2 (en) | 1985-03-13 | 1985-03-13 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985036598U JPH0434462Y2 (en) | 1985-03-13 | 1985-03-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61152978U JPS61152978U (en) | 1986-09-22 |
| JPH0434462Y2 true JPH0434462Y2 (en) | 1992-08-17 |
Family
ID=30541931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985036598U Expired JPH0434462Y2 (en) | 1985-03-13 | 1985-03-13 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0434462Y2 (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6164134A (en) * | 1984-09-06 | 1986-04-02 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Carrier device of electron parts |
-
1985
- 1985-03-13 JP JP1985036598U patent/JPH0434462Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61152978U (en) | 1986-09-22 |
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