JPH04349671A - 光起電力素子 - Google Patents
光起電力素子Info
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- JPH04349671A JPH04349671A JP3149227A JP14922791A JPH04349671A JP H04349671 A JPH04349671 A JP H04349671A JP 3149227 A JP3149227 A JP 3149227A JP 14922791 A JP14922791 A JP 14922791A JP H04349671 A JPH04349671 A JP H04349671A
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- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
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- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光起電力素子に関するも
のである。特にアモルファスシリコン(以下「a−Si
:H」と略記する。)を用いた太陽電池等の光起電力素
子に関するものである。
のである。特にアモルファスシリコン(以下「a−Si
:H」と略記する。)を用いた太陽電池等の光起電力素
子に関するものである。
【0002】
【従来技術の説明】a−Si:Hを太陽電池等の光起電
力素子に応用する研究は、W. E. Spear と
P. G. Le Comber によるドーピングの
成功(Solid State Communicat
ion, Vol.17, pp. 1193−119
6, 1975)を基礎にして、D. E. Carl
son による光起電力素子の発明(USP4,064
,521)により始まった。
力素子に応用する研究は、W. E. Spear と
P. G. Le Comber によるドーピングの
成功(Solid State Communicat
ion, Vol.17, pp. 1193−119
6, 1975)を基礎にして、D. E. Carl
son による光起電力素子の発明(USP4,064
,521)により始まった。
【0003】近年a−Si:Hを用いた光起電力素子は
、時計、小型計算機、外燈等に使用されている。しかし
ながら、電力用にa−Si:H光起電力素子を用いるに
は、変換効率、特性の経時的劣化等に問題がある。
、時計、小型計算機、外燈等に使用されている。しかし
ながら、電力用にa−Si:H光起電力素子を用いるに
は、変換効率、特性の経時的劣化等に問題がある。
【0004】そこで、a−Si:H光起電力素子の変換
効率を向上するために種々の試みが行われている。
効率を向上するために種々の試みが行われている。
【0005】例えば、導電性基板とa−Si:Hの間に
透明導電層を設け、光起電力素子の短絡を防止したり、
反射増加作用により変換効率を向上させる試みがある(
特公昭59−43101号公報)。しかしながら、透明
導電層を設けることにより、変換効率は向上するものの
、特性劣化の低減に対する効果は少なく、電力用の光起
電力素子としては改善の余地がある。特性劣化は光照射
によって引き起こされるので、光起電力素子の使用にお
ける本質的な問題である。
透明導電層を設け、光起電力素子の短絡を防止したり、
反射増加作用により変換効率を向上させる試みがある(
特公昭59−43101号公報)。しかしながら、透明
導電層を設けることにより、変換効率は向上するものの
、特性劣化の低減に対する効果は少なく、電力用の光起
電力素子としては改善の余地がある。特性劣化は光照射
によって引き起こされるので、光起電力素子の使用にお
ける本質的な問題である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、a−Si:
H光起電力素子の向上された変換効率を維持しつつ、特
性劣化を低減することを目的としている。
H光起電力素子の向上された変換効率を維持しつつ、特
性劣化を低減することを目的としている。
【0007】
【問題を解決するための手段】本発明は、従来技術にお
ける問題点を解決し、上記目的を達成すべく、本発明者
らが鋭意研究をを重ねた結果完成に至ったものである。
ける問題点を解決し、上記目的を達成すべく、本発明者
らが鋭意研究をを重ねた結果完成に至ったものである。
【0008】本発明の光起電力素子は、導電性基板上に
、少なくとも、該導電性基板側より、透明導電層、第1
の導電型のSi原子を含有する非単結晶層、i型のSi
原子を含有する非単結晶層、および第1の導電型と異な
る第2の導電型のSi原子を含有する非単結晶層を積層
してなる光起電力素子において、前記第1の導電型のS
i原子を含有する非単結晶層が、微結晶質でありかつ透
明導電層を構成する元素を含有することを特徴としてい
る。
、少なくとも、該導電性基板側より、透明導電層、第1
の導電型のSi原子を含有する非単結晶層、i型のSi
原子を含有する非単結晶層、および第1の導電型と異な
る第2の導電型のSi原子を含有する非単結晶層を積層
してなる光起電力素子において、前記第1の導電型のS
i原子を含有する非単結晶層が、微結晶質でありかつ透
明導電層を構成する元素を含有することを特徴としてい
る。
【0009】上記構成の、本発明の光起電力素子の具体
的内容を以下に説明する。
的内容を以下に説明する。
【0010】図1は、本発明の光起電力素子の典型的1
例を示す模式的説明図である。
例を示す模式的説明図である。
【0011】図1に示す本発明の光起電力素子は、導電
性基板101、透明導電層102、第1の導電型層10
3、i型層104、第2の導電型層105、電極106
から構成されている。
性基板101、透明導電層102、第1の導電型層10
3、i型層104、第2の導電型層105、電極106
から構成されている。
【0012】図2は、従来の光起電力素子の典型的1例
を示す模式的説明図である。
を示す模式的説明図である。
【0013】図2に示す従来の光起電力素子は、導電性
基板201、透明電導層202、第1の導電型層203
、i型層204、第2の導電型層205、電極206か
ら構成されている。
基板201、透明電導層202、第1の導電型層203
、i型層204、第2の導電型層205、電極206か
ら構成されている。
【0014】本発明の光起電力素子は、従来の光起電力
素子と比較して、第1の導電型層103に透明導電層1
02を構成する元素を含有することが大きく違う点であ
る。本発明者らは、第1の導電型層103を微結晶質と
し更に透明導電層102を構成する元素を含有すること
が、光起電力素子の劣化低減に重要であることを見出し
た。
素子と比較して、第1の導電型層103に透明導電層1
02を構成する元素を含有することが大きく違う点であ
る。本発明者らは、第1の導電型層103を微結晶質と
し更に透明導電層102を構成する元素を含有すること
が、光起電力素子の劣化低減に重要であることを見出し
た。
【0015】透明導電層は第1の導電型層とは異なる機
能を担うものであり、従来は別異の構成よりなるもの以
外検討されていなかった。すなわち、異なる機能をであ
る以上、共通の元素を用いる等のアプローチは全く存在
しなかったといえる。共通の元素の存在により劣化特性
を最小限に抑え得るメカニズムについては後述する。以
下、本発明の光起電力素子を構成する各層について詳し
く説明する。 導電性基板 導電性基板は、導電性材料であってもよく、絶縁性材料
または導電性材料で支持体を形成し、その上に導電性処
理をしたものであってもよい。
能を担うものであり、従来は別異の構成よりなるもの以
外検討されていなかった。すなわち、異なる機能をであ
る以上、共通の元素を用いる等のアプローチは全く存在
しなかったといえる。共通の元素の存在により劣化特性
を最小限に抑え得るメカニズムについては後述する。以
下、本発明の光起電力素子を構成する各層について詳し
く説明する。 導電性基板 導電性基板は、導電性材料であってもよく、絶縁性材料
または導電性材料で支持体を形成し、その上に導電性処
理をしたものであってもよい。
【0016】導電性支持体としては、例えば、NiCr
,ステンレス(SUS),Al,Cr,Mo,Au,N
b,Ta,V,Ti,Pt,Pb等の金属またはこれら
の合金が挙げられる。
,ステンレス(SUS),Al,Cr,Mo,Au,N
b,Ta,V,Ti,Pt,Pb等の金属またはこれら
の合金が挙げられる。
【0017】電気絶縁性支持体としては、ポリエステル
、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポ
リ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合成
樹脂のフィルム、またはシート、ガラス、セラミックス
、紙等が挙げられる。これらの電気絶縁性支持体は、好
適には少なくともその一方の表面を導電性処理し、該導
電性処理された表面側に光起電力層を設けるのが望まし
い。
、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポ
リ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合成
樹脂のフィルム、またはシート、ガラス、セラミックス
、紙等が挙げられる。これらの電気絶縁性支持体は、好
適には少なくともその一方の表面を導電性処理し、該導
電性処理された表面側に光起電力層を設けるのが望まし
い。
【0018】該導電性処理は、Ag,Al,Au,Cr
,Ir,Ni,Pd,Pt,Ta,Ti,Tl,V,Z
n等の金属またはこれらの合金の薄膜を真空蒸着、電子
ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面に設け、また
は前記金属でその表面をラミネート処理して、その表面
に導電性を付与する。
,Ir,Ni,Pd,Pt,Ta,Ti,Tl,V,Z
n等の金属またはこれらの合金の薄膜を真空蒸着、電子
ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面に設け、また
は前記金属でその表面をラミネート処理して、その表面
に導電性を付与する。
【0019】支持体の形状は平滑表面または凹凸表面の
板状、ベルト状または円筒状等であることができ、その
厚さは所望通りの光起電力素子を形成し得るように適宜
決定するが、光起電力素子としての可撓性が要求される
場合には、支持体としての機能が充分発揮される範囲内
で可能な限り薄くすることができる。しかしながら、支
持体の製造上および取り扱い上、機械的強度等の点から
、通常は10μm以上とされる。 透明導電層 本発明において用いられる透明導電層としては、透明導
電層側から光照射を行う場合は、太陽や白色蛍光灯等か
らの光を半導体層内に効率よく吸収させるために、また
透明導電層の反対側から光照射を行う場合は、半導体層
で吸収されなかった光を反射増加膜として効率よく半導
体層へ反射するために、光の透過率が85%以上である
のが望ましい。さらに、電気的には光起電力素子の出力
に対して抵抗成分とならぬようにシート抵抗値は100
Ω以下であることが望ましい。このような特性を備えた
材料としてSnO2 ,In2 O3 ,ITO(Sn
O2 +In2 O3 ),ZnO,CdO,Cd2
SnO4 ,TiO2 ,Ti3 N4 等の金属酸化
物や窒化物あるいは、Au,Al,Cu等の金属を極め
て薄く半透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる。
板状、ベルト状または円筒状等であることができ、その
厚さは所望通りの光起電力素子を形成し得るように適宜
決定するが、光起電力素子としての可撓性が要求される
場合には、支持体としての機能が充分発揮される範囲内
で可能な限り薄くすることができる。しかしながら、支
持体の製造上および取り扱い上、機械的強度等の点から
、通常は10μm以上とされる。 透明導電層 本発明において用いられる透明導電層としては、透明導
電層側から光照射を行う場合は、太陽や白色蛍光灯等か
らの光を半導体層内に効率よく吸収させるために、また
透明導電層の反対側から光照射を行う場合は、半導体層
で吸収されなかった光を反射増加膜として効率よく半導
体層へ反射するために、光の透過率が85%以上である
のが望ましい。さらに、電気的には光起電力素子の出力
に対して抵抗成分とならぬようにシート抵抗値は100
Ω以下であることが望ましい。このような特性を備えた
材料としてSnO2 ,In2 O3 ,ITO(Sn
O2 +In2 O3 ),ZnO,CdO,Cd2
SnO4 ,TiO2 ,Ti3 N4 等の金属酸化
物や窒化物あるいは、Au,Al,Cu等の金属を極め
て薄く半透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる。
【0020】これらの作成方法としては、抵抗加熱蒸着
法、電子ビーム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレ
ー法等を用いることができ所望に応じて適宜選択される
。 第1の導電型層 本発明の光起電力素子における第1の導電型層は前記問
題点を解決するものであり、また、光起電力素子の起電
力や光電流を支配する重要な層である。
法、電子ビーム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレ
ー法等を用いることができ所望に応じて適宜選択される
。 第1の導電型層 本発明の光起電力素子における第1の導電型層は前記問
題点を解決するものであり、また、光起電力素子の起電
力や光電流を支配する重要な層である。
【0021】本発明者らが鋭意検討を行った結果、第1
の導電型の材料としては、シリコン含有の微結晶半導体
が適し、特に水素化/およびハロゲン化微結晶シリコン
半導体が適するものであることが判った。微結晶シリコ
ンの粒径は、好ましくは3nm〜20nmであり、最適
には3nm〜10nmである。上記粒径の範囲において
、本発明の効果が顕著に発揮される。水素/ハロゲン原
子の含有量は、好ましくは1原子%〜10原子%であり
、最適には1原子%〜7原子%である。上記含有量の範
囲において欠陥の少い、高品質な微結晶シリコン半導体
が得られる。
の導電型の材料としては、シリコン含有の微結晶半導体
が適し、特に水素化/およびハロゲン化微結晶シリコン
半導体が適するものであることが判った。微結晶シリコ
ンの粒径は、好ましくは3nm〜20nmであり、最適
には3nm〜10nmである。上記粒径の範囲において
、本発明の効果が顕著に発揮される。水素/ハロゲン原
子の含有量は、好ましくは1原子%〜10原子%であり
、最適には1原子%〜7原子%である。上記含有量の範
囲において欠陥の少い、高品質な微結晶シリコン半導体
が得られる。
【0022】更にこの第1の導電層に透明導電層を構成
する元素を含有させることにより、劣化を低減する効果
が発揮される。現時点においては、劣化を低減する効果
が得られるメカニズムは完全には解明されてはいないも
のの、推察するに、第1の導電層に透明導電層を構成す
る元素を含有させることにより、透明導電層と第1の導
電層の界面での整合性がよくなり、キャリアの注入性が
改善されるので、光起電力素子におけるキャリアの流れ
もよくなり、光起電力素子に劣化を引き起こす無駄な負
荷がかからないためと、第1の導電層に透明導電層を構
成する元素を積極的に含有させるため、第1の導電層内
にこれらの元素が強固な結合で取り込まれるため、透明
導電層中の元素がi型層中に拡散するのを防ぎ、i型層
の品質が低下しないため、劣化が低減されると考える。
する元素を含有させることにより、劣化を低減する効果
が発揮される。現時点においては、劣化を低減する効果
が得られるメカニズムは完全には解明されてはいないも
のの、推察するに、第1の導電層に透明導電層を構成す
る元素を含有させることにより、透明導電層と第1の導
電層の界面での整合性がよくなり、キャリアの注入性が
改善されるので、光起電力素子におけるキャリアの流れ
もよくなり、光起電力素子に劣化を引き起こす無駄な負
荷がかからないためと、第1の導電層に透明導電層を構
成する元素を積極的に含有させるため、第1の導電層内
にこれらの元素が強固な結合で取り込まれるため、透明
導電層中の元素がi型層中に拡散するのを防ぎ、i型層
の品質が低下しないため、劣化が低減されると考える。
【0023】ここに透明導電層を構成する元素を含有す
るとは、透明導電層と第1の導電型層に共通の元素が少
なくとも1つ存在していることをいう。ただし、その元
素は透明導電層における主要元素であることが好ましく
、非主要元素である場合は、共通元素を有することによ
る効果が小さくなる。
るとは、透明導電層と第1の導電型層に共通の元素が少
なくとも1つ存在していることをいう。ただし、その元
素は透明導電層における主要元素であることが好ましく
、非主要元素である場合は、共通元素を有することによ
る効果が小さくなる。
【0024】含有し得る元素としては、Sn,In,Z
n,Cd,Ti,O,N,Au,Al,Cu等、透明導
電層の構成に応じて選択することができ、これらの元素
の含有量は、鋭意検討した結果、好ましくは、0.1原
子ppm 〜1原子%、さらに好ましくは1原子ppm
〜1000原子ppm 、最適には10原子ppm
〜100原子ppm である。
n,Cd,Ti,O,N,Au,Al,Cu等、透明導
電層の構成に応じて選択することができ、これらの元素
の含有量は、鋭意検討した結果、好ましくは、0.1原
子ppm 〜1原子%、さらに好ましくは1原子ppm
〜1000原子ppm 、最適には10原子ppm
〜100原子ppm である。
【0025】また、鋭意検討の結果、これらの元素を含
有するのは、第1の導電層の全層領域でもよいし、一部
層領域でもよく、元素の含有量は均一でもよいし、層厚
方向に不均一でもよい。すなわち、それら元素の分布を
特にコントロールすることなく成膜すれば足りる。なお
、これら元素の含有量は2次イオン質量分析法等により
測定することができる。
有するのは、第1の導電層の全層領域でもよいし、一部
層領域でもよく、元素の含有量は均一でもよいし、層厚
方向に不均一でもよい。すなわち、それら元素の分布を
特にコントロールすることなく成膜すれば足りる。なお
、これら元素の含有量は2次イオン質量分析法等により
測定することができる。
【0026】第1の導電型層の導電型がn型の場合、第
1の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
VA族元素が適している。その中で特ににリン(P)、
窒素(N)、ひ素(As)、アンチモン(Sb)が最適
である。
1の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
VA族元素が適している。その中で特ににリン(P)、
窒素(N)、ひ素(As)、アンチモン(Sb)が最適
である。
【0027】第1の導電型層の導電型がp型の場合、第
1の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
IIIA族元素が適している。その中で特ににホウ素
(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)が最
適である。
1の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
IIIA族元素が適している。その中で特ににホウ素
(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)が最
適である。
【0028】加えて、第1の導電型層に含有される添加
物の含有量は、好ましくは、0.1原子%〜20原子%
であり、最適には0.5原子%〜10原子%である。
物の含有量は、好ましくは、0.1原子%〜20原子%
であり、最適には0.5原子%〜10原子%である。
【0029】第1の導電型の電気特性としては、前記各
条件内で活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好
ましく、0.1eV以下のものが最適である。また比抵
抗としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcm以下
が最適である。
条件内で活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好
ましく、0.1eV以下のものが最適である。また比抵
抗としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcm以下
が最適である。
【0030】第1の導電型の層厚は、好ましくは1nm
〜50nm、最適には3nm〜10nmである。
〜50nm、最適には3nm〜10nmである。
【0031】さらに、第1の導電型層側から光照射を行
う場合で、第1の導電型層での光吸収をより少なくする
ためには、非単結晶炭化シリコンを用いるのが最適であ
る。非単結晶炭化シリコン中の炭素含有量は、好ましく
は5原子%〜50原子%、最適には10原子%〜30原
子%である。他の条件は、前記非単結晶シリコンを用い
た第1の導電型層と同等にすることが望ましい。 i型層 本発明において、i型層は、照射光に対してキャリアを
発生、輸送する重要な層である。i型層に適したシリコ
ン原子を含有する非単結晶材料としてはアモルファスシ
リコン(微結晶シリコンを含む)が挙げられる。アモル
ファスシリコンの中でも特に水素化アモルファスシリコ
ン、水素化/およびハロゲン化アモルファスシリコンが
適している。
う場合で、第1の導電型層での光吸収をより少なくする
ためには、非単結晶炭化シリコンを用いるのが最適であ
る。非単結晶炭化シリコン中の炭素含有量は、好ましく
は5原子%〜50原子%、最適には10原子%〜30原
子%である。他の条件は、前記非単結晶シリコンを用い
た第1の導電型層と同等にすることが望ましい。 i型層 本発明において、i型層は、照射光に対してキャリアを
発生、輸送する重要な層である。i型層に適したシリコ
ン原子を含有する非単結晶材料としてはアモルファスシ
リコン(微結晶シリコンを含む)が挙げられる。アモル
ファスシリコンの中でも特に水素化アモルファスシリコ
ン、水素化/およびハロゲン化アモルファスシリコンが
適している。
【0032】またアモルファスシリコン中に含有される
水素またはハロゲンの含有量は、好ましくは1原子%〜
40原子%であり、最適には5原子%〜20原子%であ
る。
水素またはハロゲンの含有量は、好ましくは1原子%〜
40原子%であり、最適には5原子%〜20原子%であ
る。
【0033】また、さらに、本発明において、i型層は
、開放電圧を増加させるためには、非単結晶材料として
は、アモルファス炭化シリコン(微結晶炭化シリコンを
含む)が挙げられる。特に水素化およびハロゲン化した
アモルファス炭化シリコンが適している。
、開放電圧を増加させるためには、非単結晶材料として
は、アモルファス炭化シリコン(微結晶炭化シリコンを
含む)が挙げられる。特に水素化およびハロゲン化した
アモルファス炭化シリコンが適している。
【0034】炭素原子の含有量は、好ましくは3原子%
〜30原子%であり、最適には5原子%〜20原子%で
ある。
〜30原子%であり、最適には5原子%〜20原子%で
ある。
【0035】また水素原子とハロゲン原子の含有量は、
好ましくは1原子%〜40原子%であり、最適には5原
子%〜20原子%である。
好ましくは1原子%〜40原子%であり、最適には5原
子%〜20原子%である。
【0036】また、さらに、本発明において、i型層は
、長波長感度を向上させ短絡電流を増加させるために、
非単結晶材料としては、アモルファスシリコンゲルマニ
ウム(微結晶シリコンゲルマニウムを含む)が挙げられ
る。特に水素化およびハロゲン化したアモルファスシリ
コンゲルマニウムが適している。
、長波長感度を向上させ短絡電流を増加させるために、
非単結晶材料としては、アモルファスシリコンゲルマニ
ウム(微結晶シリコンゲルマニウムを含む)が挙げられ
る。特に水素化およびハロゲン化したアモルファスシリ
コンゲルマニウムが適している。
【0037】ゲルマニウム原子の含有量は、好ましくは
、5原子%〜70原子%であり、最適には、10原子%
〜60原子%である。
、5原子%〜70原子%であり、最適には、10原子%
〜60原子%である。
【0038】また水素原子とハロゲン原子の含有量は、
好ましくは1原子%〜40原子%であり、最適には5原
子%〜20原子%である。
好ましくは1原子%〜40原子%であり、最適には5原
子%〜20原子%である。
【0039】i型層の層厚は、本発明の光起電力素子の
特性を左右する重要なパラメータである。i型層の好ま
しい層厚は100nm〜1000nmであり、最適な層
厚は200nm〜600nmである。
特性を左右する重要なパラメータである。i型層の好ま
しい層厚は100nm〜1000nmであり、最適な層
厚は200nm〜600nmである。
【0040】この層厚は、i型層の吸光係数や光源のス
ペクトルを考慮し上記範囲内で設計することが望ましい
ものである。 第2の導電型層 本発明において、第2の導電型層は、光起電力素子の起
電力や光電流を支配する重要な層である。
ペクトルを考慮し上記範囲内で設計することが望ましい
ものである。 第2の導電型層 本発明において、第2の導電型層は、光起電力素子の起
電力や光電流を支配する重要な層である。
【0041】第2の導電型の材料としては、シリコン含
有の非単結晶半導体が適し、特に水素化/およびハロゲ
ン化アモルファスシリコン(微結晶シリコンを含む)半
導体が適するものである。またさらに限定すれば、アモ
ルファスシリコン中の微結晶シリコンが最適である。微
結晶シリコンの粒径は、好ましくは3nm〜20nmで
あり、最適には3nm〜10nmである。
有の非単結晶半導体が適し、特に水素化/およびハロゲ
ン化アモルファスシリコン(微結晶シリコンを含む)半
導体が適するものである。またさらに限定すれば、アモ
ルファスシリコン中の微結晶シリコンが最適である。微
結晶シリコンの粒径は、好ましくは3nm〜20nmで
あり、最適には3nm〜10nmである。
【0042】また水素/ハロゲン原子の含有量は、微結
晶シリコンの場合には、好ましくは1原子%〜10原子
%であり、最適には1原子%〜7原子%である。
晶シリコンの場合には、好ましくは1原子%〜10原子
%であり、最適には1原子%〜7原子%である。
【0043】水素/ハロゲン原子の含有量は、アモルフ
ァスシリコンの場合には、好ましくは1原子%〜40原
子%であり、最適には5原子%〜20原子%である。
ァスシリコンの場合には、好ましくは1原子%〜40原
子%であり、最適には5原子%〜20原子%である。
【0044】第2の導電型層の導電型がp型の場合、第
2の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
IIIA族元素が適している。その中で特にホウ素(
B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)が最適
である。
2の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
IIIA族元素が適している。その中で特にホウ素(
B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)が最適
である。
【0045】第2の導電型層の導電型がn型の場合、第
2の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
VA族元素が適している。その中で特にリン(P)、窒
素(N)、ひ素(As)アンチモン(Sb)が最適であ
る。
2の導電型層に含有される添加物としては、周期律表第
VA族元素が適している。その中で特にリン(P)、窒
素(N)、ひ素(As)アンチモン(Sb)が最適であ
る。
【0046】加えて、第2の導電型層に含有される添加
物の含有量は、好ましくは、0.1原子%〜20原子%
であり、最適には0.5原子%〜10原子%である。
物の含有量は、好ましくは、0.1原子%〜20原子%
であり、最適には0.5原子%〜10原子%である。
【0047】第2の導電型の電気特性としては、前記各
条件内で活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好
ましく、0.1eV以下のものが最適である。また、比
抵抗としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcmが
最適である。
条件内で活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好
ましく、0.1eV以下のものが最適である。また、比
抵抗としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcmが
最適である。
【0048】第2の導電型の層厚は、好ましくは1nm
〜50nm、最適には3nm〜10nmである。
〜50nm、最適には3nm〜10nmである。
【0049】さらに、第2の導電型層側から光照射を行
う場合で、第2の導電型層での光吸収をより少なくする
ためには、非単結晶炭化シリコンを用いるのが最適であ
る。非単結晶炭化シリコン中の炭素含有量は、好ましく
は5原子%〜50原子%、最適には10原子%〜30原
子%である。他の条件は、前記非単結晶シリコンを用い
た第2の導電型層と同等にすることが望ましい。 電極 本発明において用いられる電極としては、電極側から光
照射を行う場合は、太陽や白色蛍光灯等からの光を半導
体層内に効率よく吸収させるために、光の透過率が85
%以上であるのが望ましい。さらに、電気的には光起電
力素子の出力に対して抵抗成分とならぬようにシート抵
抗値は100Ω以下であることが望ましい。このような
特性を備えた材料としてSnO2 ,In2 O3 ,
ITO(SnO2 +In2 O3 ),ZnO,Cd
O,Cd2 SnO4 ,TiO2 ,Ti3 N4
等の金属酸化物や、Au,Al,Cu等の金属を極めて
薄く半透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる。
う場合で、第2の導電型層での光吸収をより少なくする
ためには、非単結晶炭化シリコンを用いるのが最適であ
る。非単結晶炭化シリコン中の炭素含有量は、好ましく
は5原子%〜50原子%、最適には10原子%〜30原
子%である。他の条件は、前記非単結晶シリコンを用い
た第2の導電型層と同等にすることが望ましい。 電極 本発明において用いられる電極としては、電極側から光
照射を行う場合は、太陽や白色蛍光灯等からの光を半導
体層内に効率よく吸収させるために、光の透過率が85
%以上であるのが望ましい。さらに、電気的には光起電
力素子の出力に対して抵抗成分とならぬようにシート抵
抗値は100Ω以下であることが望ましい。このような
特性を備えた材料としてSnO2 ,In2 O3 ,
ITO(SnO2 +In2 O3 ),ZnO,Cd
O,Cd2 SnO4 ,TiO2 ,Ti3 N4
等の金属酸化物や、Au,Al,Cu等の金属を極めて
薄く半透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる。
【0050】また本発明において用いられる電極として
は、導電性基板側から光照射を行う場合は、電気的には
光起電力素子の出力に対して抵抗成分となるぬようにシ
ート抵抗値は100Ω以下であることが望ましい。この
ような特性を備えた材料として、Ag,Al,Au,C
o,Cr,Cu,Fe,Mg,Mo,Ni,Pd,Pt
,Zn等の金属またはこれらの合金等が挙げられる。 また、半導体層で吸収しきれなかった光を効率よく半導
体層へ反射するために、半導体層と該電極の間に反射増
加膜を設けてもよい。該反射増加膜は、光の透過率が8
5%以上であるのが望ましい。さらに、電気的には光起
電力素子の出力対して抵抗成分とならぬようにシート抵
抗値は100Ω以下であることが望ましい。このような
特性を備えた材料としてSnO2 ,In2 O3 ,
ITO(SnO2 +In2 O3 ),ZnO,Cd
O,Cd2 SnO4 ,Tio2 ,Ti3 N4
等の金属酸化物等が挙げられる。
は、導電性基板側から光照射を行う場合は、電気的には
光起電力素子の出力に対して抵抗成分となるぬようにシ
ート抵抗値は100Ω以下であることが望ましい。この
ような特性を備えた材料として、Ag,Al,Au,C
o,Cr,Cu,Fe,Mg,Mo,Ni,Pd,Pt
,Zn等の金属またはこれらの合金等が挙げられる。 また、半導体層で吸収しきれなかった光を効率よく半導
体層へ反射するために、半導体層と該電極の間に反射増
加膜を設けてもよい。該反射増加膜は、光の透過率が8
5%以上であるのが望ましい。さらに、電気的には光起
電力素子の出力対して抵抗成分とならぬようにシート抵
抗値は100Ω以下であることが望ましい。このような
特性を備えた材料としてSnO2 ,In2 O3 ,
ITO(SnO2 +In2 O3 ),ZnO,Cd
O,Cd2 SnO4 ,Tio2 ,Ti3 N4
等の金属酸化物等が挙げられる。
【0051】これらの作成方法としては、抵抗加熱蒸着
法、電子ビーム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレ
ー法等を用いることができ所望に応じて適宜選択される
。
法、電子ビーム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレ
ー法等を用いることができ所望に応じて適宜選択される
。
【0052】以上説明した層構成の他にも、必要により
光反射等の層を導電性基板上に形成した構成にしてもよ
い。
光反射等の層を導電性基板上に形成した構成にしてもよ
い。
【0053】本発明において、第1の導電型層、i型層
、第2の導電型層は、DCグロー放電分解法、RFグロ
ー放電分解法、マイクロ波グロー放電分解法等で形成す
るのが適している。
、第2の導電型層は、DCグロー放電分解法、RFグロ
ー放電分解法、マイクロ波グロー放電分解法等で形成す
るのが適している。
【0054】前記グロー放電分解法に適した原料ガスと
して次のものが挙げられる。
して次のものが挙げられる。
【0055】本発明において使用されるSi供給用の原
料ガスとしては、SiH4 ,Si2H6 ,Si3
H8 ,Si4 H10等のガス状態の、またはガス化
し得る水素化珪素(シラン類)が有効に使用されるもの
として挙げられ、殊に、層作成作業の扱い易さ、Si供
給効率のよさ等の点でSiH4 ,Si2 H6 が好
ましいものとして挙げられる。
料ガスとしては、SiH4 ,Si2H6 ,Si3
H8 ,Si4 H10等のガス状態の、またはガス化
し得る水素化珪素(シラン類)が有効に使用されるもの
として挙げられ、殊に、層作成作業の扱い易さ、Si供
給効率のよさ等の点でSiH4 ,Si2 H6 が好
ましいものとして挙げられる。
【0056】本発明において使用されるハロゲン原子供
給用の原料ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化合
物が挙げられ、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハ
ロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等
のガス状態のまたはガス化し得るハロゲン化合物が好ま
しく挙げられる。
給用の原料ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化合
物が挙げられ、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハ
ロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等
のガス状態のまたはガス化し得るハロゲン化合物が好ま
しく挙げられる。
【0057】また、さらには、シリコン原子とハロゲン
原子とを構成元素とするガス状態のまたはガス化し得る
、ハロゲン原子を含む珪素化合物も有効なものとして本
発明においては挙げることができる。
原子とを構成元素とするガス状態のまたはガス化し得る
、ハロゲン原子を含む珪素化合物も有効なものとして本
発明においては挙げることができる。
【0058】本発明において好適に使用し得るハロゲン
化合物としては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ
素のハロゲンガス、BrF,ClF,ClF3 ,Br
F5 ,BrF3 ,IF3 ,IF7 ,ICl,I
Br等のハロゲン間化合物を挙げることができる。
化合物としては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ
素のハロゲンガス、BrF,ClF,ClF3 ,Br
F5 ,BrF3 ,IF3 ,IF7 ,ICl,I
Br等のハロゲン間化合物を挙げることができる。
【0059】ハロゲン原子を含む珪素化合物、いわゆる
、ハロゲン原子で置換されたシラン誘導体としては、具
体的には例えばSiF4 ,Si2 F6 ,SiCl
4 ,SiBr4 等のハロゲン化珪素が好ましいもの
として挙げることができる。
、ハロゲン原子で置換されたシラン誘導体としては、具
体的には例えばSiF4 ,Si2 F6 ,SiCl
4 ,SiBr4 等のハロゲン化珪素が好ましいもの
として挙げることができる。
【0060】本発明においては、ハロゲン原子供給用の
原料ガスとして上記されたハロゲン化合物あるいはハロ
ゲン原子を含む珪素化合物が有効なものとして使用され
るものであるが、その他に、HF,HCl,HBr,H
I等のハロゲン化水素、SiH3 F,SiH2 F2
,SiHF3 ,SiH2 I2 ,SiH2 Cl
2 ,SiHCl3 ,SiH2 Br2 ,SiHB
r3 等のハロゲン置換水素化珪素、等々のガス状態の
あるいはガス化し得る、水素原子を構成要素の1つとす
るハロゲン化物も有効な原料ガスとして挙げることがで
きる。
原料ガスとして上記されたハロゲン化合物あるいはハロ
ゲン原子を含む珪素化合物が有効なものとして使用され
るものであるが、その他に、HF,HCl,HBr,H
I等のハロゲン化水素、SiH3 F,SiH2 F2
,SiHF3 ,SiH2 I2 ,SiH2 Cl
2 ,SiHCl3 ,SiH2 Br2 ,SiHB
r3 等のハロゲン置換水素化珪素、等々のガス状態の
あるいはガス化し得る、水素原子を構成要素の1つとす
るハロゲン化物も有効な原料ガスとして挙げることがで
きる。
【0061】これらの水素原子を含むハロゲン化物は、
層形成の際に形成される層中にハロゲン原子の供給と同
時に電気的あるいは光電的特性の制御に極めて有効な水
素原子も供給されるので、本発明においては好適なハロ
ゲン原子供給用の原料ガスとして使用される。
層形成の際に形成される層中にハロゲン原子の供給と同
時に電気的あるいは光電的特性の制御に極めて有効な水
素原子も供給されるので、本発明においては好適なハロ
ゲン原子供給用の原料ガスとして使用される。
【0062】水素原子供給用の原料ガスとしては、上記
の他にH2 、あるいはSiH4 ,Si2 H6 ,
Si3 H8 ,Si4 H10等の水素珪素が挙げら
れる。
の他にH2 、あるいはSiH4 ,Si2 H6 ,
Si3 H8 ,Si4 H10等の水素珪素が挙げら
れる。
【0063】本発明において、ゲルマニウム原子供給用
ガスとしては、GeH4 ,Ge2 H6 ,Ge3
H8 ,Ge4 H10,Ge5 H12,Ge5 H
14,Ge7 H16,Ge8H18,Ge9 H20
等の水素化ゲルマニウムや、GeHf3 ,GeH2
F2 ,GeH3 F,GeHCl3 ,GeH2 C
l2 ,GeH3 Cl,GeHBr3 ,GeH2B
r2 ,GeH3 Br,GeHI3 ,GeH2 I
2 ,GeH3 I等の水素化ハロゲン化ゲルマニウム
等の水素原子を構成要素の1つとするハロゲン化物、G
eF4 ,GeCl4 ,GeBr4 ,GeI4 ,
GeF2 ,GeCl2 ,GeBr2 ,GeI2
等のハロゲン化ゲルマニウム等のゲルマニウム化合物が
挙げられる。炭素原子供給用の原料となる炭素原子含有
化合物としては、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水素、
炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3のア
セチレン系炭化水素等が挙げられる。
ガスとしては、GeH4 ,Ge2 H6 ,Ge3
H8 ,Ge4 H10,Ge5 H12,Ge5 H
14,Ge7 H16,Ge8H18,Ge9 H20
等の水素化ゲルマニウムや、GeHf3 ,GeH2
F2 ,GeH3 F,GeHCl3 ,GeH2 C
l2 ,GeH3 Cl,GeHBr3 ,GeH2B
r2 ,GeH3 Br,GeHI3 ,GeH2 I
2 ,GeH3 I等の水素化ハロゲン化ゲルマニウム
等の水素原子を構成要素の1つとするハロゲン化物、G
eF4 ,GeCl4 ,GeBr4 ,GeI4 ,
GeF2 ,GeCl2 ,GeBr2 ,GeI2
等のハロゲン化ゲルマニウム等のゲルマニウム化合物が
挙げられる。炭素原子供給用の原料となる炭素原子含有
化合物としては、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水素、
炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3のア
セチレン系炭化水素等が挙げられる。
【0064】具体的には、飽和炭化水素としては、メタ
ン(CH4 ),エタン(C2 H6 )、プロパン(
C3 H8 )、n−ブタン(n−C4 H10)、ペ
ンタン(C5 H12)、エチレン系炭化水素としては
、エチレン(C2 H4 )、プロピレン(C3 H6
)、ブテン−1(C4 H8 )、ブテン−2(C4
H8 )、イソブチレン(C4 H8 )、ペンテン(
C5 H10)、アセチレン系炭化水素としては、アセ
チレン(C2 H2 )、メチルアセチレン(C3 H
4 )、ブチン(C4 H6 )等が挙げられる。Si
とCとHとを構成原子とする原料ガスとしては、Si(
CH3 )4,Si(C2 H4 )4 等のケイ化ア
ルキルを挙げることができる。第 III族原子または
第V族原子の含有される層を形成するのにグロー放電を
用いる場合、該層形成用の原料ガスとなる出発物質は、
前記したシリコン原子用の出発物質の中から適宜選択し
たものに、第 III族原子または第V族原子原子供給
用の出発物質が加えられたものである。そのような第
III族原子または第V族原子供給用の出発物質として
は、第III 族原子または第V族原子を構成原子とす
るガス状態の物質またはガス化し得る物質をガス化した
ものであれば、いずれのものであってもよい。
ン(CH4 ),エタン(C2 H6 )、プロパン(
C3 H8 )、n−ブタン(n−C4 H10)、ペ
ンタン(C5 H12)、エチレン系炭化水素としては
、エチレン(C2 H4 )、プロピレン(C3 H6
)、ブテン−1(C4 H8 )、ブテン−2(C4
H8 )、イソブチレン(C4 H8 )、ペンテン(
C5 H10)、アセチレン系炭化水素としては、アセ
チレン(C2 H2 )、メチルアセチレン(C3 H
4 )、ブチン(C4 H6 )等が挙げられる。Si
とCとHとを構成原子とする原料ガスとしては、Si(
CH3 )4,Si(C2 H4 )4 等のケイ化ア
ルキルを挙げることができる。第 III族原子または
第V族原子の含有される層を形成するのにグロー放電を
用いる場合、該層形成用の原料ガスとなる出発物質は、
前記したシリコン原子用の出発物質の中から適宜選択し
たものに、第 III族原子または第V族原子原子供給
用の出発物質が加えられたものである。そのような第
III族原子または第V族原子供給用の出発物質として
は、第III 族原子または第V族原子を構成原子とす
るガス状態の物質またはガス化し得る物質をガス化した
ものであれば、いずれのものであってもよい。
【0065】本発明において第 III族原子供給用の
出発物質として有効に使用されるものとしては、具体的
には硼素原子供給用として、B2 H6 ,B4 H1
0,B5 H9 ,B5 H11,B6 H10,B6
H12,B6 H14等の水素化硼素、BF3 ,B
Cl3 ,BBr3 等のハロゲン化硼素等を挙げるこ
とができるが、この他AlCl3 ,GaCl3 ,I
nCl3 ,TlCl3 等も挙げられることができる
。
出発物質として有効に使用されるものとしては、具体的
には硼素原子供給用として、B2 H6 ,B4 H1
0,B5 H9 ,B5 H11,B6 H10,B6
H12,B6 H14等の水素化硼素、BF3 ,B
Cl3 ,BBr3 等のハロゲン化硼素等を挙げるこ
とができるが、この他AlCl3 ,GaCl3 ,I
nCl3 ,TlCl3 等も挙げられることができる
。
【0066】本発明において第V族原子供給用の出発物
質として、有効に使用されるものとしては、具体的には
燐原子供給用としては、PH3 ,P2 H4 等の水
素化燐、PH4 I,PF3 ,PF5 ,PCl3
,PCl5 ,PBr3 ,PBr5 ,PI3 ,A
sH3 ,AsF3 ,AsCl3 ,AsBr3 ,
AsF5 ,SbH3 ,SbF3,SbF5 ,Sb
Cl3 ,SbCl5 ,BiH3 ,BiCl3 ,
BiBr3 ,N2 ,NH3 ,H2 NNH2 ,
HN3 ,NH4 N3 ,F3 N,F4 N2 等
も挙げることができる。
質として、有効に使用されるものとしては、具体的には
燐原子供給用としては、PH3 ,P2 H4 等の水
素化燐、PH4 I,PF3 ,PF5 ,PCl3
,PCl5 ,PBr3 ,PBr5 ,PI3 ,A
sH3 ,AsF3 ,AsCl3 ,AsBr3 ,
AsF5 ,SbH3 ,SbF3,SbF5 ,Sb
Cl3 ,SbCl5 ,BiH3 ,BiCl3 ,
BiBr3 ,N2 ,NH3 ,H2 NNH2 ,
HN3 ,NH4 N3 ,F3 N,F4 N2 等
も挙げることができる。
【0067】本発明において、亜鉛原子供給用ガスとし
ては、Zn(CH3 )2 ,Zn(C2 H5 )2
等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の不活性
ガスをキャリアーガスとしてバブリングしガス化したも
の、または加熱して沸騰させてガス化したものを挙げる
ことができる。
ては、Zn(CH3 )2 ,Zn(C2 H5 )2
等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の不活性
ガスをキャリアーガスとしてバブリングしガス化したも
の、または加熱して沸騰させてガス化したものを挙げる
ことができる。
【0068】本発明において、インジウム原子供給用ガ
スとしては、In(CH3 )3 ,In(C2 H5
)3 ,In(3 H7 )3 ,In(C4 H9
)3 等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の
不活性ガスをキャリアーガスとしてバブリングしガス化
したもの、または加熱して沸騰させてガス化したものを
挙げることができる。本発明において、錫原子供給用ガ
スとしては、SnH4 や、SnCl4 ,SnBr4
,Sn(CH3 )4 ,Sn(C2 H5 )4
,Sn(C3 H7 )4,Sn(C4 H9 )4
等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の不活性ガ
スをキャリアーガスとしてバブリングしガス化したもの
、または加熱して沸騰させてガス化したものを挙げるこ
とができる。
スとしては、In(CH3 )3 ,In(C2 H5
)3 ,In(3 H7 )3 ,In(C4 H9
)3 等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の
不活性ガスをキャリアーガスとしてバブリングしガス化
したもの、または加熱して沸騰させてガス化したものを
挙げることができる。本発明において、錫原子供給用ガ
スとしては、SnH4 や、SnCl4 ,SnBr4
,Sn(CH3 )4 ,Sn(C2 H5 )4
,Sn(C3 H7 )4,Sn(C4 H9 )4
等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の不活性ガ
スをキャリアーガスとしてバブリングしガス化したもの
、または加熱して沸騰させてガス化したものを挙げるこ
とができる。
【0069】本発明において、チタニウム原子供給用ガ
スとしては、TiCl4 ,TiBr4 ,Ti(OC
2 H5 )4 ,Ti(OC3 H7 )4 ,Ti
(OC4 H9 )4 等をバブリング装置を用いて、
Ar,He等の不活性ガスをキャリアーガスとしてバブ
リングしガス化したもの、または加熱して沸騰させてガ
ス化したものを挙げることができる。
スとしては、TiCl4 ,TiBr4 ,Ti(OC
2 H5 )4 ,Ti(OC3 H7 )4 ,Ti
(OC4 H9 )4 等をバブリング装置を用いて、
Ar,He等の不活性ガスをキャリアーガスとしてバブ
リングしガス化したもの、または加熱して沸騰させてガ
ス化したものを挙げることができる。
【0070】本発明において、カドニウム原子供給用ガ
スとしては、Cd(CH3 )2 ,Cd(C2 H5
)2 ,Cd(C3 H7 )2 ,Cd(C4H9
)2 等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の
不活性ガスをキャリアーガスとしてバブリングしガス化
したもの、または加熱して沸騰させてガス化したものを
挙げることができる。
スとしては、Cd(CH3 )2 ,Cd(C2 H5
)2 ,Cd(C3 H7 )2 ,Cd(C4H9
)2 等をバブリング装置を用いて、Ar,He等の
不活性ガスをキャリアーガスとしてバブリングしガス化
したもの、または加熱して沸騰させてガス化したものを
挙げることができる。
【0071】本発明において、酸素原子供給用ガスとし
ては、酸素(O2)、オゾン(O3)、一酸化窒素(N
O)、二酸化窒素(NO2 )、一二酸化窒素(N2
O)。三二酸化窒素(N2 O3 )、四三酸化窒素(
N2 O4 )、五二酸化窒素(N2 O5)、三酸化
窒素(NO3 )、シリコン原子(Si)と酸素原子(
O)と水素原子(H)とを構成原子とする例えば、ジシ
ロキサン(H2 SiOSiH3 )、トリシロキサン
(H3 SiOSiH2 OSiH3 )等の低級シロ
キサン等を挙げることができる。
ては、酸素(O2)、オゾン(O3)、一酸化窒素(N
O)、二酸化窒素(NO2 )、一二酸化窒素(N2
O)。三二酸化窒素(N2 O3 )、四三酸化窒素(
N2 O4 )、五二酸化窒素(N2 O5)、三酸化
窒素(NO3 )、シリコン原子(Si)と酸素原子(
O)と水素原子(H)とを構成原子とする例えば、ジシ
ロキサン(H2 SiOSiH3 )、トリシロキサン
(H3 SiOSiH2 OSiH3 )等の低級シロ
キサン等を挙げることができる。
【0072】本発明において、窒素原子供給用ガスとし
ては、窒素(N2)、アンモニア(NH3 )、ヒドラ
ジン(H2 NNH2 )、アジ化水素(HN3 )、
アンモニウム(NH4 N3 )等のガス状またはガス
化し得る窒素、窒素物およびアジ化物等の窒素化合物を
挙げることができる。この他に、窒素原子の供給に加え
て、ハロゲン原子の供給も行える点から、三弗化窒素(
F3 N)、四弗化窒素(F4 N2 )等のハロゲン
化窒素化合物を挙げることができる。
ては、窒素(N2)、アンモニア(NH3 )、ヒドラ
ジン(H2 NNH2 )、アジ化水素(HN3 )、
アンモニウム(NH4 N3 )等のガス状またはガス
化し得る窒素、窒素物およびアジ化物等の窒素化合物を
挙げることができる。この他に、窒素原子の供給に加え
て、ハロゲン原子の供給も行える点から、三弗化窒素(
F3 N)、四弗化窒素(F4 N2 )等のハロゲン
化窒素化合物を挙げることができる。
【0073】本発明において、第1の導電性のSi原子
を含有する非単結晶層を微結晶質とするには高い放電電
力により分解する、多量のH2ガスで希釈する、高い基
板湿度で成膜する等により行うことができる。
を含有する非単結晶層を微結晶質とするには高い放電電
力により分解する、多量のH2ガスで希釈する、高い基
板湿度で成膜する等により行うことができる。
【0074】
【実施例】以下実施例により本発明をさらに詳細に説明
するが、本発明はこれらによって限定されるものではな
い。 実施例1 マイクロ波(以下「μW」と略記する。)グロー放電分
解法によって本発明の光起電力素子を形成した。
するが、本発明はこれらによって限定されるものではな
い。 実施例1 マイクロ波(以下「μW」と略記する。)グロー放電分
解法によって本発明の光起電力素子を形成した。
【0075】図3に原料ガス供給装置1020と堆積装
置1000からなるμWグロー放電分解法による光起電
力素子の製造装置を示す。
置1000からなるμWグロー放電分解法による光起電
力素子の製造装置を示す。
【0076】図中の1071〜1076のガスボンベに
は、本発明の各々の層を形成するための原料ガスが密封
されており、1071はSiH4 ガスボンベ、107
2はH2 ガスボンベ、1073はH2 ガスで10%
に希釈されたB2 H6 ガス(以下「B2 H6 /
H2 」と略記する。)ボンベ、1074はH2 ガス
で10%に希釈されたPH3 ガス(以下「PH3/H
2 」と略記する。)ボンベ、1075はH2ガスで0
.1%に希釈されたNOガス(以下「NO/He」と略
記する。)ボンベ、1076はZn(CH3 )2 を
充填し、Heガスをキャリアーガスとして用いた、バブ
リング装置(以下「Zn(CH3 )2/Heガスボン
ベ」と略記する。)である。また、予め、ガスボンベ1
071〜1076を取り付ける際に、各々のガスを、バ
ルブ1051〜1056から流入バルブ1031〜10
36のガス配管内に導入してある。
は、本発明の各々の層を形成するための原料ガスが密封
されており、1071はSiH4 ガスボンベ、107
2はH2 ガスボンベ、1073はH2 ガスで10%
に希釈されたB2 H6 ガス(以下「B2 H6 /
H2 」と略記する。)ボンベ、1074はH2 ガス
で10%に希釈されたPH3 ガス(以下「PH3/H
2 」と略記する。)ボンベ、1075はH2ガスで0
.1%に希釈されたNOガス(以下「NO/He」と略
記する。)ボンベ、1076はZn(CH3 )2 を
充填し、Heガスをキャリアーガスとして用いた、バブ
リング装置(以下「Zn(CH3 )2/Heガスボン
ベ」と略記する。)である。また、予め、ガスボンベ1
071〜1076を取り付ける際に、各々のガスを、バ
ルブ1051〜1056から流入バルブ1031〜10
36のガス配管内に導入してある。
【0077】図中1004は導電性基板であり、50m
m角、厚さ1mmのステンレス(SUS430BA)製
で、表面に鏡面加工を施して、スパッタリング法により
、光反射層として銀薄膜を100nm蒸着し、さらに、
導電性基板上に透明導電層としてスパッタリング法によ
り、ZnO薄膜を1μm蒸着してある。
m角、厚さ1mmのステンレス(SUS430BA)製
で、表面に鏡面加工を施して、スパッタリング法により
、光反射層として銀薄膜を100nm蒸着し、さらに、
導電性基板上に透明導電層としてスパッタリング法によ
り、ZnO薄膜を1μm蒸着してある。
【0078】まず、ガスボンベ1071よりSiH4
ガス、ガスボンベ1072よりH2 ガス、ガスボンベ
1073よりB2 H6 /H2 ガス、ガスボンベ1
074よりPH3 /H2 ガス、ガスボンベ1075
よりNO/Heガス、ガスボンベ1076よりZn(C
H3 )2 /Heガスを、バルブ1051〜1056
を開けて導入し、圧力調整器1061〜1066により
各ガス圧力を約2kg/cm2 に調整した。
ガス、ガスボンベ1072よりH2 ガス、ガスボンベ
1073よりB2 H6 /H2 ガス、ガスボンベ1
074よりPH3 /H2 ガス、ガスボンベ1075
よりNO/Heガス、ガスボンベ1076よりZn(C
H3 )2 /Heガスを、バルブ1051〜1056
を開けて導入し、圧力調整器1061〜1066により
各ガス圧力を約2kg/cm2 に調整した。
【0079】次に、流入バルブ1031〜1036、堆
積室1001のリークバルブ1009が閉じられている
ことを確認し、また、流出バルブ1041〜1046、
補助バルブ1008が開かれていることを確認して、コ
ンダクタンス(バタフライ型)バルブ1007を全開に
して、不図示の真空ポンプにより堆積室1001および
ガス配管内を排気し、真空計1006の読みが約1×1
0−4Torrになった時点で補助バルブ1008、流
出バルブ1041〜1046を閉じた。
積室1001のリークバルブ1009が閉じられている
ことを確認し、また、流出バルブ1041〜1046、
補助バルブ1008が開かれていることを確認して、コ
ンダクタンス(バタフライ型)バルブ1007を全開に
して、不図示の真空ポンプにより堆積室1001および
ガス配管内を排気し、真空計1006の読みが約1×1
0−4Torrになった時点で補助バルブ1008、流
出バルブ1041〜1046を閉じた。
【0080】次に、流入バルブ1031〜1036を徐
々に開けて、各々のガスをマスフローコントローラー1
021〜1026内に導入した。
々に開けて、各々のガスをマスフローコントローラー1
021〜1026内に導入した。
【0081】以上のようにして成膜の準備が完了した後
、基板1004上に、第1の導電型層としてn型層、i
型層、第2の導電型層としてp型層の成膜を行った。
、基板1004上に、第1の導電型層としてn型層、i
型層、第2の導電型層としてp型層の成膜を行った。
【0082】n型層を形成するには、基板1004を加
熱ヒータ1005により350℃に加熱し、流出バルブ
1041,1042,1044〜1046および補助バ
ルブ1008を徐々に開いて、SiH4 ガス、H2ガ
ス、PH3 /H2 ガス、NO/Heガス、Zn(C
H3 )2 /Heガスをガス導入管1003を通じて
堆積室1001内に流入させた。このとき、SiH4
ガス流量が10sccm,H2ガス流量が100scc
m,PH3 /H2ガス流量が3sccm,NO/He
ガス流量が1sccm,Zn(CH3 )2 が1×1
0−7mol /min となるように各々のマスフロ
ーコントローラ1021,1022,1024〜102
6で調整した。堆積室1001内の圧力は、20mTo
rr となるように真空計1006を見ながらコンダク
タンスバルブ1007の開口を調整した。その後、不図
示のμW電源の電力を400mW/cm3 に設定し、
不図示の導波管、導波部1010および誘電体窓100
2を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μW
グロー放電を生起させ、透明導電層上にn型層の形成を
開始し、層厚10nmのn型層を形成したところでμW
グロー放電を止め、流出バルブ1041,1042,1
044〜1046および補助バルブ1008を閉じて、
堆積室1001内へのガス流入を止め、n型層の形成を
終えた。
熱ヒータ1005により350℃に加熱し、流出バルブ
1041,1042,1044〜1046および補助バ
ルブ1008を徐々に開いて、SiH4 ガス、H2ガ
ス、PH3 /H2 ガス、NO/Heガス、Zn(C
H3 )2 /Heガスをガス導入管1003を通じて
堆積室1001内に流入させた。このとき、SiH4
ガス流量が10sccm,H2ガス流量が100scc
m,PH3 /H2ガス流量が3sccm,NO/He
ガス流量が1sccm,Zn(CH3 )2 が1×1
0−7mol /min となるように各々のマスフロ
ーコントローラ1021,1022,1024〜102
6で調整した。堆積室1001内の圧力は、20mTo
rr となるように真空計1006を見ながらコンダク
タンスバルブ1007の開口を調整した。その後、不図
示のμW電源の電力を400mW/cm3 に設定し、
不図示の導波管、導波部1010および誘電体窓100
2を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μW
グロー放電を生起させ、透明導電層上にn型層の形成を
開始し、層厚10nmのn型層を形成したところでμW
グロー放電を止め、流出バルブ1041,1042,1
044〜1046および補助バルブ1008を閉じて、
堆積室1001内へのガス流入を止め、n型層の形成を
終えた。
【0083】次に、i型層を形成すには、基板1004
を加熱ヒータ1005により350℃に加熱し、流出バ
ルブ1041,1042および補助バルブ1008を徐
々に開いて、SiH4 ガス、H2 ガスをガス導入管
1003を通じて堆積室1001内に流入させた。この
とき、SiH4 ガス流量が100sccm,H2 ガ
ス流量が200sccmとなるように各々のマスフロー
コントローラ1021,1022で調整した。堆積室1
001内の圧力は、5mTorrとなるように真空計1
006を見ながらコンダクタンスバルブ1007の開口
を調整した。次に、バイアス電源1011の高周波(以
下「RF」と略記する。)バイアスを20mW/cm3
、直流バイアスを基板1004に対して50vに設定
し、バイアス棒1012に印加した。その後、不図示の
μW電源の電力を200mW/cm3 に設定し、不図
示の導波管、導波部1010および誘電体窓1002を
通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μWグロ
ー放電を生起させ、n型層上にi型層の形成を開始し、
層厚400nmのi型層を形成したところでμWグロー
放電を止め、バイアス電源1011の出力を切り、i型
層の形成を終えた。
を加熱ヒータ1005により350℃に加熱し、流出バ
ルブ1041,1042および補助バルブ1008を徐
々に開いて、SiH4 ガス、H2 ガスをガス導入管
1003を通じて堆積室1001内に流入させた。この
とき、SiH4 ガス流量が100sccm,H2 ガ
ス流量が200sccmとなるように各々のマスフロー
コントローラ1021,1022で調整した。堆積室1
001内の圧力は、5mTorrとなるように真空計1
006を見ながらコンダクタンスバルブ1007の開口
を調整した。次に、バイアス電源1011の高周波(以
下「RF」と略記する。)バイアスを20mW/cm3
、直流バイアスを基板1004に対して50vに設定
し、バイアス棒1012に印加した。その後、不図示の
μW電源の電力を200mW/cm3 に設定し、不図
示の導波管、導波部1010および誘電体窓1002を
通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μWグロ
ー放電を生起させ、n型層上にi型層の形成を開始し、
層厚400nmのi型層を形成したところでμWグロー
放電を止め、バイアス電源1011の出力を切り、i型
層の形成を終えた。
【0084】次に、p型層を形成すには、基板1004
を加熱ヒータ1005により300℃に加熱し、流出バ
ルブ1043を徐々に開いて、SiH4 ガス、H2
ガス、B2 H6 /H2 ガスをガス導入管1003
を通じて堆積室1001内に流入させた。このとき、S
iH4 ガス流量が10sccm,H2 ガス流量が1
00sccm,B2 H6 /H2 ガス流量が5sc
cmとなるように各々のマスフローコントローラ102
1〜1023で調整した。堆積室1001内の圧力は、
20mTorrとなるように真空計1006を見ながら
コンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。その
後、不図示のμW電源の電力を400mW/cm3 に
設定し、不図示の導波管、導波部1010および誘電体
窓1002を通じて堆積室1001内にμW電力を導入
し、μWグロー放電を生起させ、i型層上にp型層の形
成を開始し、層厚5nmのp型層を形成したところでμ
Wグロー放電を止め、流出バルブ1041〜1043お
よび補助バルブ1008を閉じて、堆積室1001内へ
のガス流入を止め、p型層の形成を終えた。
を加熱ヒータ1005により300℃に加熱し、流出バ
ルブ1043を徐々に開いて、SiH4 ガス、H2
ガス、B2 H6 /H2 ガスをガス導入管1003
を通じて堆積室1001内に流入させた。このとき、S
iH4 ガス流量が10sccm,H2 ガス流量が1
00sccm,B2 H6 /H2 ガス流量が5sc
cmとなるように各々のマスフローコントローラ102
1〜1023で調整した。堆積室1001内の圧力は、
20mTorrとなるように真空計1006を見ながら
コンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。その
後、不図示のμW電源の電力を400mW/cm3 に
設定し、不図示の導波管、導波部1010および誘電体
窓1002を通じて堆積室1001内にμW電力を導入
し、μWグロー放電を生起させ、i型層上にp型層の形
成を開始し、層厚5nmのp型層を形成したところでμ
Wグロー放電を止め、流出バルブ1041〜1043お
よび補助バルブ1008を閉じて、堆積室1001内へ
のガス流入を止め、p型層の形成を終えた。
【0085】それぞれの層を形成する際に、必要なガス
以外の流出バルブ1041〜1046は完全に閉じられ
ていることはいうまでもなく、また、それぞれのガスが
堆積室1001内、流出バルブ1041〜1046から
堆積室1001に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ1041〜1046を閉じ、補助バル
ブ1008を開き、さらにコンダクタンスバルブ100
7を全開にして、系内を一旦高真空に排気する操作を必
要に応じて行う。
以外の流出バルブ1041〜1046は完全に閉じられ
ていることはいうまでもなく、また、それぞれのガスが
堆積室1001内、流出バルブ1041〜1046から
堆積室1001に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ1041〜1046を閉じ、補助バル
ブ1008を開き、さらにコンダクタンスバルブ100
7を全開にして、系内を一旦高真空に排気する操作を必
要に応じて行う。
【0086】次に、p型層上に、透明電極として、IT
O(In2 O3 +SnO2 )を真空蒸着にて70
nm蒸着し、さらに集電電極として、Alを真空蒸着に
て2μm蒸着し、光起電力素子を作成した。(電池No
.実1)以上の光起電力素子の作成条件を表1に示す。
O(In2 O3 +SnO2 )を真空蒸着にて70
nm蒸着し、さらに集電電極として、Alを真空蒸着に
て2μm蒸着し、光起電力素子を作成した。(電池No
.実1)以上の光起電力素子の作成条件を表1に示す。
【0087】
【表1】
比較例1
n型層を表2に示す作成条件とした以外は、実施例1と
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明電極層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 1)
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明電極層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 1)
【0088】
【表2】
比較例2
n型層を形成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例1と同じ作
成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i型
層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力素
子を作成した。(電池NO. 比2)実施例1(電池N
O.実1)、比較例1(電池NO. 比1)及び比較例
2(電池NO. 比2)で作成した光起電力素子の初期
特性および劣化特性の評価を行った。
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例1と同じ作
成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i型
層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力素
子を作成した。(電池NO. 比2)実施例1(電池N
O.実1)、比較例1(電池NO. 比1)及び比較例
2(電池NO. 比2)で作成した光起電力素子の初期
特性および劣化特性の評価を行った。
【0089】初期特性は、実施例1(電池NO. 実1
)、比較例1(電池NO. 比1)及び比較例2(電池
NO. 比2)で作成した光起電力素子を、AM−1.
5(100mW/cm2 )光照射下に設置し、光電変
換効率を測定して評価した。特性評価の結果、比較例2
(電池NO. 比2)の光起電力素子に対して、実施例
1(電池NO.実1)の光起電力素子は1.04倍、比
較例1(電池NO. 比1)の光電変換効率が1.03
倍優れていた。
)、比較例1(電池NO. 比1)及び比較例2(電池
NO. 比2)で作成した光起電力素子を、AM−1.
5(100mW/cm2 )光照射下に設置し、光電変
換効率を測定して評価した。特性評価の結果、比較例2
(電池NO. 比2)の光起電力素子に対して、実施例
1(電池NO.実1)の光起電力素子は1.04倍、比
較例1(電池NO. 比1)の光電変換効率が1.03
倍優れていた。
【0090】劣化特性は、実施例1(電池NO.実1)
、比較例1(電池NO. 比1)及び比較例2(電池N
O. 比2)で作成した光起電力素子を、AM−1.5
(100mW/cm2 )光照射下に200時間放置し
た後に、初期特性の評価と同様に、光電変換効率を測定
して評価した。特性評価の結果、比較例2(電池NO.
比2)の光起電力素子に対して、実施例1(電池NO
.実1)の光起電力素子は1.23倍、比較例1(電池
NO. 比1)の光起電力素子は1.14倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO.実1)が比較例1
及び2の光起電力素子(電池NO. 比1及び2)に対
して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効果
が実証された。
、比較例1(電池NO. 比1)及び比較例2(電池N
O. 比2)で作成した光起電力素子を、AM−1.5
(100mW/cm2 )光照射下に200時間放置し
た後に、初期特性の評価と同様に、光電変換効率を測定
して評価した。特性評価の結果、比較例2(電池NO.
比2)の光起電力素子に対して、実施例1(電池NO
.実1)の光起電力素子は1.23倍、比較例1(電池
NO. 比1)の光起電力素子は1.14倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO.実1)が比較例1
及び2の光起電力素子(電池NO. 比1及び2)に対
して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効果
が実証された。
【0091】また、実施例1及び比較例1と同じ作成条
件で、基板上に、透明導電層およびn型層を成膜し、結
晶性分析用サンプルを作成し、RHEED(日本電子製
JEM−100SX)により、n型層の結晶性を評価し
たところ、実施例1のサンプルは明瞭なリング状で微結
晶(概略粒径5nm程度)であり、比較例1のサンプル
は不明瞭なリング状で微結晶化していなかった。 実施例2 透明導電層を形成する際に、ZnOに代えて、表3に示
す材料を用い、n型層を形成する際に、NO/Heガス
とZn(CH3)2 /Heガスに代えて、表3に示す
原料ガスを用いた以外は、実施例1と同じ作成条件で、
導電性基板上に、透明導電層、n型層、i型層、p型層
、透明電極、集電電極を形成して光起電力素子を作成し
た。 (電池NO. 2−1〜7)作成した光起電力素子を実
施例と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定した。 その結果を表3に示す。表3からわかる通り、本発明の
第1の導電型層が透明導電層を構成する元素を含有する
光起電力素子が、優れた特性を有することが判明した。
件で、基板上に、透明導電層およびn型層を成膜し、結
晶性分析用サンプルを作成し、RHEED(日本電子製
JEM−100SX)により、n型層の結晶性を評価し
たところ、実施例1のサンプルは明瞭なリング状で微結
晶(概略粒径5nm程度)であり、比較例1のサンプル
は不明瞭なリング状で微結晶化していなかった。 実施例2 透明導電層を形成する際に、ZnOに代えて、表3に示
す材料を用い、n型層を形成する際に、NO/Heガス
とZn(CH3)2 /Heガスに代えて、表3に示す
原料ガスを用いた以外は、実施例1と同じ作成条件で、
導電性基板上に、透明導電層、n型層、i型層、p型層
、透明電極、集電電極を形成して光起電力素子を作成し
た。 (電池NO. 2−1〜7)作成した光起電力素子を実
施例と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定した。 その結果を表3に示す。表3からわかる通り、本発明の
第1の導電型層が透明導電層を構成する元素を含有する
光起電力素子が、優れた特性を有することが判明した。
【0092】
【表3】
実施例3
RFグロー放電分解法によって本発明の光起電力素子を
形成した。
形成した。
【0093】図4に実施例1で使用した原料ガス供給装
置1020と本実施例用の堆積装置1100からなるR
Fグロー放電分解法による光起電力素子の製造装置を示
す。
置1020と本実施例用の堆積装置1100からなるR
Fグロー放電分解法による光起電力素子の製造装置を示
す。
【0094】図中1104は実施例1と同様の導電性基
板であり、実施例1と同様に透明導電層を1μm蒸着し
てある。
板であり、実施例1と同様に透明導電層を1μm蒸着し
てある。
【0095】図中、ガスボンベ1071〜1076の各
ガスボンベには、実施例1と同じ原料ガスが密封されて
おり、実施例1と同様の操作手順により各ガスをマスフ
ローコントローラー1021〜1026内に導入した。
ガスボンベには、実施例1と同じ原料ガスが密封されて
おり、実施例1と同様の操作手順により各ガスをマスフ
ローコントローラー1021〜1026内に導入した。
【0096】以上のようにして成膜の準備が完了した後
、基板1104上に、第1の導電型層としてn型層、i
型層、第2の導電型層としてp型層の成膜を行った。
、基板1104上に、第1の導電型層としてn型層、i
型層、第2の導電型層としてp型層の成膜を行った。
【0097】n型層を形成するには、基板1104を加
熱ヒーター1105により300℃に加熱し、流出バル
ブ1041,1042,1044〜1046及び補助バ
ルブ1108を徐々に開いて、SiH4 ガス、H2
ガス、PH3 /H2 ガス、NO/Heガス、Zn(
CH3 )2 /Heガスをガス導入管1003を通じ
て堆積室1101内に流入させた。この時、SiH4
ガス流量が0.5sccm,H2 ガス流量が50sc
cm,PH3 /H2 ガス流量が0.1sccm,N
O/Heガス流量が0.05sccm,Zn(CH3
)2 が1×10−8mol /min となるように
各々のマスフローコントローラ1021,1022,1
024〜1026で調整した。堆積室1101内の圧力
は、1Torrとなるように真空計1006を見ながら
コンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。その
後、不図示のRF電源の電力を300mW/cm3 に
設定し、RFマッチングボックス1112を通じてカソ
ード1102にRF電力を導入し、RFグロー放電を生
起させ、透明導電層上にn型層の形成を開始し、層厚1
0nmのn型層を形成したところでRFグロー放電を止
め、流出バルブ1041,1042,1044〜104
6及び補助バルブ1108を閉じて、堆積室1101内
へのガス流入を止め、n型層の形成を終えた。
熱ヒーター1105により300℃に加熱し、流出バル
ブ1041,1042,1044〜1046及び補助バ
ルブ1108を徐々に開いて、SiH4 ガス、H2
ガス、PH3 /H2 ガス、NO/Heガス、Zn(
CH3 )2 /Heガスをガス導入管1003を通じ
て堆積室1101内に流入させた。この時、SiH4
ガス流量が0.5sccm,H2 ガス流量が50sc
cm,PH3 /H2 ガス流量が0.1sccm,N
O/Heガス流量が0.05sccm,Zn(CH3
)2 が1×10−8mol /min となるように
各々のマスフローコントローラ1021,1022,1
024〜1026で調整した。堆積室1101内の圧力
は、1Torrとなるように真空計1006を見ながら
コンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。その
後、不図示のRF電源の電力を300mW/cm3 に
設定し、RFマッチングボックス1112を通じてカソ
ード1102にRF電力を導入し、RFグロー放電を生
起させ、透明導電層上にn型層の形成を開始し、層厚1
0nmのn型層を形成したところでRFグロー放電を止
め、流出バルブ1041,1042,1044〜104
6及び補助バルブ1108を閉じて、堆積室1101内
へのガス流入を止め、n型層の形成を終えた。
【0098】次に、i型層を形成するには、基板110
4を加熱ヒーター1105により300℃に加熱し、流
出バルブ1041,1042及び補助バルブ1108を
徐々に開いて、SiH4 ガス、H2 ガスをガス導入
管1103を通じて堆積室1101内に流入させた。こ
の時、SiH4 ガス流量が2sccm,H2 ガス流
量が20sccmとなるように各々のマスフローコント
ローラ1021,1022で調整した。堆積室1101
内の圧力は、1Torrとなるように真空計1106を
見ながらコンダクタンスバルブ1107の開口を調整し
た。その後、不図示のRF電源の電力を5mW/cm3
に設定し、RFマッチングボックス1112通じてカ
ソード1102にRF電力を導入し、RFグロー放電を
生起させ、n型層上にi型層の形成を開始し、層厚40
0nmのi型層を形成したところでRFグロー放電を止
め、i型層の形成を終えた。
4を加熱ヒーター1105により300℃に加熱し、流
出バルブ1041,1042及び補助バルブ1108を
徐々に開いて、SiH4 ガス、H2 ガスをガス導入
管1103を通じて堆積室1101内に流入させた。こ
の時、SiH4 ガス流量が2sccm,H2 ガス流
量が20sccmとなるように各々のマスフローコント
ローラ1021,1022で調整した。堆積室1101
内の圧力は、1Torrとなるように真空計1106を
見ながらコンダクタンスバルブ1107の開口を調整し
た。その後、不図示のRF電源の電力を5mW/cm3
に設定し、RFマッチングボックス1112通じてカ
ソード1102にRF電力を導入し、RFグロー放電を
生起させ、n型層上にi型層の形成を開始し、層厚40
0nmのi型層を形成したところでRFグロー放電を止
め、i型層の形成を終えた。
【0099】次に、p型層を形成するには、基板110
4を加熱ヒーター1105により250℃に加熱し、流
出バルブ1043を徐々に開いて、SiH4 ガス、H
2 ガス、B2 H6 /H2ガスをガス導入管110
3を通じて堆積室1101内に流入させた。この時、S
iH4 ガス流量が0.5sccm,H2 ガス流量が
50sccm,B2H6 /H2 ガス流量が0.5s
ccmとなるように各々のマスフローコントローラ10
21〜1023で調整した。堆積室1101内の圧力は
、1Torrとなるように真空計1106を見ながらコ
ンダクタンスバルブ1107の開口を調整した。その後
、不図示のRF電源の電力を200mW/cm3 に設
定し、RFマッチングボックス1112を通じてカソー
ド1102にRF電力を導入し、RFグロー放電を生起
させ、i型層上にp型層の形成を開始し、層厚5nmの
p型層を形成したところでRFグロー放電を止め、流出
バルブ1041〜1043および補助バルブ1108を
閉じて、堆積室1101内へのガス流入を止め、p型層
の形成を終えた。
4を加熱ヒーター1105により250℃に加熱し、流
出バルブ1043を徐々に開いて、SiH4 ガス、H
2 ガス、B2 H6 /H2ガスをガス導入管110
3を通じて堆積室1101内に流入させた。この時、S
iH4 ガス流量が0.5sccm,H2 ガス流量が
50sccm,B2H6 /H2 ガス流量が0.5s
ccmとなるように各々のマスフローコントローラ10
21〜1023で調整した。堆積室1101内の圧力は
、1Torrとなるように真空計1106を見ながらコ
ンダクタンスバルブ1107の開口を調整した。その後
、不図示のRF電源の電力を200mW/cm3 に設
定し、RFマッチングボックス1112を通じてカソー
ド1102にRF電力を導入し、RFグロー放電を生起
させ、i型層上にp型層の形成を開始し、層厚5nmの
p型層を形成したところでRFグロー放電を止め、流出
バルブ1041〜1043および補助バルブ1108を
閉じて、堆積室1101内へのガス流入を止め、p型層
の形成を終えた。
【0100】それぞれの層を形成する際に、必要なガス
以外の流出バルブ1041〜1046は完全に閉じられ
ていることは云うまでもなく、また、それぞれのガスが
堆積室1101内、流出バルブ1041〜1046から
堆積室1101に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ1041〜1046を閉じ、補助バル
ブ1108を開き、さらにコンダクタンスバルブ110
7を全開して、系内を一旦高真空に排気する操作を必要
に応じて行う。
以外の流出バルブ1041〜1046は完全に閉じられ
ていることは云うまでもなく、また、それぞれのガスが
堆積室1101内、流出バルブ1041〜1046から
堆積室1101に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ1041〜1046を閉じ、補助バル
ブ1108を開き、さらにコンダクタンスバルブ110
7を全開して、系内を一旦高真空に排気する操作を必要
に応じて行う。
【0101】次に、p型層上に、実施例1と同様に透明
電極と集電電極を蒸着し、光起電力素子を作成した。 (電池NO. 実3)以上の、光起電力素子の作成条件
を表4に示す。
電極と集電電極を蒸着し、光起電力素子を作成した。 (電池NO. 実3)以上の、光起電力素子の作成条件
を表4に示す。
【0102】
【表4】
比較例3
n型層を表5に示す作成条件とした以外は、実施例3と
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明電導層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 比3)
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明電導層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 比3)
【0103
】
】
【表5】
比較例4
n型層を形成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例3と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比4)実施例3(電池
NO. 実3)、比較例3(電池NO. 比3)及び比
較例4(電池NO. 比4)で作成した光起電力素子を
実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定し
たところ、比較例4(電池NO. 比4)の光起電力素
子に対して、実施例3(電池NO. 実3)の光起電力
素子は、初期特性が1.03倍、劣化特性が1.23倍
、比較例3(電池NO. 比3)の光起電力素子は、初
期特性が1.02倍、劣化特性が1.16倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO. 実3)が比較例
3及び4の光起電力素子(電池NO. 比3及び4)に
対して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効
果が実証された。
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例3と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比4)実施例3(電池
NO. 実3)、比較例3(電池NO. 比3)及び比
較例4(電池NO. 比4)で作成した光起電力素子を
実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定し
たところ、比較例4(電池NO. 比4)の光起電力素
子に対して、実施例3(電池NO. 実3)の光起電力
素子は、初期特性が1.03倍、劣化特性が1.23倍
、比較例3(電池NO. 比3)の光起電力素子は、初
期特性が1.02倍、劣化特性が1.16倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO. 実3)が比較例
3及び4の光起電力素子(電池NO. 比3及び4)に
対して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効
果が実証された。
【0104】また、実施例3及び比較例3と同じ作成条
件で、基板上に、透明導電層およびn型層を成膜して、
結晶性分析用サンプルを作成し、RHEED(日本電子
製JEM−100SX)により、n型層の結晶性を評価
したところ、実施例3のサンプルは明瞭なリング状で微
結晶(概略粒径5nm程度)であり、比較例3のサンプ
ルは不明瞭なリング状で微結晶化していなかたった。 実施例4 透明導電層を形成する際に、ZnOに代えて、表6に示
す材料を用い、n型層を形成する際に、NO/Heガス
とZn(CH3 )2 /Heガスに代えて、表6に示
す原料ガスを用いた以外は、実施例3と同じ作成条件で
、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i型層、p型
層、透明電極、集電電極を形成して光起電力素子を作成
した。(電池NO. 実4−1〜7)作成した光起電力
素子を実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を
測定した。その結果を表6に示す。表6から判る通り、
本発明の第1の導電型層が透明導電層を構成する元素を
含有する光起電力素子が,優れた特性を有することが判
明した。
件で、基板上に、透明導電層およびn型層を成膜して、
結晶性分析用サンプルを作成し、RHEED(日本電子
製JEM−100SX)により、n型層の結晶性を評価
したところ、実施例3のサンプルは明瞭なリング状で微
結晶(概略粒径5nm程度)であり、比較例3のサンプ
ルは不明瞭なリング状で微結晶化していなかたった。 実施例4 透明導電層を形成する際に、ZnOに代えて、表6に示
す材料を用い、n型層を形成する際に、NO/Heガス
とZn(CH3 )2 /Heガスに代えて、表6に示
す原料ガスを用いた以外は、実施例3と同じ作成条件で
、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i型層、p型
層、透明電極、集電電極を形成して光起電力素子を作成
した。(電池NO. 実4−1〜7)作成した光起電力
素子を実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を
測定した。その結果を表6に示す。表6から判る通り、
本発明の第1の導電型層が透明導電層を構成する元素を
含有する光起電力素子が,優れた特性を有することが判
明した。
【0105】
【表6】
実施例5
n型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスの流量を変化させて、n型層の層厚
方向での酸素原子と亜鉛原子の含有量を分布させ、n型
層を表7に示す作成条件とした以外は、実施例1と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 実5)作成した光起電
力素子を実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性
を測定したところ、実施例1と同様な初期特性と劣化特
性が得られ、本発明の効果が実証された。
)2 /Heガスの流量を変化させて、n型層の層厚
方向での酸素原子と亜鉛原子の含有量を分布させ、n型
層を表7に示す作成条件とした以外は、実施例1と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 実5)作成した光起電
力素子を実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性
を測定したところ、実施例1と同様な初期特性と劣化特
性が得られ、本発明の効果が実証された。
【0106】
【表7】
実施例6
n型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを、n型層の基板側10nmのみに
使用し、n型層を表8に示す作成条件とした以外は、実
施例1と同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層
、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成
して光起電力素子を作成した。(電池NO. 実6)作
成した光起電力素子を実施例1と同様な方法で、初期特
性と劣化特性を測定したところ、実施例1と同様な初期
特性と劣化特性が得られ、本発明の効果が実証された。
)2 /Heガスを、n型層の基板側10nmのみに
使用し、n型層を表8に示す作成条件とした以外は、実
施例1と同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層
、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成
して光起電力素子を作成した。(電池NO. 実6)作
成した光起電力素子を実施例1と同様な方法で、初期特
性と劣化特性を測定したところ、実施例1と同様な初期
特性と劣化特性が得られ、本発明の効果が実証された。
【0107】
【表8】
実施例7
i型層を作成する際に、GeH4 ガスを使用し、i型
層およびp型層を表9に示す作成条件とした以外は、実
施例1と同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層
、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成
して光起電力素子を作成した。(電池NO. 実7)
層およびp型層を表9に示す作成条件とした以外は、実
施例1と同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層
、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成
して光起電力素子を作成した。(電池NO. 実7)
【
0108】
0108】
【表9】
比較例5
n型層を表2に示す作成条件とした以外は、実施例7と
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明電導層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 比5)比較例6 n型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例7と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比6)実施例7(電池
NO. 実7)、比較例5(電池NO. 比5)及び比
較例6(電池NO. 比6)で作成した光起電力素子を
実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定し
たところ、比較例6(電池NO. 比6)の光起電力素
子に対して、実施例7(電池NO. 実7)の光起電力
素子は、初期特性が1.04倍、劣化特性が1.24倍
、比較例5(電池NO. 比5)の光起電力素子は、初
期特性が1.03倍、劣化特性が1.18倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO. 実7)が比較例
5及び6の光起電力素子(電池NO. 比5及び6)に
対して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効
果が実証された。 実施例8 i型層及びp型層を作成する際に、CH4 ガスを使用
し、i型層及びp型層を表10に示す作成条件とした以
外は、実施例1と同じ作成条件で、導電性基板上に、透
明導電層、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電
極を形成して光起電力素子を作成した。(電池NO.
実8)
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明電導層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 比5)比較例6 n型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例7と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比6)実施例7(電池
NO. 実7)、比較例5(電池NO. 比5)及び比
較例6(電池NO. 比6)で作成した光起電力素子を
実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定し
たところ、比較例6(電池NO. 比6)の光起電力素
子に対して、実施例7(電池NO. 実7)の光起電力
素子は、初期特性が1.04倍、劣化特性が1.24倍
、比較例5(電池NO. 比5)の光起電力素子は、初
期特性が1.03倍、劣化特性が1.18倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO. 実7)が比較例
5及び6の光起電力素子(電池NO. 比5及び6)に
対して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効
果が実証された。 実施例8 i型層及びp型層を作成する際に、CH4 ガスを使用
し、i型層及びp型層を表10に示す作成条件とした以
外は、実施例1と同じ作成条件で、導電性基板上に、透
明導電層、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電
極を形成して光起電力素子を作成した。(電池NO.
実8)
【0109】
【表10】
比較例7
n型層を表2に示す作成条件とした以外は、実施例8と
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 比7)比較例8 n型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例8と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比8)実施例8(電池
NO. 実8)、比較例7(電池NO. 比7)及び比
較例8(電池NO. 比8)で作成した光起電力素子を
実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定し
たところ、比較例8(電池NO. 比8)の光起電力素
子に対して、実施例8(電池NO. 実8)の光起電力
素子は、初期特性が1.03倍、劣化特性が1.22倍
、比較例7(電池NO. 比7)の光起電力素子は、初
期特性が1.03倍、劣化特性が1.16倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO. 実8)が比較例
7及び8の光起電力素子(電池NO. 比7及び8)に
対して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効
果が実証された。 実施例9 p型層、i型層およびn型層を表11に示す作成条件と
した以外は、実施例1と同じ作成条件で、導電性基板上
に、透明導電層、p型層、i型層、n型層、透明電極、
集電電極を形成して光起電力素子を作成した。(電池N
O. 実9)
同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層
、i型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起
電力素子を作成した。(電池NO. 比7)比較例8 n型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例8と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、n型層、i
型層、p型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比8)実施例8(電池
NO. 実8)、比較例7(電池NO. 比7)及び比
較例8(電池NO. 比8)で作成した光起電力素子を
実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を測定し
たところ、比較例8(電池NO. 比8)の光起電力素
子に対して、実施例8(電池NO. 実8)の光起電力
素子は、初期特性が1.03倍、劣化特性が1.22倍
、比較例7(電池NO. 比7)の光起電力素子は、初
期特性が1.03倍、劣化特性が1.16倍優れており
、本発明の光起電力素子(電池NO. 実8)が比較例
7及び8の光起電力素子(電池NO. 比7及び8)に
対して、優れた特性を有することが判明し、本発明の効
果が実証された。 実施例9 p型層、i型層およびn型層を表11に示す作成条件と
した以外は、実施例1と同じ作成条件で、導電性基板上
に、透明導電層、p型層、i型層、n型層、透明電極、
集電電極を形成して光起電力素子を作成した。(電池N
O. 実9)
【0110】
【表11】
比較例9
p型層を表12に示す作成条件とした以外は、実施例9
と同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、p型
層、i型層、n型層、透明電極、集電電極を形成して光
起電力素子を作成した。(電池NO. 比9)
と同じ作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、p型
層、i型層、n型層、透明電極、集電電極を形成して光
起電力素子を作成した。(電池NO. 比9)
【011
1】
1】
【表12】
比較例10
p型層を作成する際に、NO/HeガスとZn(CH3
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例9と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、p型層、i
型層、n型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比10)実施例9(電
池NO. 実9)、比較例9(電池NO. 比9)及び
比較例10(電池NO. 比10)で作成した光起電力
素子を実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を
測定したところ、比較例10(電池NO. 比10)の
光起電力素子に対して、実施例9(電池NO. 実9)
の光起電力素子は、初期特性が1.03倍、劣化特性が
1.24倍、比較例9(電池NO. 比9)の光起電力
素子は、初期特性が1.02倍、劣化特性が1.17倍
優れており、本発明の光起電力素子(電池NO.実9)
が比較例9及び10の光起電力素子(電池NO. 比9
及び10)に対して、優れた特性を有することが判明し
、本発明の効果が実証された。
)2 /Heガスを用いない以外は、実施例9と同じ
作成条件で、導電性基板上に、透明導電層、p型層、i
型層、n型層、透明電極、集電電極を形成して光起電力
素子を作成した。(電池NO. 比10)実施例9(電
池NO. 実9)、比較例9(電池NO. 比9)及び
比較例10(電池NO. 比10)で作成した光起電力
素子を実施例1と同様な方法で、初期特性と劣化特性を
測定したところ、比較例10(電池NO. 比10)の
光起電力素子に対して、実施例9(電池NO. 実9)
の光起電力素子は、初期特性が1.03倍、劣化特性が
1.24倍、比較例9(電池NO. 比9)の光起電力
素子は、初期特性が1.02倍、劣化特性が1.17倍
優れており、本発明の光起電力素子(電池NO.実9)
が比較例9及び10の光起電力素子(電池NO. 比9
及び10)に対して、優れた特性を有することが判明し
、本発明の効果が実証された。
【0112】また、実施例9及び比較例9と同じ作成条
件で、基板上に、透明導電層およびp型層を成膜して、
結晶性分析用サンプルを作成し、RHEED(日本電子
製JEM−100SX)により、p型層の結晶性を評価
したところ、実施例9のサンプルは明瞭なリング状で微
結晶(概略粒径5nm程度)であり、比較例9のサンプ
ルは不明瞭なリング状で微結晶化していなかった。
件で、基板上に、透明導電層およびp型層を成膜して、
結晶性分析用サンプルを作成し、RHEED(日本電子
製JEM−100SX)により、p型層の結晶性を評価
したところ、実施例9のサンプルは明瞭なリング状で微
結晶(概略粒径5nm程度)であり、比較例9のサンプ
ルは不明瞭なリング状で微結晶化していなかった。
【0113】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光起電力
素子においては、特性劣化の低減に対して効果がある。
素子においては、特性劣化の低減に対して効果がある。
【図1】本発明の光起電力素子の層構成を説明するため
の模式的構成図である。
の模式的構成図である。
【図2】従来の光起電力素子の層構成を説明するための
模式的構成図である。
模式的構成図である。
【図3】本発明の光起電力素子を作成するための装置の
一例でμWを用いたグロー放電法による製造装置の模式
的説明図である。
一例でμWを用いたグロー放電法による製造装置の模式
的説明図である。
【図4】本発明の光起電力素子を作成するための装置の
一例でRFを用いたグロー放電法による製造装置の模式
的説明図である。
一例でRFを用いたグロー放電法による製造装置の模式
的説明図である。
101 導電性基板
102 透明導電層
103 第1の導電型層
104 i型層
105 第2の導電型層
106 電極
201 導電性基板
202 透明導電層
203 第1の導電型層
204 i型層
205 第2の導電型層
206 電極
1000 μWグロー放電分解法による成膜装置
1001 堆積室 1002 誘電体窓 1003 ガス導入管 1004 基板 1005 加熱ヒーター 1006 真空計 1007 コンダクタンスバルブ1008
補助バルブ 1009 リークバルブ 1010 導波部 1011 バイアス電源 1012 バイアス棒 1020 原料ガス供給装置 1021〜1026 マスフローコントローラー
1031〜1036 ガス流入バルブ1041〜
1046 ガス流出バルブ1051〜1056
原料ガスボンベのバルブ1061〜1066
圧力調整器1071〜1076 原料ガスボ
ンベ1100 RFグロー放電分解法による成膜
装置1101 堆積室 1102 カソード 1103 ガス導入管 1104 基板 1105 加熱ヒーター 1106 真空計 1107 コンダクタンスバルブ1108
補助バルブ 1109 リークバルブ
1001 堆積室 1002 誘電体窓 1003 ガス導入管 1004 基板 1005 加熱ヒーター 1006 真空計 1007 コンダクタンスバルブ1008
補助バルブ 1009 リークバルブ 1010 導波部 1011 バイアス電源 1012 バイアス棒 1020 原料ガス供給装置 1021〜1026 マスフローコントローラー
1031〜1036 ガス流入バルブ1041〜
1046 ガス流出バルブ1051〜1056
原料ガスボンベのバルブ1061〜1066
圧力調整器1071〜1076 原料ガスボ
ンベ1100 RFグロー放電分解法による成膜
装置1101 堆積室 1102 カソード 1103 ガス導入管 1104 基板 1105 加熱ヒーター 1106 真空計 1107 コンダクタンスバルブ1108
補助バルブ 1109 リークバルブ
Claims (2)
- 【請求項1】 導電性基板上に、少なくとも、該導電
性基板側より、透明導電層、第1の導電型のSi原子を
含有する非単結晶層、i型のSi原子を含有する非単結
晶層、および第1の導電型と異なる第2の導電型のSi
原子を含有する非単結晶層を積層してなる光起電力素子
において、前記第1の導電型のSi原子を含有する非単
結晶層が、微結晶質でありかつ透明導電層を構成する元
素を含有することを特徴とする光起電力素子。 - 【請求項2】 透明電導層が、亜鉛、インジウム、錫
、チタニウムおよびカドニウムのうちの少なくとも一つ
からなる酸化物または窒化物であることを特徴とする請
求項1に記載の光起電力素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3149227A JP3037466B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 光起電力素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3149227A JP3037466B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 光起電力素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04349671A true JPH04349671A (ja) | 1992-12-04 |
| JP3037466B2 JP3037466B2 (ja) | 2000-04-24 |
Family
ID=15470648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3149227A Expired - Fee Related JP3037466B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 光起電力素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3037466B2 (ja) |
-
1991
- 1991-05-27 JP JP3149227A patent/JP3037466B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3037466B2 (ja) | 2000-04-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |