JPH04351735A - 光素子 - Google Patents

光素子

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Publication number
JPH04351735A
JPH04351735A JP3123677A JP12367791A JPH04351735A JP H04351735 A JPH04351735 A JP H04351735A JP 3123677 A JP3123677 A JP 3123677A JP 12367791 A JP12367791 A JP 12367791A JP H04351735 A JPH04351735 A JP H04351735A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
analyzer
polarization axis
axis direction
optical
Prior art date
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Pending
Application number
JP3123677A
Other languages
English (en)
Inventor
Manabu Inaba
学 稲葉
Hideaki Iwano
岩野 英明
Tetsuya Seki
哲也 関
Tatsuya Asaga
浅賀 達也
Kazuaki Watanabe
和昭 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP3123677A priority Critical patent/JPH04351735A/ja
Publication of JPH04351735A publication Critical patent/JPH04351735A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気記憶装置に用い
る光素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光磁気記憶装置では、特に信号を
検出する光学系を構成する光学部品が多く、光磁気記憶
装置が大型でかつ高価になるという問題点があった。こ
の問題を解決するために、半導体レーザとその外部反射
光を検出する受光素子を有する光素子及び前記光素子を
用いた光磁気記憶装置の駆動原理が提案されている。こ
こで検光子としては一般的に正方形等の対称形をなすも
のが用いられていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、受光素
子の前方に配置する検光子には、前記請求項1にある通
り、それぞれの検光子の偏光軸方向が互いに直行すると
いう制約がある。この光素子は4つの受光素子に入射し
た検光子透過後の光強度の和及び差信号をもとに、光磁
気記憶媒体からの情報を検出し補正駆動するという原理
をもつため、検光子の偏光軸方向を間違えて実装した場
合、この受光素子による検出が正常に動作しなくなって
しまう。
【0004】
【課題を解決するための手段】以上の説明のように、検
光子と受光素子との接着媒質を選ぶ必要があり、本発明
ではこの問題を解決するために、半導体レーザと、光磁
気記憶媒体からの光を4つの受光素子の方向へ分割する
2つの不等周期回折格子領域から成る回折手段と、前記
回折手段と集光レンズとから成る非点収差発生手段と、
前記回折手段の0次回折光の光軸に対して垂直面内にあ
り、かつ前記光軸を中心として放射状に長軸方向が配置
された帯状の4つの前記受光素子と、4つの前記受光素
子の前方に配置され、それぞれの偏光軸方向が直行した
少なくとも2分割された検光子とを有する光素子におい
て、前記検光子に偏光軸方向を示す識別子を形成するこ
とを特徴とする。
【0005】
【実施例】まず本発明を用いた光磁気記憶装置の構成の
詳細を図1によって示す。図中のx軸は任意の座標を表
わす。台座16の前端中央にヒートシンク15が配置さ
れ、さらにこのヒートシンク15の前端中央には例えば
出射波長が780nmでx軸方向に偏光したの半導体レ
ーザ14がダイボンディングされている。また台座16
の前面両端部分に奥行きの異なる段差がそれぞれ形成さ
れ、これら段差部分前面に受光素子が形成された基板1
3A及び13Bがそれぞれ実装されている。これらヒー
トシンク15、半導体レーザ14、受光素子が成された
基板13A及び13Bが台座16に実装された段階を前
面から示したのが図2である。基板13A及び13Bに
はそれぞれ2つずつの受光素子21A、21B、21C
及び21Dが形成されており、これらの受光素子21A
、21B、21C及び21Dは台座16に実装したとき
に1点から放射状に配列するように形成されている。
【0006】さらに前記受光素子が形成された基板13
A及び13Bの前面に、2つずつ形成された受光素子2
1A、21B、21C及び21Dの受光面を被覆するよ
うな形状に形成された検光子11A及び11Bが、紫外
線硬化樹脂12によって接着されている。これら検光子
11A及び11Bは、例えば矩形状の形状の形成されて
おり、半導体レーザ14の偏光軸方向と45度をなす偏
光軸方向をもち、その偏光軸方向と平行に少なくとも1
つの角が切断されている。さらにこれらの偏光軸方向1
8A及び18Bは互いに偏光軸方向は直行している。
【0007】続いて磁気記憶媒体からの反射光を前記4
つの受光素子21A、21B、21C及び21Dの方向
に分割するための回折手段17A及び17Bが半導体レ
ーザ14の前方に位置し、これら回折手段17A及び1
7Bの0次回折光軸が受光素子21A、21B、21C
及び21Dの受光面と垂直になるように配置されている
【0008】この光素子を用いた光磁気記憶装置では、
光源である半導体レーザ14から出射された波長780
nmの光は磁気記憶媒体によって反射された後に、前記
回折手段17A及び17Bによって受光素子21A、2
1B、21C及び21Dの4方向に回折光が分割され検
出される。そしてこの装置による光磁気記憶媒体の情報
再生方法としては、受光素子21A、21Bからの出力
の和から、受光素子21C、21Dからの出力の和を引
いた差信号によって、光磁気記憶媒体での反射による偏
光軸方向の回転を検出して、情報を再生する。
【0009】以上の例では、半導体レーザ14の偏光方
向がx軸方向であり、検光子11A及び11Bの偏光軸
方向が半導体レーザ14の偏光方向に対してそれぞれ4
5度に傾いていたが、この例に限られず、前記光磁気記
憶装置の再生方法によって情報再生可能であればよい。
【0010】図3は前記図1で用いられている検光子の
実施例である。検光子31は最初矩形状の形状をしてお
り、各辺に対して例えば45度に傾いた偏光軸方向33
を有する。この検光子の少なくとも1つの角を偏光軸方
向33に平行に切断することで、切断面32は偏光軸方
向33を示す識別子として作用し、偏光方向を誤ること
がなくなる。
【0011】図4は本発明の他の1つの実施例である。 検光子41は最初円盤状の形状をしており、任意方向に
偏光軸方向43を有している。前記図3と同様に偏光軸
方向43に平行に円周上を切断することで、切断面42
は偏光軸方向を示す識別子として作用する。
【0012】図5は本発明のもう1つの実施例である。 検光子51は前記図3と同様矩形状をし、各辺に対して
45度傾いた偏光軸方向53を有する。この検光子51
の表裏面のうちで少なくとも一方の面に偏光軸方向53
と平行にスクライブ跡52を形成されており、このスク
ライブ跡52が偏光軸方向53を示す。
【0013】以上検光子の実施例として、矩形状および
円盤状の検光子を用いたが、切断面やスクライブ跡によ
って偏光軸方向が示される形状であればよい。しかしい
ずれの場合であっても検光子の偏光軸方向が明示されて
いるため、偏光軸方向を誤って実装することがなくなる
【0014】
【発明の効果】以上の説明の通り本発明によって、切断
面及びスクライブ跡が検光子の偏光軸方向を示す識別子
として作用するため、検光子を実装するときに偏光軸方
向を認知することが非常に簡単になり、実装時に偏光軸
方向を誤るということがなくなる。そのため偏光軸方向
が誤って実装された場合に発生する情報再生時の検出不
良が防止できる。
【0015】また識別子を形成した検光子は非対称形を
なすので、コンピュータによる画像認識装置等によって
検光子の配置制御及び配置エラーの検出が可能となり、
工程の省力化が行え量産が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明を用いた光磁気記憶装置の構成の実
施例を示した図。
【図2】  検光子の実装直前の前面を示した図。
【図3】  矩形状の検光子の実施例を示した図。
【図4】  円盤状の検光子の実施例を示した図。
【図5】  矩形状の検光子の実施例を示した図。
【符号の説明】
11A、11B.検光子 12.紫外線硬化樹脂 13A、13B.受光素子の形成された基板14.半導
体レーザ 15.ヒートシンク 16.台座 17A、17B.回折手段 18A、18B.偏光軸方向 21A、21B、21C、21D.受光素子31、41
、51.検光子 32、42.切断面 33、43.偏光軸方向 53.スクライブ跡

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体レーザと、光磁気記憶媒体から
    の光を4つの受光素子の方向へ分割する2つの不等周期
    回折格子領域から成る回折手段と、前記回折手段と集光
    レンズとから成る非点収差発生手段と、前記回折手段の
    0次回折光の光軸に対して垂直面内にあり、かつ前記光
    軸を中心として放射状に長軸方向が配置された帯状の4
    つの前記受光素子と、4つの前記受光素子の前方に配置
    され、それぞれの偏光軸方向が直行した少なくとも2分
    割された検光子とを有する光素子において、前記検光子
    に偏光軸方向を示す識別子を形成することを特徴とする
    光素子。
JP3123677A 1991-05-28 1991-05-28 光素子 Pending JPH04351735A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3123677A JPH04351735A (ja) 1991-05-28 1991-05-28 光素子

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JP3123677A JPH04351735A (ja) 1991-05-28 1991-05-28 光素子

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JPH04351735A true JPH04351735A (ja) 1992-12-07

Family

ID=14866573

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JP3123677A Pending JPH04351735A (ja) 1991-05-28 1991-05-28 光素子

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