JPH04354217A - 光送信回路 - Google Patents
光送信回路Info
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- JPH04354217A JPH04354217A JP3155630A JP15563091A JPH04354217A JP H04354217 A JPH04354217 A JP H04354217A JP 3155630 A JP3155630 A JP 3155630A JP 15563091 A JP15563091 A JP 15563091A JP H04354217 A JPH04354217 A JP H04354217A
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- Japan
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Links
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 39
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 38
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は光送信回路に関し、特に光信号を
用いた光通信に用いる光送信回路に関する。
用いた光通信に用いる光送信回路に関する。
【０００２】
【従来技術】従来の光送信回路の構成について図６のブ
ロック図を用いて説明する。図において、従来の光送信
回路は、レーザダイオード（ＬＤ）モジュール１０を含
んで構成されており、送信電気信号１１を、光ファイバ
１４に送出する回路である。次に、動作について説明す
る。送信電気信号１１は、ＬＤモジュール１０により光
信号に変換される。そして、光ファイバ１４に光信号と
して送出される。
ロック図を用いて説明する。図において、従来の光送信
回路は、レーザダイオード（ＬＤ）モジュール１０を含
んで構成されており、送信電気信号１１を、光ファイバ
１４に送出する回路である。次に、動作について説明す
る。送信電気信号１１は、ＬＤモジュール１０により光
信号に変換される。そして、光ファイバ１４に光信号と
して送出される。
【０００３】次に、図７を用いてＬＤモジュールの光学
系について説明する。図において、ＬＤモジュール１０
は、発光用ＬＤチップ２１とレンズ２２及び２４と、反
射戻り光を防止する光アイソレータ２３と、光ファイバ
２５と、受光用モニタフォトダイオード（ＰＤ）チップ
２６とを含んで構成されている。なお、４１は前方光出
力、４２は後方光出力である。
系について説明する。図において、ＬＤモジュール１０
は、発光用ＬＤチップ２１とレンズ２２及び２４と、反
射戻り光を防止する光アイソレータ２３と、光ファイバ
２５と、受光用モニタフォトダイオード（ＰＤ）チップ
２６とを含んで構成されている。なお、４１は前方光出
力、４２は後方光出力である。
【０００４】図において、ＬＤチップ２１の前方光出力
４１は、レンズ２２により平行ビームとなった後、光ア
イソレータ２３を通過し、レンズ２４により光ファイバ
２５に結合して送出される。
４１は、レンズ２２により平行ビームとなった後、光ア
イソレータ２３を通過し、レンズ２４により光ファイバ
２５に結合して送出される。
【０００５】一方、後方光出力４２は、ＰＤ２６により
電気信号に変換され、光出力モニタ信号１３として出力
される。なお、ＬＤモジュール１０では、ＬＤチップ２
１の温度が一定となるように温度制御を行っているが、
本図では省略されている。
電気信号に変換され、光出力モニタ信号１３として出力
される。なお、ＬＤモジュール１０では、ＬＤチップ２
１の温度が一定となるように温度制御を行っているが、
本図では省略されている。
【０００６】上述した光送信回路では、発光素子の特性
として光出力レベル及び素子劣化時の発振閾値をモニタ
して監視し劣化時に夫々光出力の断アラーム、モニタ電
流の劣化アラームを送出しているが、発光素子のスペク
トル劣化は検出していなかった。したがって、発光素子
のスペクトル劣化は受信回路側における受光劣化（回線
異常）に到るまで検出できないという欠点があった。
として光出力レベル及び素子劣化時の発振閾値をモニタ
して監視し劣化時に夫々光出力の断アラーム、モニタ電
流の劣化アラームを送出しているが、発光素子のスペク
トル劣化は検出していなかった。したがって、発光素子
のスペクトル劣化は受信回路側における受光劣化（回線
異常）に到るまで検出できないという欠点があった。
【０００７】
【発明の目的】本発明は上述した従来の欠点を解決する
ためになされものであり、その目的は回線異常に到る前
にスペクトル劣化を検出することができる光送信回路を
提供することである。
ためになされものであり、その目的は回線異常に到る前
にスペクトル劣化を検出することができる光送信回路を
提供することである。
【０００８】
【発明の構成】本発明による光送信回路は、送信すべき
光を出力する発光素子と、この発光素子の出力光のうち
の所定波長成分を検出する検出手段と、この検出される
所定波長成分の強度が所定閾値を越えたとき前記発光素
子が異常である旨を通知する通知手段とを有することを
特徴とする。
光を出力する発光素子と、この発光素子の出力光のうち
の所定波長成分を検出する検出手段と、この検出される
所定波長成分の強度が所定閾値を越えたとき前記発光素
子が異常である旨を通知する通知手段とを有することを
特徴とする。
【０００９】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例による光送信回路の構成を
示すブロック図であり、図５と同等部分は同一符号によ
り示されている。
る。図１は本発明の一実施例による光送信回路の構成を
示すブロック図であり、図５と同等部分は同一符号によ
り示されている。
【００１０】図において、本発明の一実施例による光送
信回路はＬＤモジュール１の他にスペクトル劣化検出回
路２を含んで構成されており、送信電気信号１１を光フ
ァイバ１４に送出する回路である。なお、１２はスペク
トル劣化モニタ信号、１３はスペクトル劣化アラームで
ある。
信回路はＬＤモジュール１の他にスペクトル劣化検出回
路２を含んで構成されており、送信電気信号１１を光フ
ァイバ１４に送出する回路である。なお、１２はスペク
トル劣化モニタ信号、１３はスペクトル劣化アラームで
ある。
【００１１】次に、動作について説明する。送信電気信
号１１はＬＤモジュール１内のＬＤチップにより光信号
に変換され、光ファイバ１４に送出される。ＬＤモジュ
ール１は、後述するようにスペクトル劣化モニタ用フォ
トダイオードを備えており、スペクトル劣化時にスペク
トル劣化モニタ信号１２を送出する。スペクトル劣化検
出回路２はそのスペクトル劣化モニタ信号１２を入力し
、スペクトル劣化モニタ信号１２のレベルがある一定値
を超えた場合、スペクトル劣化アラーム１３を送出する
。
号１１はＬＤモジュール１内のＬＤチップにより光信号
に変換され、光ファイバ１４に送出される。ＬＤモジュ
ール１は、後述するようにスペクトル劣化モニタ用フォ
トダイオードを備えており、スペクトル劣化時にスペク
トル劣化モニタ信号１２を送出する。スペクトル劣化検
出回路２はそのスペクトル劣化モニタ信号１２を入力し
、スペクトル劣化モニタ信号１２のレベルがある一定値
を超えた場合、スペクトル劣化アラーム１３を送出する
。
【００１２】次に、ＬＤモジュールの内部構成について
図２（ａ）を用いて説明する。図においてＬＤモジュー
ルは、ＬＤチップ２１、レンズ２２，２４、光アイソレ
ータ２３及びフォトダイオード２６の従来の構成に加え
て、ビームスプリッタ２７，２８及び回折格子２９，３
０更にはフォトダイオード３１，３２を含んで構成され
ている。なお、４１〜４６は光出力である。すなわち、
ＬＤモジュール１は従来のＬＤモジュールと異なり、Ｌ
Ｄチップ２１の前方光出力４１を分岐するビームスプリ
ッタ２７，２８と分岐光出力４３，４４から夫々特定波
長のみを選択して出力する回折格子２９，３０と、特定
波長の光４５，４６の光出力をモニタするＰＤ３１，３
２とを備えているのである。
図２（ａ）を用いて説明する。図においてＬＤモジュー
ルは、ＬＤチップ２１、レンズ２２，２４、光アイソレ
ータ２３及びフォトダイオード２６の従来の構成に加え
て、ビームスプリッタ２７，２８及び回折格子２９，３
０更にはフォトダイオード３１，３２を含んで構成され
ている。なお、４１〜４６は光出力である。すなわち、
ＬＤモジュール１は従来のＬＤモジュールと異なり、Ｌ
Ｄチップ２１の前方光出力４１を分岐するビームスプリ
ッタ２７，２８と分岐光出力４３，４４から夫々特定波
長のみを選択して出力する回折格子２９，３０と、特定
波長の光４５，４６の光出力をモニタするＰＤ３１，３
２とを備えているのである。
【００１３】かかる構成において、ＬＤチップ２１の前
方光出力４１はレンズ２２により平行光にされる。そし
て、その後、ビームスプリッタ２７及び光アイソレータ
２３、更にはビームスプリッタ２８を通過後、レンズ２
４により光ファイバ２５に集光され送出される。
方光出力４１はレンズ２２により平行光にされる。そし
て、その後、ビームスプリッタ２７及び光アイソレータ
２３、更にはビームスプリッタ２８を通過後、レンズ２
４により光ファイバ２５に集光され送出される。
【００１４】また、ＬＤチップ２１の後方光出力４２は
ＰＤ２６により電気信号に変換され、光出力モニタ信号
１３として出力される。
ＰＤ２６により電気信号に変換され、光出力モニタ信号
１３として出力される。
【００１５】ところで、ビームスプリッタ２７により分
岐された光出力４３は回折格子２９により、ある特定の
波長が選択され、光出力４５としてＰＤ３１に入射され
電気信号に変換される。一方、ビームスプリッタ２８に
より分岐された光出力４４も回折格子３０により、ある
特定の波長が選択され、光出力４６としてＰＤ３２に入
射され電気信号に変換される。なお、従来回路と同様に
、ＬＤモジュール１ではＬＤチップ２１の温度が一定と
なるように温度制御が行われているが、本図では省略し
ている。
岐された光出力４３は回折格子２９により、ある特定の
波長が選択され、光出力４５としてＰＤ３１に入射され
電気信号に変換される。一方、ビームスプリッタ２８に
より分岐された光出力４４も回折格子３０により、ある
特定の波長が選択され、光出力４６としてＰＤ３２に入
射され電気信号に変換される。なお、従来回路と同様に
、ＬＤモジュール１ではＬＤチップ２１の温度が一定と
なるように温度制御が行われているが、本図では省略し
ている。
【００１６】次に、ＬＤチップの出力のスペクトル例に
ついて図３及び図４を用いて説明する。図３は正常時の
スペクトル例であり、図４は異常時のスペクトル例であ
る。両図において、λ０ は発光中心波長，λ１ ，λ
２ はスペクトル劣化として許容可能な波長の限界値（
方式により値は異なる）である。
ついて図３及び図４を用いて説明する。図３は正常時の
スペクトル例であり、図４は異常時のスペクトル例であ
る。両図において、λ０ は発光中心波長，λ１ ，λ
２ はスペクトル劣化として許容可能な波長の限界値（
方式により値は異なる）である。
【００１７】ここで、図２（ａ）に示されている回折格
子２９，３０による選択波長をλ１，λ２ とすれば、
図３に示されているスペクトル正常時には図２（ａ）中
のＰＤ３１，３２には光電流が流れない。これに対し、
図４に示されているスペクトル異常時には図２（ａ）中
のＰＤ３１，３２に光電流が流れる。なお、この２つの
光電流の和が、図１中ではスペクトル劣化モニタ信号１
２として示されている。
子２９，３０による選択波長をλ１，λ２ とすれば、
図３に示されているスペクトル正常時には図２（ａ）中
のＰＤ３１，３２には光電流が流れない。これに対し、
図４に示されているスペクトル異常時には図２（ａ）中
のＰＤ３１，３２に光電流が流れる。なお、この２つの
光電流の和が、図１中ではスペクトル劣化モニタ信号１
２として示されている。
【００１８】次に、スペクトル劣化検出回路の構成例に
ついて、図２（ｂ）を用いて説明する。
ついて、図２（ｂ）を用いて説明する。
【００１９】図において、スペクトル劣化検出回路２は
コンパレータ３を含んで構成されており、ＬＤモジュー
ル１内のスペクトル劣化モニタ用のＰＤ３１，３２から
のスペクトル劣化モニタ信号１２を入力とし、スペクト
ル劣化アラーム１３を送出する回路である。なお、図中
の４は抵抗器、Ｖｒｅｆ は基準電圧、−Ｖは負電圧で
ある。
コンパレータ３を含んで構成されており、ＬＤモジュー
ル１内のスペクトル劣化モニタ用のＰＤ３１，３２から
のスペクトル劣化モニタ信号１２を入力とし、スペクト
ル劣化アラーム１３を送出する回路である。なお、図中
の４は抵抗器、Ｖｒｅｆ は基準電圧、−Ｖは負電圧で
ある。
【００２０】かかる構成において、スペクトル劣化モニ
タ用のＰＤ３１，３２はカソード側がＧＮＤ に、アノ
ード側が抵抗器４を介して−Ｖの負電圧に接続され、各
ＰＤの光電流は電流和としてスペクトル劣化モニタ信号
１２となり、抵抗器４で電圧に変換されてコンパレータ
３に入力される。コンパレータ３は、電圧に変換された
スペクトル劣化モニタ信号が基準電圧Ｖｒｅｆ より大
きくなった場合、すなわち上述の図４の状態になった場
合にスペクトル劣化アラーム１３を送出する。
タ用のＰＤ３１，３２はカソード側がＧＮＤ に、アノ
ード側が抵抗器４を介して−Ｖの負電圧に接続され、各
ＰＤの光電流は電流和としてスペクトル劣化モニタ信号
１２となり、抵抗器４で電圧に変換されてコンパレータ
３に入力される。コンパレータ３は、電圧に変換された
スペクトル劣化モニタ信号が基準電圧Ｖｒｅｆ より大
きくなった場合、すなわち上述の図４の状態になった場
合にスペクトル劣化アラーム１３を送出する。
【００２１】つまり、本実施例の光送信回路は、ＬＤモ
ジュール内にスペクトル劣化検出用のビームスプリッタ
及び回折格子更には、この回折格子により選択された波
長の光出力をモニタするスペクトル劣化モニタ用フォト
ダイオードを備えており、また、スペクトル劣化モニタ
用フォトダイオード出力をスペクトル劣化モニタ信号と
して監視するためのスペクトル劣化時にスペクトル劣化
アラームを送出するスペクトル劣化検出回路を備えてい
るので、ＬＤチップのスペクトル劣化時、回線異常に到
る前に障害を検出することができるのである。
ジュール内にスペクトル劣化検出用のビームスプリッタ
及び回折格子更には、この回折格子により選択された波
長の光出力をモニタするスペクトル劣化モニタ用フォト
ダイオードを備えており、また、スペクトル劣化モニタ
用フォトダイオード出力をスペクトル劣化モニタ信号と
して監視するためのスペクトル劣化時にスペクトル劣化
アラームを送出するスペクトル劣化検出回路を備えてい
るので、ＬＤチップのスペクトル劣化時、回線異常に到
る前に障害を検出することができるのである。
【００２２】なお、レーザダイオード以外の発光素子に
ついても本発明が適用できることは明らかである。
ついても本発明が適用できることは明らかである。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、発光素子
の出力光のうちの所定波長成分を検出し、その強度が所
定閾値をこえたときにアラームを送出することにより、
回線異常に到る前に障害を検出できるという効果がある
。
の出力光のうちの所定波長成分を検出し、その強度が所
定閾値をこえたときにアラームを送出することにより、
回線異常に到る前に障害を検出できるという効果がある
。
【図１】本発明の実施例による光送信回路を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】図１中の各部構成を示すブロック図である。
【図３】正常時のＬＤ出力のスペクトル特性図である。
【図４】異常時のＬＤ出力のスペクトル特性図である。
【図５】従来の光送信回路の内部構成を示すブロック図
である。
である。
【図６】図５のＬＤモジュールの内部構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
１ ＬＤモジュール
２ スペクトル劣化検出回路
２６，３１，３２ フォトダイオード２７，２８
ビームスプリッタ ２９，３０ 回折格子
ビームスプリッタ ２９，３０ 回折格子
Claims (1)
- 【請求項１】 送信すべき光を出力する発光素子と、
この発光素子の出力光のうちの所定波長成分を検出する
検出手段と、この検出される所定波長成分の強度が所定
閾値を越えたとき前記発光素子が異常である旨を通知す
る通知手段とを有することを特徴とする光送信回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3155630A JPH04354217A (ja) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | 光送信回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3155630A JPH04354217A (ja) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | 光送信回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04354217A true JPH04354217A (ja) | 1992-12-08 |
Family
ID=15610192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3155630A Pending JPH04354217A (ja) | 1991-05-30 | 1991-05-30 | 光送信回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04354217A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7460572B2 (en) | 2003-05-13 | 2008-12-02 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Optical module and method for monitoring and controlling wavelengths |
-
1991
- 1991-05-30 JP JP3155630A patent/JPH04354217A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7460572B2 (en) | 2003-05-13 | 2008-12-02 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Optical module and method for monitoring and controlling wavelengths |
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