JPH04364253A

JPH04364253A - 光ピックアップ装置

Info

Publication number: JPH04364253A
Application number: JP3210479A
Authority: JP
Inventors: Hayami Hosokawa; 速美細川; Tatsuo Ogaki; 龍男大垣; Norisada Horie; 堀江　教禎; Hironobu Kiyomoto; 清本　浩伸
Original assignee: Omron Corp; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 1990-12-20
Filing date: 1991-07-29
Publication date: 1992-12-16

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光磁気ディスク、光
磁気カード等の光磁気記録媒体に情報を記録／再生する
ための光ピックアップ装置に関する。

【０００２】この発明において情報の記録／再生とは、
光磁気記録媒体に情報を記録すること、光磁気記録媒体
に記録されている情報を再生すること、ならびに記録お
よび再生することを含む。

【０００３】

【従来の技術】従来の光ピックアップ装置は、半導体レ
ーザからの発散光をコリメートする第１の光学系、コリ
メートされた光を光学的記録媒体上に集光させるととも
に光学的記録媒体からの反射光をコリメートする第２の
光学系、第２の光学系によってコリメートされた反射光
を偏光分離するための第１の偏光ビーム・スプリッタ、
偏光分離された光をさらにトラッキング制御用光とフォ
ーカシング制御用光とに分離するための第２の偏光ビー
ム・スプリッタ、分離された光をさらにトラッキング制
御用光検出器の受光面上に集光させるための第３の光学
系、分離された光をフォーカシング制御用光検出器の受
光面上に集光させるための第４の光学系、第３または第
４の光学系に設けられ、読取信号を得るための光検出器
に光を導くための第５の光学系等から構成されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このような従来の光ピ
ックアップ装置は数多くの光学部品を使用しているので
その重量が大きく、したがってアクセス・タイムが遅い
という問題がある。また、数多くの光学部品を使用して
いるので、部品のコストが高くなるとともに、その組立
て調整に手間と時間がかかりこの点からも最終コストが
高くなるという問題点がある。

【０００５】この発明は光ピックアップ装置の大幅な小
型化、軽量化、低コスト化を図ろうとするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は、発光素子と
発光素子から出射される発散光を光磁気記録媒体上に集
光させるとともに光磁気記録媒体からの反射光を集光さ
せる集光光学系とを備えた光ピックアップ装置において
、上記発光素子と上記集光光学系との間の上記発散光の
光路上に、上記集光光学系の光軸に対して傾けて配置さ
れ、入射する光の一部を透過しかつ一部を反射する少な
くとも２枚１組の透明板（たとえば誘電体板）、および
光磁気記録媒体によって反射されかつ上記集光光学系に
よって集光される光のうち上記透明板によって反射され
た光をそれぞれ受光する少なくとも２個の光検出器を備
え、上記１組の透明板が、上記光軸に垂直な平面がこれ
らの透明板と交わることによって生じる線分が互いにほ
ぼ直交する方向に傾いて配置されていることを特徴とす
る。

【０００７】好ましくは、上記透明板の傾き角は、特定
の偏光面をもつ偏光成分を完全に透過させるブリュース
ター角に設定される。

【０００８】必要ならば上記光検出器の前方に、偏光方
向が互いに９０°異なる検光子が配置される。

【０００９】

【作用】上記発光素子から出射される発散光は上記集光
光学系によって光磁気記録媒体上に集光される。光磁気
記録媒体からの反射光は上記集光光学系によって集光さ
れ、その一部が上記透明板によって反射して少なくとも
２つの光検出器によって受光される。

【００１０】光磁気記録媒体に記録された情報の読取り
は、光磁気記録媒体からの反射光の偏光面回転角の変化
（カー効果）を検出することによって行なわれる。

【００１１】透明板の一面に斜めに光が入射すると、そ
の反射率および透過率は偏光面選択性をもち、特定の偏
光成分の光に対して反射率が０％、透過率が１００　％
となる入射角（ブリュースター角）がある。

【００１２】２枚の透明板の傾き方向を上記のように設
定することにより２枚の透明板の反射光が互いに直交す
る偏光成分のみを含むように、または多く含むようにす
ることができる。

【００１３】したがって、上記検光子を用いることなく
、または補助的に用いることにより、上記光検出器によ
って、光磁気記録媒体からの反射光に含まれる互いに直
交する偏光面をもつ光成分を検出することができるので
、２つの光検出器の出力信号に基づいて情報の読取信号
を作成することができる。

【００１４】また、上記の少なくとも２つの光検出器か
らトラッキング・エラー信号およびフォーカシング・エ
ラー信号が得られる。

【００１５】

【発明の効果】この発明によると、発光素子と集光光学
系との間に少なくとも２枚の透明板を配置することによ
り最低限必要な光学的構成をもつ光ピックアップ装置が
実現されるので、その小型化、軽量化を図ることができ
る。

【００１６】この発明の光ピックアップ装置において不
可欠の光学部品は、発光素子、集光光学系、透明板およ
び光検出器であり、要すれば検光子を設ければ足りるの
で、大幅な低廉化を図ることができる。

【００１７】

【実施例】図１および図２はこの発明の実施例を示して
いる。

【００１８】光ピックアップ装置は、半導体レーザ１１
と、この半導体レーザ１１から出射する発散光を光磁気
ディスク２０上に集光する集光光学系とを含んでいる。集光光学系は、発散光をコリメートするコリメート・レ
ンズ１２と、コリメート光を集光する対物レンズ１３と
を含んでいる。

【００１９】半導体レーザ１１とコリメート・レンズ１
２との間の上記発散光の光路上に、２枚のガラス板１４
および１５が、半導体レーザ１１および集光光学系の光
軸に対して傾けた状態で配置されている。

【００２０】半導体レーザ１１から出射する発散光は２
枚のガラス板１４および１５を透過して、集光光学系に
よって光磁気ディスク２０上に集光される。半導体レー
ザ１１から出射する発散光の一部はガラス板１４で反射
して光検出器２３によって受光される。光検出器２３の
受光信号に基づいて半導体レーザ１１の出射光強度が制
御される。

【００２１】光磁気ディスク２０からの反射光は集光光
学系によって集光される。この集光される反射光は、そ
の一部がガラス板１５によって反射され光検出器２２に
入射し、このガラス板１５を透過した光の一部はさらに
ガラス板１４で反射され光検出器２１に入射する。

【００２２】光磁気ディスク２０からの反射光は集光光
学系によって集光されているのでガラス板１５と光検出
器２２との間、およびガラス板１４と光検出器２１との
間に集光レンズ等を設ける必要は必ずしもない。

【００２３】図３は、ガラス板（屈折率＝１．５　）の
面に光が斜めに入射した場合における、その光の反射係
数と透過係数の入射角依存性を示している。

【００２４】Ｔｐ　はＰ偏光成分の透過係数、Ｔｓ　は
Ｓ偏光成分の透過係数、Ｒｐ　はＰ偏光成分の反射係数
、Ｒｓ　はＳ偏光成分の反射係数である。ガラス面に平
行な成分がＳ偏光成分、垂直な成分がＰ偏光成分である
。

【００２５】図３から分るように、ある角度αＢ　（こ
れをブリュースター角という）において、Ｒｐ　が０％
となり、Ｔｐ　が１００　％となる。このときＲｓ　、
Ｔｓ　は０または１００　％以外の値をとる。

【００２６】したがって、ガラス板を入射光に対してブ
リュースター角αＢで傾けておけば、ガラス板からの反
射光はＳ偏光成分のみとなる。ガラス板の傾き角がブリ
ュースター角以外であってもガラス板からの反射光には
Ｐ偏光成分よりもＳ偏光成分がより多く含まれるように
なる。

【００２７】ガラス板１４と１５とを、集光光学系の光
軸に垂直な面がこれらのガラス板１４および１５と交叉
することにより形成される線分が互いに直交するように
配置し、かつ集光光学系によって集光される反射光の入
射角がブリュースター角になるように傾けておけば、ガ
ラス板１４および１５からの反射光は互いに直交する偏
光成分のみを含むものとなり、これらの光のみが光検出
器２１および２２によってそれぞれ検知される。

【００２８】ガラス板１４と１５のその入射光に対する
傾き角がブリュースター角以外であっても、ガラス板１
４と１５からの反射光は互いに直交する偏光成分をより
多く含むようになる。これらの互いに直交する偏光成分
のみがそれぞれ通過するように、偏光方向が互いに直交
するように配置された検光子３１および３２を光検出器
２１および２２の前方に設けることにより、互いに直交
する偏光成分のみが光検出器２１および２２によってそ
れぞれ検知される。

【００２９】半導体レーザ１１から出射する直線偏光の
偏光方向はこれらの互いに直交する偏光方向（検光子３
１、３２を通過する光の偏光方向）と、ともに４５度の
角度をなしている。

【００３０】以上の構成により、光磁気ディスク２０に
記録されている情報によって生じる偏光面回転角の変化
が、光検出器２１と２２の出力信号の差によって検出さ
れる。

【００３１】半導体レーザ１１の前面に偏光子を設けて
もよいのはいうまでもない。

【００３２】光検出器２１および２２の出力信号はフォ
ーカシング・エラー信号およびトラッキング・エラー信
号の作成にも用いられる。

【００３３】フォーカシング・エラー信号はたとえばビ
ーム・サイズ法や非点収差法により作成される。ビーム
・サイズ法においては、正しくフォーカシングが行なわ
れている場合における反射光の焦点位置の前および後の
位置に光検出器２１および２２が配置される（図２に図
示のように）。光検出器２１および２２に受光される光
ビームの大きさを表わす信号が得られるように光検出器
２１および２２が構成され、光検出器２１と２２の出力
信号の差をとることによってフォーカシング・エラー信
号が作成される。光検出器２１および２２はそれぞれ、たとえば３分割の
フォトダイオードを含み、中央のフォトダイオードの出
力信号と両側のフォトダイオードの出力信号の和信号と
の差が光検出器の出力信号となる。

【００３４】光軸に対して斜めに配置されたガラス板の
反射光には非点収差を含む収差が生じる。この非点収差
を利用して非点収差法に基づくフォーカシング・エラー
信号が得られる。たとえば光検出器２１または２２のい
ずれか一方が４分割フォトダイオードから構成され、そ
れらの４つのフォトダイオードの出力信号の加減算によ
りフォーカシング・エラー信号が生成される。

【００３５】トラッキング・エラー信号の作成にはたと
えばプッシュプル法が用いられる。すなわち、光検出器
２１または２２が光磁気ディスク２０のトラック方向に
垂直な方向に２分割されたフォトダイオードを含むよう
に構成され、これらのフォトダイオードの出力信号の差
信号がトラッキング・エラー信号となる。

【００３６】必要ならば３枚以上のガラス板を配置し、
各ガラス板に対応してフォーカシング・エラー検出用、
トラッキング・エラー検出用等の光検出器を設けるよう
にしてもよい。

【００３７】ガラス板の反射率、透過率は必要に応じて
適切にあらかじめ調整される。この調整において、ガラ
ス板の少なくとも一面に無反射コート、半鏡面コート等
のコーティングを施すとよい。無反射コートは、とくに
ガラス板の両面のうちいずれか一方の面のみからの反射
光を得ることが必要な場合に有用である。

【００３８】さらに必要であれば、ガラス板の厚さを、
光磁気ディスク２０上において波面収差の影響が無視で
きる程度にまで薄く（たとえば１００　μｍ程度以下）
する。または、コリメート・レンズ１２等の形状を、光磁気デ
ィスク２０上に形成される光スポットに波面収差の影響
がほとんど生じないような形状（たとえば非球面、非対
称レンズとする）とするとよい。

【００３９】また、半導体レーザ１１と集光光学系のコ
リメート・レンズ１２との間に、半導体レーザ１１から
出射する楕円形断面の光を円形断面の光に修正する光ビ
ーム整形光学系を設けることもできる。また、半導体レ
ーザ１１とガラス板１４との間に、半導体レーザ１１の
出射光を通過させ、光磁気ディスク２０からの反射光の
半導体レーザ１１への入射を阻止するアイソレータ光学
系を設けてもよい。もし必要ならばガラス板と光検出器
との間に集光光学系を設けることもできる。

【００４０】図４は変形例を示している。

【００４１】図１および図２に示すものと比較すると、
ガラス板の代わりに反射率が比較的高く、透過率が比較
的低いハーフミラー１４が配置されている。また、半導
体レーザ１１と光検出器２１の位置が交換されている。

【００４２】半導体レーザ１１の出射光はハーフミラー
１４によって反射して集光光学系に導かれ、光磁気ディ
スク２０上に焦点を結ぶように集光される。光磁気ディ
スク２０からの反射光のうち、ガラス板１５を透過した
光のさらに一部はハーフミラー１６を透過して光検出器
２１に入射する。

【００４３】さらに図４においては、ハーフミラー１４
とガラス板１５とは、光軸に垂直な平面と交わることに
より生じる線分が互いに平行になるように配置されてい
る。この構成によっても、互いに直交する偏光方向成分を多
く含む光がガラス板１５で反射しおよびハーフミラー１
４を透過する。そして、これらの光が互いに直交する偏
光方向の光の通過を許す検光子３１および３２をそれぞ
れ通して光検出器２１および２２に入射する。

【００４４】図５はさらに他の変形例を示している。

【００４５】集光光学系からコリメート・レンズ１２か
除かれ、一層の小型化が図られている。対物レンズ１３
は半導体レーザ１１の発散する出射光を光磁気ディスク
２０上に集光する。また、光磁気ディスク２０からの反
射光は対物レンズ１３によって集光される。他の構成は
図１および図２に示すものと同じである。

【００４６】図６および図７はガラス板の表裏両面から
の反射光が光検出器に入射しても問題を生じさせない配
置構成の例を示している。ここでは図１および図２に示
す実施例を前提としている。

【００４７】図６にはガラス板と光検出器の代表例とし
て、ガラス板１４と光検出器２１が示されている。検光
子３１は図示が省略されている。光磁気ディスクからの
反射光は、ガラス板１４の表面で反射して光検出器２１
に入射するとともに、ガラス板１４の裏面でも反射して
光検出器２１に入射する。同じように、ガラス板１５の
表裏両面からの反射光も光検出器２２に入射する。

【００４８】図７は光検出器２１および２２の構成例を
示している。これらの光検出器２１および２２はそれぞ
れ３分割フォトダイオードから構成されている。すなわ
ち、光検出器２１は３つの電気的に相互に絶縁されたフ
ォトダイオード２１ａ、２１ｂおよび２１ｃから構成さ
れ、中央のフォトダイオード２１ｂの幅が最も小さく設
定されている。フォトダイオード２１ａ、２１ｂおよび
２１ｃを分割する直線は光ディスクのトラック方向にの
びている。また、ガラス板１４の表面および裏面からの
反射光によってフォトダイオード２１ａ〜２１ｃ上に形
成されるスポットＳＰ１１およびＳＰ１２もフォトダイ
オード２１ａ〜２１ｃを分割する直線にそって配列され
るように光検出器２１が配置されている。

【００４９】光検出器２２も同じように３つの電気的に
相互に絶縁されたフォトダイオード２２ｄ、２２ｅおよ
び２２ｆから構成され、中央のフォトダイオード２２ｅ
の幅が最も小さく設定されている。フォトダイオード２
２ｄ、２２ｅおよび２２ｆを分割する直線は光ディスク
のトラック方向と直交する方向にのびている。また、ガ
ラス板１５の表面および裏面からの反射光によってフォ
トダイオード２２ｄ〜２２ｆ上に形成されるスポットＳ
Ｐ２１およびＳＰ２２はフォトダイオード２２ｄ〜２２
ｆを分割する直線にそって配列されるように光検出器２
２が配置されている。

【００５０】トラッキング・エラーの検出にはプッシュ
プル法が、フォーカシング・エラーの検出にはダブル・
ビーム・サイズ法がそれぞれ用いられる。ダブル・ビー
ム・サイズ法のために、正しくフォーカシングが行なわ
れている場合において、光検出器２１はガラス板１４か
らの反射光の焦点位置の後方に（図６参照）、光検出器
２２はガラス板１５からの反射光の焦点位置の前方にそ
れぞれ配置される。

【００５１】トラッキング・エラー信号は、減算器４９
によって光検出器２１のフォトダイオード２１ａの出力
信号とフォトダイオード２１ｃの出力信号との差をとる
ことにより作成される。光検出器２２のフォトダイオー
ド２２ｄと２２ｆの出力信号の差をとることによっても
トラッキング・エラー信号を作成することができる。

【００５２】フォトダイオード２１ａ、２１ｂ、２１ｃ
、２２ｄ、２２ｅおよび２２ｆの出力信号をそれぞれａ
、ｂ、ｃ、ｄ、ｅおよびｆで表わす。加算器４１、４４
および減算器４３、４６、４７によって、（ａ＋ｃ＋ｅ
）−（ｂ＋ｄ＋ｆ）が演算されることによりフォーカシ
ング・エラー信号が生成される。

【００５３】加算器４１、４２、４４、４５および減算
器４８によって、（ａ＋ｂ＋ｃ）−（ｄ＋ｅ＋ｆ）が演
算されることにより読取信号が作成される。

【００５４】ガラス板１４または１５の表裏両面からの
反射光が光検出器２１または２２に入射しても、これら
の反射光によるスポットＳＰ１１とＳＰ１２またはＳＰ
２１とＳＰ２２はフォトダイオード２１ａ〜２１ｃまた
は２２ｄ〜２２ｆを分割する直線の方向に並んでいるの
で、これらの反射光スポットは各フォトダイオードの出
力信号に同じように寄与をすることになり、何の障害も
なく（誤差を生じることなく）トラッキング・エラー信
号、フォーカシング・エラー信号および読取信号を作成
することができる。

【００５５】このような配置構成は、図４、５に示す変
形例にも同じようにあてはまる。

【００５６】図８は上述した光磁気ディスク用光ピック
アップにおいて好適に用いられる光検出器の例を示して
いる。代表として光検出器２１が示されている。

【００５７】光検出器２１は上面に窓をもつキャン２５
と、このキャン２５の内部に配置されたフォトダイオー
ド２１Ａ（上述のようにいくつかに分割されている）と
、キャン２５の窓を覆うように設けられた検光子３１と
から構成されている。このように検光子３１を光検出器
２１に含ませることにより光ピックアップ装置を構成す
る部品点数の削減を図ることができる。

【００５８】上述した光ピックアップ装置においては、
発散光の光路上に、その光軸に対して傾けた状態でガラ
ス板が配置されている。このような光学系においては、
傾いて配置されたガラス板によって収差が生じる。

【００５９】図９において、発散する光の中にその光軸
に対して傾いて配置されたガラス板１４によって生じる
収差を、このガラス板１４と逆方向に傾けてもう一枚の
ガラス板１６を配置することにより補正する様子を示す
ものである。

【００６０】図１０は、図１および図２に示す光学系に
おいて、上述した収差補正の原理を適用したものである
。

【００６１】半導体レーザ１１のパッケージ１８は、図
１１に示すように、その前端面が光軸に対して傾斜し、
ここに光の出射窓があけられている。この窓を覆うよう
にガラス板１６が取付けられている。パッケージ１８の
内部において、ステム１７にレーザ・ダイオード１１Ａ
が取付けられている。レーザ・ダイオード１１Ａから発
生するレーザ光はガラス板１６を通って外部に出射する
。

【００６２】このような半導体レーザ１１を用いること
によって、ガラス板１４もしくは１５による収差、また
はガラス板１４および１５による収差を次のように補正
することができる。

【００６３】ガラス板１４によって生じる収差のみを補
正する場合には、図９に示すように、ガラス板１４とは
正反対にガラス板１６が光軸に対して傾くように半導体
レーザ１１を配置する。ガラス板１５によって生じる収
差のみを補正する場合には、ガラス板１５とは正反対に
ガラス板１６が光軸に対して傾くように半導体レーザ１
１を配置する。

【００６４】ガラス板１４と１５による収差を補正する
場合には、この収差が最小になるように、半導体レーザ
１１のパッケージを光軸を中心に回転させて調整する。

【００６５】このようにして、半導体レーザ１１のパッ
ケージ１８の窓に設けられたガラス板１６を利用してガ
ラス板１４および／またはガラス板１５による収差を補
正できるので、光ピックアップ装置の光学系を簡素化で
きるとともに、組立ておよび調整が容易となる。また、
ガラス板１６の厚さを最適にすることにより、レーザ・
ダイオードの非点収差補正も可能となる。

【００６６】図１２は図１および図２に示す光学系をホ
ルダの内部に収めた構造を示している。

【００６７】半導体レーザ１１、ガラス板１４、１５、
コリメート・レンズ１２、光検出器２１、２２（光検出
器２１は図示されていない）および光軸に対して斜めに
配置された立上げミラー２７がホルダ２６内に収納され
かつ保持されている。コリメート・レンズ１２によって
平行化された光は立上げミラー２７によってその光路が
直角に偏向され、上方（紙面から直角に立上る方向）に
出射する。

【００６８】半導体レーザ１１とコリメート・レンズ１
２との間には、ガラス板１４と１５が配置されており、
光はこれらのガラス板１４、１５で屈折するので、半導
体レーザ１１の光軸ＯＰ１とコメリート・レンズ１２の
光軸ＯＰ２とは一致していない。図１２においては、ガ
ラス板１５による２つの光軸ＯＰ１とＯＰ２のずれが示
されているが、ガラス板１４によっても同じように光軸
がずれる。半導体レーザ１１とコリメート・レンズ１２
は、このような光軸のずれに相当する距離だけそれらの
光軸がずれるようにホルダ２６内に位置決めされて固定
されている。

【００６９】図１３はこの発明による光ピックアップ装
置を光磁気ディスクのドライブ装置に適用した構成を示
している。

【００７０】このドライブ装置は、ホスト・コンピュー
タからの指令によってドライブ装置全体の動作を統括す
るドライブ制御装置５１を含んでいる。ドライブ制御装
置５１によって、粗動モータ制御装置５３、光ピックア
ップ制御装置５５および回転制御装置５７が制御される
。

【００７１】光磁気ディスク２０はモータ５６によって
回転駆動される。モータ５６は回転制御装置５７によっ
て制御される。

【００７２】上述した光ピックアップ装置は、たとえば
図１２に示すような構造で光ヘッド５０に含まれている
。光ヘッド５０は、粗動モータを含む半径方向送り機構
５２によって光磁気ディスク２０の半径方向に移送され
る。この送り機構５２は粗動モータ制御装置５３によっ
て制御される。

【００７３】光ヘッド５０における微細なトラック・ア
クセス制御、トラッキング制御およびフォーカシング制
御は光ピックアップ制御装置５５によって行なわれる。光磁気ディスク２０に書込むべき信号はドライブ制御装
置５１から信号処理回路５４に与えられる。また、光磁
気ディスク２０から読取られた信号は信号処理回路５４
からドライブ制御装置５１に与えられる。信号処理回路
５４は光ピックアップ装置における半導体レーザ１１の
駆動制御と光検出器２１〜２３等からの検出信号の処理
とを行なう。信号処理回路５４からトラッキング・エラ
ー信号やフォーカシング・エラー信号が光ピックアップ
制御装置５５に与えられる。

【００７４】図１４はこの発明による光ピックアップ装
置を光磁気カードのドライブ装置に適用した構成を示し
ている。

【００７５】このドライブ装置は、ホスト・コンピュー
タからの指令に応答してドライブ装置全体の動作を統括
するシステム制御装置６１を含んでいる。システム制御
装置６１によって、サーボ制御部６４、データ読取部６
５、データ書込部６６および符号／復号部６７が制御さ
れる。

【００７６】光磁気カード６８は、カード搬送装置６３
によってその長手方向に搬送される。上述した光ピック
アップ装置を含む光ヘッド６０は、光ピックアップ搬送
装置６２によって光カード６８の搬送方向と直交する方
向に移送される。光磁気カード６８にはその長手方向に
のびるトラックがその幅方向に多数本並べて配置されて
いる。光ヘッド６０の移送によって光磁気カード６８の
所定のトラックがアクセスされる。光磁気カード６８が
その長手方向に搬送される過程で光ヘッド６０による光
磁気カード６８へのデータの書込みまたは読取りが行な
われる。カード搬送装置６３および光ピックアップ搬送
装置６２はサーボ制御部６４によって制御される。

【００７７】データ読取部６５は光ピックアップ装置の
半導体レーザ１１を制御するとともに光検出器２１、２
２等からの出力信号を処理する。データ書込部６６はデ
ータ書込時において半導体レーザ１１を制御する。符号
／復号部６７は、光磁気カード６８に書込むべきデータ
を符号化してデータ書込部６６に与えるとともに、デー
タ読取部６５から与えられる読取データを復号してシス
テム制御部６１に送出する。

【００７８】このように、この発明による光ピックアッ
プ装置を光磁気ディスク、光磁気カード等のドライブ装
置に適用することにより、ドライブ装置の構成が簡略化
される。

【００７９】図１５は、図１３に示す光磁気ディスクの
ドライブ装置における光ヘッド５０の構成例を示してい
る。

【００８０】この光ヘッドは、固定部７０と移動部７１
とから構成される。固定部７０はドライブ装置の所定箇
所に固定されている。移動部７１は半径方向送り機構５
２および光ピックアップ制御装置５５によって移送また
は変位させられる。

【００８１】固定部７０は、半導体レーザ１１、ガラス
板１４、１５、光検出器２１、２２（必要に応じて検光
子３１、３２を含む）、および集光光学系のコリメート
・レンズ１２を備えている。

【００８２】移動部７１は、ミラー７２および集光光学
系の対物レンズ１３を備えている。固定部７０のコリメ
ート・レンズ１２によって平行化された光は移動部７１
のミラー７２に投射され、ミラー７２によって偏向され
て対物レンズ１３に入射する。この光は対物レンズ１３
によって光磁気ディスク２０上に集光される。光磁気デ
ィスク２０からの反射光は対物レンズ１３によって平行
化され、ミラー７２で反射して固定部７０のコリメート
・レンズ１２に向う。コリメート・レンズ１２とミラー
７２を結ぶ方向が、光磁気ディスク２０の半径方向、す
なわち移動部７１が送り機構５２によって移送される方
向である。対物レンズ１３はまたアクチュエータ（図示
略）によって、微細なトラック・アクセス、トラッキン
グ制御およびフォーカシング制御のために変位させられ
る。

【００８３】このようにして、移送または変位駆動され
る移動部７１の構成が簡素化されるので、トラック・ア
クセスの高速化が達成される。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による光ピックアップ装置の実施例を
示すものであり、光ピックアップ装置の光学的構成の平
面図である。

【図２】この発明による光ピックアップ装置の実施例を
示すものであり、図１に示す光学系の一部を示す斜視図
である。

【図３】ガラス板の反射係数および透過係数の入射角依
存性を示すグラフである。

【図４】光ピックアップ装置の変形例を示すものである
。

【図５】光ピックアップ装置の他の変形例を示すもので
ある。

【図６】ガラス板の表裏両面で反射した光が光検出器に
入射する様子を示す。

【図７】光検出器の構成ならびにトラッキング・エラー
信号、フォーカシング・エラー信号および読取信号を作
成する回路を示すブロック図である。

【図８】光検出器の一構成例を示す斜視図である。

【図９】斜めに配置されたガラス板により生じる収差を
正反対に斜めに配置されたガラス板によって補正する様
子を示す。

【図１０】半導体レーザのパッケージ前面の斜めに取付
けられたガラス板によって収差を補正する光学系を示す
斜視図である。

【図１１】半導体レーザのパッケージの断面図である。

【図１２】ホルダに保持された光ピックアップ装置の構
成を示す断面図である。

【図１３】光磁気ディスク・ドライブ装置の構成を示す
ブロック図である。

【図１４】光磁気カード・ドライブ装置の構成を示すブ
ロック図である。

【図１５】分離型光ヘッドの構成例を示す斜視図である
。

【符号の説明】

１１　　半導体レーザ１１Ａ　　レーザ・ダイオード１２　　コリメート・レンズ１３　　対物レンズ１４、１５　　ガラス板１６　　ガラス板１８　　パッケージ２０　　光磁気ディスク２１、２２　　光検出器２１Ａ、２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２２ｄ、２２ｅ、２
２ｆ　　フォトダイオード２５　　キャン２６　　ホルダ３１、３２　　検光子６８　　光磁気カード７２　　ミラー

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】　　発光素子と発光素子から出射される発
散光を光磁気記録媒体上に集光させるとともに光磁気記
録媒体からの反射光を集光させる集光光学系とを備えた
光ピックアップ装置において、上記発光素子と上記集光
光学系との間の上記発散光の光路上に、上記集光光学系
の光軸に対して傾けて配置され、入射する光の一部を透
過しかつ一部を反射する少なくとも２枚１組の透明板、
および光磁気記録媒体によって反射されかつ上記集光光
学系によって集光される光のうち上記透明板によって反
射された光をそれぞれ受光する少なくとも２個の光検出
器を備え、上記１組の透明板が、上記光軸に垂直な平面
がこれらの透明板と交わることによって生じる線分が互
いにほぼ直交する方向に傾いて配置されていることを特
徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】　　発光素子と発光素子から出射される発
散光を光磁気記録媒体上に集光させるとともに光磁気記
録媒体からの反射光を集光させる集光光学系とを備えた
光ピックアップ装置において、上記発光素子と上記集光
光学系との間の上記発散光の光路上に、上記集光光学系
の光軸に対して傾けて配置され、入射する光の一部を透
過しかつ一部を反射する少なくとも２枚１組の透明板、
および光磁気記録媒体によって反射されかつ上記集光光
学系によって集光される光のうち一方の透明板によって
反射された光を受光する光検出器と他方の透明板を透過
した光を受光する光検出器を備え、上記１組の透明板が
、上記光軸に垂直な平面がこれらの透明板と交わること
によって生じる線分が互いにほぼ平行となる方向に傾い
て配置されていることを特徴とする光ピックアップ装置
。
【請求項３】　　上記透明板が、光磁気記録媒体からの
反射光の入射角がブリュースター角に等しくなる角度に
配置されている、請求項１または２に記載の光ピックア
ップ装置。
【請求項４】　　上記光検出器の出力信号を用いて、ト
ラッキング・エラー信号およびフォーカシング・エラー
信号を作成する手段をさらに備えた請求項１または２に
記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】　　上記光検出器の出力信号を用いて読取
信号を作成する手段をさらに備えた請求項１または２に
記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】　　上記発光素子から出射されかつ上記透
明板によって反射された光を受光し、上記発光素子の発
光強度を制御するための信号を出力する光検出器が設け
られている、請求項１または２に記載の光ピックアップ
装置。
【請求項７】　　上記光検出器とそれに対応する透明板
との間に検光子が配置されている、請求項１または２に
記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】　　上記光検出器が、ケースと、このケー
ス内に配置された受光素子と、ケースの上面を覆う検光
子とから構成されている請求項１または２に記載の光ピ
ックアップ装置。
【請求項９】　　上記透明板の少なくとも一面に反射率
を調整するためのコーティングが施されている、請求項
１または２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１０】　　上記光検出器が直線によって少なく
とも２つに分割された受光素子を含み、上記透明板の表
面からの反射光によるスポットと裏面からの反射光によ
るスポットとが上記受光素子を分割する直線にそって並
ぶように上記光検出器が配置されている、請求項１また
は２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１１】　　上記光検出器が３分割の受光素子を
含み、これらの受光素子の出力信号に基づいてトラッキ
ング・エラー信号、フォーカシング・エラー信号および
読取信号が作成される、請求項１０に記載の光ピックア
ップ装置。
【請求項１２】　　上記発光素子が前面に窓を有するパ
ッケージに内蔵され、上記窓を覆うように上記発光素子
の光軸に対して傾いた第２の透明板が設けられ、上記第
２の透明板が上記２枚１組の透明板のうちの少なくとも
１枚によって生じる収差を低減するように上記パッケー
ジが配置されている、請求項１または２に記載の光ピッ
クアップ装置。
【請求項１３】　　上記発光素子と上記集光光学系に含
まれるレンズを保持するホルダをさらに備え、上記発光
素子と上記レンズが、それらの光軸を上記２枚１組の透
明板における光の屈折により生じる光軸のずれに相当す
る分ずらした位置に保持されている請求項１または２に
記載の光ピックアップ装置。
【請求項１４】　　光磁気ディスク・ドライブ装置に用
いられている請求項１または２に記載の光ピックアップ
装置。
【請求項１５】　　光磁気カード・ドライブ装置に用い
られている請求項１または２に記載の光ピックアップ装
置。
【請求項１６】　　上記発光素子、光検出器、透明板、
および集光光学系に含まれるコリメート・レンズによっ
て構成される固定部と、上記集光光学系に含まれる対物
レンズを含み、トラック・アクセス、トラッキング制御
およびフォーカシング制御のためにアクチュエータによ
って駆動される移動部と、から構成される請求項１また
は２に記載の光ピックアップ装置。