JPH04364476A - 電圧確認回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、例えば直流低電圧電
源の電圧発生の有無又は電気回路の電源部の結線の良否
等を確認する場合に使用して好適な電圧確認回路に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、直流電圧電源から電圧が発生して
いるか否か、又は目的とする箇所まで電源が供給されて
いるかどうか等を確認するためには、テスタ、マルチメ
ータあるいはオシロスコープ等の電圧測定器が使用され
ていた。

【０００３】しかしながら、使用される電源の数が多い
場合に、これらの電源の状態を同時に確認しようとする
と、そのような電圧測定器を必要なチャンネル数だけ用
意しなければならず、スペース的及び費用的に不利であ
るばかりでなく、それぞれの電圧値を読み取って判断し
なければならないので、確認に時間を要する不都合があ
った。

【０００４】これに対して、出力電圧が所定の範囲に入
っているかどうかを判断するための電圧確認回路として
、図１０に示すようなコンパレータを用いた回路も使用
されていた。

【０００５】この図１０において、３及び４は、第１及
び第２のコンパレータを構成するオペアンプで、これら
はこの例では１チップＩＣで構成されている。そして、
１及び２は入力端子で、これら入力端子１と入力端子２
との間に確認対象とする電圧Ｅが供給される。入力端子
１は接地され、入力端子２は第１のコンパレータ３の一
方の入力端子及び第２のコンパレータ４の他方の入力端
子に接続されている。

【０００６】また、直流電圧Ｖｃｃが供給される電源端
子５と接地間に、直列に抵抗器Ｒ１、Ｒ２及びＲ３が接
続され、抵抗器Ｒ１とＲ２との接続点がコンパレータ４
の一方の入力端子に接続され、抵抗器Ｒ２と抵抗器Ｒ３
との接続点がコンパレータ３の他方の入力端子に接続さ
れている。

【０００７】そして、コンパレータ３及び４の出力がオ
アゲート６の入力端子に供給され、このオアゲート６の
出力端子と電源端子５との間に抵抗器Ｒ４とＬＥＤ（発
光ダイオード）７とが直列に接続されている。抵抗器Ｒ
１〜Ｒ３の抵抗値をそれぞれＲ１〜Ｒ３で表すと、電圧
ＥがＶｃｃ・Ｒ３／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）　＜Ｅ＜Ｖｃ
ｃ・（Ｒ２＋Ｒ３）／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）の範囲内に
あるときには、コンパレータ３及び４の出力が共にロー
レベル“０”となる。したがって、オアゲート６の出力
も“０”となるため、ＬＥＤ７が点灯する。 一方、電圧Ｅがその範囲から外れると、コンパレータ３
又は４の一方の出力がハイレベル“１”となり、オアゲ
ート６の出力も“１”となるため、そのＬＥＤ７は消灯
する。即ち、そのＬＥＤ７が点灯しているか否かによっ
て、その電圧Ｅが所定の範囲内に存在するか否かを確認
することができる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１０
の例の確認回路でもまだ部品点数が多く、回路を動作さ
せるための電源が必要であるため、確認する電源のチャ
ンネル数が多い場合には比較的広いスペースを要すると
共に、確認回路のコストが高い不都合がある。

【０００９】この発明は、以上の点にかんがみ、少ない
部品点数で、かつ、専用の電源を使用することなく、入
力電圧の大きさの程度を確認できる電圧確認回路を提供
することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明による電圧確認
回路は、例えば図１に示すように、ゲート−ソース間電
圧が一定になるように接続された接合形ＦＥＴ（電界効
果トランジスタ）（１０）と、発光ダイオード（９）と
を直列接続し、この直列回路を２個の端子（８，１１）
の間に接続し、これら２個の端子間に被検電圧Ｅを印加
する。

【００１１】また、例えば図４に示すように、ゲート−
ソース間電圧が一定になるように接続された接合形ＦＥ
Ｔ（１５）と発光ダイオード（１６）との直列回路に対
して、さらに直列にツェナーダイオード（１７）を接続
するようにしてもよい。

【００１２】また、この発明においては、さらに、例え
ば図４に示すように、接合形ＦＥＴと発光ダイオードと
ツェナーダイオードとを直列に接続して形成した確認回
路を複数個、２個の端子（８，１１）間に接続し、これ
ら２個の端子に被検電圧Ｅを印加するようにすることも
できる。

【００１３】

【作用】上記の構成のこの発明によれば、例えば図１の
例の場合、被検電圧ＥがＦＥＴ（１５）のオン電圧と発
光ダイオード（９）のオン電圧の和を超えると、その発
光ダイオード（９）が発光を開始するので、簡単な構成
で、しかも専用の電源を使用することなく、被検電圧Ｅ
のおおまかな範囲を確認することができる。

【００１４】また、ゲート−ソース間電圧が一定になる
ように接続された接合形ＦＥＴは定電流素子となるため
、その被検電圧Ｅが大きくなっても、その発光ダイオー
ド（９）に流れる電流は所定の程度以上には大きくなら
ない。したがって、その被検電圧Ｅの発生源に対して大
きな影響を与えることがない。

【００１５】また、接合形ＦＥＴ（１５）及び発光ダイ
オード（１６）に対して、さらに直列にツェナーダイオ
ード（１７）を接続した場合には、被検電圧Ｅが、ＦＥ
Ｔ（１５）のオン電圧と発光ダイオード（１６）のオン
電圧とツェナーダイオード（１７）のツェナー電圧との
和を超えたときに、発光ダイオード（１６）が発光を開
始する。この場合には、ツェナーダイオード（１７）の
ツェナー電圧を変えることにより、発光ダイオード（１
６）の発光開始電圧を任意に設定することができる。

【００１６】さらに、端子８及び１１間に複数の確認回
路を設けた場合、各確認回路の発光ダイオードの発光開
始電圧は、ＦＥＴのオン電圧と、発光ダイオードのオン
電圧と、ツェナーダイオードのツェナー電圧との和にほ
ぼ等しいものであるが、この発光開始電圧を各確認回路
で異なるようにすることにより、各確認回路の発光ダイ
オードの発光開始電圧を異ならせることができる。これ
により、被検電圧Ｅが所定の電圧範囲内に存在するか否
かを確認することができる。

【００１７】

【実施例】以下、この発明による電圧確認回路の実施例
につき図１〜図９を参照して説明する。

【００１８】図１は、この発明の実施例の基本ユニット
を示しており、接合形ＦＥＴ１０とＬＥＤ９との直列回
路が、被検電圧の入力端子８及び１１間に接続されて構
成されている。すなわち、この例の基本ユニットは、一
方の入力端子８にＬＥＤ９のカソードが接続され、この
ＬＥＤ９のアノードにＮチャンネルの接合形ＦＥＴ１０
のソースが接続され、この接合形ＦＥＴ１０のドレイン
が他方の入力端子１１に接続される。

【００１９】この例では、接合形ＦＥＴ１０のゲートと
ソースとは短絡接続されてゲート−ソース間電圧ＶＧＳ
＝０とされ、一定とされている。そして、入力端子８と
入力端子１１との間に確認対象とする入力電圧Ｅが印加
される。

【００２０】一般に、図２（Ａ）に示すように、ＦＥＴ
のドレイン−ソース電圧ＶＤＳを横軸、ドレイン電流Ｉ
Ｄ　を縦軸にとると、ゲート−ソース間電圧ＶＧＳが変
化するにつれて電圧ＶＤＳ−電流ＩＤ　の特性は、特性
曲線１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃ、‥‥のように変化する。 即ち、ゲート−ソース間電圧ＶＧＳを一定にすることに
より、ＦＥＴは定電流素子として動作する。本例では、
ゲートとソースとを短絡接続してゲート−ソース間電圧
ＶＧＳを零にした場合の定電流特性、即ち特性曲線１２
Ｃで表される定電流特性を使用する。

【００２１】また、図２（Ｂ）に示すように、ＬＥＤへ
の印加電圧Ｖを横軸、これに流れる電流Ｉを縦軸にとる
と、ＬＥＤの電圧−電流特性はツェナーダイオードのよ
うに急峻な立ち上がりを持った特性曲線で表すことがで
きる。そして、その急峻な立ち上がりの電圧から、ＬＥ
Ｄは発光を開始する。

【００２２】この例の基本ユニットは、図２（Ａ）の曲
線１２Ｃの特性を有する接合形ＦＥＴ１０と、図２（Ｂ
）の特性を有するＬＥＤ９とを直列接続して構成された
ものであるので、基本ユニットの電圧−電流特性は、図
２Ｃの特性曲線で示すようになる。すなわち、基本ユニ
ットの入力電圧Ｅ及び電流Ｉを、それぞれ図２（Ｃ）の
横軸及び縦軸にとると、入力電圧Ｅが、ＦＥＴ１０のオ
ン電圧とＬＥＤ９のオン電圧との和ＶＴまで上がると、
電流Ｉが流れ始めてＬＥＤ９が点灯し始め、さらに入力
電圧Ｅが高くなると、電流Ｉは接合形ＦＥＴ１０の定電
流で一定電流になり、ＬＥＤ９の明るさは、その定電流
に応じた一定の明るさになる。

【００２３】この場合、電流Ｉが立ち上がってから定電
流に達するまでの入力電圧Ｅの変化領域ＶＲはＬＥＤ９
の明るさが変わる領域であり、通常、ＬＥＤが明るく一
定に点灯した状態で電圧確認するので、この変化領域Ｖ
Ｒが小さい程、入力電圧Ｅに対する検出感度が良いとい
うことになる。

【００２４】以上のようにして、ＬＥＤ９が点灯するか
否かにより、入力電圧ＥがＬＥＤ９のオン電圧程度より
も高いか低いかを確認することができる。そして、この
例の構成によれば、使用する部品はＬＥＤ９及び接合形
ＦＥＴ１０のみであり、構成がきわめて簡単で小型であ
ると共に、専用の電源を必要としない利点がある。また
、接合形ＦＥＴ１０により流れる電流が制限されている
ので、その入力電圧Ｅが高くなっても大きな電流が流れ
ることがない利点がある。

【００２５】この場合、ＬＥＤ９の明るさは接合形ＦＥ
Ｔ１０で制限された電流で決まる。したがって、ＬＥＤ
９をより明るく点灯させるためには、ゲート−ソース間
電圧ＶＧＳが零のときのドレイン電流ＩＤ　の値ＩＤＳ
Ｓ　が大きなＦＥＴを使用するか、又は複数個のＦＥＴ
を並列に接続するようにすれば良い。

【００２６】また、入力電圧Ｅに対する検出感度を高め
るためには、図２（Ｃ）の変化幅ＶＲをできるだけ小さ
くすることが望ましく、一方、ＬＥＤを発光させるため
の電流はある程度大きくすることが望ましい。しかし、
前記変化幅ＶＲが小さく、かつ、ゲート−ソース間電圧
ＶＧＳが零のときのドレイン電流であるＩＤＳＳ　が大
きいＦＥＴは容易には入手することができない。

【００２７】例えば図３（Ａ）を参照して一般的なＦＥ
Ｔの特性を説明するに、ドレイン電流ＩＤＳＳ　がＩＤ
ＳＳ１〜ＩＤＳＳ３と高くなるにつれて、それぞれ特性
曲線１３Ａ〜１３Ｃで示すように、立ち上がりの変化幅
はＶＲ１〜ＶＲ３と広くなり感度が悪くなる傾向がある
。

【００２８】その感度を良くして、かつ、電流ＩＤＳＳ
　を高くするためには、その電流ＩＤＳＳ　の小さいＦ
ＥＴを複数個並列に接続すればよい。具体的に、電流Ｉ
ＤＳＳ　が小さい１個のＦＥＴのドレイン−ソース間電
圧ＶＤＳとドレイン電流ＩＤ　との特性が、図３（Ｂ）
の特性曲線１４Ａで表されるものとすると、そのＦＥＴ
を２個〜４個並列に接続した場合の全体の特性は、それ
ぞれ特性曲線１４Ｂ〜１４Ｄで表すことができる。この
図３（Ｂ）より明かなように、ＦＥＴを複数個並列に接
続することにより、立ち上がりの変化幅は小さく維持し
たままで、ドレイン電流ＩＤＳＳ　を実質的に任意に大
きくすることができる。

【００２９】ところで、ＬＥＤのオン電圧は一般に１．
５Ｖ〜２Ｖ程度であり、図１の構成では確認対象とする
電圧がＬＥＤ９のオン電圧にのみ左右されてしまい、被
検電圧の範囲が限定されてしまう。また、上述の図１の
例の基本ユニットは、入力電圧Ｅが或る電圧以上である
か否かをＬＥＤの点灯により確認するものであるが、そ
の入力電圧Ｅが或る範囲に存在するか否かを確認するこ
とができない。

【００３０】この発明では、後述する実施例に示すよう
に、ＬＥＤにツェナーダイオードを接続し、そのツェナ
ー電圧を選定することにより、ＬＥＤの発光開始電圧を
任意に設定できるようにして、前者の問題を解決するよ
うにしている。

【００３１】また、後者の問題は、ＬＥＤの発光開始電
圧を異ならせた複数の基本ユニットを用いることにより
解決している。

【００３２】図４は、上記の２つの問題を共に解決した
実施例である。この例は、基本ユニットを確認回路とし
て２個使用する場合の例である。この図４においては、
ゲートとソースとが短絡接続されたＮチャンネルの接合
形ＦＥＴ１５のゲートが入力端子１１に接続され、ＦＥ
Ｔ１５のソースが緑色で発光する緑色ＬＥＤ１６のアノ
ードに接続され、この緑色ＬＥＤ１５のカソードがツェ
ナーダイオード１７のカソードに接続され、このツェナ
ーダイオード１７のアノードが入力端子８に接続される
。そして、ＦＥＴ１５、緑色ＬＥＤ１６及びツェナーダ
イオード１７の直列回路により第１の確認回路が形成さ
れる。

【００３３】また、第１の確認回路と並列に、入力端子
１１及び８間に、第１の確認回路と同様に構成された、
接合型ＦＥＴ１８と、赤色で発光する赤色ＬＥＤ１９と
、ツェナーダイオード２０の直列回路空なる第２の確認
回路が接続される。そして、入力端子８と入力端子１１
との間に確認対象とされる入力電圧Ｅが印加される。 この場合、ツェナーダイオード１７のツェナー電圧Ｖｚ
１よりもツェナーダイオード２０のツェナー電圧Ｖｚ２
の方が大きくなるようにツェナー電圧の選定がなされて
いる。

【００３４】図５を参照して図４例の動作を説明する。 入力電圧Ｅを上昇させてゆくと、入力電圧Ｅが電圧Ｅ１
に達したところで、緑色ＬＥＤ１６が発光し、さらに入
力電圧Ｅが電圧Ｅ２に達したとことで、赤色ＬＥＤ１９
が発光するようになる。

【００３５】電圧Ｅ１は、ＦＥＴ１５のオン電圧と、緑
色ＬＥＤ１６のオン電圧と、ツェナーダイオード１７の
ツェナー電圧Ｖｚ１との和にほぼ等しく、電圧Ｅ２はＦ
ＥＴ１８のオン電圧と、赤色ＬＥＤ１９のオン電圧と、
ツェナーダイオード２０のツェナー電圧Ｖｚ２との和に
ほぼ等しい。

【００３６】このように、図４の例によれば、２個のＬ
ＥＤ１６及び１９が消灯しているときには、入力電圧Ｅ
が電圧Ｅ１より小さく、緑色ＬＥＤ１６のみが点灯して
いるときには入力電圧Ｅが電圧Ｅ１と電圧Ｅ２との間に
あり、２個のＬＥＤ１６及び１９が点灯しているときに
は入力電圧Ｅが電圧Ｅ２より大きいということが確認で
きる。

【００３７】図４の実施例には種々の変形例が考えられ
る。例えば、図６（Ａ）に示す変形例は、図４例におい
て赤色ＬＥＤ１９のカソードを緑色ＬＥＤ１６のアノー
ドに接続し、ツェナーダイオード２０を取り外したもの
である。この例の場合には、ＦＥＴ１５と、発光ダイオ
ード１６と、ツェナーダイオード２１とにより第１の確
認回路が形成され、また、ＦＥＴ１８と、発光ダイオー
ド１９及び１６と、ツェナーダイオード２１とにより第
２の確認回路が形成される。

【００３８】したがって、図６（Ａ）の例においては、
電圧Ｅ１は、ＦＥＴ１５のオン電圧と、緑色ＬＥＤ１６
のオン電圧と、ツェナーダイオード２１のツェナー電圧
Ｖｚ３との和にほぼ等しく、電圧Ｅ２はＦＥＴ１８のオ
ン電圧と、赤色ＬＥＤ１９のオン電圧と、緑色ＬＥＤ１
６のオン電圧と、ツェナーダイオード２１のツェナー電
圧Ｖｚ３との和にほぼ等しい。

【００３９】また、図６（Ｂ）に示す変形例は、図４例
において赤色ＬＥＤ１９のカソードをツェナーダイオー
ド２２を介して緑色ＬＥＤ１６のアノードに接続し、緑
色ＬＥＤ１６のカソードをツェナーダイオード２３を介
して入力端子８に接続するようにしたものである。この
例の場合には、ＦＥＴ１５と、発光ダイオード１６と、
ツェナーダイオード２３とにより第１の確認回路が形成
され、また、ＦＥＴ１８と、発光ダイオード１９及び１
６と、ツェナーダイオード２２及び２３とにより第２の
確認回路が形成される。

【００４０】したがって、図６（Ｂ）の例においては、
電圧Ｅ１は、ＦＥＴ１５のオン電圧と、緑色ＬＥＤ１６
のオン電圧と、ツェナーダイオード２３のツェナー電圧
Ｖｚ４との和にほぼ等しく、電圧Ｅ２はＦＥＴ１８のオ
ン電圧と、赤色ＬＥＤ１９のオン電圧と、ツェナーダイ
オード２２のツェナー電圧Ｖｚ５と、緑色ＬＥＤ１６の
オン電圧と、ツェナーダイオード２３のツェナー電圧Ｖ
ｚ４との和にほぼ等しい。

【００４１】次に、この発明の第２実施例につき、図７
及び図８を参照して説明する。この例は、回路の電源電
圧が４区分の電圧の範囲の何れに存在するのかを確認す
る簡易テスタに、この発明を適用したものである。

【００４２】図７は、この例の簡易テスタの電圧確認回
路を示す。この図７において、入力端子１１と入力端子
８との間には、前記の確認回路と同様に構成された３つ
の確認回路が並列に接続される。すなわち、ゲートとソ
ースとを短絡接続したＮチャンネルの接合形ＦＥＴ２４
Ａ、ＬＥＤ２５Ａ及びツェナーダイオード２６Ａが直列
に接続されて第１の確認回路が形成され、その第１の確
認回路と並列に接合形ＦＥＴ２４Ｂ、ＬＥＤ２５Ｂ及び
ツェナーダイオード２６Ｂを直列接続してなる第２の確
認回路が接続され、これらの確認回路と並列に接合形Ｆ
ＥＴ２４Ｃ、ＬＥＤ２５Ｃ及びツェナーダイオード２６
Ｃを直列接続してなる第３の確認回路が接続される。そ
して、入力端子８と入力端子１１との間に電源電圧とし
ての入力電圧Ｅが印加される。

【００４３】この例において、電源電圧が例えば＋５Ｖ
か、＋１２Ｖか、さらにこれより高いかを確認する簡易
テスタの場合を例にとって以下に説明する。

【００４４】例えばＦＥＴ２４Ａ〜２４Ｃのオン電圧を
０．５Ｖ、ＬＥＤ２５Ａ〜２５Ｃのオン電圧を１．８Ｖ
とし、ツェナーダイオード２６Ａ、２６Ｂ及び２６Ｃの
ツェナー電圧をそれぞれＶｚａ，Ｖｚｂ，及びＶｚｃと
したとき、マージンを０．５Ｖに設定したとして、本例
のツェナー電圧は次のように決定される。

【００４５】 　　　　Ｖｚａ＝５−（０．５＋１．８）−０．５＝２
．２［Ｖ］　　　　Ｖｚｂ＝１２−（０．５＋１．８）
−０．５＝９．２［Ｖ］　　　　Ｖｚｃ＝１３−（０．
５＋１．８）−０．５＝１０．２［Ｖ］このように各ツ
ェナー電圧を設定すると、図８に示すように、入力電圧
Ｅが４．５Ｖの近傍であるＥ３に達すると、電流Ｉが増
加してＬＥＤ２５Ａが点灯し、入力電圧Ｅが１１．５Ｖ
の近傍であるＥ４に達すると、電流Ｉが増加してＬＥＤ
２５Ｂが点灯し、入力電圧Ｅが１２．５Ｖの近傍である
Ｅ５に達すると、電流Ｉがさらに増加してＬＥＤ２５Ｃ
が点灯する。

【００４６】したがって、図７の簡易テスタによれば、
ＬＥＤ２５Ａ〜２５Ｃの点灯の状態によって、入力電圧
Ｅが、０Ｖ〜＋５Ｖ、＋５Ｖ〜＋１１．５Ｖ、＋１１．
５Ｖ〜＋１２．５Ｖ，＋１２．５Ｖ以上、の４区分の何
れに存在するのかを容易に確認することができる。

【００４７】次に、この発明の第３実施例を図９（Ａ）
及び（Ｂ）を参照して説明する。本例は複数種類の電源
出力を同時に確認する電圧確認回路である。

【００４８】図９（Ａ）の例において、入力端子１１に
それぞれゲートとソースとが短絡接続された接合形ＦＥ
Ｔ２７及び２８のドレインを接続し、一方のＦＥＴ２７
のソースを２個の緑色ＬＥＤ３０及び３１を介して入力
端子８に接続し、他方のＦＥＴ２８のソースを赤色ＬＥ
Ｄ２９を介してその一方のＦＥＴ２７のソースに接続す
る。低電圧のツェナーダイオードは特性が良くないため
、入力端子８側の緑色ＬＥＤ３１をツェナーダイオード
の代わりに使用している。入力端子８と１１との間に入
力電圧Ｅを印加するのは上述の例と同じである。

【００４９】また、図９（Ｂ）の例においては、ＦＥＴ
２７のソースに接続された緑色ＬＥＤ３０のカソードを
、それぞれツェナー電圧が５．１Ｖ程度のツェナーダイ
オード３２及び３３を介して入力端子８に接続する。 他の構成は図９（Ａ）例と同一である。

【００５０】ＦＥＴのオン電圧を０．５Ｖ、ＬＥＤのオ
ン電圧を１．８Ｖとすると、図９（Ａ）の例の回路によ
れば、入力電圧Ｅが４．１Ｖ程度になると緑色ＬＥＤ３
０及び３１が点灯し、入力電圧Ｅが５．９Ｖ程度になる
と赤色ＬＥＤ２９が点灯する。同様に、図９（Ｂ）の回
路によれば、入力電圧Ｅが１１．５Ｖ程度になると緑色
ＬＥＤ３０が点灯し、入力電圧Ｅが１４．３Ｖ程度にな
ると赤色ＬＥＤ２９が点灯する。

【００５１】例えば図９（Ａ）の回路を１個、図９（Ｂ
）の回路を入力端子の極性を変えて２個使用することに
より、＋５Ｖ、＋１２Ｖ及び−１２Ｖの３種類の電源電
圧の状態を簡単な構成の回路で且つ専用の電源を使用す
ることなく確認することができる。このような電圧確認
回路は、振動試験、たたき試験、絶縁・耐圧試験又はエ
ージング等の後の電源装置の状態を試験する場合のチェ
ッカーとして有効に使用することができる。

【００５２】なお、以上の実施例において、ＦＥＴ、Ｌ
ＥＤ、ツェナーダイオードの接続の順序は任意であり、
ツェナーダイオードの代わりにスイッチングダイオード
又は通常のダイオード等を使用することもできる。

【００５３】また、上述の実施例では接合形ＦＥＴとし
てＮチャンネルのＦＥＴが使用されているが、Ｐチャン
ネルの接合形ＦＥＴも同様に使用することができること
は明らかである。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
、少ない部品点数で、かつ、専用の電源を使用すること
なく入力電圧の大きさの程度を確認できる。

【００５５】また、ツェナーダイオードをＦＥＴと発光
ダイオードに直列に接続した場合には、確認する入力電
圧の範囲を、そのツェナー電圧を選定することにより任
意に設定することができる。

【００５６】さらに、入力電圧を印加する端子間に複数
の確認回路を接続した場合には、これら各確認回路の発
光ダイオードの発光開始電圧を異ならせることによって
、入力電圧が所定の範囲内にあるか否かを容易に確認す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例の基本ユニットを示す構成図
である。

【図２】図１の基本ユニットの特性を説明するための図
である。

【図３】この発明の改良例を説明するための特性図であ
る。

【図４】この発明による電圧確認回路の一実施例を示す
回路図である。

【図５】図４の例の特性を示す図である。

【図６】図４の例の変形例の回路図である。

【図７】この発明の他の実施例の回路図である。

【図８】図７の例の特性を示す図である。

【図９】この発明の他の実施例の回路図である。

【図１０】従来例の回路図である。

【符号の説明】

９　　ＬＥＤ １０　　接合形ＦＥＴ １５　　接合形ＦＥＴ １６　　緑色ＬＥＤ １７　　ツェナーダイオード １８　　接合形ＬＥＤ １９　　赤色ＬＥＤ ２０　　ツェナーダイオード

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　ゲート−ソース間電圧が一定になるよ
   うに接続された接合形ＦＥＴと、発光ダイオードとを直
   列に接続し、これら接合形ＦＥＴと発光ダイオードとの
   直列回路の一端及び他端に被検電圧を印加し、前記発光
   ダイオードにより前記被検電圧を確認するようにした電
   圧確認回路。
2. 【請求項２】　　前記接合形ＦＥＴ及び発光ダイオード
   に対して直列にツェナーダイオードを接続し、この直列
   回路の両端間に被検電圧を印加するようにした請求項１
   記載の電圧確認回路。
3. 【請求項３】　　ゲート−ソース間電圧が一定になるよ
   うに接続された接合形ＦＥＴと発光ダイオードとを直列
   に接続して形成された確認回路を、複数個、２個の端子
   の間にそれぞれ接続し、この２個の端子間に被検電圧を
   印加し、前記複数の確認回路の発光ダイオードの点灯、
   非点灯の状態により前記被検電圧を確認するようにした
   電圧確認回路。
4. 【請求項４】　　前記複数の確認回路が前記接合形ＦＥ
   Ｔ及び発光ダイオードに対して直列に接続されたツェナ
   ーダイオードを含むことを特徴とする請求項３記載の電
   圧確認回路。