JPH0436473Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0436473Y2 JPH0436473Y2 JP16267684U JP16267684U JPH0436473Y2 JP H0436473 Y2 JPH0436473 Y2 JP H0436473Y2 JP 16267684 U JP16267684 U JP 16267684U JP 16267684 U JP16267684 U JP 16267684U JP H0436473 Y2 JPH0436473 Y2 JP H0436473Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time interval
- measuring device
- oscilloscope
- interval measuring
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 39
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この考案は例えばパルスの前縁又は後縁相互の
時間間隔を測定する時間間隔測定装置にかんす
る。
時間間隔を測定する時間間隔測定装置にかんす
る。
「従来の技術」
時間間隔測定装置は一般にパルスの時間間隔を
測定することに利用されている。パルスの時間間
隔を測定する場合被測定パルスの波形は波形歪み
がなく立ち上がり及び立ち下がりが急峻になつて
いる場合に最も精度の良い測定結果が得られる。
測定することに利用されている。パルスの時間間
隔を測定する場合被測定パルスの波形は波形歪み
がなく立ち上がり及び立ち下がりが急峻になつて
いる場合に最も精度の良い測定結果が得られる。
ところで時間間隔測定装置に限らず各種の測定
装置は高入力インピーダンス形と低入力インピー
ダンス形の二つの入力モードが存在する。各種の
測定装置に信号を入力する場合、一般に以下に示
す三つの方法が採られている。
装置は高入力インピーダンス形と低入力インピー
ダンス形の二つの入力モードが存在する。各種の
測定装置に信号を入力する場合、一般に以下に示
す三つの方法が採られている。
低入力インピーダンス形:入力インピーダン
ス50Ωに対して50Ωの同軸ケーブルで信号を入
力する。
ス50Ωに対して50Ωの同軸ケーブルで信号を入
力する。
高入力インピーダンス形A:入力インピーダ
ンス1MΩに対して50Ωの同軸ケーブルで信号
を入力する。
ンス1MΩに対して50Ωの同軸ケーブルで信号
を入力する。
高入力インピーダンス形B:入力インピーダ
ンス1MΩに対してオシロスコープ用の電圧減
衰形プローブを用いて信号を入力する。
ンス1MΩに対してオシロスコープ用の電圧減
衰形プローブを用いて信号を入力する。
このうちの方法が最もインピーダンス整合が
とれた接続方法と言うことができる。しかしなが
らの方法は被測定回路に低インピーダンスの負
荷の接続することとなり、被測定回路に与える影
響が大きい。よつて駆動能力が低い被測定回路に
は採用できないため汎用性にかける欠点がある。
とれた接続方法と言うことができる。しかしなが
らの方法は被測定回路に低インピーダンスの負
荷の接続することとなり、被測定回路に与える影
響が大きい。よつて駆動能力が低い被測定回路に
は採用できないため汎用性にかける欠点がある。
の方法は同軸ケーブルのインピーダンスと測
定装置の入力インピーダンスとが不整合状態であ
るため被測定信号の波形に歪があたえられる欠点
がある。このため時間間隔測定用には不向な接続
方法とされている。
定装置の入力インピーダンスとが不整合状態であ
るため被測定信号の波形に歪があたえられる欠点
がある。このため時間間隔測定用には不向な接続
方法とされている。
このための方法が良く用いられる。の方法
によれば高入力インピーダンスでしかもインピー
ダンス整合がとれた状態とすることができる。
によれば高入力インピーダンスでしかもインピー
ダンス整合がとれた状態とすることができる。
「考案が解決しようとする問題点」
オシロスコープ用のプローブを用いた場合次の
ような不都合が生じる。つまりオシロスコープ用
プローブには周波数特性補償用トリマコンデンサ
が設けられている。この周波数特性補償用トリマ
コンデンサはその容量を調整することによりケー
ブルと測定装置の入力インピーダンスとを整合さ
せ被測定信号を歪なく測定装置に取り込むように
補償動作する。
ような不都合が生じる。つまりオシロスコープ用
プローブには周波数特性補償用トリマコンデンサ
が設けられている。この周波数特性補償用トリマ
コンデンサはその容量を調整することによりケー
ブルと測定装置の入力インピーダンスとを整合さ
せ被測定信号を歪なく測定装置に取り込むように
補償動作する。
オシロスコープにおいてプローブを使用する場
合、使用に先立つてプローブに設けられた周波数
特性補償用トリマコンデンサの容量を調整するこ
とが常識となつている。その調整方法はオシロス
コープ自体に設けられた校正信号出力端子からプ
ローブを介して校正信号を取り込み、その校正信
号の波形をオシロスコープの陰極線管に映出し、
その波形が歪みのない矩形波となるように調整す
るものである。
合、使用に先立つてプローブに設けられた周波数
特性補償用トリマコンデンサの容量を調整するこ
とが常識となつている。その調整方法はオシロス
コープ自体に設けられた校正信号出力端子からプ
ローブを介して校正信号を取り込み、その校正信
号の波形をオシロスコープの陰極線管に映出し、
その波形が歪みのない矩形波となるように調整す
るものである。
プローブの補償用トリマコンデンサの容量を
CP、オシロスコープ或は時間間隔測定装置等の
装置の入力容量(入力抵抗と並列に見える等価容
量)をCTとした場合、CP>CTのときは第3図A
に示すように測定装置に取り込まれたパルス信号
の波形は過度応答波形となる。CP=CTのときは
第3図Bに示すように適正波形となる。またCP
<CTのときは第3図に示すように遅れ応答波形
となる。従つてプローブを使用する場合は補償用
トリマコンデンサの容量CPをCP=CTとなるよう
に調整して使用状態に入る。
CP、オシロスコープ或は時間間隔測定装置等の
装置の入力容量(入力抵抗と並列に見える等価容
量)をCTとした場合、CP>CTのときは第3図A
に示すように測定装置に取り込まれたパルス信号
の波形は過度応答波形となる。CP=CTのときは
第3図Bに示すように適正波形となる。またCP
<CTのときは第3図に示すように遅れ応答波形
となる。従つてプローブを使用する場合は補償用
トリマコンデンサの容量CPをCP=CTとなるよう
に調整して使用状態に入る。
オシロスコープの場合は波形表示機能を持つて
いるためプローブに設けた補償用トリマコンデン
サの容量CPを調整しCP=CTの状態となるように
調整することができる。これに対し時間間隔測定
装置では波形表示機能を持たない。このためオシ
ロスコープ用プローブを時間間隔測定装置に用い
る場合周波数補償用トリマコンデンサの調整を行
なうことができない欠点がある。つまり時間間隔
測定装置にオシロスコープ用プローブを用いる場
合は周波数補償用トリマコンデンサを調整しない
まま使つており、必ずしも良好な状態でオシロス
コープ用プローブを実用しているとは言い難い。
このため予じめ時間間隔測定装置にインピーダン
ス整合した状態に調整したプローブを用意し、こ
のプローブを時間間隔測定装置専用に特定するこ
とが考えられるが、このようにした場合は一本の
プローブを時間間隔測定装置専用に使わなくては
ならなくなり、不経済である。
いるためプローブに設けた補償用トリマコンデン
サの容量CPを調整しCP=CTの状態となるように
調整することができる。これに対し時間間隔測定
装置では波形表示機能を持たない。このためオシ
ロスコープ用プローブを時間間隔測定装置に用い
る場合周波数補償用トリマコンデンサの調整を行
なうことができない欠点がある。つまり時間間隔
測定装置にオシロスコープ用プローブを用いる場
合は周波数補償用トリマコンデンサを調整しない
まま使つており、必ずしも良好な状態でオシロス
コープ用プローブを実用しているとは言い難い。
このため予じめ時間間隔測定装置にインピーダン
ス整合した状態に調整したプローブを用意し、こ
のプローブを時間間隔測定装置専用に特定するこ
とが考えられるが、このようにした場合は一本の
プローブを時間間隔測定装置専用に使わなくては
ならなくなり、不経済である。
この考案はこのような不都合を解消し、何れの
時間間隔測定装置にもオシロスコープ用プローブ
を良好な状態で使うことができるように調整可能
とした構造を提供しようとするものである。
時間間隔測定装置にもオシロスコープ用プローブ
を良好な状態で使うことができるように調整可能
とした構造を提供しようとするものである。
「問題点を解決するための手段」
この考案による時間間隔測定装置はオシロスコ
ープ用プローブを用いて被測定信号を取込むと共
に時間間隔測定装置の入力回路に設けたインピー
ダンス変換回路の後段側から被測定信号を取り出
して外部に出力する分岐端子を設け、この分岐端
子にオシロスコープを接続できる構造としたもの
である。
ープ用プローブを用いて被測定信号を取込むと共
に時間間隔測定装置の入力回路に設けたインピー
ダンス変換回路の後段側から被測定信号を取り出
して外部に出力する分岐端子を設け、この分岐端
子にオシロスコープを接続できる構造としたもの
である。
「作用」
この考案の構成によればオシロスコープ用プロ
ーブを介して時間間隔測定装置に取り込んだ被測
定信号を分岐端子に分岐することができるから、
この分岐端子にオシロスコープを接続しておくこ
とによりオシロスコープに時間間隔測定装置に与
えている被測定信号そのものの波形を表示するこ
とができる。従つてオシロスコープを分岐端子に
接続した状態でオシロスコープに映出されるパル
ス信号の波形を適正な波形となるようにプローブ
の周波数特性補償用トリマコンデンサの容量を調
整すればよい。このように調整することにより時
間間隔測定装置に適正な波形を持つパルス信号を
与えることができる。
ーブを介して時間間隔測定装置に取り込んだ被測
定信号を分岐端子に分岐することができるから、
この分岐端子にオシロスコープを接続しておくこ
とによりオシロスコープに時間間隔測定装置に与
えている被測定信号そのものの波形を表示するこ
とができる。従つてオシロスコープを分岐端子に
接続した状態でオシロスコープに映出されるパル
ス信号の波形を適正な波形となるようにプローブ
の周波数特性補償用トリマコンデンサの容量を調
整すればよい。このように調整することにより時
間間隔測定装置に適正な波形を持つパルス信号を
与えることができる。
「実施例」
第1図はこの考案の一実施例を示す。図中1は
時間間隔測定装置の全体を指す。従来より時間間
隔測定装置1は被測定信号の入力端子2と、その
入力端子2を高入力インピーダンスの状態に保ち
低インピーダンスの状態で取出すインピーダンス
変換回路3と、インピーダンス変換回路3によつ
て取り込んだ被測定信号を矩形波又は前縁と後縁
に同期した微分パルスに変換する波形整形回路4
と、この波形整形回路4で波形整形された被測定
信号の時間間隔を測定する測定回路5とによつて
構成される。
時間間隔測定装置の全体を指す。従来より時間間
隔測定装置1は被測定信号の入力端子2と、その
入力端子2を高入力インピーダンスの状態に保ち
低インピーダンスの状態で取出すインピーダンス
変換回路3と、インピーダンス変換回路3によつ
て取り込んだ被測定信号を矩形波又は前縁と後縁
に同期した微分パルスに変換する波形整形回路4
と、この波形整形回路4で波形整形された被測定
信号の時間間隔を測定する測定回路5とによつて
構成される。
この考案においてはインピーダンス変換回路3
の後段側から被測定信号を取り出し、その取り出
した信号を必要に応じてインピーダンス変換用バ
ツフア6を通じて分岐端子7に取り出すことがで
きる構造としたものである。
の後段側から被測定信号を取り出し、その取り出
した信号を必要に応じてインピーダンス変換用バ
ツフア6を通じて分岐端子7に取り出すことがで
きる構造としたものである。
バツフア6はこの例ではトランジスタをエミツ
タホロワ接続して構成した場合を示すが、電界効
果トランジスタをソースホロワ接続して構成する
こともできる。
タホロワ接続して構成した場合を示すが、電界効
果トランジスタをソースホロワ接続して構成する
こともできる。
第2図にこの考案による時間間隔測定装置1を
使つてプローブを調整する場合の接続状態を示
す。第2図に示すように時間間隔測定装置1の被
測定信号入力端子2にプローブ11を接続する。
プローブ11はケーブル11Aと、ケーブル11
Aの一端側に設けた抵抗減衰器及び周波数特性補
償用トリマコンデンサを収納したプローブ本体1
1Bと、ケーブル11Aの他端側に設けた接触子
11Cと、プローブ本体11Bに設けたコネクタ
11Dと、プローブ本体11Bの外部から調整で
きるように設けた周波数特性補償用トリマコンデ
ンサの調整ネジ11Eとによつて構成される。
使つてプローブを調整する場合の接続状態を示
す。第2図に示すように時間間隔測定装置1の被
測定信号入力端子2にプローブ11を接続する。
プローブ11はケーブル11Aと、ケーブル11
Aの一端側に設けた抵抗減衰器及び周波数特性補
償用トリマコンデンサを収納したプローブ本体1
1Bと、ケーブル11Aの他端側に設けた接触子
11Cと、プローブ本体11Bに設けたコネクタ
11Dと、プローブ本体11Bの外部から調整で
きるように設けた周波数特性補償用トリマコンデ
ンサの調整ネジ11Eとによつて構成される。
プローブ本体11Bに設けたコネクタ11Dを
時間間隔測定装置の被測定信号入力端子2に接続
しプローブ11を通じて入力端子2に被測定信号
を与える。この例ではプローブ11の接触子11
Cをオシロスコープ8の校正信号出力端子9に接
続し、オシロスコープ8から時間間隔測定装置1
に例えば矩形波状の校正信号を与える。これと共
に時間間隔測定装置1の分岐端子7とオシロスコ
ープ8の信号入力端子12との間にケーブル13
を接続し、時間間隔測定装置1から分岐信号をオ
シロスコープ8に与え、オシロスコープ8の陰極
線管14に分岐信号の波形を表示させる。
時間間隔測定装置の被測定信号入力端子2に接続
しプローブ11を通じて入力端子2に被測定信号
を与える。この例ではプローブ11の接触子11
Cをオシロスコープ8の校正信号出力端子9に接
続し、オシロスコープ8から時間間隔測定装置1
に例えば矩形波状の校正信号を与える。これと共
に時間間隔測定装置1の分岐端子7とオシロスコ
ープ8の信号入力端子12との間にケーブル13
を接続し、時間間隔測定装置1から分岐信号をオ
シロスコープ8に与え、オシロスコープ8の陰極
線管14に分岐信号の波形を表示させる。
この表示波形が第3図A又はCに示すように波
形歪が生じている場合はプローブ本体11Bに設
けた周波数特性補償用トリマコンデンサの調整ネ
ジ11Eをドライバ等で回転させてトリマコンデ
ンサの容量を調整し、オシロスコープ8の陰極線
管14に表示される波形を歪みのない状態に調整
する。
形歪が生じている場合はプローブ本体11Bに設
けた周波数特性補償用トリマコンデンサの調整ネ
ジ11Eをドライバ等で回転させてトリマコンデ
ンサの容量を調整し、オシロスコープ8の陰極線
管14に表示される波形を歪みのない状態に調整
する。
この調整が完了した状態で接触子11Cを目的
の被測定回路に接続し、目的の時間間隔を測定す
る。
の被測定回路に接続し、目的の時間間隔を測定す
る。
「考案の効果」
以上説明したようにこの考案によれば時間間隔
測定装置1にプローブ11を接続した状態でプロ
ーブ11に設けられている周波数特性補償用トリ
マコンデンサの容量を適正な状態に調整すること
ができる。よつて時間間隔の測定を精度よく行な
うことができる。またトリマコンデンサの容量値
をいつでも再調整できるからプローブ11と時間
間隔測定装置1の組合せを特定しなくてもよく、
プローブ11をオシロスコープ8にもまた時間間
隔測定装置1にも使うことができる。この結果プ
ローブ11をオシロスコープ用と時間間隔用の何
れにも使うことができ経済的な負担を軽減でき
る。
測定装置1にプローブ11を接続した状態でプロ
ーブ11に設けられている周波数特性補償用トリ
マコンデンサの容量を適正な状態に調整すること
ができる。よつて時間間隔の測定を精度よく行な
うことができる。またトリマコンデンサの容量値
をいつでも再調整できるからプローブ11と時間
間隔測定装置1の組合せを特定しなくてもよく、
プローブ11をオシロスコープ8にもまた時間間
隔測定装置1にも使うことができる。この結果プ
ローブ11をオシロスコープ用と時間間隔用の何
れにも使うことができ経済的な負担を軽減でき
る。
「考案の変形実施例」
上述の実施例では時間間隔測定装置1において
入力チヤンネルの数が1つの場合を説明したが入
力チヤンネル数が複数チヤンネルの場合にもこの
考案を適用できる。複数チヤンネルを入力する時
間間隔測定装置にこの考案を適用する場合には各
チヤンネル毎に分岐端子を設けるか又は一つの分
岐端子7と一つのバツフア6を切替スイツチによ
つて各チヤンネルのインピーダンス変換回路3の
出力側に接続するようにしてもよい。
入力チヤンネルの数が1つの場合を説明したが入
力チヤンネル数が複数チヤンネルの場合にもこの
考案を適用できる。複数チヤンネルを入力する時
間間隔測定装置にこの考案を適用する場合には各
チヤンネル毎に分岐端子を設けるか又は一つの分
岐端子7と一つのバツフア6を切替スイツチによ
つて各チヤンネルのインピーダンス変換回路3の
出力側に接続するようにしてもよい。
第1図はこの考案の一実施例を示す接続図、第
2図はこの考案による時間間隔測定装置によつて
プローブを校正する方法を説明するための斜視
図、第3図はプローブの調整方法を説明するため
の波形図である。 1……時間間隔測定装置、2……被測定信号入
力端子、3……インピーダンス変換回路、4……
波形整形回路、5……時間間隔測定回路、6……
バツフア、7……分岐端子、8……オシロスコー
プ、9……校正信号出力端子、11……プロー
ブ、11A……ケーブル、11B……プローブ本
体、11C……接触子、11D……コネクタ、1
1E……周波数特性補償用トリマコンデンサの調
整ネジ、12……オシロスコープの信号入力端
子。
2図はこの考案による時間間隔測定装置によつて
プローブを校正する方法を説明するための斜視
図、第3図はプローブの調整方法を説明するため
の波形図である。 1……時間間隔測定装置、2……被測定信号入
力端子、3……インピーダンス変換回路、4……
波形整形回路、5……時間間隔測定回路、6……
バツフア、7……分岐端子、8……オシロスコー
プ、9……校正信号出力端子、11……プロー
ブ、11A……ケーブル、11B……プローブ本
体、11C……接触子、11D……コネクタ、1
1E……周波数特性補償用トリマコンデンサの調
整ネジ、12……オシロスコープの信号入力端
子。
Claims (1)
- 周波数特性補償用トリマコンデンサを具備した
電圧減衰形プローブによつて被測定信号を入力す
る時間間隔測定装置において、時間間隔測定装置
の入力側に設けたインピーダンス変換回路の後段
から被測定信号を取り出してオシロスコープに出
力するための分岐端子を設け、上記インピーダン
ス変換回路のインピーダンス変換後の被測定信号
の波形を上記オシロスコープで観測し、この観測
状態で上記周波数特性補償用トリマコンデンサの
最適補償位置の調整を行うことができるように構
成したことを特徴とする時間間隔測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16267684U JPH0436473Y2 (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16267684U JPH0436473Y2 (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6176382U JPS6176382U (ja) | 1986-05-22 |
| JPH0436473Y2 true JPH0436473Y2 (ja) | 1992-08-27 |
Family
ID=30720551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16267684U Expired JPH0436473Y2 (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436473Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-10-26 JP JP16267684U patent/JPH0436473Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6176382U (ja) | 1986-05-22 |
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