JPH04366434A - 光記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
光記録媒体及びその製造方法Info
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- JPH04366434A JPH04366434A JP3166114A JP16611491A JPH04366434A JP H04366434 A JPH04366434 A JP H04366434A JP 3166114 A JP3166114 A JP 3166114A JP 16611491 A JP16611491 A JP 16611491A JP H04366434 A JPH04366434 A JP H04366434A
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- coat layer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光記録媒体に関し、特
に媒体の反りの改良された、機械特性の優れた、繰り返
し使用に耐える、信頼性の高い光記録媒体に関し、特に
片面記録の単板構成の光記録媒体に好適なものである。
に媒体の反りの改良された、機械特性の優れた、繰り返
し使用に耐える、信頼性の高い光記録媒体に関し、特に
片面記録の単板構成の光記録媒体に好適なものである。
【0002】
【従来の技術】高密度記録であり、かつ大容量であり、
記録再生ヘッドと媒体とが非接触であること、更に消去
、再記録ができることから光記録、とくに光磁気記録媒
体は近年開発が活発に進められ、一部は実用化が成され
ている。
記録再生ヘッドと媒体とが非接触であること、更に消去
、再記録ができることから光記録、とくに光磁気記録媒
体は近年開発が活発に進められ、一部は実用化が成され
ている。
【0003】実用化の進展に伴ない光記録媒体への要求
特性が一層厳しくなっているが、特に高速化、高耐久性
面より機械特性への要求が顕著と云える。
特性が一層厳しくなっているが、特に高速化、高耐久性
面より機械特性への要求が顕著と云える。
【0004】その機械特性のうち製品として重要であり
、かつコントロールの難しいのが反りである。
、かつコントロールの難しいのが反りである。
【0005】反りは、基板、記録膜、有機保護層、及び
ハードコート層等が全て関係しており、耐久性面、特性
面等から多層構造が必然の光記録媒体において、反りの
小さい安定した光記録媒体を製造することが今日の大き
な課題である。
ハードコート層等が全て関係しており、耐久性面、特性
面等から多層構造が必然の光記録媒体において、反りの
小さい安定した光記録媒体を製造することが今日の大き
な課題である。
【0006】光記録媒体の基板としては、ガラスあるい
は、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート(P
MMA)、エポキシ等の樹脂が用いられる。
は、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート(P
MMA)、エポキシ等の樹脂が用いられる。
【0007】ガラス基板は、光学的特性、表面性、化学
的安定性に優れる半面、重く、壊れ易いため操作性に劣
り、量産性が低く従って高価となるという問題がある。
的安定性に優れる半面、重く、壊れ易いため操作性に劣
り、量産性が低く従って高価となるという問題がある。
【0008】一方、樹脂基板は、成形性に富むため量産
性が高く、安価であり、取り扱いも容易である等の長所
を有しており、現在実際に樹脂基板が多用されている。 樹脂基板の中でも、ポリメチルメタアクリレート(PM
MA)は光学特性に優れるが吸水性が高く、経時により
反りが大きくなる。また、耐熱性も低く、熱変形も容易
に起きる等の問題がある。
性が高く、安価であり、取り扱いも容易である等の長所
を有しており、現在実際に樹脂基板が多用されている。 樹脂基板の中でも、ポリメチルメタアクリレート(PM
MA)は光学特性に優れるが吸水性が高く、経時により
反りが大きくなる。また、耐熱性も低く、熱変形も容易
に起きる等の問題がある。
【0009】これに対し、ポリカーボネートは、光透過
率に優れ、耐熱性もPMMAより優れているため、光記
録媒体用樹脂基板として最も多く使用されている。
率に優れ、耐熱性もPMMAより優れているため、光記
録媒体用樹脂基板として最も多く使用されている。
【0010】ところが、上記のポリカーボネート基板は
、吸湿性が比較的高く、経時により反りが変化する。 また、比較的柔らかく傷がつき易い等の欠点がある。こ
の対策として、記録膜と反対側の基板面に高硬度の無機
または有機材料からなるハードコート層を設けることが
行なわれている。無機物の膜は、物理堆積法等の真空中
での膜成形法により成膜されるのが一般であり、製造コ
ストが高くなるという問題がある。従って、一般には、
有機物の膜を設けてハードコート層としている例が多い
。
、吸湿性が比較的高く、経時により反りが変化する。 また、比較的柔らかく傷がつき易い等の欠点がある。こ
の対策として、記録膜と反対側の基板面に高硬度の無機
または有機材料からなるハードコート層を設けることが
行なわれている。無機物の膜は、物理堆積法等の真空中
での膜成形法により成膜されるのが一般であり、製造コ
ストが高くなるという問題がある。従って、一般には、
有機物の膜を設けてハードコート層としている例が多い
。
【0011】ハードコート層に用いる有機膜は、ポリカ
ーボネート表面の柔らかさをカバーし傷つきにくくする
ため表面硬度の高いことが望まれる。かかる有機膜とし
ては取り扱い性の良い紫外線硬化樹脂が一般に使用され
るが、充分な表面硬度を得るためには、紫外線硬化によ
る架橋度を上げることが必要で、樹脂成分としては3官
能以上のアクリレート等多官能化合物が必須である。
ーボネート表面の柔らかさをカバーし傷つきにくくする
ため表面硬度の高いことが望まれる。かかる有機膜とし
ては取り扱い性の良い紫外線硬化樹脂が一般に使用され
るが、充分な表面硬度を得るためには、紫外線硬化によ
る架橋度を上げることが必要で、樹脂成分としては3官
能以上のアクリレート等多官能化合物が必須である。
【0012】ところが、このように多官能化合物を用い
た場合、架橋度が高く緻密な膜が得られるが、反面高い
引張り応力を有するため媒体の反りが大きくなるという
問題がある。
た場合、架橋度が高く緻密な膜が得られるが、反面高い
引張り応力を有するため媒体の反りが大きくなるという
問題がある。
【0013】これに対して、ハードコート層に用いる有
機膜の厚さを4〜10μmとするもの(特開平2−18
9750号公報)が提案されているが、ハードコート層
として充分の表面硬度を発現するためには高い架橋度(
引張り応力大きい)が不可欠で媒体の反りは避けがたく
、問題は解決されないのが現状である。
機膜の厚さを4〜10μmとするもの(特開平2−18
9750号公報)が提案されているが、ハードコート層
として充分の表面硬度を発現するためには高い架橋度(
引張り応力大きい)が不可欠で媒体の反りは避けがたく
、問題は解決されないのが現状である。
【0014】また、記録層を保護する保護層に用いる有
機膜として、5官能以上のアクリレートを60wt%以
上(架橋度アップ)、ウレタンアクリレートを10wt
%以下(可撓性付与)の樹脂を用いるもの(特開平2−
292748号公報)も提案されているが、基板の一方
の記録層側のみで、反りのバランスがとれても、反対側
の基板面にハードコート層を設けた場合は上述の如く、
新たに媒体の反りが発生するので依然として問題は解決
されないことになる。
機膜として、5官能以上のアクリレートを60wt%以
上(架橋度アップ)、ウレタンアクリレートを10wt
%以下(可撓性付与)の樹脂を用いるもの(特開平2−
292748号公報)も提案されているが、基板の一方
の記録層側のみで、反りのバランスがとれても、反対側
の基板面にハードコート層を設けた場合は上述の如く、
新たに媒体の反りが発生するので依然として問題は解決
されないことになる。
【0015】
【発明の目的】前述のように、光記録媒体の基本構成は
耐久性面等から記録層とこれを保護する保護層を基板の
一方の面に設け、その他方の基板面にはハードコート層
を設けた構成が一般となってきた。一方、高密度化面、
高速化面等から光記録媒体の機械特性(とくに反り)へ
要求は一段と厳しくなってきている。
耐久性面等から記録層とこれを保護する保護層を基板の
一方の面に設け、その他方の基板面にはハードコート層
を設けた構成が一般となってきた。一方、高密度化面、
高速化面等から光記録媒体の機械特性(とくに反り)へ
要求は一段と厳しくなってきている。
【0016】本発明は、かかる現状に鑑みなされたもの
で、有機膜からなる保護層及びハードコート層を有し、
かつ全体の反りが小さく、機械特性の優れた光記録媒体
を提供することを目的とするものである。
で、有機膜からなる保護層及びハードコート層を有し、
かつ全体の反りが小さく、機械特性の優れた光記録媒体
を提供することを目的とするものである。
【0017】
【発明の構成】前記目的は、以下の本発明により達成さ
れる。すなわち、本発明は、基板の一方の面に少なくと
も記録層、これを保護する有機保護層を形成し、その他
方の面にハードコート層を形成した光記録媒体において
、前記有機保護層は3官能以上の多官能化合物の含有量
mと2官能以下の化合物の含有量nの重量比m/nが0
.03〜5.0であり、引張り試験における伸びが3%
以上である可撓性紫外線硬化樹脂からなり、前記ハード
コート層は前記重量比m/nが1.0〜50.0であり
、その硬度が鉛筆硬度でB以上である高硬度紫外線硬化
樹脂からなり、前記有機保護層の膜厚tと前記ハードコ
ート層の膜厚sとの比t/sが1.25〜10.0であ
ることを特徴とする光記録媒体を第1の発明とし、第1
の発明の光記録媒体の製造方法において、有機保護層及
びハードコート層の両層形成後、60〜90℃の温度で
1〜50時間保持して熱処理することを特徴とする光記
録媒体の製造方法を第2の発明とするものである。
れる。すなわち、本発明は、基板の一方の面に少なくと
も記録層、これを保護する有機保護層を形成し、その他
方の面にハードコート層を形成した光記録媒体において
、前記有機保護層は3官能以上の多官能化合物の含有量
mと2官能以下の化合物の含有量nの重量比m/nが0
.03〜5.0であり、引張り試験における伸びが3%
以上である可撓性紫外線硬化樹脂からなり、前記ハード
コート層は前記重量比m/nが1.0〜50.0であり
、その硬度が鉛筆硬度でB以上である高硬度紫外線硬化
樹脂からなり、前記有機保護層の膜厚tと前記ハードコ
ート層の膜厚sとの比t/sが1.25〜10.0であ
ることを特徴とする光記録媒体を第1の発明とし、第1
の発明の光記録媒体の製造方法において、有機保護層及
びハードコート層の両層形成後、60〜90℃の温度で
1〜50時間保持して熱処理することを特徴とする光記
録媒体の製造方法を第2の発明とするものである。
【0018】以下、本発明の詳細を説明する。
【0019】本発明は、基板に記録膜を成膜した段階ま
では、媒体の反りは基板成形の残留応力及びスパッタ等
による光記録膜、誘電体保護膜、反射層等の各層の形成
条件を調整することにより反りのバランスを得ることが
可能である点に着目し、以下のように検討し、基板の各
々の面に設ける保護層とハードコート層の有機膜の内部
応力の制御により単板構成の光記録媒体においても最終
的な媒体の反りを小さくすることができることを見出し
、なされたものである。
では、媒体の反りは基板成形の残留応力及びスパッタ等
による光記録膜、誘電体保護膜、反射層等の各層の形成
条件を調整することにより反りのバランスを得ることが
可能である点に着目し、以下のように検討し、基板の各
々の面に設ける保護層とハードコート層の有機膜の内部
応力の制御により単板構成の光記録媒体においても最終
的な媒体の反りを小さくすることができることを見出し
、なされたものである。
【0020】有機膜の媒体の反りへの影響は、UV硬化
樹脂の架橋密度と硬化時の体積収縮による引張り応力が
主なものであると考えられる。従って、保護層及びハー
ドコート層各々の引張り応力を低くすれば反りの絶対値
を小さくすることが可能である。一方、保護層及びハー
ドコート層は各々目的とする機能発現のために引張り応
力を自由に設定することは不可能である。
樹脂の架橋密度と硬化時の体積収縮による引張り応力が
主なものであると考えられる。従って、保護層及びハー
ドコート層各々の引張り応力を低くすれば反りの絶対値
を小さくすることが可能である。一方、保護層及びハー
ドコート層は各々目的とする機能発現のために引張り応
力を自由に設定することは不可能である。
【0021】つまり、保護層の引張り応力が大きい場合
、耐食性面では充分であっても、長期保存中或いは80
℃、85%RHあるいは−40〜65℃サイクル等の耐
候性促進試験中に保護層の引張応力の影響を受け、記録
膜にクラックやピンホールを発生することがあり、総合
的な耐久性面から引張り応力の大きいものは好ましくな
い。このような記録膜への影響を考えた場合、保護層は
可撓性を有することが好ましく、保護層を形成する紫外
線(UV)硬化樹脂は可撓性を有するもの、具体的には
引張試験における伸び(破断伸度)が少くとも3%、好
ましくは5%以上のものである。
、耐食性面では充分であっても、長期保存中或いは80
℃、85%RHあるいは−40〜65℃サイクル等の耐
候性促進試験中に保護層の引張応力の影響を受け、記録
膜にクラックやピンホールを発生することがあり、総合
的な耐久性面から引張り応力の大きいものは好ましくな
い。このような記録膜への影響を考えた場合、保護層は
可撓性を有することが好ましく、保護層を形成する紫外
線(UV)硬化樹脂は可撓性を有するもの、具体的には
引張試験における伸び(破断伸度)が少くとも3%、好
ましくは5%以上のものである。
【0022】また、ハードコート層はポリカーボネート
板の傷つき防止の点から高硬度が要求される。その硬度
は少くとも鉛筆硬度でBである(JIS K5400
)。
板の傷つき防止の点から高硬度が要求される。その硬度
は少くとも鉛筆硬度でBである(JIS K5400
)。
【0023】そのためハードコート層に用いる高硬度の
UV硬化樹脂は架橋密度の高い緻密な層を形成するもの
が必要で、引張応力は大きくなり媒体の反りへの影響も
顕著である。
UV硬化樹脂は架橋密度の高い緻密な層を形成するもの
が必要で、引張応力は大きくなり媒体の反りへの影響も
顕著である。
【0024】以上の内部引張応力の大きいハードコート
層とそれが比較的小さい保護層の応力バランスをとって
反りを小さくするには、各層の厚みを制御し、架橋密度
から発生する引張応力の差を相殺するように厚みを設定
することで、反りをコントロールすることが可能である
。つまり、厚み大の場合硬化収縮が大きく寄与し、反り
は大きくなる。また、逆に厚み小の場合、硬化収縮の寄
与が小さく反りは大きくならない。
層とそれが比較的小さい保護層の応力バランスをとって
反りを小さくするには、各層の厚みを制御し、架橋密度
から発生する引張応力の差を相殺するように厚みを設定
することで、反りをコントロールすることが可能である
。つまり、厚み大の場合硬化収縮が大きく寄与し、反り
は大きくなる。また、逆に厚み小の場合、硬化収縮の寄
与が小さく反りは大きくならない。
【0025】本発明によれば、架橋密度の比較的小さい
(引張応力の小)保護層では厚みを大きくし、架橋密度
の高い(引張応力大)のハードコート層は厚みを小さく
することが媒体の反りを小さくコントロール出来る。
(引張応力の小)保護層では厚みを大きくし、架橋密度
の高い(引張応力大)のハードコート層は厚みを小さく
することが媒体の反りを小さくコントロール出来る。
【0026】上記の観点から、鋭意検討を行い本発明に
到達したものである。
到達したものである。
【0027】本発明による有機保護層を形成する可撓性
のUV硬化樹脂は、3官能以上の多官能化合物の含有量
mと2官能以下の化合物の含有量nの重量比m/nが、
0.03≦m/n≦5.0で、好ましくは0.05≦m
/n≦3.0であり、特に好ましくは、0.1≦m/n
≦1.0である。
のUV硬化樹脂は、3官能以上の多官能化合物の含有量
mと2官能以下の化合物の含有量nの重量比m/nが、
0.03≦m/n≦5.0で、好ましくは0.05≦m
/n≦3.0であり、特に好ましくは、0.1≦m/n
≦1.0である。
【0028】また、この可撓性のUV硬化樹脂の引張り
試験における伸びは少くとも3%であるが、好ましくは
少くとも5%である。
試験における伸びは少くとも3%であるが、好ましくは
少くとも5%である。
【0029】m/nが0.03より小さい場合、3官能
以上の多官能化合物の割合が少いため、架橋密度が上ら
ず硬化後の強度が低く、弱い保護層となり実用上問題が
ある。
以上の多官能化合物の割合が少いため、架橋密度が上ら
ず硬化後の強度が低く、弱い保護層となり実用上問題が
ある。
【0030】一方、m/nが5.0より大きい場合、3
官能以上の多官能化合物の割合が多くなるため、架橋密
度が非常に高くなり、引張り応力が大きくなって、前述
の長期保存中具体的には80℃,85%RHあるいは−
40℃〜65℃サイクル等の耐候性促進試験中に保護層
の引張り応力の影響を受け、記録膜にクラックやピンホ
ールが発生することがあり耐久性面で好ましくない。
官能以上の多官能化合物の割合が多くなるため、架橋密
度が非常に高くなり、引張り応力が大きくなって、前述
の長期保存中具体的には80℃,85%RHあるいは−
40℃〜65℃サイクル等の耐候性促進試験中に保護層
の引張り応力の影響を受け、記録膜にクラックやピンホ
ールが発生することがあり耐久性面で好ましくない。
【0031】可撓性のUV硬化樹脂の引張り試験におけ
る伸びが3%より小さい場合、硬化後の保護膜は柔軟性
がなく脆いもので保護膜として適さないのみならず、可
撓性が乏しいために前述の場合と同様保存中等の媒体の
反り変化にも追随出来ず好ましくない。
る伸びが3%より小さい場合、硬化後の保護膜は柔軟性
がなく脆いもので保護膜として適さないのみならず、可
撓性が乏しいために前述の場合と同様保存中等の媒体の
反り変化にも追随出来ず好ましくない。
【0032】本発明によるハードコート層を形成する高
硬度UV硬化樹脂は3官能以上の多官能化合物の含有量
mと2官能以下の化合物の含有量nの重量比m/nは、
1.0≦m/n≦50.0で、好ましくは2.0≦m/
n≦20.0であり、特に好ましくは、3.0≦m/n
≦10.0である。
硬度UV硬化樹脂は3官能以上の多官能化合物の含有量
mと2官能以下の化合物の含有量nの重量比m/nは、
1.0≦m/n≦50.0で、好ましくは2.0≦m/
n≦20.0であり、特に好ましくは、3.0≦m/n
≦10.0である。
【0033】また、この高硬度UV硬化樹脂の鉛筆硬度
は少くともBであり、好ましくは少くともHBである。
は少くともBであり、好ましくは少くともHBである。
【0034】m/nが1.0より小さい場合、ハードコ
ート層に占める3官能以上の多官能化合物の割合が、2
官能以下の化合物より少いため、硬化後の架橋密度が不
充分となり、ハードコート層として必要な硬度が得られ
ず実用に適さない。
ート層に占める3官能以上の多官能化合物の割合が、2
官能以下の化合物より少いため、硬化後の架橋密度が不
充分となり、ハードコート層として必要な硬度が得られ
ず実用に適さない。
【0035】一方、m/nが50.0より大きい場合、
3官能以上の多官能化合物の割合が極端に多くなり、硬
化後の架橋密度も極端に大きくなり、硬化膜も脆く一寸
した衝撃でも割れ易いものとなってハードコート層とし
て機能を発揮することが出来ない。
3官能以上の多官能化合物の割合が極端に多くなり、硬
化後の架橋密度も極端に大きくなり、硬化膜も脆く一寸
した衝撃でも割れ易いものとなってハードコート層とし
て機能を発揮することが出来ない。
【0036】この高硬度UV硬化樹脂は、その硬度が鉛
筆硬度でBより低い場合、目的とするハードコート層と
しての役割を果たすことが出来ない。
筆硬度でBより低い場合、目的とするハードコート層と
しての役割を果たすことが出来ない。
【0037】本発明の有機保護層の厚み(t)とハード
コート層の厚み(S)との比は、1.25≦t/s≦1
0.0であるが、好ましくは、1.5≦t/s≦5.0
である。
コート層の厚み(S)との比は、1.25≦t/s≦1
0.0であるが、好ましくは、1.5≦t/s≦5.0
である。
【0038】t/sが1.25より小さい場合、ハード
コート層の厚みが記録膜の保護層の厚みに近いかまたは
それより大きくなり、架橋密度の高いハードコート層の
引張り応力が保護層の引張応力よりはるかに大きくなっ
て、媒体の反りは極めて大きくなり好ましくない。
コート層の厚みが記録膜の保護層の厚みに近いかまたは
それより大きくなり、架橋密度の高いハードコート層の
引張り応力が保護層の引張応力よりはるかに大きくなっ
て、媒体の反りは極めて大きくなり好ましくない。
【0039】一方、t/sが10.0より大きい場合、
保護層の厚みはハードコート層の厚みの10倍より大き
くなる。従って、通常よく用いられるハードコート層の
厚み5〜10μmに対し、有機保護層の厚みは50〜1
00μmより大きくなって、厚み斑が大きくなることに
加えて塗工法に制約が出てくることになる。何故ならば
、円形基板からなる媒体上に、均一に塗工する工業的方
法としては、スピンコート法、ロールコート法等各種あ
るが、これら塗工法は高々50μmより薄い塗工に用い
られるのが一般であり、現状は50μmより厚い膜を安
定形成するのは容易ではないからである。
保護層の厚みはハードコート層の厚みの10倍より大き
くなる。従って、通常よく用いられるハードコート層の
厚み5〜10μmに対し、有機保護層の厚みは50〜1
00μmより大きくなって、厚み斑が大きくなることに
加えて塗工法に制約が出てくることになる。何故ならば
、円形基板からなる媒体上に、均一に塗工する工業的方
法としては、スピンコート法、ロールコート法等各種あ
るが、これら塗工法は高々50μmより薄い塗工に用い
られるのが一般であり、現状は50μmより厚い膜を安
定形成するのは容易ではないからである。
【0040】また、以下の別の問題もある。130mm
φ光磁気ディスクについては、単板2枚を貼合せた形態
で使われるため、通常ロールコーターによりホットメル
ト接着剤を塗工している。保護層は記録膜を保護するよ
うに塗布されており、スピンコート法を採用している場
合、内周近くの記録膜のない部分(従って保護膜もない
)は基板のままの面が残っており、ホットメルト接着剤
を塗工する際に、保護膜のある部分とない部分(基板面
)との高さの差が50〜100μm以上にもなってくる
と、ロールコーターによる塗工では全体を均一に塗工す
ることが難しくなるという実用上大きな問題が生ずる。 このように、t/sが10.0より大きい場合は、実用
的に難しい問題があり好ましくない。
φ光磁気ディスクについては、単板2枚を貼合せた形態
で使われるため、通常ロールコーターによりホットメル
ト接着剤を塗工している。保護層は記録膜を保護するよ
うに塗布されており、スピンコート法を採用している場
合、内周近くの記録膜のない部分(従って保護膜もない
)は基板のままの面が残っており、ホットメルト接着剤
を塗工する際に、保護膜のある部分とない部分(基板面
)との高さの差が50〜100μm以上にもなってくる
と、ロールコーターによる塗工では全体を均一に塗工す
ることが難しくなるという実用上大きな問題が生ずる。 このように、t/sが10.0より大きい場合は、実用
的に難しい問題があり好ましくない。
【0041】本発明の製造方法においては、保護層及び
ハードコート層を形成した後媒体を60〜90℃におい
て1〜50時間(hr)熱処理を行う。この目的は、媒
体の反りを促進させ、安定状態を速く実現することにあ
る。紫外線硬化樹脂をスピンコート等で塗布後UV硬化
させた場合、架橋反応は瞬時に完結せず、僅かの未反応
成分が残って、ゆっくりと反応が進行する。
ハードコート層を形成した後媒体を60〜90℃におい
て1〜50時間(hr)熱処理を行う。この目的は、媒
体の反りを促進させ、安定状態を速く実現することにあ
る。紫外線硬化樹脂をスピンコート等で塗布後UV硬化
させた場合、架橋反応は瞬時に完結せず、僅かの未反応
成分が残って、ゆっくりと反応が進行する。
【0042】このため媒体の反りも経時と共に変化し、
安定するまでに時間がかかる。従って、媒体の反りを安
定化させるために、加熱処理により架橋反応を速く完結
させればよい。この加熱処理は、槽内の温度分布が均一
な恒温槽に媒体を静置することで実現できる。
安定するまでに時間がかかる。従って、媒体の反りを安
定化させるために、加熱処理により架橋反応を速く完結
させればよい。この加熱処理は、槽内の温度分布が均一
な恒温槽に媒体を静置することで実現できる。
【0043】加熱条件は、60〜90℃において1〜5
0hrであり、好ましくは、75〜85℃において1〜
24hr、特に好ましくは、80℃において1〜12h
rである。温度が60℃より低い場合、架橋反応の促進
にかなり時間がかかり、反りの安定化が遅れるので好ま
しくない。
0hrであり、好ましくは、75〜85℃において1〜
24hr、特に好ましくは、80℃において1〜12h
rである。温度が60℃より低い場合、架橋反応の促進
にかなり時間がかかり、反りの安定化が遅れるので好ま
しくない。
【0044】また、90℃より高い場合、媒体の基板と
してポリカーボネートあるいはポリメチルメタクリレー
トを用いることが多いため、これらプラスチック基板の
熱変形の点から実用上問題がある。処理時間が1hrよ
り短い場合、媒体の熱処理は充分とは言えず従って反り
の安定化も期待出来ない。一方、50hrより長い場合
、架橋反応の促進が目的であることに反することになり
、実用上からも好ましくない。
してポリカーボネートあるいはポリメチルメタクリレー
トを用いることが多いため、これらプラスチック基板の
熱変形の点から実用上問題がある。処理時間が1hrよ
り短い場合、媒体の熱処理は充分とは言えず従って反り
の安定化も期待出来ない。一方、50hrより長い場合
、架橋反応の促進が目的であることに反することになり
、実用上からも好ましくない。
【0045】本発明の光記録媒体は、基板の一方の側に
有機保護層、他方の側にハードコート層を有する公知の
光記録媒体全てに適用できることは、その趣旨より明ら
かである。中でも多層膜構成が必然で高速化等から厳し
い機械特性が要求される光磁気記録媒体に有利に適用さ
れる。
有機保護層、他方の側にハードコート層を有する公知の
光記録媒体全てに適用できることは、その趣旨より明ら
かである。中でも多層膜構成が必然で高速化等から厳し
い機械特性が要求される光磁気記録媒体に有利に適用さ
れる。
【0046】この光磁気記録媒体も、前述の有機物保護
層及びハードコート層を除いてその構成は特に限定され
ず、公知の構成がそのまま適用できる。かかる構成とし
ては、例えば透明基板としてはポリカーボネート樹脂、
アクリル樹脂等の透明プラスチック基板から、誘電体層
としてはZnS,SiO2 ,AlN,Si3 N4
,In2 O3 等から、光磁気記録層としては、Tb
FeCo,TbFeGd等のTbFe系の合金、あるい
はNdFeCo等のNdFe系合金、さらにNdDyF
eCo合金等からなるものが挙げられる。
層及びハードコート層を除いてその構成は特に限定され
ず、公知の構成がそのまま適用できる。かかる構成とし
ては、例えば透明基板としてはポリカーボネート樹脂、
アクリル樹脂等の透明プラスチック基板から、誘電体層
としてはZnS,SiO2 ,AlN,Si3 N4
,In2 O3 等から、光磁気記録層としては、Tb
FeCo,TbFeGd等のTbFe系の合金、あるい
はNdFeCo等のNdFe系合金、さらにNdDyF
eCo合金等からなるものが挙げられる。
【0047】また、反射層あるいは酸化防止の無機物保
護層として、TiあるいはAlの金属層又は合金層を介
在させた構成等が知られている。
護層として、TiあるいはAlの金属層又は合金層を介
在させた構成等が知られている。
【0048】なお、光磁気記録媒体以外の光記録媒体と
しては、コンパクトディスク,レーザーディスク、WO
RM等周知であり、本発明は、前述の通り、これら全て
に適用できる。
しては、コンパクトディスク,レーザーディスク、WO
RM等周知であり、本発明は、前述の通り、これら全て
に適用できる。
【0049】以下、本発明を光磁気ディスクの実施例に
よって詳述する。本発明は多くの態様をとり得るもので
、以下の実施例に限定されるものではない。
よって詳述する。本発明は多くの態様をとり得るもので
、以下の実施例に限定されるものではない。
【0050】
【実施例1〜4及び比較例1,2】直径130mm、厚
さ1.2mmの円板で1.6μmピッチのグルーブを有
するポリカーボネート樹脂(PC)からなる基板にマグ
ネトロンスパッタ法により、厚さ1100オングストロ
ームのアルミニウム窒化ケイ素からなる第1誘導体層、
厚さ250オングストロームのTbFeCoの非晶質合
金膜、厚さ350オングストロームのアルミニウム窒化
ケイ素からなる第2誘導体層、さらに厚さ600オング
ストロームのAlからなる反射膜をこの順に形成させて
光磁気記録膜を有する光磁気ディスクとした。
さ1.2mmの円板で1.6μmピッチのグルーブを有
するポリカーボネート樹脂(PC)からなる基板にマグ
ネトロンスパッタ法により、厚さ1100オングストロ
ームのアルミニウム窒化ケイ素からなる第1誘導体層、
厚さ250オングストロームのTbFeCoの非晶質合
金膜、厚さ350オングストロームのアルミニウム窒化
ケイ素からなる第2誘導体層、さらに厚さ600オング
ストロームのAlからなる反射膜をこの順に形成させて
光磁気記録膜を有する光磁気ディスクとした。
【0051】次に表1に示した種々の厚みのハードコー
ト層を、記録膜側と反対側の基板面にスピンコート法に
より以下のようにして形成した。
ト層を、記録膜側と反対側の基板面にスピンコート法に
より以下のようにして形成した。
【0052】すなわち、次に示す組成の樹脂HC−1を
用い、スピンコーターにより塗布した後、3KW高圧水
銀灯により10秒間照射し硬化させた。
用い、スピンコーターにより塗布した後、3KW高圧水
銀灯により10秒間照射し硬化させた。
【0053】(樹脂HC−1の組成)
1) テトラヒドロフルフリルアクリレート(単官能
) 1.5w
t%2) 1,6−ヘキサンジオールジアクリレート
(2官能)
8.0wt%3) ペンタエリスリトールトリアクリ
レート(3官能)
7.0wt%4) ペンタエリスリトールテト
ラアクリレート(4官能)
9.5wt%5) ジペンタエリスリ
トールヘキサアクリレート(6官能)
41.0wt%6) ポリペン
タエリスリトールポリアクリレート(多官能)
30.0wt%7)
ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン(重合開始剤
) 2.5wt%8)
ハイボロンSCI(添加剤) 0.5wt%
) 1.5w
t%2) 1,6−ヘキサンジオールジアクリレート
(2官能)
8.0wt%3) ペンタエリスリトールトリアクリ
レート(3官能)
7.0wt%4) ペンタエリスリトールテト
ラアクリレート(4官能)
9.5wt%5) ジペンタエリスリ
トールヘキサアクリレート(6官能)
41.0wt%6) ポリペン
タエリスリトールポリアクリレート(多官能)
30.0wt%7)
ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン(重合開始剤
) 2.5wt%8)
ハイボロンSCI(添加剤) 0.5wt%
【0054】上記樹脂HC−1の3官能以上の多官能化
合物(3) 〜(6) の合計含有量mと2官能以下の
化合物(1),(2) の合計量nとの重量比m/nは
、87.5/9.5=9.2である。
合物(3) 〜(6) の合計含有量mと2官能以下の
化合物(1),(2) の合計量nとの重量比m/nは
、87.5/9.5=9.2である。
【0055】引き続き、ハードコート層を形成した光デ
ィスクの記録膜側に、同じくスピンコート法により種々
の膜厚の有機保護膜を塗布し、3KW高圧水銀灯で15
秒間照射し硬化させた。有機保護層に用いた樹脂KC−
1は、次に示す組成のUV硬化樹脂である。厚みは表1
に示した。
ィスクの記録膜側に、同じくスピンコート法により種々
の膜厚の有機保護膜を塗布し、3KW高圧水銀灯で15
秒間照射し硬化させた。有機保護層に用いた樹脂KC−
1は、次に示す組成のUV硬化樹脂である。厚みは表1
に示した。
【0056】(樹脂KC−1の組成)
1) ポリエチレングリコール(モノ)アクリレート
(単官能)
5.0wt%2) ポリテトラメチレングリコールと
トリレンジイソシアナートとからなるウレタンのジアク
リレート(2官能)
18.0wt%3) テトラメチレングリコール
ジアクリレート(2官能)
20.0wt%4) ヘキサンジオールジ
アクリレート(2官能)
25.0wt%5) ヘキシレングリコール
ジアクリレート(2官能)
20.0wt%6) トリメチロールプロ
パントリアクリレート(3官能)
5.0wt%7) ヒドロキシ
シクロヘキシルフェニルケトン(光重合開始剤)
2.5wt%
(単官能)
5.0wt%2) ポリテトラメチレングリコールと
トリレンジイソシアナートとからなるウレタンのジアク
リレート(2官能)
18.0wt%3) テトラメチレングリコール
ジアクリレート(2官能)
20.0wt%4) ヘキサンジオールジ
アクリレート(2官能)
25.0wt%5) ヘキシレングリコール
ジアクリレート(2官能)
20.0wt%6) トリメチロールプロ
パントリアクリレート(3官能)
5.0wt%7) ヒドロキシ
シクロヘキシルフェニルケトン(光重合開始剤)
2.5wt%
【0057】上記
樹脂KC−1の3官能以上の多官能化合物(6) の含
有量mと2官能以下の化合物(1) 〜(5) の合計
量nとの重量比m/nは、5.0/93.5=0.05
3である。
樹脂KC−1の3官能以上の多官能化合物(6) の含
有量mと2官能以下の化合物(1) 〜(5) の合計
量nとの重量比m/nは、5.0/93.5=0.05
3である。
【0058】得られた両面コートの130φ光磁気ディ
スクの各サンプルをクリーンオーブンに入れ、80℃に
8hr放置して熱処理した後、その機械特性を測定した
。測定機は、新電子工業社製ODA−2A形光ディスク
機械特性測定装置を用いた。
スクの各サンプルをクリーンオーブンに入れ、80℃に
8hr放置して熱処理した後、その機械特性を測定した
。測定機は、新電子工業社製ODA−2A形光ディスク
機械特性測定装置を用いた。
【0059】測定結果のうち、半径方向の反りついて表
1に示した。本発明の実施例は比較例の結果に比し、反
りの値が小さくかつBER(ビットエラー率)測定時に
トラッキンクエラーの発生することもなかった。
1に示した。本発明の実施例は比較例の結果に比し、反
りの値が小さくかつBER(ビットエラー率)測定時に
トラッキンクエラーの発生することもなかった。
【0060】また、用いた紫外線硬化型樹脂HC−1,
KC−1につき、硬化樹脂試験片(ダンベル)を作成し
、引張り特性を測定した。また、硬化時の体積収縮率を
硬化前(液体)樹脂と硬化後樹脂の密度差から求めた。
KC−1につき、硬化樹脂試験片(ダンベル)を作成し
、引張り特性を測定した。また、硬化時の体積収縮率を
硬化前(液体)樹脂と硬化後樹脂の密度差から求めた。
【0061】次に、ポリカーボネート製基板上に樹脂H
C−1及びKC−1を各々約10μm塗布し紫外線照射
により硬化させた後、JIS−K5400の規定に従っ
て鉛筆硬度を測定した。
C−1及びKC−1を各々約10μm塗布し紫外線照射
により硬化させた後、JIS−K5400の規定に従っ
て鉛筆硬度を測定した。
【0062】これらの結果を表2に示した。
【0063】
【表1】
【0064】
【表2】
【0065】
【実施例5〜7,比較例3,4】直径86mm、厚さ1
.2mmの円板で1.6μmピッチのグループを有する
ポリカーボネート樹脂からなる基板を用い、実施例1〜
4と同じ構成の光磁気ディスクを得た。
.2mmの円板で1.6μmピッチのグループを有する
ポリカーボネート樹脂からなる基板を用い、実施例1〜
4と同じ構成の光磁気ディスクを得た。
【0066】次に表2に示した種々の厚みのハードコー
ト層及び有機保護層を実施例1〜4と同様にしてスピン
コートにより形成し、高圧水銀灯(3KW)により10
秒間照射して硬化させた。上記両層の樹脂は、実施例1
〜4と同じで、ハードコート層には前記樹脂HC−1、
有機保護層には前記樹脂KC−1を用いた。
ト層及び有機保護層を実施例1〜4と同様にしてスピン
コートにより形成し、高圧水銀灯(3KW)により10
秒間照射して硬化させた。上記両層の樹脂は、実施例1
〜4と同じで、ハードコート層には前記樹脂HC−1、
有機保護層には前記樹脂KC−1を用いた。
【0067】得られた両面コートの86φ光磁気ディス
クの各サンプルを実施例1〜4と同様に熱処理後、その
機械特性を実施例1〜4と同様に測定し、そのうち半径
方向の反りの結果につき、表3に示した。ハードコート
層面の鉛筆硬度の結果も表3に示した。参考例にコート
層のないポリカーボネート基板の鉛筆硬度を併設した。
クの各サンプルを実施例1〜4と同様に熱処理後、その
機械特性を実施例1〜4と同様に測定し、そのうち半径
方向の反りの結果につき、表3に示した。ハードコート
層面の鉛筆硬度の結果も表3に示した。参考例にコート
層のないポリカーボネート基板の鉛筆硬度を併設した。
【0068】
【表3】
【0069】
【実施例8〜10】直径86mmφ、厚さ1.2mmの
ポリカーボネート基板を用い、実施例5〜7と同じ構成
の光磁気ディスクを作成し、引き続き実施例5〜7と同
様に表4に示した種々の厚みのハードコート層(樹脂:
HC−1)、及び有機保護層(樹脂:KC−1)を形成
し、両面コートの86φ光磁気ディスクの複数の各サン
プルを得た。得られた各サンプルの一方をクリーンオー
ブンに入れ、80℃に8時間放置して熱処理した。充分
に冷却した後、機械特性の測定を行った。また、各サン
プルの他方は熱処理を実施しないで室温雰囲気(23℃
,60%RH)に20日間放置し、同様にして機械特性
の測定を行った。
ポリカーボネート基板を用い、実施例5〜7と同じ構成
の光磁気ディスクを作成し、引き続き実施例5〜7と同
様に表4に示した種々の厚みのハードコート層(樹脂:
HC−1)、及び有機保護層(樹脂:KC−1)を形成
し、両面コートの86φ光磁気ディスクの複数の各サン
プルを得た。得られた各サンプルの一方をクリーンオー
ブンに入れ、80℃に8時間放置して熱処理した。充分
に冷却した後、機械特性の測定を行った。また、各サン
プルの他方は熱処理を実施しないで室温雰囲気(23℃
,60%RH)に20日間放置し、同様にして機械特性
の測定を行った。
【0070】測定結果のうち反りの結果について表4に
示した。熱処理(80℃,8hr)により短時間に反り
が安定化することが認められ、光記録媒体の製造におい
て、生産性向上、品質安定化等の面から熱処理が有用で
あることがわかる。
示した。熱処理(80℃,8hr)により短時間に反り
が安定化することが認められ、光記録媒体の製造におい
て、生産性向上、品質安定化等の面から熱処理が有用で
あることがわかる。
【0071】
【表4】
【0072】
【発明の効果】上述の如く、本発明は基板の記録膜側の
有機保護層及び記録膜と反対側のハードコート層の両層
に紫外線硬化樹脂を用い、この両層の紫外線硬化樹脂を
、3官能以上の多官能化合物と2官能以下の化合物の重
量比を特定の範囲としてそれぞれの層の要求を満足させ
ると共に各々の膜厚のバランスをとることにより、媒体
の反りが小さくコントロールされ、機械特性の改良され
た光ディスクを実現するものである。
有機保護層及び記録膜と反対側のハードコート層の両層
に紫外線硬化樹脂を用い、この両層の紫外線硬化樹脂を
、3官能以上の多官能化合物と2官能以下の化合物の重
量比を特定の範囲としてそれぞれの層の要求を満足させ
ると共に各々の膜厚のバランスをとることにより、媒体
の反りが小さくコントロールされ、機械特性の改良され
た光ディスクを実現するものである。
【0073】また、本発明は有機保護層及びハードコー
ト層を形成した光ディスクを熱処理することにより、短
期間に反りの安定化を図ることを可能にするものであり
、品質安定化、生産性向上等に大きな効果を奏する。 このように、本発明は光ディスクの特性特に機械特性向
上に大きな効果を奏するものであり、工業上大きな寄与
をなすものである。
ト層を形成した光ディスクを熱処理することにより、短
期間に反りの安定化を図ることを可能にするものであり
、品質安定化、生産性向上等に大きな効果を奏する。 このように、本発明は光ディスクの特性特に機械特性向
上に大きな効果を奏するものであり、工業上大きな寄与
をなすものである。
Claims (2)
- 【請求項1】基板の一方の面に少なくとも記録層、これ
を保護する有機保護層を形成し、その他方の面にハード
コート層を形成した光記録媒体において、前記有機保護
層は3官能以上の多官能化合物の含有量mと2官能以下
の化合物の含有量nの重量比m/nが0.03〜5.0
であり、引張り試験における伸びが3%以上である可撓
性紫外線硬化樹脂からなり、前記ハードコート層は前記
重量比m/nが1.0〜50.0であり、その硬度が鉛
筆硬度でB以上である高硬度紫外線硬化樹脂からなり、
前記有機保護層の膜厚tと前記ハードコート層の膜厚s
との比t/sが1.25〜10.0であることを特徴と
する光記録媒体。 - 【請求項2】請求項1記載の光記録媒体の製造方法にお
いて、有機保護層及びハードコート層の両層形成後、6
0〜90℃の温度で1〜50時間保持して熱処理するこ
とを特徴とする光記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166114A JPH04366434A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 光記録媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166114A JPH04366434A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 光記録媒体及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04366434A true JPH04366434A (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=15825288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3166114A Pending JPH04366434A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 光記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04366434A (ja) |
-
1991
- 1991-06-12 JP JP3166114A patent/JPH04366434A/ja active Pending
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