JPH04366497A - 半導体メモリ集積回路 - Google Patents

半導体メモリ集積回路

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JPH04366497A
JPH04366497A JP3140517A JP14051791A JPH04366497A JP H04366497 A JPH04366497 A JP H04366497A JP 3140517 A JP3140517 A JP 3140517A JP 14051791 A JP14051791 A JP 14051791A JP H04366497 A JPH04366497 A JP H04366497A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
circuit
signal
selection
write
Prior art date
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Pending
Application number
JP3140517A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuhiro Katou
哲浩 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH04366497A publication Critical patent/JPH04366497A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリ集積回路に
関し、特に入力信号および制御信号のラッチを行う同期
式SRAM等の半導体メモリ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の同期式SRAM等の半導体メモリ
装置は、アドレス・ラッチやアドレス選択回路およびメ
モリ・セル・アレイ等を用いて構成され、書き込みおよ
び読み出しを行えるようになっている。
【0003】図4はかかる従来の一例を示す同期式SR
AMの回路図である。図4に示すように、従来のSRA
Mはメモリ・セル・アレイ5と、このメモリ・セル・ア
レイ5の中の1つのメモリセルを選択するためのXおよ
びYアドレス選択回路2および4と、選択されたメモリ
セルの内容を読み出し又は入力されたデータをそのメモ
リセルに書き込むためのリード・ライト回路9と、外部
からの各種制御信号によりリード・ライト回路9を制御
し且つ書き込みおよび読み出し動作を切換えるための制
御回路8と、メモリセルから読み出されたデータをクロ
ックにより外部へ出力するための出力ラッチ10と、各
アドレス入力用のXアドレス・ラッチ1およびYアドレ
ス・ラッチ3と、外部クロックを入力しアドレスクロッ
クや出力クロックおよび制御クロックを出力するクロッ
ク回路6と、データ入力や書き込み制御信号および選択
信号により制御回路8を制御するための制御信号ラッチ
7とから構成されている。この制御信号ラッチ7はクロ
ック回路6からの制御クロックも入力するが、特にこの
ラッチ7に対する書き込み制御信号は、他のメモリセル
への誤書き込みを防止するために、アドレスが確定して
からメモリセルへ伝わるように発生させている。また、
クロック回路6はXアドレス・ラッチ1およびYアドレ
ス・ラッチ3にアドレスクロックを出力し、出力ラッチ
10に出力クロックを出力することにより、各ラッチの
同期をとっている。
【0004】図5は図4に示すメモリ・セルの構成図で
ある。図5に示すように、2つのメモリ・セルはバイポ
ーラトランジスタで構成したメモリ・セルであり、ワー
ド線に接続されるワード・ドライバ・トランジスタQW
T1,QWT2と、デジット線RWC1,RWC2に接
続される書き込みトランジスタQWC1,QWC2およ
び読み出し電流源ID1,ID2とでマトリックス状に
構成され、しかもその交差点にセルPNPトランジスタ
QP1,QP2およびマルチエミッタのセルNPNトラ
ンジスタQN3,QN2からなるメモリ・セルと、同様
にPNPトランジスタQP3,QP4およびNPNトラ
ンジスタQN3,QN4からなるメモリ・セルとを接続
している。それぞれマルチエミッタのNPNトランジス
タQN1,QN2は一方のエミッタをデジット線RWC
1,RWC2に接続し、他方のエミッタを共通にして保
持電流源IH1に接続している。同様に、QN3,QN
4もデジット線RWC1,RWC2と保持電流源IN2
に接続される。かかるメモリ・セル・アレイ5において
、書き込み時には、書き込みトランジスタQWC1,Q
WC2のベースに、セルのベース電位(A1,B1)の
高い方より高い電位を与え、低い方より低い電位を与え
ることにより、書き込みを行う。
【0005】図6は図4における書き込みタイミングを
説明するためのメモリセル各点の信号波形図である。図
6に示すように、これらメモリセルのベース電位A1,
B1とA2,B2は相補的になる。このときのVHはセ
ル保持電圧である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の同期式
メモリ集積回路は、書き込み時の誤書き込みを防止する
ために、メモリセルの選択が確定してから書き込みパル
スを入力するように設定している。このため、書き込み
サイクル時間はセットアップ時間と、書き込みパルス時
間と、ホールド時間とからなるので、読み出しサイクル
時間よりも長くなり易い。しかるに、最近の微細化およ
び高速化の要求により、セットアップ時間が書き込み時
間に対して相対的に長くなっている。例えば、書き込み
パルス時間を3ns、セットアップ時間およびホールド
時間を各1nsとすると、書き込みサイクル時間は5n
secとなり、アドレス・アクセス時間の3〜5ns′
との比較すると、かなり長くなっている。
【0007】本発明の目的は、かかるセットアップ時間
を不要にし、書き込み時間を短縮することができる半導
体メモリ集積回路を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体メモリ集
積回路は、メモリ・セル・アレイと、アドレス信号を入
力してラッチするXおよびYアドレス・ラッチと、前記
両アドレス・ラッチの出力により前記メモリ・セル・ア
レイのアドレスを選択するXおよびYアドレス選択回路
と、前記メモリ・セル・アレイとの間でデータの書き込
み及び読み出しを行うためのリード・ライト回路と、外
部クロックに基づき各種の制御クロックを作成するクロ
ック回路と、データ入力と書き込み制御信号および選択
信号を入力し制御信号をラッチする制御信号ラッチと、
前記制御信号ラッチからの出力に基づき前記XおよびY
アドレス選択回路の選択動作を非選択にするためのアド
レス非選択信号並びに各種制御信号を作成する制御回路
と、前記リード・ライト回路からのデータを外部に出力
するための出力ラッチとを有し、前記クロックの入力時
に書き込み状態であることを検出することにより前記ア
ドレス非選択信号を送出し、しかも前記アドレス非選択
信号の終了前に内部書き込み信号を発生するように構成
される。
【0009】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例を示す同期式SR
AMの回路図である。図1に示すように、本実施例の同
期式SRAMはアドレス入力をラッチするX,Yアドレ
ス・ラッチ1,3と、かかるラッチ1,3の出力により
各アドレスを選択するX,Yアドレス選択回路2,4と
、これら選択回路によってアドレスが指定されるメモリ
・セル・アレイ5とを有する。また、本実施例はメモリ
・セル・アレイ5の読み出し及び書き込みを制御するた
めに、外部クロックを入力してアドレスクロック制御ク
ロック,出力クロックを作成するクロック回路6と、デ
ータ入力,書き込み制御信号および選択信号を入力しク
ロック回路6からの制御クロックにより制御信号をラッ
チする制御信号ラッチ7と、このラッチ7からの制御信
号を入力しX,Yアドレス選択回路2,4の選択動作を
一時停止させるアドレス非選択信号やその他各種の書き
込み・読み出し制御信号等を作成する制御回路8と、こ
の制御回路8からの制御信号に基づきメモリ・セル・ア
レイ5との間で書き込み或いは読み出しを行うリード・
ライト回路9と、出力クロックによりリード・ライト回
路9からのデータを外部へ送出する出力ラッチ10とを
有している。
【0011】かかる同期式SRAMにおいて、クロック
回路6にクロックが入力され、アドレスクロック,制御
クロック等を出力したとき、メモリ・セル・アレイ5が
書き込み状態であると、制御回路8はアドレス非選択信
号を1nsecの間発生してX,Yアドレス選択回路2
,4を非選択とし、全てのメモリ・セルを一度非選択状
態とする。このとき、書き込みトランジスタQWC1,
QWC2(図5参照)のベースにセル電位のハイより高
い電位とローより低い電位をデータの0および1に対応
して与える。次に、アドレス非選択信号が解除され、メ
モリ・セルの選択状態へ遷移する。この選択状態になる
と同時にメモリセルへの書き込みが開始される。 すなわち、セルはデータの0および1に対応した状態と
なり、書き込みが完了する。かかる遷移中のメモリ・セ
ルはセルの保持電圧VHが最も小さくなるため、安定状
態より早く書き込むことができる。本実施例においての
書き込みサイクル時間は、アドレス非選択時間が1ns
、書き込みパルス幅が2.5ns、ホールド時間が1n
sになり、合計では4.5nsとなるので、前述した従
来例よりも0.5ns高速に書き込むことができる。
【0012】図3は本発明の他の実施例を示す同期式S
RAMの回路図である。図3に示すように、本実施例は
前述した一実施例と比較して、クロック回路6が外部ク
ロックと書込制御信号およびチップ選択信号に基づきア
ドレス非選択信号を発生させ、X,Yアドレス選択回路
2,4に送出する点が異っている。かかるクロック回路
6からアドレス非選択信号を送出しているので、本実施
例は前述した一実施例よりも制御回路8の1段分0.2
nsさらに早く書き込むことができる。尚、その他の回
路構成および動作は前述の一実施例と同一であるので説
明を省略する。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体メ
モリ集積回路は、書き込み状態に入るとき、全メモリセ
ルを非選択にする信号を発生させることにより、メモリ
セルの選択を遅らせることなく全メモリセルを一時非選
択にできるので、書き込みパルスのセットアップ時間を
不要にでき、書き込み時間を短縮できるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す同期式SRAMの回路
図である。
【図2】図1における書き込みタイミングを説明するた
めのメモリセル各点の信号波形図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す同期式SRAMの回
路図である。
【図4】従来の一例を示す同期式SRAMの回路図であ
る。
【図5】図4に示すメモリセルの構成図である。
【図6】図4における書き込みタイミングを説明するた
めのメモリセル各点の信号波形図である。
【符号の説明】
1    Xアドレス・ラッチ 2    Xアドレス選択回路 3    Yアドレス・ラッチ 4    Yアドレス選択回路 5    メモリ・セル・アレイ 6    クロック回路 7    制御信号ラッチ 8    制御回路 9    リード・ライト回路 10    出力ラッチ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  メモリ・セル・アレイと、アドレス信
    号を入力してラッチするXおよびYアドレス・ラッチと
    、前記両アドレス・ラッチの出力により前記メモリ・セ
    ル・アレイのアドレスを選択するXおよびYアドレス選
    択回路と、前記メモリ・セル・アレイとの間でデータの
    書き込み及び読み出しを行うためのリード・ライト回路
    と、外部クロックに基づき各種の制御クロックを作成す
    るクロック回路と、データ入力と書き込み制御信号およ
    び選択信号を入力し制御信号をラッチする制御信号ラッ
    チと、前記制御信号ラッチからの出力に基づき前記Xお
    よびYアドレス選択回路の選択動作を非選択にするため
    のアドレス非選択信号並びに各種制御信号を作成する制
    御回路と、前記リード・ライト回路からのデータを外部
    に出力するための出力ラッチとを有し、前記クロックの
    入力時に書き込み状態であることを検出することにより
    前記アドレス非選択信号を送出し、しかも前記アドレス
    非選択信号の終了前に内部書き込み信号を発生すること
    を特徴とする半導体メモリ集積回路。
  2. 【請求項2】  前記制御回路からのアドレス非選択信
    号を前記書き込み制御信号および前記選択信号に基づき
    前記クロック回路で作成し、前記XおよびYアドレス選
    択回路へ送出することを特徴とする請求項1記載の半導
    体メモリ集積回路。
JP3140517A 1991-06-13 1991-06-13 半導体メモリ集積回路 Pending JPH04366497A (ja)

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