JPH04368128A - 陽極酸化装置 - Google Patents

陽極酸化装置

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Publication number
JPH04368128A
JPH04368128A JP14472991A JP14472991A JPH04368128A JP H04368128 A JPH04368128 A JP H04368128A JP 14472991 A JP14472991 A JP 14472991A JP 14472991 A JP14472991 A JP 14472991A JP H04368128 A JPH04368128 A JP H04368128A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
substrate
tantalum
electrolytic solution
anodic oxidation
Prior art date
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Pending
Application number
JP14472991A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Miyashita
宏 宮下
Atsuo Seki
関 敦夫
Hidehiko Momose
秀彦 百瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP14472991A priority Critical patent/JPH04368128A/ja
Publication of JPH04368128A publication Critical patent/JPH04368128A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、配線基板の製造工程に
おける金属膜の酸化工程に用いられる陽極酸化装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示素子に用いられる基板上に、ス
イッチング素子としてたとえば薄膜トランジスタ(以下
、TFTと記す)を形成する場合、実施例で説明する図
2に示される基板2のように、先ず基板8上に絶縁膜9
を形成し、その上にタンタル膜10を形成し、ホトレジ
ストを用いて、タンタル膜10をゲートなどにパターニ
ングする。その後、パターニングしたタンタル膜10を
酸化して、タンタル膜10表面に、図3に示される酸化
タンタル膜11を形成する。
【0003】タンタル膜10上に酸化タンタル膜11を
形成する前に、タンタル膜10のパターニング時に、タ
ンタル膜10上に残存しているホトレジストや不要タン
タルなどの不純物を超音波洗浄によって除去する。
【0004】図4は、従来の超音波洗浄装置21の断面
図である。基板2は、従来例および実施例において同一
のものを用いるため、基板2に関する参照符号として同
じ参照符号を付す。
【0005】洗浄槽25内に、洗浄液である温水26が
満たされており、複数の基板2は洗浄槽25に応じたカ
セット23に装着され、温水26中に浸漬されている。
【0006】洗浄槽25には超音波発生装置27が取付
けられており、超音波発生装置27を作動させると、超
音波の作用によって基板2上の不純物が除去される。
【0007】図5は、従来の陽極酸化装置31の断面図
である。電解溶液槽35に酒石酸アンモニウム水溶液な
どの電解溶液36が満たされており、超音波洗浄後の複
数の基板2は電解溶液槽35に応じたカセット33に装
着され、電解溶液36に浸漬されている。
【0008】各基板2のタンタル膜10は導電線34を
介して陽極に接続されており、電解溶液槽35は陰極に
接続されている。
【0009】両極間に電圧を印加することによって、図
3に示されるように、タンタル膜10上に絶縁膜である
酸化タンタル膜11が生成する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図6は、突起部10a
を有する基板2の断面図である。基板2のタンタル膜1
0は、図2に示されるように均一に形成されることが好
ましい。しかしながら、図6に示されるようにタンタル
膜10を均一に形成することができず、タンタル膜10
が突起部10aを有しているものがある。
【0011】また、タンタル膜10を形成する際に絶縁
膜9上に不純物が付着していたり、タンタル膜10を形
成するタンタル中に不純物が混入している場合にも、不
純物含有位置において突起部10aが形成される。
【0012】図7は酸化タンタル膜11が剥離している
基板2の断面図であり、図8は酸化タンタル膜11およ
びタンタル膜10が剥離している基板2の断面図である
。突起部10a部分は不安定であるため、超音波洗浄に
よって突起部10aを除去できない場合には、陽極酸化
を行う際に形成された酸化タンタル膜11が剥離したり
、タンタル膜10が剥離したりすることがある。
【0013】図7では酸化タンタル膜11に剥離部12
aが形成されており、図8では酸化タンタル膜11およ
びタンタル膜10に剥離部12bが形成されている。
【0014】剥離部12a,12bには、タンタル膜1
0の表面に酸化タンタル膜11が存在しない。このため
、酸化タンタル膜11を介してさらに配線を形成する場
合、剥離部12a,12bにおいて上層の配線とタンタ
ル膜10とが短絡するという問題が生じ、陽極酸化膜の
信頼性が低いという問題がある。
【0015】TFTのコンデンサ部においてこの様な状
況が生じれば、コンデンサは蓄電能力を失い、常に電圧
が印加されていないOFF状態となる。したがって、こ
のTFTをスイッチング素子とする画素は、常にOFF
状態となり、電圧を印加することによって光を遮断する
表示モードの場合には常に光を透過するため、表示品位
が低下している。
【0016】本発明の目的は、陽極酸化膜の信頼性が向
上する陽極酸化装置を提供することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に形成
された金属膜を陽極、電解溶液槽を陰極として電解溶液
を介して前記金属膜を酸化する陽極酸化装置において、
超音波発生源を備え、超音波を作用させながら金属膜を
酸化することを特徴とする陽極酸化装置である。
【0018】
【作用】本発明に従えば、基板上に形成された金属膜を
陽極、電解溶液槽を陰極として電解溶液を介して前記金
属膜を酸化する際に、超音波発生源によって超音波を作
用させて金属膜上を洗浄しながら、金属膜の酸化を行う
【0019】
【実施例】図1は本発明の一実施例である陽極酸化装置
1の断面図であり、図2は陽極酸化装置1において陽極
酸化される基板2の断面図であり、図3は基板2の陽極
酸化後の基板2aの断面図である。基板2は、たとえば
液晶表示素子の基板であって、透明基板8上に薄膜トラ
ンジスタ(以下、TFTと記す。)をスイッチング素子
とする表示画素を形成する直前の状態である。透明基板
8上には、酸化タンタルなどの絶縁膜9が形成され、そ
の上に金属膜であるタンタル膜10が塗布され、タンタ
ル膜10はホトレジストを用いてゲートなどにパターニ
ングされている。
【0020】電解溶液槽5内に、たとえば酒石酸アンモ
ニウム溶液である電解溶液6が満たされており、複数の
前記基板2が電解溶液槽5に応じたカセット3に装着さ
れて、電解溶液6に浸漬されている。電解溶液槽5には
、超音波発生源である超音波発生装置7が取付けられて
いる。
【0021】基板2上のタンタル膜10は導電線4を介
して陽極に接続されており、電解溶液槽5は陰極に接続
されている。
【0022】超音波発生装置7を作動させながら両極間
に電圧を印加することによって、図3に示されるように
、図2のタンタル膜10の表面が酸化されて、タンタル
膜10上に酸化タンタル膜11を有する基板2aが得ら
れる。
【0023】陽極酸化と超音波の作用による洗浄とが同
時に行われるため、不安定な突起部10aは、確実に取
除かれる。したがってタンタル膜10の表面には酸化タ
ンタル膜11が形成され、上層の配線とタンタル膜10
とが短絡することはない。
【0024】以上のように本実施例に従えば、陽極酸化
装置の信頼性が向上する。
【0025】本実施例においては、TFTをスイッチン
グ素子とする液晶表示装置の基板に関して説明したけれ
どもこれに限られるものではなく、陽極酸化工程を有す
る配線基板に、広く用いられるものである。
【0026】
【発明の効果】本発明に従えば、超音波発生源から超音
波を作用させながら金属膜を酸化するため、金属膜上の
不安定な突起部や金属膜形成時に混入した不純物を確実
に除去することができ、突起部や不純物が除去されたた
めに生じた剥離部に対しても、確実に陽極酸化を行うこ
とができ、陽極酸化装置の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である陽極酸化装置1の断面
図である。
【図2】陽極酸化装置1において、陽極酸化される基板
2の断面図である。
【図3】基板2の陽極酸化後の基板2aの断面図である
【図4】従来の超音波洗浄装置21の断面図である。
【図5】従来の陽極酸化装置31の断面図である。
【図6】突起部10aを有する基板2の断面図である。
【図7】酸化タンタル膜11が剥離している基板2の断
面図である。
【図8】酸化タンタル膜11およびタンタル膜10が剥
離している基板2の断面図である。
【符号の説明】
1  陽極酸化装置 2  基板 5  電解溶液槽 6  電解溶液 7  超音波発生装置 10  タンタル膜 11  酸化タンタル膜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  基板上に形成された金属膜を陽極、電
    解溶液槽を陰極として電解溶液を介して前記金属膜を酸
    化する陽極酸化装置において、超音波発生源を備え、超
    音波を作用させながら金属膜を酸化することを特徴とす
    る陽極酸化装置。
JP14472991A 1991-06-17 1991-06-17 陽極酸化装置 Pending JPH04368128A (ja)

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JP14472991A JPH04368128A (ja) 1991-06-17 1991-06-17 陽極酸化装置

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JP14472991A JPH04368128A (ja) 1991-06-17 1991-06-17 陽極酸化装置

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JPH04368128A true JPH04368128A (ja) 1992-12-21

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JP14472991A Pending JPH04368128A (ja) 1991-06-17 1991-06-17 陽極酸化装置

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