JPH04369002A - 近似ステップ応答による予見学習制御方式 - Google Patents

近似ステップ応答による予見学習制御方式

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JPH04369002A
JPH04369002A JP17309191A JP17309191A JPH04369002A JP H04369002 A JPH04369002 A JP H04369002A JP 17309191 A JP17309191 A JP 17309191A JP 17309191 A JP17309191 A JP 17309191A JP H04369002 A JPH04369002 A JP H04369002A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
step response
deviation
time
controlled object
control system
Prior art date
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Pending
Application number
JP17309191A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Tsuruta
和寛 鶴田
Yuji Nakamura
裕司 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Corp filed Critical Yaskawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、繰り返し動作をする工
作機械、ロボット等の制御方式に関する。
【0002】
【従来の技術】周期的目標値に対する学習制御方式とし
ては、特開平1−237701号公報の第1の発明にお
いて提案された方式がある。この方式は、同じ目標値に
対する動作を繰り返し、過去の偏差をもとに未来の偏差
を予測し、その値が最小となるように制御入力を補正し
ていくもので、最終的には目標値と出力が一致するため
、高精度な追従動作を実現するものである。具体的には
、現在の入力を
【0003】
【数2】
【0004】と表し、
【0005】
【数3】
【0006】を利用してu(i) を決定するものであ
る。 ここで、Hj (j=1,2, ・・・,N) は制御
対象のステップ応答のサンプリング間隔Tでのサンプル
値であり、Nは応答が充分に整定するように、すなわち
HN ’ =HN (N’ >N)となるように選ぶも
のとする(図2参照)。 但し、a(i) :現在時刻iにおける増分補正量i0
 :増分補正量の初期値を設定した時刻e(i) :時
刻iにおける偏差 N  :制御系のステップ応答のサンプリング点数M 
 :制御偏差の未来予測ステップ数qk (k=1,2
,...,M) 、Q、gn (n=1,2,...,
N−1) :制御系のステップ応答のサンプル値と、制
御偏差の予測値にかける重みとで決まる定数
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、周期的目標
値に対する上述の設計法では、制御系のステップ応答の
サンプリング点数Nを、ステップ応答が整定するところ
までとらなければならないという問題点があった。そこ
で、本発明は、Nの数をできるだけ減らし、u(i) 
の算出時間を短くできる方式を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では、ステップ応答を最初のN個だけサンプ
リングして、その後は減衰比Pで差分値hk が減少す
ると近似する方法を用いることにより、一定周期で同じ
パタンを繰り返す目標値に制御対象の出力を一致させる
よう制御対象に入力を加える制御系において、現在のサ
ンプリング時刻iにおける制御入力u(i) を、u(
i) =u(i’)+σ(i)
【0009】
【数4】
【0010】とすることを特徴とする。
【0011】
【作用】上記手段により、ステップ応答の最初のN個だ
け使用し、その後は減衰比Pで差分値hk が減少する
と近似して制御式をたてるので、Nの数が大幅に減少し
、u(i) の算出時間が短くなる。
【0012】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説
明する。図1は、本発明の実施例の構成を示すブロック
図であり、同図において、1は指令発生器であり、現在
時刻iにおける目標値r(i) を発生する。2は減算
器であり、偏差e(i) を求める為に用いる。3は定
数q1 ,q2,・・・,qM ,Q,g1 ,g2 
,・・・,gN−1 のメモリ、4は現在時刻i及び過
去1周期分の偏差e(j) (j=i,i−1, ・・
・,i’+1,i’) のメモリである。但し、i’は
現在時刻より1周期前のサンプリング時刻である。また
、5は1サンプリング前の時刻よりN−1回前までの補
正量σ(j)(j=i−1,i−2,  ・・・,i−
N+1) のメモリであり、6は1サンプリング前の時
刻より1周期前までの制御入力u(j) (j=i−1
,i−2, ・・・,i’+1,i’) のメモリであ
る。また、7は演算器であり、
【0013】
【数5】
【0014】なる演算によって、今回の補正量σ(i)
 を算出する。8は加算器であり、1周期前の時刻にお
ける制御入力u(i’)と、今回の補正量σ(i) と
を加算して、今回の制御入力u(i) を出力する。9
、10はサンプリング周期Tで閉じるサンプラであり、
11はホ−ルド回路である。12は制御対象であり、入
力はu(t) で、出力である被制御量はx(t) で
ある。2〜11は制御系において、通常コントロ−ラと
呼ばれる部分であるが、汎用のディジタル回路あるいは
マイクロコンピュ−タによって簡単に実現できる。また
、制御対象12の中にすでに何らかの制御系(補償器等
)が含まれていても構わない。ここで、(1) 式の導
出を行う。制御対象12のステップ応答を最初のN個だ
けサンプリングして、その後は差分値hk が減衰比P
で減少すると近似すれば、パルス伝達関数は、
【0015】
【数6】
【0016】で表される。但し、hj (j=1,2,
 ・・・,N) は、第3図に示すように単位ステップ
応答のサンプル値Hj の差分値であり、hj =Hj
 −Hj−1 と表され、Ks は定常ゲインである。 (「ディジタル・システム制御」p224−p225 
昭晃堂.盛田誠之助著より)したがって、時刻iにおけ
る出力x(i) は、
【0017】
【数7】
【0018】と書ける。同様に、時刻iより1周期前の
時刻i’ における出力x(i’)は、
【0019】
【数8】
【0020】と書けるので、(2) 式から(3) 式
をひくと、
【0021】
【数9】
【0022】また、u(i) =u(i’)+σ(i)
 より、
【0023】
【数10】
【0024】となる。但し、δ(i) は時刻iにおけ
る補正量σ(i) に対する出力であり       δ(i) =x(i) −x(i’)  
                         
   ・・・・ (6)と定義する。ここで時刻iにお
いて、時刻i+1以降の補正量σ(j) (j=i+1
,i+2, ・・・)をすべてσ(i) と等しいと仮
定すると、時刻i+mにおける補正量σ(i+m) に
対する出力の予測値δ* (i+m) は、次式で与え
られる。
【0026】
【数11】
【0026】ここで、時刻i+m時点での出力の予測値
x* (i+m) は、(6) 式より、      
x* (i+m) =δ* (i+m) +x(i’+
m)                    ・・・
・(8) で与えられるので、偏差の予測値e* (i
+m) は、      e* (i+m) =r(i
+m) −x* (i+m)            
     =r(i+m) −x(i’+m)−δ* 
(i+m)           ・・・・(9) と
なる。さらに、 r(i’+m)=r(i+m) であるから、結局、       e* (i+m) =e(i’+m)−δ
* (i+m)                  
   ・・・・(10)となる。今、未来時刻i+Mま
での偏差の予測値の重み付き二乗和J
【0027】
【数12】
【0028】を評価関数とし、このJが最小となるよう
に今回の補正量σ(i) を選ぶものとする。ここでW
m は未来時刻i+mにおける偏差の予測値e* (i
+m) にかける重みであり、その一例を図4、図5に
示す。Jを最小とするσ(i) は、       ∂J/∂σ(i) =0        
                      ・・・
・・・(12)で与えられ、(11)式,(10)式,
及び(7) 式より、
【0029】
【数13】
【0030】であるので、(12)、(13)式より、
【0031】
【数14】
【0032】となる。またδ(i) は(6) 式より
、        δ(i) =x(i) −x(i’
)              ={r(i’)− x
(i’)}−{r(i)−x(i) }       
       =e(i’)−e(i)       
                    ・・・・・
(15)と書き直せるので、(14)、(15)式より
、Jを最小とするσ(i) は次式で与えられる。
【0033】
【数15】
【0034】以上で、(1) 式で与えられる補正量σ
(i) が、(11)式で定義される評価関数を最小に
することが示された。また、qm ,Q及びgn は、
図3に示した制御対象のステップ応答を測定し、重みW
m を適当に与えることにより、あらかじめ算出される
ものである。次に、DCサーボモータの位置制御系に本
発明を用いた場合の動作例を図6に示す。図6において
、rはモータの目標位置指令、xは応答、eは偏差であ
る。この際のステップ応答を図7に示す。従来(例えば
特開平1−237701号公報)ではNは100程度必
要であったが、本発明ではNは6程度で収まっている。 なお、偏差が希望する値以内に収束したときは、過去1
周期分の制御入力の系列を用いてメモリ運転を行っても
良い。このときの構成を図8に示す。
【0035】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれば
、過去の偏差、現在の偏差、過去の補正量、過去の制御
入力、及びあらかじめ定められる定数を用いて、簡単な
四則演算により、一定周期をもつ目標値に最適に追従す
る制御入力の算出時間が短くなり、サンプリング周期を
従来のものより格段に短くできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例
【図2】従来例の説明図
【図3】制御対象のステップ応答の例
【図4】本発明の評価関数の一例
【図5】本発明の評価関数の一例
【図6】本発明の動作説明図
【図7】本発明の動作説明図
【図8】本発明の他の実施例
【符号説明】
1  指令発生器 2  減算器 3  定数メモリ 4  現在時刻i及び過去1周期分の偏差eメモリ5 
 1サンプリング前の時刻よりN−1回前までの補正量
σのメモリ 6  1サンプリング前の時刻より1周期前までの制御
入力uのメモリ 7  演算器 8  加算器 9、10  サンプリング周期Tで閉じるサンプラ11
  ホ−ルド回路 12  制御対象

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一定周期で同じパタンを繰り返す目標値に
    制御対象の出力を一致させるよう制御対象に入力を加え
    る制御系において、現在のサンプリング時刻iにおける
    制御入力u(i) を、 u(i) =u(i’)+σ(i) 【数1】 (ただし、 σ(i) :時刻iにおける補正量 e(i) :時刻iにおける偏差 N  :制御系のステップ応答のサンプリング点数M 
     :制御偏差の未来予測ステップ数gn(n=1,2,
    ...,N−1)、Q、qm (m=1,2,...,
    M) :制御系のステップ応答のサンプル値と制御偏差
    の予測値にかける重みとで決まる定数 P  :ステップ応答のNサンプリング後の減衰比Ks
     :制御対象の定常ゲイン Hm (m=1,2,...,M) :制御対象の単位
    ステップ応答のサンプリング間隔Tでのサンプル値 hk (k=1,2,...,N) :制御対象の単位
    ステップ応答の差分値 とする)とすることを特徴とする学習制御方式。
  2. 【請求項2】偏差が所定の値以内に収束したときは、過
    去1周期分の制御入力の系列を用いてメモリ運転を行う
    ことを特徴とする請求項1記載の学習制御方式。
JP17309191A 1991-06-17 1991-06-17 近似ステップ応答による予見学習制御方式 Pending JPH04369002A (ja)

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JP17309191A Pending JPH04369002A (ja) 1991-06-17 1991-06-17 近似ステップ応答による予見学習制御方式

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JP (1) JPH04369002A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012045702A (ja) * 2010-07-29 2012-03-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 研磨装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012045702A (ja) * 2010-07-29 2012-03-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 研磨装置

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