JPH04369253A - 半導体集積回路パッケージ - Google Patents
半導体集積回路パッケージInfo
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- JPH04369253A JPH04369253A JP3145053A JP14505391A JPH04369253A JP H04369253 A JPH04369253 A JP H04369253A JP 3145053 A JP3145053 A JP 3145053A JP 14505391 A JP14505391 A JP 14505391A JP H04369253 A JPH04369253 A JP H04369253A
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- JP
- Japan
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- package
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- terminal
- terminals
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- Pending
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/62—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
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-
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- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
-
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/734—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路パッケー
ジ、特に、多ピンかつリードピッチ間小の高密度実装用
の半導体集積回路パッケージに関する。
ジ、特に、多ピンかつリードピッチ間小の高密度実装用
の半導体集積回路パッケージに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の表面実装用の集積回路パ
ッケージ(以下ICパッケージと呼ぶ)はICパッケー
ジ内部を通る導体パターンを介してICの端子とICパ
ッケージの外部端子は電気的に接続されており、その接
続はいっさい外部からは見えない構造となっている。そ
の為ICチップの動作を観測しようとする場合は、パッ
ケージ外部端子に測定機器の測定端子を接触させる方法
で観測を行っていた。
ッケージ(以下ICパッケージと呼ぶ)はICパッケー
ジ内部を通る導体パターンを介してICの端子とICパ
ッケージの外部端子は電気的に接続されており、その接
続はいっさい外部からは見えない構造となっている。そ
の為ICチップの動作を観測しようとする場合は、パッ
ケージ外部端子に測定機器の測定端子を接触させる方法
で観測を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のICパ
ッケージを使用した場合、ICの端子はパッケージ内部
に構成されている導体パターンを介してICパッケージ
の外部端子と接続されているため、信号端子の電気的動
作の観測を行う際は、ICパッケージの外部端子に測定
機器の測定端子、たとえばプローブ等を接触させて行う
ことになるが、信号ピンの多ピン化かつパッケージの小
型化を実現したICパッケージになると、パッケージ外
部端子巾および端子間長が短くなってしまうため、測定
端子を被測定端子に接触させる際に、隣りの端子に接触
するなど目的の端子のみとの接触が困難であった。
ッケージを使用した場合、ICの端子はパッケージ内部
に構成されている導体パターンを介してICパッケージ
の外部端子と接続されているため、信号端子の電気的動
作の観測を行う際は、ICパッケージの外部端子に測定
機器の測定端子、たとえばプローブ等を接触させて行う
ことになるが、信号ピンの多ピン化かつパッケージの小
型化を実現したICパッケージになると、パッケージ外
部端子巾および端子間長が短くなってしまうため、測定
端子を被測定端子に接触させる際に、隣りの端子に接触
するなど目的の端子のみとの接触が困難であった。
【0004】また不良解析の対象となるICパッケージ
は1度プリント基板に実装されたものを取りはずすこと
を前提としているため、時として外部端子の欠損が起こ
る。その時には、電気的動作の観測は測定端子を接触さ
せることが不可能となる欠点もあった。
は1度プリント基板に実装されたものを取りはずすこと
を前提としているため、時として外部端子の欠損が起こ
る。その時には、電気的動作の観測は測定端子を接触さ
せることが不可能となる欠点もあった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
パッケージはICチップの端子とICパッケージの外部
端子を電気的に接続する導体パターンを分岐させ、IC
パッケージの表面に島状に配置された導体板と接続され
ている。
パッケージはICチップの端子とICパッケージの外部
端子を電気的に接続する導体パターンを分岐させ、IC
パッケージの表面に島状に配置された導体板と接続され
ている。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1(a)は本発明の一実施例の平面図、図1(b
)は図1(a)のA−A線断面図、図1(c)は図1(
a)のB−B線断面図である。
る。図1(a)は本発明の一実施例の平面図、図1(b
)は図1(a)のA−A線断面図、図1(c)は図1(
a)のB−B線断面図である。
【0007】ICチップ4のパッド7は、チップ−パッ
ケージ接続用導線5によりパッケージ内部パッド8と接
続されており、パッケージ内部パッド8はパッケージ内
部導体パターン2を経由してパッケージ外部端子3と電
気的接続がなされている。さらにパッケージ内部導体パ
ターン2は表面導体パッド1と図1(a),(b)の様
に接続されている。
ケージ接続用導線5によりパッケージ内部パッド8と接
続されており、パッケージ内部パッド8はパッケージ内
部導体パターン2を経由してパッケージ外部端子3と電
気的接続がなされている。さらにパッケージ内部導体パ
ターン2は表面導体パッド1と図1(a),(b)の様
に接続されている。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ICパッ
ケージ表面に導体でできたパッドを設置し、かつその導
体パッドをICチップの端子とパッケージ外部の端子と
を電気的に接続している内部導体パターンと接続するこ
とにより、パッケージ端子間ピッチが短く、端子巾の短
い高密度表面実装タイプの多ピンICパッケージでも、
電気的動作の観測の時は、接触困難なICパッケージの
端子に測定機器の測定端子を接触させなくても、接触面
積の大きいパッケージ表面の導体板に接触させることに
より、容易に測定を行うことが可能となる。また、パッ
ケージ外部端子の欠損があった場合でも同様に容易に測
定が可能となる効果がある。
ケージ表面に導体でできたパッドを設置し、かつその導
体パッドをICチップの端子とパッケージ外部の端子と
を電気的に接続している内部導体パターンと接続するこ
とにより、パッケージ端子間ピッチが短く、端子巾の短
い高密度表面実装タイプの多ピンICパッケージでも、
電気的動作の観測の時は、接触困難なICパッケージの
端子に測定機器の測定端子を接触させなくても、接触面
積の大きいパッケージ表面の導体板に接触させることに
より、容易に測定を行うことが可能となる。また、パッ
ケージ外部端子の欠損があった場合でも同様に容易に測
定が可能となる効果がある。
【図1】(a)〜(c)は本発明の一実施例を示す平面
図および断面図である。
図および断面図である。
1 表面導体パッド
2 内部導体パターン
3 パッケージ外部リード線
4 ICチップ
5 チップ−パッケージ接続用導線6 半
導体集積回路パッケージ 7 ICパッド 8 パッケージ内部パッド
導体集積回路パッケージ 7 ICパッド 8 パッケージ内部パッド
Claims (1)
- 【請求項1】 ICチップの端子と高密度表面実装タ
イプのパッケージ外部端子との電気的接続を行なってい
る内部導体パターンを分岐させ、パッケージ表面に島状
に配置された導体板と接続することにより、ICチップ
の電気的動作の観測を前記表面導体板で行うことが可能
となる半導体集積回路パッケージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3145053A JPH04369253A (ja) | 1991-06-18 | 1991-06-18 | 半導体集積回路パッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3145053A JPH04369253A (ja) | 1991-06-18 | 1991-06-18 | 半導体集積回路パッケージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04369253A true JPH04369253A (ja) | 1992-12-22 |
Family
ID=15376295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3145053A Pending JPH04369253A (ja) | 1991-06-18 | 1991-06-18 | 半導体集積回路パッケージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04369253A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5670825A (en) * | 1995-09-29 | 1997-09-23 | Intel Corporation | Integrated circuit package with internally readable permanent identification of device characteristics |
| US5686759A (en) * | 1995-09-29 | 1997-11-11 | Intel Corporation | Integrated circuit package with permanent identification of device characteristics and method for adding the same |
-
1991
- 1991-06-18 JP JP3145053A patent/JPH04369253A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5670825A (en) * | 1995-09-29 | 1997-09-23 | Intel Corporation | Integrated circuit package with internally readable permanent identification of device characteristics |
| US5686759A (en) * | 1995-09-29 | 1997-11-11 | Intel Corporation | Integrated circuit package with permanent identification of device characteristics and method for adding the same |
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