JPH04372117A - Vapor growth apparatus - Google Patents

Vapor growth apparatus

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JPH04372117A
JPH04372117A JP15035791A JP15035791A JPH04372117A JP H04372117 A JPH04372117 A JP H04372117A JP 15035791 A JP15035791 A JP 15035791A JP 15035791 A JP15035791 A JP 15035791A JP H04372117 A JPH04372117 A JP H04372117A
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JP
Japan
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chamber
reactor
susceptor
wafer
operating shaft
Prior art date
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Pending
Application number
JP15035791A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukio Komura
幸夫 香村
Sadanori Ishida
禎則 石田
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Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Publication of JPH04372117A publication Critical patent/JPH04372117A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide a title apparatus which can improve the productivity of epitaxial wafers and suppress an increase in the height of the apparatus. CONSTITUTION:A bottom opening of a chamber 1 is closed airtight with a turn table 2. The inside of the chamber 1 is partitioned airtight into a reactor prechamber 5 and a wafer load chamber 6 by an in-chamber partitioning gate valve 4 which crosses diametrically through the center. Two areas of the turn table 2 corresponding to the reactor prechamber 5 and the wafer load chamber 6 are provided with a first operation shaft 8 and a second operation shaft 9, respectively, passing through the turn table 2 airtight so as to rise, fall, and rotate. The first operation shaft 8 and the second operation shaft 9 are tipped with a first susceptor 14 and a second susceptor 15, respectively. A reactor 25 is installed by airtight coupling to the top of the corresponding chamber 1 on the top of the reactor prechamber 5.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、多量生産に対応できる
気相成長装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vapor phase growth apparatus that can handle mass production.

【0002】0002

【従来の技術】GaAs又はInPウエハ上に薄膜を作
成してエピタキシャルウエハを得るMOCVD法は、研
究段階から量産段階に移行し、生産性,歩留りが問題と
なってきている。これを向上させるためには、より大き
な設備で一度に多量のエピタキシャルウエハを生産する
必要がある。
2. Description of the Related Art The MOCVD method for producing epitaxial wafers by forming a thin film on a GaAs or InP wafer has moved from the research stage to the mass production stage, and productivity and yield have become problems. In order to improve this, it is necessary to produce a large number of epitaxial wafers at one time using larger equipment.

【0003】MOCVD法は、主にガラス製リアクタ内
にカーボン製サセプタを設け、このサセプタ上に多数枚
の基板を載せる。リアクタ内には、水素をキャリアガス
としてAsH3 (アルシン),PH3 (ホスフィン
)又はGa(CH3 )3 (トリメチルガリウム,T
MG),In(CH3 )3 (トリメチルインジウム
)を流してウエハの上にエピタキシャル成長を行わせる
。成長後のガスは、排気リングから配管を通して排気さ
せる。
[0003] In the MOCVD method, a carbon susceptor is mainly provided in a glass reactor, and a large number of substrates are placed on this susceptor. Inside the reactor, AsH3 (arsine), PH3 (phosphine) or Ga(CH3)3 (trimethylgallium, T
MG), In(CH3)3 (trimethylindium) is flowed to perform epitaxial growth on the wafer. The gas after growth is exhausted from the exhaust ring through piping.

【0004】0004

【発明が解決しようとする課題】このような従来の気相
成長装置では、一回の成長時間は、膜厚によって異なる
が、2〜4時間である。この場合、実際には、パージ,
ベーキング,昇温,降温,パージ等の工程が成長工程の
前後に入るので、全体の作業時間は3〜5時間となる。 また、ウエハのセッティング,サセプタの昇降,安全性
の確認等の作業が入ると、作業員の1交代時間内で1回
の成長しかできない。このため、従来の気相成長装置で
は、生産性が上がらない問題点があった。
SUMMARY OF THE INVENTION In such a conventional vapor phase growth apparatus, the time required for one growth is 2 to 4 hours, although it varies depending on the film thickness. In this case, it actually purges,
Since processes such as baking, temperature raising, temperature lowering, and purging are performed before and after the growth process, the total working time is 3 to 5 hours. Furthermore, when work such as setting the wafer, raising and lowering the susceptor, and checking safety is involved, only one growth can be performed within one worker shift. For this reason, conventional vapor phase growth apparatuses have had the problem of not increasing productivity.

【0005】また、従来の気相成長装置では、2インチ
×9枚,3インチ×12枚成長用等のバレル型サセプタ
があり、ウエハのローディング,アンローディング作業
をリアクタの下のリアクタ前室で行おうとすると、該リ
アクタ前室の高さを高くする必要があり、ますます装置
が巨大化している。この場合、クリーンルームは、床か
ら天井までが3mで、床下に1mのスペースがある。こ
れ以上の高さには、普通はできない。このように、従来
の装置では、高さが高くなり、ウエハ交換の作業性が悪
い問題点があった。
In addition, conventional vapor phase growth apparatuses have barrel-type susceptors for growing 2 inch x 9 wafers, 3 inch x 12 wafers, etc., and the loading and unloading operations of wafers are carried out in the reactor front chamber below the reactor. If this is attempted, it is necessary to increase the height of the reactor front chamber, making the apparatus increasingly large. In this case, the clean room is 3 meters from the floor to the ceiling and has a 1 meter space under the floor. It is normally not possible to reach a height higher than this. As described above, the conventional apparatus has a problem in that the height is high and the workability of wafer exchange is poor.

【0006】本発明の目的は、エピタキシャルウエハの
生産性を向上でき、且つ装置の高さが高くなるのを抑制
できる気相成長装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a vapor phase growth apparatus that can improve the productivity of epitaxial wafers and suppress increases in the height of the apparatus.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する本
発明の構成を説明すると、本発明に係る気相成長装置は
、チャンバーと、前記チャンバーの開口部を閉塞するタ
ーンテーブルと、前記チャンバー内をリアクタ前室とウ
エハロード室とに仕切るチャンバー内仕切り用ゲートバ
ルブと、前記リアクタ前室と前記ウエハロード室に対応
する前記ターンテーブルの各領域をそれぞれ気密に貫通
する第1操作軸及び第2操作軸と、前記第1操作軸及び
第2操作軸の各先端に設けられた第1サセプタ及び第2
サセプタと、前記リアクタ前室に対応した前記チャンバ
ーの部分に気密に連結されて設置されていて前記リアク
タ前室に連通するリアクタと、前記リアクタと前記リア
クタ前室との間を仕切るリアクタ出入り口仕切り用ゲー
トバルブとを備えていることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] To explain the structure of the present invention to achieve the above object, the vapor phase growth apparatus according to the present invention includes a chamber, a turntable for closing an opening of the chamber, and a turntable for closing an opening of the chamber. a gate valve for partitioning the inside of the chamber into a reactor front chamber and a wafer load chamber; a first operating shaft and a second operating shaft that hermetically penetrate respective regions of the turntable corresponding to the reactor front chamber and the wafer load chamber; two operating shafts; a first susceptor and a second susceptor provided at each tip of the first operating shaft and the second operating shaft;
A susceptor, a reactor that is airtightly connected to and installed in a portion of the chamber corresponding to the reactor front chamber and communicates with the reactor front chamber, and a reactor entrance/exit partition that partitions between the reactor and the reactor front chamber. It is characterized by being equipped with a gate valve.

【0008】[0008]

【作用】このような装置では、リアクタ内で気相成長作
業を行っている間に、ウエハロード室側で別のサセプタ
に対してウエハの着脱を行う。従って、リアクタ内での
気相成長作業と、サセプタに対するウエハのローディン
グ,アンローディング作業を並行して行うことができ、
全体の作業時間を短縮することができる。
[Operation] In such an apparatus, while vapor phase growth is being performed in the reactor, the wafer is attached to and detached from another susceptor in the wafer loading chamber. Therefore, the vapor phase growth operation within the reactor and the loading and unloading operations of the wafer to the susceptor can be performed in parallel.
The overall working time can be shortened.

【0009】ウエハロード室は、リアクタ前室の脇に並
設するので、装置全体の高さを高くせずに、ウエハロー
ド室だけの高さをローディング,アンローディング作業
に都合のよい高さにすることができる。
Since the wafer loading chamber is installed next to the reactor front chamber, the height of the wafer loading chamber alone can be adjusted to a height convenient for loading and unloading operations without increasing the height of the entire device. can do.

【0010】0010

【実施例】図1及び図2は、本発明に係る気相成長装置
の一実施例を示したものである。図示のように、本実施
例の気相成長装置は、周壁が円筒状をなすチャンバー1
を有する。該チャンバー1の下面開口部は、ターンテー
ブル2で気密に閉塞されている。該ターンテーブル2は
、回転軸3で回転駆動されるようになっている。チャン
バー1内は、その中心を通って直径方向に横切るチャン
バー内仕切り用ゲートバルブ4によってリアクタ前室5
とウエハロード室6とに気密に仕切られている。チャン
バー1の外部には、該ゲートバルブ4を操作するエアシ
リンダの如きバルブ操作機7が設けられている。
Embodiment FIGS. 1 and 2 show an embodiment of a vapor phase growth apparatus according to the present invention. As shown in the figure, the vapor phase growth apparatus of this embodiment has a chamber 1 whose peripheral wall is cylindrical.
has. A lower opening of the chamber 1 is hermetically closed by a turntable 2. The turntable 2 is rotatably driven by a rotating shaft 3. The inside of the chamber 1 is divided into a reactor front chamber 5 by a gate valve 4 for partitioning the chamber diametrically across the center of the chamber 1.
and a wafer load chamber 6. A valve operating device 7 such as an air cylinder for operating the gate valve 4 is provided outside the chamber 1 .

【0011】リアクタ前室5とウエハロード室6に対応
するターンテーブル2の2つの領域には、該ターンテー
ブル2をそれぞれ気密に昇降自在に且つ回転自在に貫通
して第1操作軸8と第2操作軸9とが設けられている。 これら第1操作軸8と第2操作軸9とは、図示しない手
段によって昇降と回転が行われるようになっている。ま
た、これら第1操作軸8と第2操作軸9とのターンテー
ブル2の貫通部分の気密シールを行うために、これら第
1操作軸8と第2操作軸9のターンテーブル2から下方
に突出した部分には蛇腹管10,11が嵌合されている
。これら蛇腹管10,11の上端は、ターンテーブル2
に気密に固定されている。また、これら蛇腹管10,1
1の下端には、回転シール12,13が接続されている
Two areas of the turntable 2 corresponding to the reactor front chamber 5 and the wafer loading chamber 6 are provided with a first operation shaft 8 and a first operation shaft that pass through the turntable 2 in an airtight manner so as to be able to rise and fall freely and rotatably. 2 operating shafts 9 are provided. These first operating shaft 8 and second operating shaft 9 are adapted to be moved up and down and rotated by means not shown. In addition, in order to airtightly seal the portions of the first operating shaft 8 and the second operating shaft 9 that pass through the turntable 2, the first operating shaft 8 and the second operating shaft 9 protrude downward from the turntable 2. Bellows tubes 10 and 11 are fitted into the portions. The upper ends of these bellows tubes 10 and 11 are connected to the turntable 2
is fixed airtight. In addition, these bellows pipes 10, 1
Rotary seals 12 and 13 are connected to the lower end of 1.

【0012】第1操作軸8の先端には、カーボン製の第
1サセプタ14が取り付けられている。第2操作軸9の
先端には、カーボン製の第2サセプタ15が取り付けら
れている。これらサセプタ14,15の外周には、所定
数のウエハ16がそれぞれ支持されるようになっている
。各サセプタ14,15の下側の第1操作軸8と第2操
作軸9には、排気ガスを後述する排気リング側に流すた
めのフローガイド17,18がそれぞれ取付けられてい
る。
A first susceptor 14 made of carbon is attached to the tip of the first operating shaft 8. A second susceptor 15 made of carbon is attached to the tip of the second operating shaft 9. A predetermined number of wafers 16 are supported on the outer circumferences of these susceptors 14 and 15, respectively. Flow guides 17 and 18 are attached to the first operating shaft 8 and the second operating shaft 9 below each of the susceptors 14 and 15, respectively, for causing exhaust gas to flow toward an exhaust ring, which will be described later.

【0013】リアクタ前室5とウエハロード室6とに対
応してチャンバー1には、開口部19,20を開閉する
扉21,22が設けられている。ウエハロード室6の上
のチャンバー1には、開口部23を開閉する蓋24が設
けられている。
Doors 21 and 22 for opening and closing openings 19 and 20 are provided in the chamber 1 corresponding to the reactor front chamber 5 and the wafer loading chamber 6. The chamber 1 above the wafer load chamber 6 is provided with a lid 24 that opens and closes the opening 23 .

【0014】リアクタ前室5の上部に対応したチャンバ
ー1の上に気密に連結されて石英ガラス製のリアクタ2
5が設置されている。該リアクタ25の上部にはガス導
入口26が設けられ、下部には排気リング27が設けら
れ、該排気リング27には排気管28が接続されている
。サセプタ14又は15がリアクタ前室5に存在すると
きリアクタ25の下部を閉じるため、リアクタ出入り口
仕切り用ゲートバルブ29が設けられている。リアクタ
25の外周には、該リアクタ25内に上昇したサセプタ
14又は15を誘導加熱することによりウエハ16を加
熱する高周波誘導加熱コイル30が設けられている。
A reactor 2 made of quartz glass is airtightly connected above the chamber 1 corresponding to the upper part of the reactor front chamber 5.
5 is installed. A gas inlet 26 is provided at the top of the reactor 25, an exhaust ring 27 is provided at the bottom, and an exhaust pipe 28 is connected to the exhaust ring 27. In order to close the lower part of the reactor 25 when the susceptor 14 or 15 is present in the reactor front chamber 5, a gate valve 29 for partitioning the reactor entrance/exit is provided. A high frequency induction heating coil 30 is provided around the outer periphery of the reactor 25 to heat the wafer 16 by inductively heating the susceptor 14 or 15 raised into the reactor 25.

【0015】次に、このような気相成長装置の動作につ
いて説明する。リアクタ前室5とウエハロード室6との
間をチャンバー内仕切り用ゲートバルブ4によって気密
に仕切った状態で、リアクタ25内にその上部から原料
ガスを流し、該リアクタ25内で回転しつつある第1サ
セプタ14に支持されて高周波誘導加熱コイル30で加
熱されているウエハ16に薄膜を気相成長させる。反応
後のガス等は、フローガイド17でガイドした後、排気
管28から排出させる。ウエハ16の気相成長が終了し
たら、リアクタ25及びリアクタ前室5のパージを行い
、その後で第1サセプタ14をリアクタ前室5まで下げ
、リアクタ出入り口仕切り用ゲートバルブ29を閉じる
Next, the operation of such a vapor phase growth apparatus will be explained. With the reactor front chamber 5 and the wafer loading chamber 6 airtightly partitioned by the chamber partition gate valve 4, source gas is flowed into the reactor 25 from above, and the A thin film is grown in a vapor phase on a wafer 16 supported by a susceptor 14 and heated by a high-frequency induction heating coil 30. The gas after the reaction is guided by the flow guide 17 and then discharged from the exhaust pipe 28. When the vapor phase growth of the wafer 16 is completed, the reactor 25 and the reactor front chamber 5 are purged, and then the first susceptor 14 is lowered to the reactor front chamber 5, and the reactor entrance/exit partition gate valve 29 is closed.

【0016】一方、ウエハロード室6側では、扉22を
開いて第2サセプタ15に対して図示しない自動機でウ
エハ16の着脱を並行して行う。
On the other hand, on the wafer loading chamber 6 side, the door 22 is opened and the wafer 16 is loaded and unloaded onto the second susceptor 15 in parallel by an automatic machine (not shown).

【0017】扉21,22を閉じた状態で、チャンバー
内仕切り用ゲートバルブ4を開き、チャンバ1内から該
チャンバー内仕切り用ゲートバルブ4を後退させた状態
でターンテーブル2を回転し、第1サセプタ14をウエ
ハロード室6に移動し、第2サセプタ15をリアクタ前
室5に移動することにより、各サセプタを入れ替える。 この状態で、チャンバー内仕切り用ゲートバルブ4を閉
じ、次いでリアクタ出入り口仕切り用ゲートバルブ29
を開く。かかる状態で、第2サセプタ15をリアクタ2
5内に上昇させ、前述したと同様に該サセプタ15上の
ウエハ16に対して気相成長を行う。
With the doors 21 and 22 closed, the chamber partition gate valve 4 is opened, and with the chamber partition gate valve 4 retracted from the chamber 1, the turntable 2 is rotated, and the first Each susceptor is replaced by moving the susceptor 14 to the wafer load chamber 6 and moving the second susceptor 15 to the reactor front chamber 5. In this state, the chamber internal partition gate valve 4 is closed, and then the reactor entrance/exit partition gate valve 29 is closed.
open. In this state, the second susceptor 15 is connected to the reactor 2.
5, and vapor phase growth is performed on the wafer 16 on the susceptor 15 in the same manner as described above.

【0018】この作業に並行して、ウエハロード室6側
では第1サセプタ14上の各ウエハ16のチェックを1
枚ずつ自動機によって行い、ケースに収める。次に、新
しいウエハ16を第1サセプタ14にセットする。
In parallel with this operation, each wafer 16 on the first susceptor 14 is checked once on the wafer loading chamber 6 side.
The pieces are processed one by one using an automatic machine and placed in a case. Next, a new wafer 16 is set on the first susceptor 14.

【0019】このように、ウエハロード室6で気相成長
後のウエハ16の取り出し、新しいウエハ16のセット
を行うと、作業時間の短縮を行える。
In this way, by taking out the wafer 16 after vapor phase growth and setting a new wafer 16 in the wafer loading chamber 6, the working time can be shortened.

【0020】気相成長を2週間程度続けると、サセプタ
14,15も反応生成物によって汚染される。その場合
、ウエハロード室6の蓋24を開け、開口部23からサ
セプタ14又は15を取り出して、新しいサセプタに交
換する。なお、このサセプタの交換は開口部20を利用
して行うこともできる。
When the vapor phase growth continues for about two weeks, the susceptors 14 and 15 are also contaminated by the reaction products. In that case, the lid 24 of the wafer load chamber 6 is opened, the susceptor 14 or 15 is taken out from the opening 23, and replaced with a new susceptor. Note that the susceptor can also be replaced using the opening 20.

【0021】この気相成長装置は、チャンバ1にローデ
ィングとアンローディング用の自動機を設ければ、人間
はほとんど関与することなく、エピタキシャルウエハを
量産することができる。
This vapor phase growth apparatus can mass-produce epitaxial wafers with almost no human involvement if the chamber 1 is equipped with an automatic machine for loading and unloading.

【0022】また、従来、上下方向のみにサイズアップ
してきた設備を、ウエハロード室をリアクタ前室の横に
並設することによって、高さの限界をクリアすることが
できる。
[0022]Furthermore, by arranging the wafer loading chamber side by side with the reactor front chamber, it is possible to overcome the height limit of the equipment, which has conventionally been increased in size only in the vertical direction.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る気相成
長装置は、リアクタの出入り口にリアクタ前室を設け、
該リアクタ前室の脇にウエハロード室を並設し、サセプ
タをターンテーブルによりリアクタ前室とウエハロード
室との間を往復できるようにしたので、リアクタ内で気
相成長作業を行っている間に、ウエハロード室側で別の
サセプタに対してウエハの着脱を行うことができる。従
って、リアクタ内での気相成長作業と、サセプタに対す
るウエハのローディング,アンローディング作業を並行
して行うことができ、全体の作業時間を短縮することが
でき、気相成長作業を能率よく行うことができる。
[Effects of the Invention] As explained above, the vapor phase growth apparatus according to the present invention is provided with a reactor front chamber at the entrance and exit of the reactor,
A wafer loading chamber is installed next to the reactor front chamber, and the susceptor can be moved back and forth between the reactor front chamber and the wafer loading chamber using a turntable, so that the susceptor can be moved back and forth between the reactor front chamber and the wafer load chamber, so that the susceptor can be moved back and forth between the reactor front chamber and the wafer load chamber. Additionally, the wafer can be attached to and removed from another susceptor on the wafer loading chamber side. Therefore, the vapor phase growth work in the reactor and the loading and unloading of wafers from the susceptor can be performed in parallel, reducing the overall work time and making the vapor phase growth work more efficient. Can be done.

【0024】また、本発明では、ウエハロード室をリア
クタ前室の脇に並設するので、装置全体の高さを高くせ
ずに、ウエハロード室だけの高さをローディング,アン
ローディング作業に都合のよい高さにすることができる
Furthermore, in the present invention, since the wafer loading chamber is arranged side by side with the reactor front chamber, the height of the wafer loading chamber alone is convenient for loading and unloading operations without increasing the height of the entire apparatus. can be made to a good height.

【0025】更に、ターンテーブルの使用により、装置
の可及的に小さな占有設置面積で、リアクタ前室とウエ
ハロード室との間のサセプタの巡回移動を行なわせるこ
とができる。
Furthermore, the use of a turntable allows circular movement of the susceptor between the reactor front chamber and the wafer loading chamber while occupying the smallest possible footprint of the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明に係る気相成長装置の一実施例の縦断面
図である。
FIG. 1 is a longitudinal cross-sectional view of an embodiment of a vapor phase growth apparatus according to the present invention.

【図2】図1のX−X線断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line XX in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…チャンバー、2…ターンテーブル、3…回転軸、4
…チャンバー内仕切り用ゲートバルブ、5…リアクタ前
室、6…ウエハロード室、7…バルブ操作機、8…第1
操作軸、9…第2操作軸、10,11…蛇腹管、12,
13…回転シール、14…第1サセプタ、15…第2サ
セプタ、16…ウエハ、17,18…フローガイド、1
9,20…開口部、21,22…扉、23…開口部、2
4…蓋、25…リアクタ、26…ガス導入口、27…排
気リング、28…排気管、29…リアクタ出入り口仕切
り用ゲートバルブ、30…高周波誘導加熱コイル。
1...Chamber, 2...Turntable, 3...Rotating shaft, 4
...Chamber internal partition gate valve, 5...Reactor front chamber, 6...Wafer load chamber, 7...Valve operating device, 8...First
Operating shaft, 9... Second operating shaft, 10, 11... Bellows tube, 12,
13... Rotating seal, 14... First susceptor, 15... Second susceptor, 16... Wafer, 17, 18... Flow guide, 1
9, 20...Opening, 21, 22...Door, 23...Opening, 2
4...Lid, 25...Reactor, 26...Gas inlet, 27...Exhaust ring, 28...Exhaust pipe, 29...Reactor entrance/exit partition gate valve, 30...High frequency induction heating coil.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  チャンバーと、前記チャンバーの開口
部を閉塞するターンテーブルと、前記チャンバー内をリ
アクタ前室とウエハロード室とに仕切るチャンバー内仕
切り用ゲートバルブと、前記リアクタ前室と前記ウエハ
ロード室に対応する前記ターンテーブルの各領域をそれ
ぞれ気密に貫通する第1操作軸及び第2操作軸と、前記
第1操作軸及び第2操作軸の各先端に設けられた第1サ
セプタ及び第2サセプタと、前記リアクタ前室に対応し
た前記チャンバーの部分に気密に連結されて設置されて
いて前記リアクタ前室に連通するリアクタと、前記リア
クタと前記リアクタ前室との間を仕切るリアクタ出入り
口仕切り用ゲートバルブとを備えていることを特徴とす
る気相成長装置。
1. A chamber, a turntable for closing an opening of the chamber, a gate valve for partitioning the chamber into a reactor front chamber and a wafer load chamber, and a gate valve for partitioning the chamber into a reactor front chamber and a wafer load chamber. a first operating shaft and a second operating shaft that hermetically penetrate respective regions of the turntable corresponding to the chamber; a first susceptor and a second susceptor provided at respective tips of the first operating shaft and the second operating shaft; A susceptor, a reactor that is airtightly connected to and installed in a portion of the chamber corresponding to the reactor front chamber and communicates with the reactor front chamber, and a reactor entrance/exit partition that partitions between the reactor and the reactor front chamber. A vapor phase growth apparatus characterized by comprising a gate valve.
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