JPH0439657Y2 - - Google Patents
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- JPH0439657Y2 JPH0439657Y2 JP3399286U JP3399286U JPH0439657Y2 JP H0439657 Y2 JPH0439657 Y2 JP H0439657Y2 JP 3399286 U JP3399286 U JP 3399286U JP 3399286 U JP3399286 U JP 3399286U JP H0439657 Y2 JPH0439657 Y2 JP H0439657Y2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 9
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- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 11
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 8
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は電子線を試料に照射することにより発
生するカソードルミネツセンス光を検出するカソ
ードルミネツセンス装置の改良に関する。
生するカソードルミネツセンス光を検出するカソ
ードルミネツセンス装置の改良に関する。
[従来技術]
一般に走査電子顕微鏡において、生物や鉱物あ
るいは半導体等の試料に電子線を照射するとカソ
ードルミネツセンス光が発生するため、このカソ
ードルミネツセンス光を光検出器で検出すること
によりカソードルミネツセンス像として観察する
ようになしたカソードルミネツセンス装置があ
る。かかる装置として、近時カソードルミネツセ
ンス光を単に検出するのではなく、カソードルミ
ネツセンス光を分光器により分光して特定の波長
のものだけを検出するようになしたものが開発さ
れている。
るいは半導体等の試料に電子線を照射するとカソ
ードルミネツセンス光が発生するため、このカソ
ードルミネツセンス光を光検出器で検出すること
によりカソードルミネツセンス像として観察する
ようになしたカソードルミネツセンス装置があ
る。かかる装置として、近時カソードルミネツセ
ンス光を単に検出するのではなく、カソードルミ
ネツセンス光を分光器により分光して特定の波長
のものだけを検出するようになしたものが開発さ
れている。
[考案が解決しようとする問題点]
このようにカソードルミネツセンス光を分光し
て検出するようになした装置では、分光器に入射
したカソードルミネツセンス光は波長分散される
ので、その強度が1/100〜1/1000の減衰を受けて
検出器に検出されるため、検出信号は非常に微弱
なものとなる。その結果、表示装置に表示される
カソードルミネツセンス像はSN比の悪い像しか
得られない。このことは試料を分析するにあたつ
て試料の発光領域を大雑把に特定するには不向
き、つまり試料の視野探しが非常に行ないずらい
ことを意味する。しかるに、カソードルミネツセ
ンス光を分光しないで直接検出器で検出すれば、
検出器はこの検出器の有効波長全範囲のカソード
ルミネツセンス光を検出することになるため、検
出信号は充分に大きく、鮮明なカソードルミネツ
センス像を得ることができる。そのため、試料の
視野探しを容易に行うことができる。そこで、カ
ソードルミネツセンス光を分光しないタイプの装
置によつて試料の視野探しを行つた後、カソード
ルミネツセンス光を分光するタイプの装置で詳細
に観察することができるようにするため、2つの
タイプにおけるカソードルミネツセンス像を比較
観察することが要求される。
て検出するようになした装置では、分光器に入射
したカソードルミネツセンス光は波長分散される
ので、その強度が1/100〜1/1000の減衰を受けて
検出器に検出されるため、検出信号は非常に微弱
なものとなる。その結果、表示装置に表示される
カソードルミネツセンス像はSN比の悪い像しか
得られない。このことは試料を分析するにあたつ
て試料の発光領域を大雑把に特定するには不向
き、つまり試料の視野探しが非常に行ないずらい
ことを意味する。しかるに、カソードルミネツセ
ンス光を分光しないで直接検出器で検出すれば、
検出器はこの検出器の有効波長全範囲のカソード
ルミネツセンス光を検出することになるため、検
出信号は充分に大きく、鮮明なカソードルミネツ
センス像を得ることができる。そのため、試料の
視野探しを容易に行うことができる。そこで、カ
ソードルミネツセンス光を分光しないタイプの装
置によつて試料の視野探しを行つた後、カソード
ルミネツセンス光を分光するタイプの装置で詳細
に観察することができるようにするため、2つの
タイプにおけるカソードルミネツセンス像を比較
観察することが要求される。
一方、ダイヤモンドやGaAs化合物半導体の如
きカソードルミネツセンス光のスペクトルに2つ
のピークを持つような試料においては、カソード
ルミネツセンス光を分光して得られたカソードル
ミネツセンス像とカソードルミネツセンス光を分
光しないで得られたカソードルミネツセンス像と
では全く異なつた像が観察される。そこで、この
ような場合においてもカソードルミネツセンス光
を各波長ピークに分光したカソードルミネツセン
ス像とカソードルミネツセンス光を分光しないカ
ソードルミネツセンス像を比較しながら観察する
ことが要求される。
きカソードルミネツセンス光のスペクトルに2つ
のピークを持つような試料においては、カソード
ルミネツセンス光を分光して得られたカソードル
ミネツセンス像とカソードルミネツセンス光を分
光しないで得られたカソードルミネツセンス像と
では全く異なつた像が観察される。そこで、この
ような場合においてもカソードルミネツセンス光
を各波長ピークに分光したカソードルミネツセン
ス像とカソードルミネツセンス光を分光しないカ
ソードルミネツセンス像を比較しながら観察する
ことが要求される。
本考案は上述した要求を満足することのできる
装置を提供することを目的とするものである。
装置を提供することを目的とするものである。
[問題点を解決するための手段]
上記目的を達成するため、本考案のカソードル
ミネツセンス装置は、電子線を照射して試料から
カソードルミネツセンス光を発生させるための手
段と、該手段により発生したカソードルミネツセ
ンス光を集光するための集光手段と、該集光手段
により集光されたカソードルミネツセンス光を分
光するための分光手段と、該分光手段によつて分
光されたカソードルミネツセンス光を検出するた
めの第1の検出手段と、前記集光手段により集光
されたカソードルミネツセンス光を分光すること
なく直接検出するための第2の検出手段と、前記
集光手段により集光されたカソードルミネツセン
ス光を前記第1と第2の検出手段へ同時または選
択的に導くための手段と、該第1の検出手段より
の信号に基づく試料像と第2の検出手段よりの信
号に基づく試料像とを並べて同時にまたは選択的
に表示するための手段を備えることを特徴として
いる。
ミネツセンス装置は、電子線を照射して試料から
カソードルミネツセンス光を発生させるための手
段と、該手段により発生したカソードルミネツセ
ンス光を集光するための集光手段と、該集光手段
により集光されたカソードルミネツセンス光を分
光するための分光手段と、該分光手段によつて分
光されたカソードルミネツセンス光を検出するた
めの第1の検出手段と、前記集光手段により集光
されたカソードルミネツセンス光を分光すること
なく直接検出するための第2の検出手段と、前記
集光手段により集光されたカソードルミネツセン
ス光を前記第1と第2の検出手段へ同時または選
択的に導くための手段と、該第1の検出手段より
の信号に基づく試料像と第2の検出手段よりの信
号に基づく試料像とを並べて同時にまたは選択的
に表示するための手段を備えることを特徴として
いる。
以下、本考案の実施例を図面に基づき詳細に説
明する。
明する。
[実施例]
添附図面は本考案の一実施例を示す構成略図で
あり、1は走査電子顕微鏡等の鏡体である。2は
この鏡体内の上方に置かれた電子銃で、発生した
電子線EBは集束レンズ3により集束されて試料
4上に照射される。5はこの試料4上に照射され
る電子線を一定領域内で走査するための偏向コイ
ルで、走査信号発生回路6から増幅器7を介して
走査信号が供給される。
あり、1は走査電子顕微鏡等の鏡体である。2は
この鏡体内の上方に置かれた電子銃で、発生した
電子線EBは集束レンズ3により集束されて試料
4上に照射される。5はこの試料4上に照射され
る電子線を一定領域内で走査するための偏向コイ
ルで、走査信号発生回路6から増幅器7を介して
走査信号が供給される。
8は前記試料4の上方に置かれた放物面鏡から
なるミラーで、試料4に電子線EBが照射される
ことにより発生するカソードルミネツセンス光L
を前記鏡体1の側壁に形成した耐真空ガラスから
なる光取出窓9に向けて反射するための役目を果
す。また、このミラー8には電子線EBを通過さ
せるための穴8aが形成してある。この光取出窓
9を透過したカソードルミネツセンス光は集光レ
ンズ10によつて分光器11の入射スリツト11
aの位置に集束され、分光器11によつて波長分
散された後、特定の波長のものだけが第1の検出
器12に検出される。前記集光レンズ10と分光
器11との間には半透鏡13が置かれ、集光レン
ズ10によつて集光されたカソードルミネツセン
ス光の一部が前記分光器11に対して直行する方
向に置かれた第2の検出器14に入射するように
なしてある。また、前記集光レンズ10及び半透
鏡13は外部の光と遮断された案内筒15内に支
持されている。
なるミラーで、試料4に電子線EBが照射される
ことにより発生するカソードルミネツセンス光L
を前記鏡体1の側壁に形成した耐真空ガラスから
なる光取出窓9に向けて反射するための役目を果
す。また、このミラー8には電子線EBを通過さ
せるための穴8aが形成してある。この光取出窓
9を透過したカソードルミネツセンス光は集光レ
ンズ10によつて分光器11の入射スリツト11
aの位置に集束され、分光器11によつて波長分
散された後、特定の波長のものだけが第1の検出
器12に検出される。前記集光レンズ10と分光
器11との間には半透鏡13が置かれ、集光レン
ズ10によつて集光されたカソードルミネツセン
ス光の一部が前記分光器11に対して直行する方
向に置かれた第2の検出器14に入射するように
なしてある。また、前記集光レンズ10及び半透
鏡13は外部の光と遮断された案内筒15内に支
持されている。
前記第1及び第2の検出器12,14からの検
出信号は夫々増幅器16,17を介して第1及び
第2の陰極線管18,19の輝度変調グリツドに
供給される。この各陰極線管の偏向コイル20,
21には走査信号発生回路6から増幅器22を介
して前記偏向コイル5への走査信号と同期した走
査信号が供給されているため、各陰極線管上には
夫々カソードルミネツセンス像が表示されること
になる。
出信号は夫々増幅器16,17を介して第1及び
第2の陰極線管18,19の輝度変調グリツドに
供給される。この各陰極線管の偏向コイル20,
21には走査信号発生回路6から増幅器22を介
して前記偏向コイル5への走査信号と同期した走
査信号が供給されているため、各陰極線管上には
夫々カソードルミネツセンス像が表示されること
になる。
かかる装置において、偏向コイル5によつて電
子線EBを試料4上で走査すると、試料からはカ
ソードルミネツセンス光が発生する。発生したカ
ソードルミネツセンス光はミラー8によつて光取
出窓9側に反射され、光取出窓を透過して集光レ
ンズ10により集光される。このとき集光レンズ
10の後方には半透鏡13が設置してあるため、
集光レンズ10を透過したカソードルミネツセン
ス光は半透鏡13によつて分光器11と第2の検
出器14へ向うものとに分離される。ここで第2
の検出器14には試料4から発生したカソードル
ミネツセンス光がそのまま入射するため、この検
出器はカソードルミネツセンス光の強度に応じた
信号を出力するので、第2の陰極線管19には分
光しないカソードルミネツセンス像が表示され
る。一方、分光器11に入射したカソードルミネ
ツセンス光は分光器の波長走査により分光され、
分光波長がカソードルミネツセンス光のピーク波
長に近づくと第1の検出器12からの出力信号は
次第に大きくなり、第1の陰極線管18に像が見
え始める。そして分光波長とピーク波長が一致し
たとき、像が最も明るくなり、分光したカソード
ルミネツセンス像が得られる。
子線EBを試料4上で走査すると、試料からはカ
ソードルミネツセンス光が発生する。発生したカ
ソードルミネツセンス光はミラー8によつて光取
出窓9側に反射され、光取出窓を透過して集光レ
ンズ10により集光される。このとき集光レンズ
10の後方には半透鏡13が設置してあるため、
集光レンズ10を透過したカソードルミネツセン
ス光は半透鏡13によつて分光器11と第2の検
出器14へ向うものとに分離される。ここで第2
の検出器14には試料4から発生したカソードル
ミネツセンス光がそのまま入射するため、この検
出器はカソードルミネツセンス光の強度に応じた
信号を出力するので、第2の陰極線管19には分
光しないカソードルミネツセンス像が表示され
る。一方、分光器11に入射したカソードルミネ
ツセンス光は分光器の波長走査により分光され、
分光波長がカソードルミネツセンス光のピーク波
長に近づくと第1の検出器12からの出力信号は
次第に大きくなり、第1の陰極線管18に像が見
え始める。そして分光波長とピーク波長が一致し
たとき、像が最も明るくなり、分光したカソード
ルミネツセンス像が得られる。
そこで、先ず分光しないカソードルミネツセン
ス像が表示される第2の陰極線管19の画像を観
察しながら試料の観察すべき発光領域を決め、そ
の後、分光したカソードルミネツセンス像が表示
される第1の陰極線管18の画面を見ながら分光
器11の分光波長をカソードルミネツセンス光の
ピーク波長に一致させた状態で観察すれば良い。
ス像が表示される第2の陰極線管19の画像を観
察しながら試料の観察すべき発光領域を決め、そ
の後、分光したカソードルミネツセンス像が表示
される第1の陰極線管18の画面を見ながら分光
器11の分光波長をカソードルミネツセンス光の
ピーク波長に一致させた状態で観察すれば良い。
次に、カソードルミネツセンス光のスペクトル
に2つのピークを持つような試料を観察する場合
について説明する。
に2つのピークを持つような試料を観察する場合
について説明する。
例えばダイヤモンドにおいてはカソードルミネ
ツセンス光のスペクトルの主ピークが430nm、副
ピークが520nm付近に見られるので、第2の陰極
線管19には2つのピークのカソードルミネツセ
ンス像が重なつて1つのカソードルミネツセンス
像として表示され、また、第1の陰極線管18に
は分光波長を合わせた例えば430nm付近のカソー
ドルミネツセンス像を表示させることができる。
従つて、波長430nmのカソードルミネツセンス像
が分光しないカソードルミネツセンス像のどこに
対応するかあるいは反対に520nmのカソードルミ
ネツセンス像がどの部分なのか、一目瞭然に識別
することができる。
ツセンス光のスペクトルの主ピークが430nm、副
ピークが520nm付近に見られるので、第2の陰極
線管19には2つのピークのカソードルミネツセ
ンス像が重なつて1つのカソードルミネツセンス
像として表示され、また、第1の陰極線管18に
は分光波長を合わせた例えば430nm付近のカソー
ドルミネツセンス像を表示させることができる。
従つて、波長430nmのカソードルミネツセンス像
が分光しないカソードルミネツセンス像のどこに
対応するかあるいは反対に520nmのカソードルミ
ネツセンス像がどの部分なのか、一目瞭然に識別
することができる。
ところで、半透鏡としてはカソードルミネツセ
ンス光の分離比が1対1のものを使用しても良い
が、カソードルミネツセンス光は分光器11を通
過する間にその強度が通常1/100〜1/1000に減衰
するので、分光器に入射するカソードルミネツセ
ンス光の量をできるだけ多くしたい。そのため、
半透鏡による分離比は例えば1対9にして分光器
の方へ多くのカソードルミネツセンス光を送るよ
うになした方が良い。またその10%のカソードル
ミネツセンス光のロスが問題となるようであれ
ば、半透鏡を可動式とし、必要に応じて光路から
外すようにすれば良い。
ンス光の分離比が1対1のものを使用しても良い
が、カソードルミネツセンス光は分光器11を通
過する間にその強度が通常1/100〜1/1000に減衰
するので、分光器に入射するカソードルミネツセ
ンス光の量をできるだけ多くしたい。そのため、
半透鏡による分離比は例えば1対9にして分光器
の方へ多くのカソードルミネツセンス光を送るよ
うになした方が良い。またその10%のカソードル
ミネツセンス光のロスが問題となるようであれ
ば、半透鏡を可動式とし、必要に応じて光路から
外すようにすれば良い。
尚、前述の説明では分光しないカソードルミネ
ツセンス像及び分光したカソードルミネツセンス
像を夫々専用の陰極線管に表示させることにより
並べて表示するようにしたが、各検出器からの検
出信号を時分割して1つの陰極線管に供給し、画
面を2つに分割して2つのカソードルミネツセン
ス像を並べて表示させるようにしても良い。ま
た、半透鏡を使用して分光しないカソードルミネ
ツセンス像と分光したカソードルミネツセンス像
とを同時に得る場合について述べたが、これに限
定されることなく半透鏡に代えて反射鏡を光路上
に挿脱可能に設け、2種のカソードルミネツセン
ス像を選択的に得るように構成することも可能で
ある。さらに、2つの検出器はカソードルミネツ
センス光の分光波長領域に応じて光電子増倍管、
Si検出器、Ge検出器、PbS検出器等から適宜選
択して使用すれば良い。さらに、また、カソード
ルミネツセンス像を表示する陰極線管は走査電子
顕微鏡における2次電子像や反射電子像を表示す
る陰極線管を使用しても良い。
ツセンス像及び分光したカソードルミネツセンス
像を夫々専用の陰極線管に表示させることにより
並べて表示するようにしたが、各検出器からの検
出信号を時分割して1つの陰極線管に供給し、画
面を2つに分割して2つのカソードルミネツセン
ス像を並べて表示させるようにしても良い。ま
た、半透鏡を使用して分光しないカソードルミネ
ツセンス像と分光したカソードルミネツセンス像
とを同時に得る場合について述べたが、これに限
定されることなく半透鏡に代えて反射鏡を光路上
に挿脱可能に設け、2種のカソードルミネツセン
ス像を選択的に得るように構成することも可能で
ある。さらに、2つの検出器はカソードルミネツ
センス光の分光波長領域に応じて光電子増倍管、
Si検出器、Ge検出器、PbS検出器等から適宜選
択して使用すれば良い。さらに、また、カソード
ルミネツセンス像を表示する陰極線管は走査電子
顕微鏡における2次電子像や反射電子像を表示す
る陰極線管を使用しても良い。
[考案の効果]
以上詳述した如く本考案によれば、分光しない
カソードルミネツセンス像と分光したカソードル
ミネツセンス像とを比較観察することができ、ま
た視野探しが非常に容易となる。
カソードルミネツセンス像と分光したカソードル
ミネツセンス像とを比較観察することができ、ま
た視野探しが非常に容易となる。
添附図面は本考案の一実施例を示す構成略図で
ある。 1……鏡体、2……電子銃、3……集束レン
ズ、4……試料、5,20,21……偏向コイ
ル、6……走査信号発生回路、7,16,17,
22……増幅器、8……ミラー、9……光取出
窓、10……集光レンズ、11……分光器、1
2,14……第1及び第2の検出器、13……半
透鏡、15……案内筒、18,19……第1及び
第2の陰極線管。
ある。 1……鏡体、2……電子銃、3……集束レン
ズ、4……試料、5,20,21……偏向コイ
ル、6……走査信号発生回路、7,16,17,
22……増幅器、8……ミラー、9……光取出
窓、10……集光レンズ、11……分光器、1
2,14……第1及び第2の検出器、13……半
透鏡、15……案内筒、18,19……第1及び
第2の陰極線管。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 電子線を照射して試料からカソードルミネツ
センス光を発生させるための手段と、該手段に
より発生したカソードルミネツセンス光を集光
するための集光手段と、該集光手段により集光
されたカソードルミネツセンス光を分光するた
めの分光手段と、該分光手段によつて分光され
たカソードルミネツセンス光を検出するための
第1の検出手段と、前記集光手段により集光さ
れたカソードルミネツセンス光を分光すること
なく直接検出するための第2の検出手段と、前
記集光手段により集光されたカソードルミネツ
センス光を前記第1と第2の検出手段へ同時ま
たは選択的に導くための手段と、該第1の検出
手段よりの信号に基づく試料像と第2の検出手
段よりの信号に基づく試料像とを並列して同時
にまたは選択的に表示するための手段を備える
カソードルミネツセンス装置。 (2) 前記集光手段により集光されたカソードルミ
ネツセンス光を前記第1と第2の検出手段へ同
時または選択的に導くための手段は半透鏡で、
該半透鏡によりカソードルミネツセンス光を第
1と第2の検出手段に同時に導くようにしたこ
とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項
に記載のカソードルミネツセンス装置。 (3) 前記集光手段により集光されたカソードルミ
ネツセンス光を前記第1と第2の検出手段へ同
時または選択的に導くための手段は反射鏡で、
該反射鏡をカソードルミネツセンス光の光路上
に挿脱することによつてカソードルミネツセン
ス光を第1と第2の検出手段へ選択的に導くよ
うになしたことを特徴とする実用新案登録請求
の範囲第1項に記載のカソードルミネツセンス
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3399286U JPH0439657Y2 (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3399286U JPH0439657Y2 (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62145262U JPS62145262U (ja) | 1987-09-12 |
| JPH0439657Y2 true JPH0439657Y2 (ja) | 1992-09-17 |
Family
ID=30842117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3399286U Expired JPH0439657Y2 (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0439657Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3441949B2 (ja) * | 1997-12-18 | 2003-09-02 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡 |
| US10707051B2 (en) * | 2018-05-14 | 2020-07-07 | Gatan, Inc. | Cathodoluminescence optical hub |
-
1986
- 1986-03-10 JP JP3399286U patent/JPH0439657Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62145262U (ja) | 1987-09-12 |
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