JPH0439902B2 - - Google Patents
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- JPH0439902B2 JPH0439902B2 JP59226554A JP22655484A JPH0439902B2 JP H0439902 B2 JPH0439902 B2 JP H0439902B2 JP 59226554 A JP59226554 A JP 59226554A JP 22655484 A JP22655484 A JP 22655484A JP H0439902 B2 JPH0439902 B2 JP H0439902B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mode field
- vidicon camera
- field diameter
- optical fiber
- sensitivity correction
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は、通信用単一モード光フアイバの基本
パラメタの一つであるモードフイールド径の測定
に関する。 〔従来の技術〕 被測定単一モード光フアイバの一端から単一モ
ード光フアイバの遮断波長λより長い波長のレー
ザ光を用いた測定光を入射し、他端面に現れるパ
ターンをビジコンカメラに据えて、そのパターン
を観測する方法が知られている。この方法はモー
ドフイールド径を観測するにはきわめて簡便な方
法であるが、一般にビジコンカメラの受光面の特
性が定量的に明確にされていないので、この方法
によつてモードフイールド径の値を正確に測定す
ることはできない。 すなわち、被測定光フアイバの一端から適当な
光パワーを励起し、他端面に現れるパターンを観
測し、その輝度の高い部分をモードフイールドで
あるとしてその径を測定すると、この被測定光フ
アイバに入射する光パワーの強度にしたがつて、
その輝度の高い部分の径が異なることになる。こ
れを実験してみると、光パワーを相対的に１対20
に変化させたとき、一つの被測定光フアイバのモ
ードフイールド径の測定結果は、一つのビジコン
カメラを用いても、9.3〜10.2μｍに変化すること
がわかつた。 さらに、ビジコンカメラはその受光面の各画素
について、特性が均一であるとの保証がなく、ま
たその特性は経時的にあるいは温度により変化す
るものと考らられる。したがつて、単純にビジコ
ンカメラを用いてこのモードフイールド径の測定
を行つても、常に均一な測定を行うことができる
ことにはならない。 〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明は、この方法が簡便である利点を生かし
て、モードフイールド径を正確にかつ常に均一に
測定する方法を提供することを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、ビジコンカメラの受光面の各位置の
感度分布をあらかじめ測定して計算機のメモリに
記憶しておき、上記ビジコンカメラによる測定値
を走査により読取り、上記計算機に与えて、上記
メモリに記憶した感度分布により積分範囲および
量子化誤差その他の補正を行つてモードフイール
ド径を演算することを特徴とする。 〔作用〕 一般にビジコンカメラの受光面には103×103程
度の画素（番地）があるが、この各画素につい
て、あらかじめその程度特性を測定しておき、こ
れを計算機のメモリに格納する。ビジコンカメラ
でモードフイールド径を測定するときには、この
設定値を走査にしたがつてこの計算機に取り込
み、あらかじめ格納された各番地の感度特性にし
たがつて設定値に補正を行つて正確な値を演算す
る。さらに、モードフイールド径を演算するとき
には、その積分範囲を光パワーレベルにしたがつ
て最適に設定することにより、常に均一な測定を
行うことができる。 〔実施例〕 第１図は本発明を実施する装置のブロツク構成
図である。光源１はレーザダイオード装置であ
り、その出力光は光減衰器２を介して、Ｖ溝の接
続具３から被測定光フアイバ４の一端に入射され
る。この被測定光フアイバ４の他端面にはレンズ
５が配置され、この端面像がビジコンカメラ６の
受光面に結像するように調節される。ビジコンカ
メラ６はカメラ制御装置８により走査制御され
る。このカメラ制御装置８には計算機９および画
像モニタ１０が接続される。 ここで、ビジコンカメラ６の受光面の画素（番
地）は1024×1024個であり、この各画素について
その感度分布をあらかじめ設定し、その設定結果
を計算機９のメモリに格納しておく。この装置で
被測定光フアイバ４の端面像を撮像したときに、
その受光面の走査データは計算機９に入力され、
あらかじめメモリに格納されている値にしたがつ
て補正されて、モードフイールド径が演算され
る。その結果は印字表示され、また計算機の
CRT画面に表示され、あるいはメモリに記録さ
れる。 ビジコンカメラの感度特性の測定方法およびそ
のデータの処理方法の一例について説明する。 ここではモードフイールド径W0を 2W0＝２［2∫R 0ｐ（ｒ）r3dr／∫R 0ｐ
（ｒ）rdr］1/2……(1) と定義する。ここでｒは光フアイバの中心から判
径方向への距離、Ｐ（ｒ）は距離ｒにおけるパワ
ー、Ｒは積分範囲の上限値である。この測定で、
誤差要因となるものには大別して次の二つのもの
がある。 (1) パワー分布の決定誤差 (2) (1)式の積分範囲の決定誤差 このうち、(1)のパワー分布の決定において問題
となるのはビジコンカメラの受光感度特性が非線
形な特性を有していること、および受光面の場所
による感度の違いがあることである。この特性は
(2)の積分範囲の決定の際に考慮する必要がある。
次にビジコンカメラの特性について述べる。 ビジコンカメラの感度特性の測定系を第２図に
示す。この測定系で光スイツチ１２を切換えなが
ら光パワーメータ１３で入射光量を測定する。入
射光量を変化させて、ビジコンカメラの光電変換
係数（γ係数）を測定した。レーザ光源の波長λ
は単一モード光フアイバの遮断波長λより長い
1.3μｍを用いる。測定結果を第３図に示す。光入
力があるときのカメラの受光面上の座標（Ｘ、
Ｙ）点での電気出力Vm（Ｘ、Ｙ）と、光入力が
ないときのカメラの電気出力Vb（Ｘ、Ｙ）の差を
Ｖ（Ｘ、Ｙ）とすると、この図より入力光量Ｐ
（Ｘ、Ｙ）と電気出力Ｖ（Ｘ、Ｙ）の関係は次式で
表現できる。 Ｐ（Ｘ、Ｙ）＝Ｋ（Ｘ、Ｙ）Ｖ（Ｘ、Ｙ）1/〓 ……(2) ここでＫ（Ｘ、Ｙ）は面感度補正係数であり、
γは光電気変換係数（γ係数）である。この第３
図より係数γを求めると、0.7であることがわか
る。 次に、ビジコンカメラの受光面の場所によるγ
値の測定結果を第１表に示す。ビジコンカメラの
受光素子は10μｍ×10μｍの大きさである。ここ
で受光面の位置は第２図に示すようにＸアドレス
（０〜1023）とＹアドレス（０〜1023）の交点で
表示している。
パラメタの一つであるモードフイールド径の測定
に関する。 〔従来の技術〕 被測定単一モード光フアイバの一端から単一モ
ード光フアイバの遮断波長λより長い波長のレー
ザ光を用いた測定光を入射し、他端面に現れるパ
ターンをビジコンカメラに据えて、そのパターン
を観測する方法が知られている。この方法はモー
ドフイールド径を観測するにはきわめて簡便な方
法であるが、一般にビジコンカメラの受光面の特
性が定量的に明確にされていないので、この方法
によつてモードフイールド径の値を正確に測定す
ることはできない。 すなわち、被測定光フアイバの一端から適当な
光パワーを励起し、他端面に現れるパターンを観
測し、その輝度の高い部分をモードフイールドで
あるとしてその径を測定すると、この被測定光フ
アイバに入射する光パワーの強度にしたがつて、
その輝度の高い部分の径が異なることになる。こ
れを実験してみると、光パワーを相対的に１対20
に変化させたとき、一つの被測定光フアイバのモ
ードフイールド径の測定結果は、一つのビジコン
カメラを用いても、9.3〜10.2μｍに変化すること
がわかつた。 さらに、ビジコンカメラはその受光面の各画素
について、特性が均一であるとの保証がなく、ま
たその特性は経時的にあるいは温度により変化す
るものと考らられる。したがつて、単純にビジコ
ンカメラを用いてこのモードフイールド径の測定
を行つても、常に均一な測定を行うことができる
ことにはならない。 〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明は、この方法が簡便である利点を生かし
て、モードフイールド径を正確にかつ常に均一に
測定する方法を提供することを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、ビジコンカメラの受光面の各位置の
感度分布をあらかじめ測定して計算機のメモリに
記憶しておき、上記ビジコンカメラによる測定値
を走査により読取り、上記計算機に与えて、上記
メモリに記憶した感度分布により積分範囲および
量子化誤差その他の補正を行つてモードフイール
ド径を演算することを特徴とする。 〔作用〕 一般にビジコンカメラの受光面には103×103程
度の画素（番地）があるが、この各画素につい
て、あらかじめその程度特性を測定しておき、こ
れを計算機のメモリに格納する。ビジコンカメラ
でモードフイールド径を測定するときには、この
設定値を走査にしたがつてこの計算機に取り込
み、あらかじめ格納された各番地の感度特性にし
たがつて設定値に補正を行つて正確な値を演算す
る。さらに、モードフイールド径を演算するとき
には、その積分範囲を光パワーレベルにしたがつ
て最適に設定することにより、常に均一な測定を
行うことができる。 〔実施例〕 第１図は本発明を実施する装置のブロツク構成
図である。光源１はレーザダイオード装置であ
り、その出力光は光減衰器２を介して、Ｖ溝の接
続具３から被測定光フアイバ４の一端に入射され
る。この被測定光フアイバ４の他端面にはレンズ
５が配置され、この端面像がビジコンカメラ６の
受光面に結像するように調節される。ビジコンカ
メラ６はカメラ制御装置８により走査制御され
る。このカメラ制御装置８には計算機９および画
像モニタ１０が接続される。 ここで、ビジコンカメラ６の受光面の画素（番
地）は1024×1024個であり、この各画素について
その感度分布をあらかじめ設定し、その設定結果
を計算機９のメモリに格納しておく。この装置で
被測定光フアイバ４の端面像を撮像したときに、
その受光面の走査データは計算機９に入力され、
あらかじめメモリに格納されている値にしたがつ
て補正されて、モードフイールド径が演算され
る。その結果は印字表示され、また計算機の
CRT画面に表示され、あるいはメモリに記録さ
れる。 ビジコンカメラの感度特性の測定方法およびそ
のデータの処理方法の一例について説明する。 ここではモードフイールド径W0を 2W0＝２［2∫R 0ｐ（ｒ）r3dr／∫R 0ｐ
（ｒ）rdr］1/2……(1) と定義する。ここでｒは光フアイバの中心から判
径方向への距離、Ｐ（ｒ）は距離ｒにおけるパワ
ー、Ｒは積分範囲の上限値である。この測定で、
誤差要因となるものには大別して次の二つのもの
がある。 (1) パワー分布の決定誤差 (2) (1)式の積分範囲の決定誤差 このうち、(1)のパワー分布の決定において問題
となるのはビジコンカメラの受光感度特性が非線
形な特性を有していること、および受光面の場所
による感度の違いがあることである。この特性は
(2)の積分範囲の決定の際に考慮する必要がある。
次にビジコンカメラの特性について述べる。 ビジコンカメラの感度特性の測定系を第２図に
示す。この測定系で光スイツチ１２を切換えなが
ら光パワーメータ１３で入射光量を測定する。入
射光量を変化させて、ビジコンカメラの光電変換
係数（γ係数）を測定した。レーザ光源の波長λ
は単一モード光フアイバの遮断波長λより長い
1.3μｍを用いる。測定結果を第３図に示す。光入
力があるときのカメラの受光面上の座標（Ｘ、
Ｙ）点での電気出力Vm（Ｘ、Ｙ）と、光入力が
ないときのカメラの電気出力Vb（Ｘ、Ｙ）の差を
Ｖ（Ｘ、Ｙ）とすると、この図より入力光量Ｐ
（Ｘ、Ｙ）と電気出力Ｖ（Ｘ、Ｙ）の関係は次式で
表現できる。 Ｐ（Ｘ、Ｙ）＝Ｋ（Ｘ、Ｙ）Ｖ（Ｘ、Ｙ）1/〓 ……(2) ここでＫ（Ｘ、Ｙ）は面感度補正係数であり、
γは光電気変換係数（γ係数）である。この第３
図より係数γを求めると、0.7であることがわか
る。 次に、ビジコンカメラの受光面の場所によるγ
値の測定結果を第１表に示す。ビジコンカメラの
受光素子は10μｍ×10μｍの大きさである。ここ
で受光面の位置は第２図に示すようにＸアドレス
（０〜1023）とＹアドレス（０〜1023）の交点で
表示している。
【表】
この表より、γ値が位置によつて異なつている
ことがわかる。数台のビジコンカメラの位置によ
るγ値のばらつきは約0.03であつた。このように
ビジコンカメラのγ係数は１ではなく、またその
位置によつて異なる。したがつて光強度分布を正
確に求めるには、ビジコンカメラのγ係数の測定
が必要である。 第２図の測定系で、スポツトの中心の光量を一
定に保ち、ビジコンカメラの受光部分に入射され
るスポツトの位置を移動させて、一定方向の線感
度分布を測定した。このときの測定例を第４図に
示す。白丸は線感度分布の測定値であり、黒丸は
線感度補正値である。また破線は線感度補正値を
２次関数で近似したものである。この図から、こ
のカメラでは中心部分の感度が小さいことがわか
る。また、異なるカメラでＸ方向のアドレスを変
化させて線感度分布を測定し、そのときの線感度
補正分布を第５図に示す。この図のａからｉは、
Ｘアドレスが472から552まで10アドレスずつ増加
したときの線感度補正分布である。この図より、
Ｘアドレスが少し異なつただけで、線感度分布が
異なつていることがわかる。したがつて、スポツ
トサイズの測定で必要となる一方向の線感度分布
の測定が必要である。 次に積分範囲について説明すると、(1)式よりス
ポツトサイズは積分範囲によつて変化することが
わかる。第６図にコア径10μｍ、比屈折率差0.3％
のフアイバのモードフイールド径と積分範囲の関
係を示す。積分範囲を大きくするとモードフイー
ルド径は大きくなり、3a（3W0）でほぼ(1)式の積
分は収束することがわかる。次に積分範囲を変化
させたときのモードフイールド径の測定結果を第
７図に示す。測定に用いたフアイバＡおよびＢの
実効カツトオフ波長と比屈折率差は、それぞれ
1.2μｍ、0.31％および1.17μｍ、0.30％であり、第
８図にその屈折率分布を示す。第７図より、積分
範囲を大きくするとモードフイールド径は大きく
なり、収束する傾向が見られる。この傾向は第６
図に示す計算結果と一致している。第８図の屈折
率分布を用いて計算したフアイバＡおよびＢのモ
ードフイールド径の理論値は、それぞれ4.80μｍ
と5.05μｍである。積分範囲を3W0とすると第７
図より実測値は理論値に比べて0.15μｍ〜0.2μｍ
大きいことがわかる。 次にカメラ感度補正（γ補正）について説明す
る。前記γ係数を変化させたときの測定値との関
係を第９図に示す。ここでは、コア径10μｍ、比
屈折率差0.3％の単一モードフアイバを考え、γ
＝0.7のとき正しい値となるモデルを仮定した。
この図より、係数γの値が±0.1の変化に対して
測定結果は±0.5μｍ変化することがわかる。した
がつて、測定誤差を0.1μｍ以内とするためには、
係数γの測定精度を0.05以内に押さえる必要があ
る。 受光された光強度のAD変換は８ビツトで行わ
れている。つまり、測定されるNFPは、０から
255のレベルに量子化されていることになる。第
１０図に量子化レベルとモードフイールド径との
関係を示す。ここで量子化レベルの値は、スポツ
トの中心の値を表すもので、その中心値で示して
いる。計算に用いた光フアイバのパラメーワはコ
ア径10μｍ、比屈折率差0.3％である。この図よ
り、積分範囲の増加とともにモードフイールド径
は大きくなりやがて収束することがわかる。ま
た、量子化レベルを大きくすると収束するモード
フイールド径の値も大きくなることがわかる。ま
た、そのときの積分範囲は、量子化レベルの増大
にしたがつて大きくなる。量子化レベルに対する
スポツトサイズの収束値および量子化による誤差
の関係を第１１図に示す。この図より量子化レベ
ルを1000にしても誤差は約１％であることがわか
る。したがつて、現状において量子化誤差を５％
以内に押さえるためには、量子化レベルを200以
上にする必要があることがわかる。 上記で検討した測定誤差とモードフイールド径
の関係から最適測定条件を決定した一例を第２表
に示す。基線のレベル決定に関しては、第６図、
第７図からわかるように積分範囲を3W0（3a）以
上に決めると積分が収束するので、基線のレベル
を3W0〜4W0のレベルの平均値で与える。この場
合に、測定誤差は最小に押さえられると考えられ
る。積分範囲の決定は次のようにした。すなわち
測定されるデータはAD変換されるため、量子化
誤差が生じる。そこで、量子化誤差を５％以内に
するためには、第１１図より量子化レベルを200
以上にする必要がある。さらに、第１０図より積
分範囲を1.7W0と決定した。
ことがわかる。数台のビジコンカメラの位置によ
るγ値のばらつきは約0.03であつた。このように
ビジコンカメラのγ係数は１ではなく、またその
位置によつて異なる。したがつて光強度分布を正
確に求めるには、ビジコンカメラのγ係数の測定
が必要である。 第２図の測定系で、スポツトの中心の光量を一
定に保ち、ビジコンカメラの受光部分に入射され
るスポツトの位置を移動させて、一定方向の線感
度分布を測定した。このときの測定例を第４図に
示す。白丸は線感度分布の測定値であり、黒丸は
線感度補正値である。また破線は線感度補正値を
２次関数で近似したものである。この図から、こ
のカメラでは中心部分の感度が小さいことがわか
る。また、異なるカメラでＸ方向のアドレスを変
化させて線感度分布を測定し、そのときの線感度
補正分布を第５図に示す。この図のａからｉは、
Ｘアドレスが472から552まで10アドレスずつ増加
したときの線感度補正分布である。この図より、
Ｘアドレスが少し異なつただけで、線感度分布が
異なつていることがわかる。したがつて、スポツ
トサイズの測定で必要となる一方向の線感度分布
の測定が必要である。 次に積分範囲について説明すると、(1)式よりス
ポツトサイズは積分範囲によつて変化することが
わかる。第６図にコア径10μｍ、比屈折率差0.3％
のフアイバのモードフイールド径と積分範囲の関
係を示す。積分範囲を大きくするとモードフイー
ルド径は大きくなり、3a（3W0）でほぼ(1)式の積
分は収束することがわかる。次に積分範囲を変化
させたときのモードフイールド径の測定結果を第
７図に示す。測定に用いたフアイバＡおよびＢの
実効カツトオフ波長と比屈折率差は、それぞれ
1.2μｍ、0.31％および1.17μｍ、0.30％であり、第
８図にその屈折率分布を示す。第７図より、積分
範囲を大きくするとモードフイールド径は大きく
なり、収束する傾向が見られる。この傾向は第６
図に示す計算結果と一致している。第８図の屈折
率分布を用いて計算したフアイバＡおよびＢのモ
ードフイールド径の理論値は、それぞれ4.80μｍ
と5.05μｍである。積分範囲を3W0とすると第７
図より実測値は理論値に比べて0.15μｍ〜0.2μｍ
大きいことがわかる。 次にカメラ感度補正（γ補正）について説明す
る。前記γ係数を変化させたときの測定値との関
係を第９図に示す。ここでは、コア径10μｍ、比
屈折率差0.3％の単一モードフアイバを考え、γ
＝0.7のとき正しい値となるモデルを仮定した。
この図より、係数γの値が±0.1の変化に対して
測定結果は±0.5μｍ変化することがわかる。した
がつて、測定誤差を0.1μｍ以内とするためには、
係数γの測定精度を0.05以内に押さえる必要があ
る。 受光された光強度のAD変換は８ビツトで行わ
れている。つまり、測定されるNFPは、０から
255のレベルに量子化されていることになる。第
１０図に量子化レベルとモードフイールド径との
関係を示す。ここで量子化レベルの値は、スポツ
トの中心の値を表すもので、その中心値で示して
いる。計算に用いた光フアイバのパラメーワはコ
ア径10μｍ、比屈折率差0.3％である。この図よ
り、積分範囲の増加とともにモードフイールド径
は大きくなりやがて収束することがわかる。ま
た、量子化レベルを大きくすると収束するモード
フイールド径の値も大きくなることがわかる。ま
た、そのときの積分範囲は、量子化レベルの増大
にしたがつて大きくなる。量子化レベルに対する
スポツトサイズの収束値および量子化による誤差
の関係を第１１図に示す。この図より量子化レベ
ルを1000にしても誤差は約１％であることがわか
る。したがつて、現状において量子化誤差を５％
以内に押さえるためには、量子化レベルを200以
上にする必要があることがわかる。 上記で検討した測定誤差とモードフイールド径
の関係から最適測定条件を決定した一例を第２表
に示す。基線のレベル決定に関しては、第６図、
第７図からわかるように積分範囲を3W0（3a）以
上に決めると積分が収束するので、基線のレベル
を3W0〜4W0のレベルの平均値で与える。この場
合に、測定誤差は最小に押さえられると考えられ
る。積分範囲の決定は次のようにした。すなわち
測定されるデータはAD変換されるため、量子化
誤差が生じる。そこで、量子化誤差を５％以内に
するためには、第１１図より量子化レベルを200
以上にする必要がある。さらに、第１０図より積
分範囲を1.7W0と決定した。
【表】
一方、ビジコンカメラの非線形性に関しては、
線感度補正およびγ補正が必要であることがわか
つた。また、モードフイールド径の設定において
は、γ値の変化に対して大きく変化することがわ
かつた。したがつて、第９図よりスポツトサイズ
を0.1μｍ以内の精度で測定するためには、0.05以
内の測定精度でγの値を測定する必要がある。 第２表の測定条件で４種類のビジコンカメラを
用いて光損失光フアイバのモードフイールド径を
測定した。 試料フアイバ９本について測定した結果を第３
表に示す。このとき用いたフアイバ（試料記号Ｆ
〜Ｎ）に対して屈折率分布を測定し、その屈折率
分布を用いて、モードフイールド径の理論値を計
算した。その結果も合わせて第３表に示す。
線感度補正およびγ補正が必要であることがわか
つた。また、モードフイールド径の設定において
は、γ値の変化に対して大きく変化することがわ
かつた。したがつて、第９図よりスポツトサイズ
を0.1μｍ以内の精度で測定するためには、0.05以
内の測定精度でγの値を測定する必要がある。 第２表の測定条件で４種類のビジコンカメラを
用いて光損失光フアイバのモードフイールド径を
測定した。 試料フアイバ９本について測定した結果を第３
表に示す。このとき用いたフアイバ（試料記号Ｆ
〜Ｎ）に対して屈折率分布を測定し、その屈折率
分布を用いて、モードフイールド径の理論値を計
算した。その結果も合わせて第３表に示す。
以上説明したように、本発明の方法によれば、
ビジコンカメラを使用してモードフイールド径を
測定するので、測定装置は簡便であるとともに、
ビジコンカメラの特性のばらつき、あるいはビジ
コンカメラの受光面での特性分布の影響などを取
り除くことができ、常に一定の条件で均一な測定
を行うことができる効果がある。
ビジコンカメラを使用してモードフイールド径を
測定するので、測定装置は簡便であるとともに、
ビジコンカメラの特性のばらつき、あるいはビジ
コンカメラの受光面での特性分布の影響などを取
り除くことができ、常に一定の条件で均一な測定
を行うことができる効果がある。
第１図は本発明を実施する装置のブロツク構成
図。第２図はビジコンカメラの受光感度特性の測
定径を示す図。第３図はビジコンカメラの特性例
を示す図。第４図は線感度分布および線感度補正
分布の一例を示す図。第５図は異なるビジコンカ
メラによる線感度補正分布を示す図。第６図は積
分範囲とモードフイールド径測定結果の関係を示
す図。第７図はことなる被測定光フアイバについ
てモードフイールド径測定結果の関係を示す図。
第８図は被試験光フアイバの屈折率分布を示す
図。第９図はγ係数とモードフイールド径測定結
果の関係を示す図。第１０図は量子化レベルによ
るモードフイールド径測定結果の関係を示す図。
第１１図は量子化レベルによる測定誤差を示す
図。 １……光源、２……光減衰器、３……接続具、
４……被測定光フアイバ、５……レンズ、６……
ビジコンカメラ、８……カメラ制御装置、９……
計算機、１０……モニタ、１２……光スイツチ、
１３……光パワーメータ。
図。第２図はビジコンカメラの受光感度特性の測
定径を示す図。第３図はビジコンカメラの特性例
を示す図。第４図は線感度分布および線感度補正
分布の一例を示す図。第５図は異なるビジコンカ
メラによる線感度補正分布を示す図。第６図は積
分範囲とモードフイールド径測定結果の関係を示
す図。第７図はことなる被測定光フアイバについ
てモードフイールド径測定結果の関係を示す図。
第８図は被試験光フアイバの屈折率分布を示す
図。第９図はγ係数とモードフイールド径測定結
果の関係を示す図。第１０図は量子化レベルによ
るモードフイールド径測定結果の関係を示す図。
第１１図は量子化レベルによる測定誤差を示す
図。 １……光源、２……光減衰器、３……接続具、
４……被測定光フアイバ、５……レンズ、６……
ビジコンカメラ、８……カメラ制御装置、９……
計算機、１０……モニタ、１２……光スイツチ、
１３……光パワーメータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定光フアイバの一端より単一モード光フ
アイバの遮断波長より長い波長のレーザ光を用い
た測定光を入射し、この測定光により上記被測定
光フアイバの他端面に現れる像をレンズにより拡
大してビジコンカメラに撮像することによりその
測定光のモードフイールド径を測定する方法にお
いて、 上記ビジコンカメラの受光面に均一な光源で照
射し、 Ｘ，Ｙをビジコンカメラの受光面の座標点、Ｖ
を電気出力、Ｋを入力光量と電気出力との関係を
表す面感度補正係数、γを光電変換係数とすると
き、 Ｐ（Ｘ，Ｙ）＝Ｋ（Ｘ，Ｙ）Ｖ（Ｘ，Ｙ）1/〓 の式を用いて、上記ビジコンカメラの受光面の座
標点（Ｘ，Ｙ）での面感度補正係数Ｋ（Ｘ，Ｙ）
と光電変換係数γとを各座標点（Ｘ，Ｙ）ごとに
求め、 各座標点での面感度補正係数Ｋ（Ｘ，Ｙ）と光
電変換係数γの値を計算機のメモリに記憶し、 前記ビジコンカメラによる測定値を走査により
読み取つて前記メモリに記憶されている面感度補
正係数Ｋ（Ｘ，Ｙ）と光電変換係数γとによる誤
差の補正と線感度補正を行い、 モードフイールド半径をW0とするとき、積分
範囲（０〜Ｒ）を1.7W0、量子化レベルを200以
上、基線のレベルを3W0〜4W0のレベルの平均値
と定め、 2W0＝２［2∫R 0ｐ（ｒ）r3dr／∫
R 0ｐ（ｒ）rdr］1/2 ｒ：光フアイバの中心から半径方向への距離 ｐ（ｒ）：距離ｒにおけるパワー のモードフイールド径の定義式に従いモードフイ
ールド径を演算する ことを特徴とするモードフイールド径測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22655484A JPS61104238A (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 | モードフィールド径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22655484A JPS61104238A (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 | モードフィールド径測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61104238A JPS61104238A (ja) | 1986-05-22 |
| JPH0439902B2 true JPH0439902B2 (ja) | 1992-07-01 |
Family
ID=16846975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22655484A Granted JPS61104238A (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 | モードフィールド径測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61104238A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100459998B1 (ko) * | 2002-12-05 | 2004-12-04 | 전자부품연구원 | 광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템 |
| JP4749142B2 (ja) * | 2005-01-14 | 2011-08-17 | 小糸工業株式会社 | 視認状況測定装置 |
| JP2018138910A (ja) * | 2017-02-24 | 2018-09-06 | 株式会社フジクラ | マルチコアファイバの特性測定装置及び特性測定方法 |
| CN109668516A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-04-23 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种基于蜗轮蜗杆的光纤远场扫描仪 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57176886A (en) * | 1981-04-23 | 1982-10-30 | Olympus Optical Co Ltd | Photoelectric output processing device |
| JPS5972163A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-24 | Fujitsu Ltd | イメ−ジセンサの感度差補正方式 |
-
1984
- 1984-10-26 JP JP22655484A patent/JPS61104238A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61104238A (ja) | 1986-05-22 |
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