JPH0439916B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0439916B2 JPH0439916B2 JP60052560A JP5256085A JPH0439916B2 JP H0439916 B2 JPH0439916 B2 JP H0439916B2 JP 60052560 A JP60052560 A JP 60052560A JP 5256085 A JP5256085 A JP 5256085A JP H0439916 B2 JPH0439916 B2 JP H0439916B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip carrier
- housing
- test
- test adapter
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0425—Test clips, e.g. for IC's
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S439/00—Electrical connectors
- Y10S439/912—Electrical connectors with testing means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はチツプキヤリアに内包されたマイクロ
チツプの試験用の装置に関し、特に、四周側縁に
そつて複数の導電性リードを有するマイクロチツ
プキヤリア用のテストアダプタに関する。
チツプの試験用の装置に関し、特に、四周側縁に
そつて複数の導電性リードを有するマイクロチツ
プキヤリア用のテストアダプタに関する。
最近まで固体マイクロ電子デバイスは12ないし
14の活性域を有するものとして作られ、これらデ
バイスは、活性域からのリードを矩形本体の両側
部から導出して有するDIP(デユアルインライン
パツケージ)形の矩形の絶縁本体内に実装されて
いた。ごく最近、マイクロ回路デバイスは、その
四周側縁部全体に沿つて活性域を有する方形チツ
プの形で製造されるようになつた。マイクロ回路
デバイス用として現在使用されているこの形式の
標準形チツプキヤリアは、少なくとも6本のリー
ドをその横向きの四周側縁を全てから導出して有
する方形の低輪郭の容器からなる。この形式のチ
ツプキヤリアをプリント回路基板に直接に実装
し、またプリント回路基板にマウントしたチツプ
キヤリアソケツトに挿し込むことは通常行なわれ
ていることである。
14の活性域を有するものとして作られ、これらデ
バイスは、活性域からのリードを矩形本体の両側
部から導出して有するDIP(デユアルインライン
パツケージ)形の矩形の絶縁本体内に実装されて
いた。ごく最近、マイクロ回路デバイスは、その
四周側縁部全体に沿つて活性域を有する方形チツ
プの形で製造されるようになつた。マイクロ回路
デバイス用として現在使用されているこの形式の
標準形チツプキヤリアは、少なくとも6本のリー
ドをその横向きの四周側縁を全てから導出して有
する方形の低輪郭の容器からなる。この形式のチ
ツプキヤリアをプリント回路基板に直接に実装
し、またプリント回路基板にマウントしたチツプ
キヤリアソケツトに挿し込むことは通常行なわれ
ていることである。
DIPの試験用には各種の試験装置およびクリツ
プが入手可能である。この種のクリツプの例はロ
ング等(Long et al)への米国特許第4012097号
明細書に開示されている。クリツプ本体上には、
その両側縁に沿つて試験用接点がDIPのリードと
接触されるように設けられている。この本体の両
側には直立レバーが枢着取付けされている。各レ
バーは一対の接点を有し、これがDIPの二列のリ
ードの端部両側でリードと接触してこれを把持し
ている。試験用リードないしプローブは、クリツ
プの頂部で近よることのできる試験クリツプ接点
と接続することによつてDIPの特定のリードと電
気的に接続することができる。DIPの試験用には
各種の試験装置が入手できるが、発明者等の知る
限りにおいては、その四周側縁に沿つて複数のリ
ードを有するチツプキヤリア用にはこの種の装置
は用意されていない。従つてこのようなテストク
リツプないしアダプタを提供することが本発明の
目的である。
プが入手可能である。この種のクリツプの例はロ
ング等(Long et al)への米国特許第4012097号
明細書に開示されている。クリツプ本体上には、
その両側縁に沿つて試験用接点がDIPのリードと
接触されるように設けられている。この本体の両
側には直立レバーが枢着取付けされている。各レ
バーは一対の接点を有し、これがDIPの二列のリ
ードの端部両側でリードと接触してこれを把持し
ている。試験用リードないしプローブは、クリツ
プの頂部で近よることのできる試験クリツプ接点
と接続することによつてDIPの特定のリードと電
気的に接続することができる。DIPの試験用には
各種の試験装置が入手できるが、発明者等の知る
限りにおいては、その四周側縁に沿つて複数のリ
ードを有するチツプキヤリア用にはこの種の装置
は用意されていない。従つてこのようなテストク
リツプないしアダプタを提供することが本発明の
目的である。
本発明の別の目的は、複数の導電性リードを四
周側縁にそつて有するキヤリア用に、キヤリアへ
の掛け止めがキヤリアのリードとの接触を伴なわ
ずに行なうことのできるテストアダプタを提供す
ることである。
周側縁にそつて有するキヤリア用に、キヤリアへ
の掛け止めがキヤリアのリードとの接触を伴なわ
ずに行なうことのできるテストアダプタを提供す
ることである。
本発明の別の目的は、その接点がキヤリアのリ
ードと積極的な摺動作用を伴つて接触して、接点
とリードとの間に良好な電気的接続が確実となる
用にキヤリアリードに接点が係合するこの種テス
トアダプタを提供することである。
ードと積極的な摺動作用を伴つて接触して、接点
とリードとの間に良好な電気的接続が確実となる
用にキヤリアリードに接点が係合するこの種テス
トアダプタを提供することである。
本発明の主たる特徴によれば、絶縁本体の四周
側縁にそつて複数のリードを有するチツプキヤリ
ア用のテストアダプタが提供される。このアダプ
タは内側および外側ハウジングを有する。外側ハ
ウジングは4つの壁で定まるほゞ矩形のフレーム
を有する。試験用接点は4つの壁に取付けられ、
アダプタがキヤリアにかぶさつて取付けられてい
る時にチツプキヤリアのリードと接触する様に配
列されている。キヤリアにテストアダプタを保持
するためにキヤリアと係合するラツチ部材が内側
ハウジング上に設けられている。本発明の好まし
い実施態様によれば、ラツチ部材はテストアダプ
タの内側ハウジングの対角線上の対向するコーナ
部に取付けられており、そのコーナ部でキヤリア
本体の下側を係止する様になつており、従つてこ
のラツチ部材は、リードに損傷を起こすおそれの
ある上述のロング他の特許明細書に記載のものの
様にキヤリアリードに係合するものではない。ア
ダプタの外側ハウジングは内周ハウジングに対し
て下方に移動でき、テスト接点を、積極的な摺擦
を伴つて、チツプキヤリアのリードに接触させて
両者間の良好な電気的接続を確実ならしめてい
る。
側縁にそつて複数のリードを有するチツプキヤリ
ア用のテストアダプタが提供される。このアダプ
タは内側および外側ハウジングを有する。外側ハ
ウジングは4つの壁で定まるほゞ矩形のフレーム
を有する。試験用接点は4つの壁に取付けられ、
アダプタがキヤリアにかぶさつて取付けられてい
る時にチツプキヤリアのリードと接触する様に配
列されている。キヤリアにテストアダプタを保持
するためにキヤリアと係合するラツチ部材が内側
ハウジング上に設けられている。本発明の好まし
い実施態様によれば、ラツチ部材はテストアダプ
タの内側ハウジングの対角線上の対向するコーナ
部に取付けられており、そのコーナ部でキヤリア
本体の下側を係止する様になつており、従つてこ
のラツチ部材は、リードに損傷を起こすおそれの
ある上述のロング他の特許明細書に記載のものの
様にキヤリアリードに係合するものではない。ア
ダプタの外側ハウジングは内周ハウジングに対し
て下方に移動でき、テスト接点を、積極的な摺擦
を伴つて、チツプキヤリアのリードに接触させて
両者間の良好な電気的接続を確実ならしめてい
る。
本発明のその他の特徴および長所は添付図面を
参照しての以下の説明から更に明瞭となろう。
参照しての以下の説明から更に明瞭となろう。
図面を詳細に参照して、第1図には全体を20
で示す本発明のテストアダプタを示され、このア
ダプタは四周の各側縁26に沿つて複数の導電性
リード24を有する正方形のチツプキヤリア22
にかぶさつてマウントできるようになつている。
このチツプキヤリアは通常の要領で印刷回路板2
8上に実装されている。
で示す本発明のテストアダプタを示され、このア
ダプタは四周の各側縁26に沿つて複数の導電性
リード24を有する正方形のチツプキヤリア22
にかぶさつてマウントできるようになつている。
このチツプキヤリアは通常の要領で印刷回路板2
8上に実装されている。
基本的には、テストアダプタはチツプキヤリア
の頂部に乗せ得る内側ハウジング30と、内側ハ
ウジングに対して下方に摺動可能の外周ハウジン
グ32とから構成される。内周ハウジング30の
対角線上に対向するコーナ部に位置するラツチア
ーム34と36が内側ハウジング、従つて延いて
はアダプタをチツプキヤリアの上にロツクする役
をする。外側ハウジング32はその四周を取り囲
んで取付けられた4つの接点ハウジング38を有
する。各ハウジング38は外側ハウジングが第5
図に示す位置から第6図に示す位置へ下に向けて
押し出された時にチツプキヤリア上のリードに接
触する接点列40を有する。
の頂部に乗せ得る内側ハウジング30と、内側ハ
ウジングに対して下方に摺動可能の外周ハウジン
グ32とから構成される。内周ハウジング30の
対角線上に対向するコーナ部に位置するラツチア
ーム34と36が内側ハウジング、従つて延いて
はアダプタをチツプキヤリアの上にロツクする役
をする。外側ハウジング32はその四周を取り囲
んで取付けられた4つの接点ハウジング38を有
する。各ハウジング38は外側ハウジングが第5
図に示す位置から第6図に示す位置へ下に向けて
押し出された時にチツプキヤリア上のリードに接
触する接点列40を有する。
第7図および第8図に最もよく見られる様に、
外側ハウジングは縦の側壁44で定められるほゞ
矩形のフレーム42を有する。外側ハウジングは
又内側ハウジング30の中に位置し、対角線状に
延在する接続用ウエブ48によつて外側ハウジン
グの側壁44に接続されている方形の内側ラツチ
板46を有する。一対の対角方向に延在する矩形
の開孔50がラツチ板46内に形成されている。
長形溝52が開孔50の両端に隣接してラツチ板
に切削され、両者の間に弾性部分54を成して後
述する目的の役をする。
外側ハウジングは縦の側壁44で定められるほゞ
矩形のフレーム42を有する。外側ハウジングは
又内側ハウジング30の中に位置し、対角線状に
延在する接続用ウエブ48によつて外側ハウジン
グの側壁44に接続されている方形の内側ラツチ
板46を有する。一対の対角方向に延在する矩形
の開孔50がラツチ板46内に形成されている。
長形溝52が開孔50の両端に隣接してラツチ板
に切削され、両者の間に弾性部分54を成して後
述する目的の役をする。
外側ハウジングのフレーム42中に取付けら
れ、その一部を成している接点ハウジング38の
1つの構造を詳細に示す第9図および第10図を
ここで参照する。各接点ハウジングは比較的薄い
直立絶縁体56を備えており、この絶縁体はその
頂部60から下向きに延在する縦孔58を有し、
縦孔は、絶縁体がフレーム42に取付けられた時
に内方で内側ハウジングに面するように絶縁体の
側部64に開口された溝62まで延びている。絶
縁体56の外側面68には水平に延在する溝66
が形成されている。この溝66の高さはフレーム
42の側壁44の高さより若干大きい。フレーム
の側壁に合わされた溝66で接点ハウジング38
をフレームの内部に挿入することによつて該接点
ハウジングが外周ハウジングのフレーム42に取
付けられる。次いでハウジングを、第3図で最も
良く見られるように、ハウジングを側壁が溝内に
はまるまで外方に動かす。
れ、その一部を成している接点ハウジング38の
1つの構造を詳細に示す第9図および第10図を
ここで参照する。各接点ハウジングは比較的薄い
直立絶縁体56を備えており、この絶縁体はその
頂部60から下向きに延在する縦孔58を有し、
縦孔は、絶縁体がフレーム42に取付けられた時
に内方で内側ハウジングに面するように絶縁体の
側部64に開口された溝62まで延びている。絶
縁体56の外側面68には水平に延在する溝66
が形成されている。この溝66の高さはフレーム
42の側壁44の高さより若干大きい。フレーム
の側壁に合わされた溝66で接点ハウジング38
をフレームの内部に挿入することによつて該接点
ハウジングが外周ハウジングのフレーム42に取
付けられる。次いでハウジングを、第3図で最も
良く見られるように、ハウジングを側壁が溝内に
はまるまで外方に動かす。
接点ハウジング38中に取付けられた各接点4
0は、矩形のピンテスト端子70とばね接点72
とから成る。テスト端子70は接点ハウジング内
の孔58内に取付ける。端子は膨らんだ取付部7
4を有し、これが孔58の壁と圧接固着係合をし
ている。第3図に見られるように、各端子は接点
ハウジングの頂部60を越えて上方に突出してい
る。端子は2回曲げ部分を頂部60の直上に有
し、横方向延在部76と端子の中心軸から偏心し
た上部終端部78を形作つている。隣接端子同士
は、端子70の上端部78が端子の中心軸から互
いに反対側に偏心して終端間に比較的大きな間隔
を作り、端子の終端でのテストプローブ、ワニ口
クリツプ、等々との係合を容易ならしめるよう
に、ハウジング38に取付けられている。
0は、矩形のピンテスト端子70とばね接点72
とから成る。テスト端子70は接点ハウジング内
の孔58内に取付ける。端子は膨らんだ取付部7
4を有し、これが孔58の壁と圧接固着係合をし
ている。第3図に見られるように、各端子は接点
ハウジングの頂部60を越えて上方に突出してい
る。端子は2回曲げ部分を頂部60の直上に有
し、横方向延在部76と端子の中心軸から偏心し
た上部終端部78を形作つている。隣接端子同士
は、端子70の上端部78が端子の中心軸から互
いに反対側に偏心して終端間に比較的大きな間隔
を作り、端子の終端でのテストプローブ、ワニ口
クリツプ、等々との係合を容易ならしめるよう
に、ハウジング38に取付けられている。
ばね接点72は上方直立部80を有し、この直
立部は溝62の底に沿つて延在すると共に、弧状
接点領域82で終端しており、この接点領域は端
子70が孔58中に取付けられた時にテスト端子
70の下端と摺擦係合される。ばね接点72の下
部84は溝62の下端にそつて位置する横向部分
86によつて上部80から偏心している。テスト
端子70の下端はばね接点72の横向部分86上
に乗つてばね接点をハウジング38内に保持して
いる。ばね接点72の下端は、アダプタの外側ハ
ウジングガ第6図に示す様なその接触位置に向け
て下方に押された時、キヤリアチツプのリードと
接触する内側に延在する弧状接触部88として形
成されている。ほゞ矩形のガイド突起即ちキー9
0が接点ハウジングの絶縁体56の中央部に位置
して絶縁体表面64から突出して以下に述べる内
側ハウジングに形成されに対応キーウエイないし
溝と係合するようになつている。
立部は溝62の底に沿つて延在すると共に、弧状
接点領域82で終端しており、この接点領域は端
子70が孔58中に取付けられた時にテスト端子
70の下端と摺擦係合される。ばね接点72の下
部84は溝62の下端にそつて位置する横向部分
86によつて上部80から偏心している。テスト
端子70の下端はばね接点72の横向部分86上
に乗つてばね接点をハウジング38内に保持して
いる。ばね接点72の下端は、アダプタの外側ハ
ウジングガ第6図に示す様なその接触位置に向け
て下方に押された時、キヤリアチツプのリードと
接触する内側に延在する弧状接触部88として形
成されている。ほゞ矩形のガイド突起即ちキー9
0が接点ハウジングの絶縁体56の中央部に位置
して絶縁体表面64から突出して以下に述べる内
側ハウジングに形成されに対応キーウエイないし
溝と係合するようになつている。
内側ハウジング30の構造は第11図ないし第
14図を参照して最もよく見られよう。内側ハウ
ジングは正方形の形状を持ち、4側壁92と底壁
94とを有する。第11図に見られる様に、壁9
2の側壁間は相互間に間隙があり、開放間隙96
を内側ハウジングの各偶部に作つている。内側ハ
ウジングは、第3図で良くわかる様に、中に取付
けられる接点ハウジング38と、外側ハウジング
32の中で摺動保持される様な寸法になつてお
り、内側ハウジングの壁92は外側ハウジングの
方形フレーム42内へ接点ハウジングを保持する
役をする。溝、すなわちキー溝98が各々の壁9
2の中央に形成されてその上端まで延びている。
溝98は接点ハウジング38のガイド突起90を
受入れて接点ハウジングの内側ハウジングに対す
る精密な位置ぎめを確実ならしめている。内側ハ
ウジングは、第12図に見る様に、底壁94の底
部の各コーナ部に隣接して位置ぎめタブ102を
有するが、これらは、アダプタをキヤリアにかぶ
せて取付けた時、チツプキヤリアの各辺に係合し
て内部ハウジングをその上に精密に位置ぎめする
様に配置され、従つて接点ハウジング38内の接
点をチツプキヤリアのリードと合わせることにな
る。
14図を参照して最もよく見られよう。内側ハウ
ジングは正方形の形状を持ち、4側壁92と底壁
94とを有する。第11図に見られる様に、壁9
2の側壁間は相互間に間隙があり、開放間隙96
を内側ハウジングの各偶部に作つている。内側ハ
ウジングは、第3図で良くわかる様に、中に取付
けられる接点ハウジング38と、外側ハウジング
32の中で摺動保持される様な寸法になつてお
り、内側ハウジングの壁92は外側ハウジングの
方形フレーム42内へ接点ハウジングを保持する
役をする。溝、すなわちキー溝98が各々の壁9
2の中央に形成されてその上端まで延びている。
溝98は接点ハウジング38のガイド突起90を
受入れて接点ハウジングの内側ハウジングに対す
る精密な位置ぎめを確実ならしめている。内側ハ
ウジングは、第12図に見る様に、底壁94の底
部の各コーナ部に隣接して位置ぎめタブ102を
有するが、これらは、アダプタをキヤリアにかぶ
せて取付けた時、チツプキヤリアの各辺に係合し
て内部ハウジングをその上に精密に位置ぎめする
様に配置され、従つて接点ハウジング38内の接
点をチツプキヤリアのリードと合わせることにな
る。
円形ボス104が内側ハウジングの底壁94か
ら上に向かつている。円形溝105がボスの中央
に位置してその上面106に開口している。対角
線方向に延びる小溝107が溝105の底部中央
部に形成されている。この溝は底部94を貫通し
ている。対角線方向に延びているチヤンネル10
8がボス104内に形成されて溝107と交わつ
ている。ラツチアーム構体110(第15図及第
16図に示す)が溝107とチヤンネル108内
に取付けられている。ラツチアーム構体はのちに
詳述する。
ら上に向かつている。円形溝105がボスの中央
に位置してその上面106に開口している。対角
線方向に延びる小溝107が溝105の底部中央
部に形成されている。この溝は底部94を貫通し
ている。対角線方向に延びているチヤンネル10
8がボス104内に形成されて溝107と交わつ
ている。ラツチアーム構体110(第15図及第
16図に示す)が溝107とチヤンネル108内
に取付けられている。ラツチアーム構体はのちに
詳述する。
一対の弾性ラツチフインガ112が内側ハウジ
ングの下部壁のボス104から上方に伸びてい
る。フインガは比較的平坦でハウジング30の側
壁に対して対角状に延びている。このフインガ
は、内側ハウジングが第3図に示すように外側ハ
ウジング内に組立てられた時、これが外側ハウジ
ングのラツチ板46内の対角方向に位置する矩形
開孔50を通つて上方に延びる様に位置してい
る。ラツチフインガ112は弾性的なので、これ
らが相互に接近するように横方向に曲がり得る。
各ラツチフインガ112の幅はラツチ板中の開孔
50の長さがわずかに小さく、従つてフインガは
開孔を通つて延在し得る。
ングの下部壁のボス104から上方に伸びてい
る。フインガは比較的平坦でハウジング30の側
壁に対して対角状に延びている。このフインガ
は、内側ハウジングが第3図に示すように外側ハ
ウジング内に組立てられた時、これが外側ハウジ
ングのラツチ板46内の対角方向に位置する矩形
開孔50を通つて上方に延びる様に位置してい
る。ラツチフインガ112は弾性的なので、これ
らが相互に接近するように横方向に曲がり得る。
各ラツチフインガ112の幅はラツチ板中の開孔
50の長さがわずかに小さく、従つてフインガは
開孔を通つて延在し得る。
各ラツチフインガ112は上部の大寸法ヘツド
114を有し、内側ハウジングを外側ハウジング
に組込んだ時、これがラツチ板46の上に位置す
るようになつている。ヘツド114の側端は下方
および外方に傾斜して下方に面する保持シヨルダ
118を形成し、これがラツチ板の上面に当接し
て内側および外側ハウジングを相互固定してい
る。大寸法ヘツド114はラツチ板内の開孔50
を通して上方へ動くことができ、これは、開孔5
0と溝52との端部間に形成された比較的薄い部
分54が弾性を有していて外側に撓むことにより
該ヘツドの通過を許容することによる。ヘツドが
開孔を通過後、フインガ112が内側ハウジング
を外側ハウジングにロツクする様に弾性部分54
が内側に噛み込まれる。図示の実施例において
は、ラツチフインガ112のヘツド114の保持
シヨルダ118をラツチ板から外して内側ハウジ
ングを外側ハウジングから分離することは実用的
でもなく、そうする必要もない。
114を有し、内側ハウジングを外側ハウジング
に組込んだ時、これがラツチ板46の上に位置す
るようになつている。ヘツド114の側端は下方
および外方に傾斜して下方に面する保持シヨルダ
118を形成し、これがラツチ板の上面に当接し
て内側および外側ハウジングを相互固定してい
る。大寸法ヘツド114はラツチ板内の開孔50
を通して上方へ動くことができ、これは、開孔5
0と溝52との端部間に形成された比較的薄い部
分54が弾性を有していて外側に撓むことにより
該ヘツドの通過を許容することによる。ヘツドが
開孔を通過後、フインガ112が内側ハウジング
を外側ハウジングにロツクする様に弾性部分54
が内側に噛み込まれる。図示の実施例において
は、ラツチフインガ112のヘツド114の保持
シヨルダ118をラツチ板から外して内側ハウジ
ングを外側ハウジングから分離することは実用的
でもなく、そうする必要もない。
ここで第15図および第16図を見ると、これ
らはテストアダプタをチツプキヤリアに保持する
ラツチアーム34を形成する本発明のラツチアー
ム構体110を示している。このラツチアーム構
体は、ラツチアーム34を相互接続する長形スト
リツプ120を有する。このストリツプは内側ハ
ウジングの底壁中のボス104中に形成した溝1
07にはまり込む様に寸法取りをした中央スナツ
プロツキング構体112を有する。ストリツプ1
20の幅はボス104を横切つて対角方向に走る
チヤンネル108の幅より僅かに小さい。即ち、
ラツチアーム構体110はストリツプ120をチ
ヤンネル108と整合して構体の中央スナツプロ
ツキング構体122が溝107に位置した状態で
チヤンネル内にラツチアーム構体をはめ込むこと
によつて内側ハウジング30上にその上からはめ
込むことができる。接続ストリツプ120の端部
は内側ハウジングの頂点に形成された間隙96を
通つて外側に走つている。好ましくは、ストリツ
プの両端部の弾性を大きくしてラツチアーム34
の曲がりを大きくするために小形のノツチ126
を接続ストリツプ120の上下表面に形成する。
各ラツチアームは、アダプタがキヤリアチツプ本
体上に取付けられた時にキヤリアチツプ本体のコ
ーナ部の下面に係合する内向きフツク128をそ
の下端に有する。コイルばね130が内側ハウジ
ング30の中に取付けられている。コイルばねの
下部は内側ハウジングの底壁上のボス104中の
円形溝105内に位置する。コイルばねの上端は
ラツチ板46の底部に当たつている。
らはテストアダプタをチツプキヤリアに保持する
ラツチアーム34を形成する本発明のラツチアー
ム構体110を示している。このラツチアーム構
体は、ラツチアーム34を相互接続する長形スト
リツプ120を有する。このストリツプは内側ハ
ウジングの底壁中のボス104中に形成した溝1
07にはまり込む様に寸法取りをした中央スナツ
プロツキング構体112を有する。ストリツプ1
20の幅はボス104を横切つて対角方向に走る
チヤンネル108の幅より僅かに小さい。即ち、
ラツチアーム構体110はストリツプ120をチ
ヤンネル108と整合して構体の中央スナツプロ
ツキング構体122が溝107に位置した状態で
チヤンネル内にラツチアーム構体をはめ込むこと
によつて内側ハウジング30上にその上からはめ
込むことができる。接続ストリツプ120の端部
は内側ハウジングの頂点に形成された間隙96を
通つて外側に走つている。好ましくは、ストリツ
プの両端部の弾性を大きくしてラツチアーム34
の曲がりを大きくするために小形のノツチ126
を接続ストリツプ120の上下表面に形成する。
各ラツチアームは、アダプタがキヤリアチツプ本
体上に取付けられた時にキヤリアチツプ本体のコ
ーナ部の下面に係合する内向きフツク128をそ
の下端に有する。コイルばね130が内側ハウジ
ング30の中に取付けられている。コイルばねの
下部は内側ハウジングの底壁上のボス104中の
円形溝105内に位置する。コイルばねの上端は
ラツチ板46の底部に当たつている。
第5図および第6図に見る様に、各ラツチフイ
ンガ112はその外面134に一対のロツキング
舌片132を有するが、その一方の舌片は他方の
上に位置している。各舌片は下方に向いたシヨル
ダ136とテーパ付上面138を有する。対応す
るテーパ面140が舌片に隣接して開孔50の側
部に設けられている。舌片132はラツチ板中の
開孔50の端部と共同動作してアダプタの外側ハ
ウジング32を、第6図に示す様に押出した状態
に取外し可能に保持し、その時窃点のばねクリツ
プ84はチツプキヤリアのリードと接触する。操
作者は、ラツチフインガの上端を操作してラツチ
フインガを互いに向けて内方に撓め、ロツキング
舌片のシヨルダ136をラツチ板の上面から外す
ことで外側ハウジング32に従つてテスト接点が
上方に動くようにし、それによりテスト接点とチ
ツプキヤリアリードとの間の接続を離すようにす
ることができる。コイルばね130はラツチフイ
ンガ112が利用者によつて撓められてロツキン
グ舌片132をラツチ板から外す時、外側ハウジ
ングを自動的に上方へ移動させる。
ンガ112はその外面134に一対のロツキング
舌片132を有するが、その一方の舌片は他方の
上に位置している。各舌片は下方に向いたシヨル
ダ136とテーパ付上面138を有する。対応す
るテーパ面140が舌片に隣接して開孔50の側
部に設けられている。舌片132はラツチ板中の
開孔50の端部と共同動作してアダプタの外側ハ
ウジング32を、第6図に示す様に押出した状態
に取外し可能に保持し、その時窃点のばねクリツ
プ84はチツプキヤリアのリードと接触する。操
作者は、ラツチフインガの上端を操作してラツチ
フインガを互いに向けて内方に撓め、ロツキング
舌片のシヨルダ136をラツチ板の上面から外す
ことで外側ハウジング32に従つてテスト接点が
上方に動くようにし、それによりテスト接点とチ
ツプキヤリアリードとの間の接続を離すようにす
ることができる。コイルばね130はラツチフイ
ンガ112が利用者によつて撓められてロツキン
グ舌片132をラツチ板から外す時、外側ハウジ
ングを自動的に上方へ移動させる。
本発明のテストアダプタを組立てるには、4枚
の接点ハウジング38を外側ハウジングの中に位
置させ、外側にシフトして方形のフレーム42が
接点ハウジングの外面にある溝66内に納まる様
にする。ラツチアーム構体110は内側ハウジン
グの底部に取付け、コイルばね130をラツチア
ームの頂部の上に取付ける。次いでラツチフイン
ガ112上の大寸法ヘツド114がラツチ板46
内の開孔50を通り抜けて内側ハウジングか外側
ハウジング内にロツクされるまで内側ハウジング
を外側ハウジング内へ上方に押し込む。コイルば
ねは内側及び外側ハウジングが相互に組合わさつ
た時に圧縮される様な長さとする。このようにし
て本発明のテストアダプタの全部品は、接着、溶
融ないしはんだ付けのような2次操作を全く必要
とせずに相互に組立てられる。
の接点ハウジング38を外側ハウジングの中に位
置させ、外側にシフトして方形のフレーム42が
接点ハウジングの外面にある溝66内に納まる様
にする。ラツチアーム構体110は内側ハウジン
グの底部に取付け、コイルばね130をラツチア
ームの頂部の上に取付ける。次いでラツチフイン
ガ112上の大寸法ヘツド114がラツチ板46
内の開孔50を通り抜けて内側ハウジングか外側
ハウジング内にロツクされるまで内側ハウジング
を外側ハウジング内へ上方に押し込む。コイルば
ねは内側及び外側ハウジングが相互に組合わさつ
た時に圧縮される様な長さとする。このようにし
て本発明のテストアダプタの全部品は、接着、溶
融ないしはんだ付けのような2次操作を全く必要
とせずに相互に組立てられる。
本発明のテストアダプタ20をチツプキヤリア
22上に置いてその中にある集積回路チツプを試
験するには、操作者はまずラツチアーム34の上
端を持つて互いを近づけるように撓めることによ
りフツク128を有する下端を外側へシフトさせ
る。内側ハウジングをキヤリア本体上に位置ぎめ
タブ102によつて正しく位置させてキヤリア上
に固定し次いでラツチアームから手を離してフツ
ク128をキヤリア本体のコーナ部の下にはめ込
む。即ちフツクは、リードの損傷のを招くような
リードとの係合をするおそれはない。この時点で
のテストアダプタの状態は第4図と第5図に示す
通りである。次いで操作者はアダプタの外側ハウ
ジングを押し下げてばね接点72がチツプキヤリ
ヤリード24と積極的な摺擦接触をするようにさ
せる。外側ハウジングのこの下降運動中にラツチ
フインガ112はロツキング舌片132上のテー
パ面138に係合しているラツチ板上のテーパ付
側端のために相互方向に内側に自動的に曲がる。
2個のロツキング舌片132が各フインガ112
上に設けてあるので、操作者は内側ハウジングに
対して外側ハウジングをラツチし得る距離に関し
て選択できるが、これはチツプキヤリアのリード
の高さに応じて定まる。操作者は次いで適当なテ
スト設備をテスト接点の上端部78に接続してチ
ツプキヤリアの所望のリードに電気的に接続でき
る。キヤリアからアダプタを離すには、操作者は
2本の指を使用してラツチフインガ112をつか
んで内側に相互に向けて撓め、ロツキング舌片1
32をラツチ板146から外すとコイルばねが自
動的に外側ハウジングをシフトし、従つて接点4
0が上方に動いてチツプリードとの接触が離され
る。そのあとは操作者は2本の指を使用してラツ
チアーム34の上端をつかんでフツク128をキ
ヤリア本体の下から外すだけである。
22上に置いてその中にある集積回路チツプを試
験するには、操作者はまずラツチアーム34の上
端を持つて互いを近づけるように撓めることによ
りフツク128を有する下端を外側へシフトさせ
る。内側ハウジングをキヤリア本体上に位置ぎめ
タブ102によつて正しく位置させてキヤリア上
に固定し次いでラツチアームから手を離してフツ
ク128をキヤリア本体のコーナ部の下にはめ込
む。即ちフツクは、リードの損傷のを招くような
リードとの係合をするおそれはない。この時点で
のテストアダプタの状態は第4図と第5図に示す
通りである。次いで操作者はアダプタの外側ハウ
ジングを押し下げてばね接点72がチツプキヤリ
ヤリード24と積極的な摺擦接触をするようにさ
せる。外側ハウジングのこの下降運動中にラツチ
フインガ112はロツキング舌片132上のテー
パ面138に係合しているラツチ板上のテーパ付
側端のために相互方向に内側に自動的に曲がる。
2個のロツキング舌片132が各フインガ112
上に設けてあるので、操作者は内側ハウジングに
対して外側ハウジングをラツチし得る距離に関し
て選択できるが、これはチツプキヤリアのリード
の高さに応じて定まる。操作者は次いで適当なテ
スト設備をテスト接点の上端部78に接続してチ
ツプキヤリアの所望のリードに電気的に接続でき
る。キヤリアからアダプタを離すには、操作者は
2本の指を使用してラツチフインガ112をつか
んで内側に相互に向けて撓め、ロツキング舌片1
32をラツチ板146から外すとコイルばねが自
動的に外側ハウジングをシフトし、従つて接点4
0が上方に動いてチツプリードとの接触が離され
る。そのあとは操作者は2本の指を使用してラツ
チアーム34の上端をつかんでフツク128をキ
ヤリア本体の下から外すだけである。
第1図はプリント回路基板上に実装されたチツ
プキヤリアの上方に位置する本発明のテストアダ
プタを示す斜視図、第2図は本発明のテストアダ
プタの上面図、第3図はアダプタの内部構造を示
すために第2図の線3−3に沿つて取つた縦断面
図、第4図はアダプタがキヤリア上に設置されて
アダプタのラツチアームがキヤリア上にフツクさ
れている状態における第2図の線4−4に沿つて
取つたアダプタの部分縦断面図、第5図はチツプ
キヤリア上に取付けられたアダプタの接点がチツ
プキヤリアリードから離れている状態における第
3図の右部分に類似の部分縦断面図、第6図はテ
ストアダプタ接点がチツプキヤリアリードに係合
している状態における第5図に類似の部分縦断面
図、第7図はテストアダプタの外側ハウジングの
上面図、第8図は第7図の線8−8に沿つて取つ
た外側ハウジングの縦断面図、第9図はアダプタ
の外側ハウジングに取付けられた接点ハウジング
の1つの内面を示す側面図、第10図はアダプタ
のテスト接点を形成する端子とクリツプの構造の
細部を示す第9図の線10−10に沿つて取つた
縦断面図、第11図はアダプタの内側ハウジング
の上面図、第12図は内側ハウジングの底面図、
第13図は第11図の線13−13に沿つて取つ
た内側ハウジングの縦断面図、第14図は内側ハ
ウジングの下部の構造の詳細を示す第11図の線
14−14に沿つて取つた部分縦断面図、第15
図はテストアダプタに使用されるラツチアーム構
体の側面図、第16図は第15図に示すラツチア
ーム構体の上面図である。 図中、20はテストアダプタ、22はチツプキ
ヤリア、24はチツプキヤリアリード、30は内
側ハウジング(第1ハウジング)、32は外側ハ
ウジング(第2ハウジング)、34,36はラツ
チアーム(ラツチ手段の一部)、38は接点ハウ
ジング、40はテスト接点、46は中央ラツチ板
(第2ラツチ手段の一部)70は接点の端子部分、
72は接点の弾性ばね部分、92は壁、94は内
側ハウジング底部壁、102は位置ぎめタブ、1
12はラツチフインガ、120はアーム相互接続
ストリツプ、130はばね装置、132はラツチ
舌片をそれぞれ示す。
プキヤリアの上方に位置する本発明のテストアダ
プタを示す斜視図、第2図は本発明のテストアダ
プタの上面図、第3図はアダプタの内部構造を示
すために第2図の線3−3に沿つて取つた縦断面
図、第4図はアダプタがキヤリア上に設置されて
アダプタのラツチアームがキヤリア上にフツクさ
れている状態における第2図の線4−4に沿つて
取つたアダプタの部分縦断面図、第5図はチツプ
キヤリア上に取付けられたアダプタの接点がチツ
プキヤリアリードから離れている状態における第
3図の右部分に類似の部分縦断面図、第6図はテ
ストアダプタ接点がチツプキヤリアリードに係合
している状態における第5図に類似の部分縦断面
図、第7図はテストアダプタの外側ハウジングの
上面図、第8図は第7図の線8−8に沿つて取つ
た外側ハウジングの縦断面図、第9図はアダプタ
の外側ハウジングに取付けられた接点ハウジング
の1つの内面を示す側面図、第10図はアダプタ
のテスト接点を形成する端子とクリツプの構造の
細部を示す第9図の線10−10に沿つて取つた
縦断面図、第11図はアダプタの内側ハウジング
の上面図、第12図は内側ハウジングの底面図、
第13図は第11図の線13−13に沿つて取つ
た内側ハウジングの縦断面図、第14図は内側ハ
ウジングの下部の構造の詳細を示す第11図の線
14−14に沿つて取つた部分縦断面図、第15
図はテストアダプタに使用されるラツチアーム構
体の側面図、第16図は第15図に示すラツチア
ーム構体の上面図である。 図中、20はテストアダプタ、22はチツプキ
ヤリア、24はチツプキヤリアリード、30は内
側ハウジング(第1ハウジング)、32は外側ハ
ウジング(第2ハウジング)、34,36はラツ
チアーム(ラツチ手段の一部)、38は接点ハウ
ジング、40はテスト接点、46は中央ラツチ板
(第2ラツチ手段の一部)70は接点の端子部分、
72は接点の弾性ばね部分、92は壁、94は内
側ハウジング底部壁、102は位置ぎめタブ、1
12はラツチフインガ、120はアーム相互接続
ストリツプ、130はばね装置、132はラツチ
舌片をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 複数のリードを絶縁質本体の四周側縁に沿つ
て有するチツプキヤリアのためのテストアダプタ
であつて、 前記チツプキヤリアのチツプキヤリアリードと
接触するようにパターン状に配列された複数個の
テスト接点を有する矩形状ハウジングと、 前記ハウジングのテスト接点が前記チツプキヤ
リアリードと位置合わせされるよう前記チツプキ
ヤリア上に前記ハウジングを正確に位置決めする
ために、前記ハウジングの底部の各コーナ部に隣
接して設けられた位置決めタブと、 テストアダプタをチツプキヤリア上に保持させ
るためにチツプキヤリアのコーナ部でキヤリア本
体の下側に掛け止めされるように前記ハウジング
の少なくとも対角線上の対向する二つのコーナ部
に取り付けられた下端に内向きフツクを有する一
対のラツチアームからなる、ラツチ手段とを備
え、 前記ハウジングが相対的に垂直に移動可能な第
1部分及び第2部分を有し、前記ラツチ手段が前
記第1部分に取り付けられ、前記テスト接点が前
記第2部分に取り付けられ、前記第1部分が前記
チツプキヤリアにラツチされた後、前記テスト接
点に積極的摺動動作を伴つてチツプキヤリアリー
ドを接触させるために前記第2部分が前記第1部
分と前記チツプキヤリアに対して垂直に相対移動
可能になされていることを特徴とするチツプキヤ
リアテストアダプタ。 2 前記テスト接点は、前記第1部分が前記チツ
プキヤリアにラツチされた後に、前記第2部分が
下動されたときに垂直下方に摺動し且つ前記チツ
プキヤリアリードと摺接するように前記第2部分
に固定された上方部分を有し、前記第1及び第2
部分の間で動作可能で前記テスト接点に前記チツ
プキヤリアリードを接触させる位置に前記第2部
分を保持するための第2ラツチ手段を含む特許請
求の範囲第1項記載のチツプキヤリアテストアダ
プタ。 3 前記第2ラツチ手段が解放可能であり、ま
た、前記第2ラツチ手段が解放されたときに、前
記第2部分を自動的にチツプキヤリアから離すよ
うにシフトして前記テスト接点をチツプキヤリア
リードから引外すばね手段が前記第1と第2部分
間に設けられている特許請求の範囲第2項に記載
のチツプキヤリアテストアダプタ。 4 複数のードを絶縁質本体の四周側縁に沿つて
有するチツプキヤリアのためのテストアダプタで
あつて、 内側ハウジングと、 4つの壁で形成されるほぼ矩形のフレームであ
る外側ハウジングと、 前記4つの壁で支持され、前記ハウジングが前
記チツプキヤリア上に取り付けられた時に前記チ
ツプキヤリアリードに接触させるように配列され
た複数のテスト接点と、 前記外側ハウジングのテスト接点が前記チツプ
キヤリアリードと位置合わせされるよう前記チツ
プキヤリア上に前記内側ハウジングを正確に位置
決めするために設けられた位置決めタブと、 テストアダプタをチツプキヤリア上に保持させ
るために前記内側ハウジングの少なくとも対角線
上の対向する二つのコーナ部近くに取り付けら
れ、前記チツプキヤリアのコーナ部で下側を係止
可能な下端に内向きフツクを有する一対のラツチ
アームからなるラツチ手段とを備え、 前記外側ハウジングが前記テスト接点に前記チ
ツプキヤリアリードを接触させるように前記内側
ハウジングに対して相対的に移動可能になされて
いることを特徴とするチツプキヤリアテストアダ
プタ。 5 前記テスト接点が4つの別々の接点ハウジン
グ内に取付けられ、また これら接点ハウジングが前記4つの壁に取外し
可能に取付けられている特許請求の範囲第4項に
記載のチツプキヤリアテストアダプタ。 6 前記内側ハウジングがそれぞれ前記外側ハウ
ジングの壁に対向する4つの壁で定まる矩形形状
を有し、また 前記接点ハウジングが前記内側および外側ハウ
ジングの対向壁間にはめ込まれている特許請求の
範囲第5項に記載のチツプキヤリアテストアダプ
タ。 7 前記テスト接点が前記チツプキヤリアリード
と接触する下方位置に外側ハウジングを保持する
ための前記内側および外側ハウジング間の第2ラ
ツチ手段を含む特許請求の範囲第4項に記載のチ
ツプキヤリアテストアダプタ。 8 前記内側ハウジングが底部壁を有し、 前記外側ハウジングが前記内側ハウジングの前
記底部壁上部に位置された中央ラツチ板を固着し
て、さらに 前記第2ラツチ手段が前記底部壁と前記ラツチ
板とに連繋して動作するようになつている特許請
求の範囲第7項に記載のチツプキヤリアテストア
ダプタ。 9 前記第2ラツチ手段が、前記底部壁に接続さ
れ前記ラツチ板内の開口を通つて上方に延在する
少なくとも1つの弾性ラツチフインガを有し、前
記フインガが前記ラツチ板の上面に係合可能なラ
ツチ舌片を有し、さらに前記フインガが、前記ラ
ツチ舌片を前記上面から係合解除するために横方
向に曲げ得るように前記ラツチ板の上部に迄延在
している特許請求の範囲第8項に記載のチツプキ
ヤリアテストアダプタ。 10 前記底部壁と前記ラツチ板との間に延在す
るばね手段を含む特許請求の範囲第9項に記載の
チツプキヤリアテストアダプタ。 11 前記最初のラツチ手段が一対のラツチアー
ムを有し、前記アームが相互結合ストリツプで連
結され、 前記ストリツプが前記内側ハウジングの底部壁
を対角状に横断して延び、更に、 前記ラツチアームが、前記キヤリア本体のコー
ナ部で本体下側を係止するように前記外側ハウジ
ングの外側で対角線上の対向するコーナ部に位置
している特許請求の範囲第10項に記載のチツプ
キヤリアテストアダプタ。 12 複数のリードを絶縁質本体の四周側縁に沿
つてリードを有する方形チツプキヤリア用テスト
アダプタであつて、 ほぼ方形の内側および外側両ハウジングと、 前記外側ハウジングの4つの壁に担持された複
数のテスト接点と、 前記外側ハウジングのテスト接点がチツプキヤ
リアリードと位置合わされるように前記キヤリア
本体上に前記内側ハウジングを正確に位置ぎめす
るための前記内側ハウジングの底部の各コーナ部
に隣接して設けられた位置決めタブと テストアダプタをキヤリア上に保持するために
前記キヤリア本体の対応するコーナ部にて該本体
の下側を係止するようになされた前記内側ハウジ
ングコーナ部にある下端に内向きフツクを有する
一対のラツチアームからなるラツチ手段とを備
え、 前記外側ハウジングが前記内側ハウジングに対
して予じめ定められた位置へ下方に可動であつて
この相対移動により前記テスト接点が前記チツプ
キヤリアリードと摺擦接触をなすようになされ、
さらに 前記外側ハウジングを前記予じめ定められた位
置に解除可能に保持する手段を備えたことを特徴
とするチツプキヤリアテストアダプタ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/591,149 US4541676A (en) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | Chip carrier test adapter |
| US591149 | 1984-03-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60213872A JPS60213872A (ja) | 1985-10-26 |
| JPH0439916B2 true JPH0439916B2 (ja) | 1992-07-01 |
Family
ID=24365258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60052560A Granted JPS60213872A (ja) | 1984-03-19 | 1985-03-18 | チツプキヤリアテストアダプタ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4541676A (ja) |
| EP (1) | EP0158432B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60213872A (ja) |
| DE (1) | DE3575354D1 (ja) |
Families Citing this family (32)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4639058A (en) * | 1984-08-22 | 1987-01-27 | Minnesota Mining & Manufacturing Co. | Low profile test clip and handle therefor |
| US4768972A (en) * | 1985-03-06 | 1988-09-06 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Test clip for PLCC |
| US4671592A (en) * | 1985-03-06 | 1987-06-09 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Test clip for PLCC |
| US4671590A (en) * | 1985-03-06 | 1987-06-09 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Test clip for PLCC |
| US4981441A (en) * | 1985-03-06 | 1991-01-01 | Minnesota Mining And Manufacturing Co. | Test clip for PLCC |
| US4632485A (en) * | 1985-06-06 | 1986-12-30 | Brown Kenneth C | Electrical circuit testing apparatus |
| DE3527043A1 (de) * | 1985-07-27 | 1987-02-05 | Grundig Emv | Verfahren zum einloeten einer integrierten schaltung in eine leiterplatte |
| JPH0446221Y2 (ja) * | 1985-11-05 | 1992-10-29 | ||
| JPH0446222Y2 (ja) * | 1985-11-05 | 1992-10-29 | ||
| JPH0442783Y2 (ja) * | 1985-11-05 | 1992-10-09 | ||
| JPH0446220Y2 (ja) * | 1985-11-05 | 1992-10-29 | ||
| US4735580A (en) * | 1986-12-22 | 1988-04-05 | Itt Corporation | Test adapter for integrated circuit carrier |
| US5180976A (en) * | 1987-04-17 | 1993-01-19 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Integrated circuit carrier having built-in circuit verification |
| US5049813A (en) * | 1987-04-17 | 1991-09-17 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Testing of integrated circuit devices on loaded printed circuit boards |
| USD318456S (en) | 1987-07-24 | 1991-07-23 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Integrated circuit test clip |
| US4996476A (en) * | 1989-11-06 | 1991-02-26 | Itt Corporation | Test clip for surface mount device |
| US5166609A (en) * | 1990-05-24 | 1992-11-24 | Tektronix, Inc. | Adapter and test fixture for an integrated circuit device package |
| JPH0668983B2 (ja) * | 1990-10-12 | 1994-08-31 | 山一電機工業株式会社 | Icソケット |
| US5373230A (en) * | 1991-06-17 | 1994-12-13 | Itt Corporation | Test clip for five pitch IC |
| US5205741A (en) * | 1991-08-14 | 1993-04-27 | Hewlett-Packard Company | Connector assembly for testing integrated circuit packages |
| JP3245747B2 (ja) * | 1991-09-18 | 2002-01-15 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | ソケット |
| US5156649A (en) * | 1991-11-27 | 1992-10-20 | Tektronix, Inc. | Test clip adapter for integrated circuit device |
| DE69224473T2 (de) * | 1992-06-03 | 1998-10-08 | Itt Mfg Enterprises Inc | IC Testklemme mit federnden Kontakten |
| US5314342A (en) * | 1992-09-09 | 1994-05-24 | Hewlett-Packard Company | Universal probe adapter |
| US5477161A (en) * | 1993-06-18 | 1995-12-19 | Emulation Technology, Inc. | Test adapter for packaged integrated circuits |
| US5415560A (en) * | 1993-12-17 | 1995-05-16 | Itt Corporation | Test clip for IC device |
| US5423688A (en) * | 1993-12-17 | 1995-06-13 | Itt Industries, Inc. | Clip for small outline IC device |
| US5564932A (en) * | 1994-11-14 | 1996-10-15 | Castleman; Mark-Andrew B. | Customizeable interconnect device for stacking electrical components of varying configuration |
| US5949238A (en) * | 1995-12-20 | 1999-09-07 | Siemens Medical Systems, Inc. | Method and apparatus for probing large pin count integrated circuits |
| US6268054B1 (en) | 1997-02-18 | 2001-07-31 | Cabot Corporation | Dispersible, metal oxide-coated, barium titanate materials |
| CN102208732B (zh) * | 2010-03-31 | 2013-10-09 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 连接装置 |
| CN108627712B (zh) * | 2017-03-17 | 2021-02-02 | 泰科电子(上海)有限公司 | 载具 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1246101A (en) * | 1968-10-25 | 1971-09-15 | Electrosil Ltd | Integrated circuit testing |
| US3866119A (en) * | 1973-09-10 | 1975-02-11 | Probe Rite Inc | Probe head-probing machine coupling adaptor |
| US3968433A (en) * | 1974-08-22 | 1976-07-06 | Lawrence Peska Associates, Inc. | Fixture for testing flatpack modules |
| US4045105A (en) * | 1974-09-23 | 1977-08-30 | Advanced Memory Systems, Inc. | Interconnected leadless package receptacle |
| US3998512A (en) * | 1975-02-13 | 1976-12-21 | International Telephone And Telegraph Corporation | Electrical connector |
| US4012097A (en) * | 1975-10-17 | 1977-03-15 | Everett/Charles, Inc. | Combined test clip and component extraction tool |
| US4055800A (en) * | 1976-04-16 | 1977-10-25 | Dietrich Jung | Test clip for electronic chips |
| JPS6011450B2 (ja) * | 1976-10-08 | 1985-03-26 | 株式会社日立製作所 | 泡磁区素子用ガ−ネツト単結晶膜 |
| US4116519A (en) * | 1977-08-02 | 1978-09-26 | Amp Incorporated | Electrical connections for chip carriers |
| US4331373A (en) * | 1980-03-24 | 1982-05-25 | Burroughs Corporation | Modular system with system carrier, test carrier and system connector |
| JPS5718338A (en) * | 1980-07-09 | 1982-01-30 | Hitachi Ltd | Measuring jig for electronic parts |
| US4406508A (en) * | 1981-07-02 | 1983-09-27 | Thomas & Betts Corporation | Dual-in-line package assembly |
| US4395084A (en) * | 1981-07-06 | 1983-07-26 | Teledyne Industries, Inc. | Electrical socket for leadless integrated circuit packages |
| JPS5821878U (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-10 | 日幸工業株式会社 | Lsi検査装置 |
| US4417777A (en) * | 1981-10-13 | 1983-11-29 | Molex Incorporated | Integrated circuit carrier assembly |
| US4508403A (en) * | 1983-11-21 | 1985-04-02 | O.K. Industries Inc. | Low profile IC test clip |
-
1984
- 1984-03-19 US US06/591,149 patent/US4541676A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-03-04 EP EP85301478A patent/EP0158432B1/en not_active Expired
- 1985-03-04 DE DE8585301478T patent/DE3575354D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-03-18 JP JP60052560A patent/JPS60213872A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0158432A1 (en) | 1985-10-16 |
| JPS60213872A (ja) | 1985-10-26 |
| US4541676A (en) | 1985-09-17 |
| EP0158432B1 (en) | 1990-01-10 |
| DE3575354D1 (de) | 1990-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0439916B2 (ja) | ||
| US5073116A (en) | Surface mount LCC socket | |
| US7393219B2 (en) | Electrical connector assembly with pick up cap | |
| US4433886A (en) | Connector mounting for integrated circuit chip packages | |
| US4275944A (en) | Miniature connector receptacles employing contacts with bowed tines and parallel mounting arms | |
| US4045105A (en) | Interconnected leadless package receptacle | |
| AU592320B2 (en) | Test clip for plcc | |
| US4427249A (en) | Low height ADS connector | |
| US5775937A (en) | Card connector with switch | |
| US4222622A (en) | Electrical connector for circuit board | |
| CA1070405A (en) | Electrical connector | |
| US8747120B2 (en) | Electrical connector incorporated with pick-and-place pick-up cap | |
| JPH0638353B2 (ja) | 電子部品用ソケット | |
| US4354718A (en) | Dual-in-line package carrier and socket assembly | |
| US4460236A (en) | Test apparatus for electrical circuit boards | |
| US7367822B2 (en) | Electrical connector with pick up cap | |
| USRE32370E (en) | Low height ADS connector | |
| JPH0225257B2 (ja) | ||
| US20080220627A1 (en) | IC package having improved structure | |
| JPH0635418Y2 (ja) | コネクタ | |
| US5653617A (en) | Smart card connector | |
| US5033977A (en) | Electrical connector and fixture for four-sided integrated circuit device | |
| US5547389A (en) | Integrated circuit chip socket | |
| US4797118A (en) | Test adapter for integrated circuit carrier | |
| US4490001A (en) | Dip carrier and socket |