JPH0442039A - Detected-signal processing method for particulate detector - Google Patents
Detected-signal processing method for particulate detectorInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、微粒子検出器の検出信号処理方式に関し、
詳しくはヘテロダイン方式の微粒子検出器における微粒
子検出信号の処理方式に関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention relates to a detection signal processing method for a particle detector,
Specifically, the present invention relates to a method for processing a particle detection signal in a heterodyne type particle detector.
[従来の技術]
半導体などの精密部品の製造においては、塵埃などの微
粒子が製品の品質を劣化するので清浄度の良好なりリー
ンルーム内で作業がなされる。クリーンルームの清浄度
は微粒子検出器により計測される。微粒子検出器の基本
原理は、室内のエアよりサンプルエアを採取して検出器
の検出セルに導入し、これに対してレーザビームを投射
する。[Prior Art] In the manufacture of precision parts such as semiconductors, the work is carried out in a lean room with good cleanliness because fine particles such as dust deteriorate the quality of the product. The cleanliness of the clean room is measured by a particle detector. The basic principle of a particle detector is to sample air from indoor air, introduce it into the detector's detection cell, and project a laser beam onto it.
サンプルエアに含まれている微粒子がレーザビームを散
乱するので、この散乱光を受光して微粒子を検出するも
のである。最近の半導体の高集積度に対応して微粒子検
出器は高度の検出性能が必要とされており、上記の基本
原理の構成に対して種々の点が改良されてそれなりに検
出性能が向上しているが、さらに性能を向上できるもの
としてヘテロダイン方式が提案され、特許出願公開「昭
63−83944号、半導体製造プロセスにおける塵埃
測定方法および測定装置」が開示されている。Since the particles contained in the sample air scatter the laser beam, the particles are detected by receiving this scattered light. In response to the recent high degree of integration of semiconductors, particle detectors are required to have a high level of detection performance, and various improvements have been made to the configuration based on the above basic principle to improve detection performance to a certain extent. However, a heterodyne method has been proposed as a method that can further improve the performance, and a patent application publication No. 1983-83944 titled "Method and Apparatus for Measuring Dust in Semiconductor Manufacturing Process" is disclosed.
第3図は、上記の特許出願にかかる塵埃測定装置の1実
施例の構成を示す。レーザ光源1よりの周波数f oの
レーザビームはビームスプリッタ2により2分され、そ
の一方は検出セル3の検出領域りにおいてサンプルエア
と直交し、微粒子の散乱光が散乱される。散乱光は集光
レンズ系4の集光レンズ4aにより集光されてスリット
板4bのスリットにより迷光が除去され、コリメータレ
ンズ4cにより平行ビームとなってビームスプリッタ5
に入力する。2分された他方は変調部6に入力し、第1
の音響光学変調器6aにおいて発振器6cよりの周波数
flにより周波数(fo +fx )にシフトされ、さ
らに第2の音響光学変調器6bにおいて発振器6dより
の周波数f2により周波数(fo +fl−f2)にシ
フトされて参照ビームとされ、これがミラー7により反
射されてビームスプリッタ5に入力し、上記の散乱光の
平行ビームと合成される。両者の合成により周波数(f
l−fz)のビート信号が生じ、これが受光器8により
受光されて、その検出信号Sにより微粒子が検出される
。なお、以上において変調部6を1組の発振器と変調器
により上記のシフト周波数(fo +fx −fz)を
作ることも当然できるが、この場合2組の発振器と変調
器を使用した理由は、音響光学変調器には大きいパワー
の高周波を必要とし、このために装置の電子素子に雑音
が混入してS/Nが低下するので、これを防止するため
とされている。FIG. 3 shows the configuration of one embodiment of the dust measuring device according to the above patent application. A laser beam of frequency fo from a laser light source 1 is split into two by a beam splitter 2, one of which is perpendicular to the sample air in the detection area of the detection cell 3, and the scattered light of the particles is scattered. The scattered light is condensed by the condenser lens 4a of the condenser lens system 4, stray light is removed by the slit of the slit plate 4b, and is converted into a parallel beam by the collimator lens 4c, which is sent to the beam splitter 5.
Enter. The other half divided into two is input to the modulation section 6, and the first
In the second acousto-optic modulator 6a, it is shifted to the frequency (fo + fx) by the frequency fl from the oscillator 6c, and further shifted to the frequency (fo + fl - f2) by the frequency f2 from the oscillator 6d in the second acousto-optic modulator 6b. The reference beam is reflected by the mirror 7 and input to the beam splitter 5, where it is combined with the parallel beam of the scattered light. The frequency (f
A beat signal (l-fz) is generated, which is received by the light receiver 8, and the detection signal S detects the particles. Note that in the above, the modulation section 6 can naturally generate the above shift frequency (fo + fx - fz) using one set of oscillator and modulator, but the reason why two sets of oscillator and modulator are used in this case is The optical modulator requires a high frequency wave with a large power, and this causes noise to be mixed into the electronic elements of the device, reducing the S/N ratio, so this is said to be done to prevent this.
以上のヘテロダイン方式は既に古くから無線受信機など
に利用されており、検出すべき信号波の強度が非常に弱
いとき、これが変調波により増幅されて感度が著しく増
強できるもので、その意味では非常に微弱な微粒子検出
信号に適用することは極めて有効である。ただし、ヘテ
ロダイン方式においては一般に有用な信号の他に、変調
に伴って発生する無用有害の信号がありこれらを完全に
除去することは当然必要であるが、なお上記の合成によ
りえられたビート信号には、変調部などより種々の雑音
信号が混在しているので適当な方法によりこれを除去す
ることも是非とも必要である。The heterodyne method described above has already been used in radio receivers and other devices for a long time, and when the strength of the signal wave to be detected is very weak, it is amplified by the modulated wave and can significantly increase the sensitivity. It is extremely effective to apply this method to weak particle detection signals. However, in the heterodyne system, in addition to the generally useful signals, there are unnecessary and harmful signals generated due to modulation, and it is of course necessary to completely remove these signals, but the beat signal obtained by the above synthesis Since there are various noise signals mixed in from the modulation section and the like, it is absolutely necessary to remove them using an appropriate method.
[解決しようとする課題]
以上に述べたビート信号の雑音除去の方法には、単にビ
ート信号の周波数をフィルタにより選択することもある
程度有効であるが、さらに確実な方法として同期検波法
を適用することが考えられる。[Problem to be solved] Although it is somewhat effective to simply select the frequency of the beat signal using a filter in the method of noise removal from the beat signal described above, a more reliable method is to apply the synchronous detection method. It is possible that
この発明は、同期検波法を適用してビート信号の雑音を
除去し、S/Nを向上する微粒子検出信号出力方式を提
供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a particulate detection signal output method that applies a synchronous detection method to remove noise in a beat signal and improve S/N.
[課題を解決するための手段]
この発明は、発振周波数fl とfzの発振器と2個の
音響光学変調器とよりなり、レーザ光源の出力するレー
ザビームの周波数f、を周波数(fo +fx −fz
)にシフトした参照ビームを出力する変調部を具備し、
検出セルに導入されたサンプルエアに対して周波数fo
のレーザビームを投射し、サンプルエアに含まれた微粒
子による散乱光と、変調部の出力する参照ビームとをビ
ームスプリッタにより合成し、合成によりえられる周波
数(fl−fz)のビート信号により微粒子を検出する
ヘテロダイン方式の微粒子検出器における検出信号の処
理方式であって、発振器の出力する周波数f1とfzの
2個の正弦波信号を乗算して周波数(fl−fz)の同
期信号を作り、ビート信号をこの同期信号により同期検
波するものである。[Means for Solving the Problems] The present invention includes an oscillator with oscillation frequencies fl and fz and two acousto-optic modulators, and the frequency f of the laser beam output from the laser light source is changed to the frequency (fo +fx - fz
) is equipped with a modulation unit that outputs a reference beam shifted to
With respect to the sample air introduced into the detection cell, the frequency fo
The beam splitter combines the light scattered by the particles contained in the sample air with the reference beam output from the modulator, and the beat signal of the frequency (fl-fz) obtained by the synthesis is used to detect the particles. This is a detection signal processing method in a heterodyne particle detector, in which two sine wave signals with frequencies f1 and fz output from an oscillator are multiplied to create a synchronized signal with a frequency (fl-fz), and a beat signal is generated. The signal is synchronously detected using this synchronous signal.
[作用]
以上の構成による検出信号処理方式においては、微粒子
により散乱された周波数foの散乱光と、変調部より出
力される周波数(f0+f1−fz)の参照ビームとの
合成によりえられた周波数(fl−fz)のビート信号
を、発振器の周波数f1とfzの正弦波信号を乗算して
えられる周波数(fl−fz)の同期信号により同期検
波する。同期検波の原理は、対象とする信号のうちの同
期信号に同期した成分のみが検出され、同期していない
成分は検出されないもので、この場合、ビート信号は同
期信号に同期しているので検出され、ビート信号に含ま
れる同期していない雑音は検出されず、その分S/Nが
向上する。[Operation] In the detection signal processing method with the above configuration, the frequency ( The beat signal of fl-fz) is synchronously detected by a synchronizing signal of frequency (fl-fz) obtained by multiplying the oscillator frequency f1 by the sine wave signal of fz. The principle of synchronous detection is that only the components of the target signal that are synchronized with the synchronous signal are detected, and the components that are not synchronized are not detected.In this case, the beat signal is detected because it is synchronized with the synchronous signal. Therefore, unsynchronized noise contained in the beat signal is not detected, and the S/N is improved accordingly.
[実施例]
第1図(a)、(b)は、この発明による微粒子検出器
の検出信号処理方式の第1の実施例の構成図と同期検波
の作用に対する説明図である。なお、以Fの各実施例に
おいては、第3図に示した従来のヘテロダイン方式の微
粒子検出器と同一部分には同一番号を付記する。第1図
(a)において、レーザ光源1の周波数fOのレーザビ
ームはビームスプリッタ2により2分され、一方は検出
セル3の検出領域りにおいてサンプルエアと直交し、微
粒子の散乱光は集光レンズ系4を通って平行ビームとな
ってビームスプリッタ5に入力する。2分された他方は
変調部6に入力して周波数(fQ+f1−fz)にシフ
トされて参照ビートとなり、ミラー7を経てビームスプ
リッタ5に入力して上記の散乱光の平行ビームと合成さ
れる。この合成により周波数(fl−fz)のビート信
号が生じ、これが受光器8により受光されて検出信号S
が出力される。ここまでは前記と同様である。これに対
してこの発明においては、変調部6の発振器8Cの周波
数fl と発振器6dの周波数f2の各信号を乗算器9
により乗算し、帯域フィルタ1Gにより周波数(fl−
fz)の成分を選択抽出してこれを同期信号Tとする。[Embodiment] FIGS. 1(a) and 1(b) are a block diagram of a first embodiment of a detection signal processing method for a particulate detector according to the present invention, and an explanatory diagram of the action of synchronous detection. In each of the following embodiments, the same parts as those of the conventional heterodyne particle detector shown in FIG. 3 are given the same numbers. In FIG. 1(a), a laser beam of frequency fO from a laser light source 1 is split into two by a beam splitter 2, one of which is perpendicular to the sample air in the detection area of a detection cell 3, and the scattered light of the particles is passed through a condenser lens. The beam passes through the system 4, becomes a parallel beam, and enters the beam splitter 5. The other of the two halves is input to the modulator 6, shifted to the frequency (fQ+f1-fz), becomes a reference beat, is input to the beam splitter 5 via the mirror 7, and is combined with the parallel beam of the above-mentioned scattered light. This synthesis generates a beat signal with a frequency (fl-fz), which is received by the photoreceiver 8 and becomes the detection signal S.
is output. The process up to this point is the same as above. On the other hand, in the present invention, each signal of the frequency fl of the oscillator 8C of the modulation section 6 and the frequency f2 of the oscillator 6d is applied to the multiplier 9.
The bandpass filter 1G gives the frequency (fl-
fz) is selectively extracted and used as the synchronization signal T.
同期検波器11に対して同期信号Tと、アンプ8aによ
り適当なレベルに調整された検出信号Sとを入力して同
期検波を行い、雑音が除去されてS/Nが向上した検出
信号S′かえられる。図(b)により同期検波による雑
音除去作用を説明すると、検出信号Sには点線で示すビ
ート信号の他に微小に変動する雑音が混入しているが、
同期信号Tに同期したビート信号のみが検出信号S′と
なって雑音が除去されることが了解される。Synchronous detection is performed by inputting the synchronizing signal T and the detection signal S adjusted to an appropriate level by the amplifier 8a to the synchronous detector 11, and a detection signal S' with noise removed and an improved S/N ratio is obtained. I can be hatched. To explain the noise removal effect of synchronous detection with reference to Figure (b), the detection signal S contains minutely fluctuating noise in addition to the beat signal shown by the dotted line.
It is understood that only the beat signal synchronized with the synchronization signal T becomes the detection signal S' and noise is removed.
さて、微粒子検出器のレーザ光源には、通常、大きいパ
ワーのえられるHe−Neガスレーザ管が使用されてお
り、その形式には内部ミラー型と外部ミラー型がある。Now, a He--Ne gas laser tube which can obtain a large power is normally used as a laser light source of a particle detector, and its types include an internal mirror type and an external mirror type.
また、両者ともレーザ管のレーザ出力側(正面)に対す
る反対側(背面)にもレーザビームがいくらか漏洩する
。これらにより光学系の構成には各種の変形ができる。In both cases, the laser beam also leaks to some extent on the opposite side (back side) of the laser tube to the laser output side (front side). These allow various modifications to the configuration of the optical system.
上記の第1の実施例は内部ミラー型とし、第2図は各種
の変形−に対する他の実施例である。The first embodiment described above is of an internal mirror type, and FIG. 2 shows other embodiments with various modifications.
第2図(a)は第2の実施例を示す。レーザ光源1を内
部ミラー型とし、その正面よりの周波数fOのレーザビ
ームが検出セル3に投射されて微粒子の散乱光が散乱さ
れる。一方、その背面より漏洩したレーザビームをミラ
ー12により方向変更して変調部6に入力する。以下、
第1の実施例と同様にヘテロダイン方式によるビート信
号とこれに対する検出信号Sがえられ、乗算器9により
同期信号Tが作られて同期検波器11により同期検波さ
れ、検出信号S′が出力される。FIG. 2(a) shows a second embodiment. The laser light source 1 is of an internal mirror type, and a laser beam with a frequency fO from the front thereof is projected onto the detection cell 3, and scattered light from the particles is scattered. On the other hand, the direction of the laser beam leaked from the back side is changed by the mirror 12 and inputted to the modulation section 6. below,
As in the first embodiment, a beat signal based on the heterodyne system and a detection signal S corresponding to the beat signal are obtained, a synchronization signal T is generated by a multiplier 9, synchronous detection is performed by a synchronous detector 11, and a detection signal S' is output. Ru.
第2図(b)、(e)はレーザ光源1を外部ミラー型と
する第3および第4の実施例で、図(b)においてはレ
ーザ管の背面のミラー1aに対して、管の外部に外部ミ
ラー1bを設けて両者の間にレーザ発振を行うもので、
検出セル3はレーザ管ト外部ミラー1bの間に置かれて
レーザビームが検出セルの検出領域りを通過し、微粒子
の散乱光が散乱される。また、外部ミラー1bにはいく
らかのレーザビームを漏洩させ、これをミラー璽2によ
り変調部6に供給して参照ビームと同期信号を作成する
。図(C)は、背面のミラー1aが漏洩するレーザビー
ムを利用するもので、以下、図(b)、(c)のいずれ
も上記同様の動作を行うものである。FIGS. 2(b) and 2(e) show third and fourth embodiments in which the laser light source 1 is an external mirror type. In FIG. 2(b), the mirror 1a on the back of the laser tube is An external mirror 1b is provided between the two and laser oscillation is performed between the two.
The detection cell 3 is placed between the laser tube and the external mirror 1b, the laser beam passes through the detection area of the detection cell, and the scattered light of the particles is scattered. Further, some laser beam is leaked to the external mirror 1b, and this is supplied to the modulation section 6 through the mirror seal 2 to create a reference beam and a synchronization signal. Figure (C) uses the laser beam leaked by the rear mirror 1a, and the same operation as described above is performed in both Figures (b) and (c) below.
なお、この発明においては2組の発振器と音響光学変調
器によりレーザビームの周波数roを2重変調するもの
であるが、1組の発振器と音響光学変調器によるヘテロ
ダイン方式に対しても適用できるもので、その場合は乗
算器9は不要で発振器の発振周波数が直接同期信号に利
用される。In this invention, the frequency ro of the laser beam is doubly modulated using two sets of oscillators and an acousto-optic modulator, but it can also be applied to a heterodyne system using one set of oscillators and an acousto-optic modulator. In that case, the multiplier 9 is not necessary and the oscillation frequency of the oscillator is directly used for the synchronization signal.
[発明の効果]
以上の説明により明らかなように、この発明による微粒
子検出器の検出信号処理方式においては、周波数foの
微粒子散乱光と、周波数(fo+f1−fz)の参照ビ
ームとの合成によりえられた周波数(ft−fz)のビ
ート信号に対して、2個の発振器の出力する周波数f1
とfzの正弦波信号を乗算してえられる周波数(fx
−fz)の同期信号により同期検波され、同期信号に
同期しているビーム信号のみが検出され、ビート信号に
含まれる同期していない雑音は検出されずS/Nが向上
するもので、ヘテロダイン方式に必須のビーム信号の選
択抽出が良好に行われ、該方式による微粒子検出器の実
用化に貢献するものである。[Effects of the Invention] As is clear from the above explanation, in the detection signal processing method of the particle detector according to the present invention, the particle scattered light of the frequency fo and the reference beam of the frequency (fo+f1-fz) are combined to The frequency f1 output from the two oscillators for the beat signal of the given frequency (ft-fz)
The frequency (fx
- fz) synchronization signal, only beam signals that are synchronized with the synchronization signal are detected, and unsynchronized noise contained in the beat signal is not detected, improving the S/N. Heterodyne method The selection and extraction of beam signals essential for this method can be performed well, and this contributes to the practical application of particle detectors using this method.
第1図(a)および(b)は、この発明による微粒子検
出器の検出信号処理方式の第1の実施例に対する構成図
および同期検波作用の説明図、第2図(a)、(b)お
よび(C)は、この発明による微粒子検出器の検出信号
処理方式の第2、第3および第4の実施例に対する構成
図、第3図は特許出願公開にかかるヘテロダイン方式の
微粒子検出器の基本構成図である。
1・・・レーザ光源、 2,5・・・ビームスプリッ
タ、3・・・検出セル、 4・・・集光レンズ
系、4a・・・集光レンズ、 4b・・・スリット
板、4c・・・コリメータレンズ、6・・・変調部、6
a、6b・・・音響光学変調器、8c、6d・・・発振
器、7.12・・・ミラー 8・・・受光器、8
a・・・アンプ、 9・・・乗算器、10・・
・帯域フィルタ、 11・・・同期検波器。FIGS. 1(a) and (b) are a block diagram and an explanatory diagram of the synchronous detection function for a first embodiment of the detection signal processing method of a particle detector according to the present invention, and FIGS. 2(a) and (b) and (C) are block diagrams of second, third, and fourth embodiments of the detection signal processing method of the particle detector according to the present invention, and FIG. 3 is the basic structure of the heterodyne particle detector according to the patent application publication. FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Laser light source, 2, 5... Beam splitter, 3... Detection cell, 4... Condensing lens system, 4a... Condensing lens, 4b... Slit plate, 4c...・Collimator lens, 6...Modulation section, 6
a, 6b... Acousto-optic modulator, 8c, 6d... Oscillator, 7.12... Mirror 8... Light receiver, 8
a... Amplifier, 9... Multiplier, 10...
・Band filter, 11...Synchronized detector.
Claims (1)
光学変調器とよりなり、レーザ光源の出力するレーザビ
ームの周波数f_0を、周波数(f_0+f_1−f_
2)にシフトした参照ビームを出力する変調部を具備し
、検出セルに導入されたサンプルエアに対して上記周波
数f_0のレーザビームを投射し、該サンプルエアに含
まれた微粒子による散乱光と、上記参照ビームとをビー
ムスプリッタにより合成し、該合成によりえられる周波
数(f_1−f_2)のビート信号により上記微粒子を
検出するヘテロダイン方式の微粒子検出器において、上
記発振器の出力する周波数f_1とf_2の2個の正弦
波信号を乗算して周波数(f_1−f_2)の同期信号
を作り、上記ビート信号を該同期信号により同期検波す
ることを特徴とする、微粒子検出器の検出信号処理方式
。(1) It consists of an oscillator with oscillation frequencies f_1 and f_2 and two acousto-optic modulators, and the frequency f_0 of the laser beam output from the laser light source is changed to the frequency (f_0+f_1-f_
2) is equipped with a modulation unit that outputs a reference beam shifted to 2), and projects a laser beam of the frequency f_0 on the sample air introduced into the detection cell, and scatters light scattered by fine particles contained in the sample air. In a heterodyne type particle detector that combines the reference beam with the reference beam using a beam splitter and detects the particles using a beat signal of frequency (f_1-f_2) obtained by the synthesis, two of the frequencies f_1 and f_2 output from the oscillator are used. A detection signal processing method for a particle detector, characterized in that a synchronization signal of frequency (f_1-f_2) is generated by multiplying sine wave signals, and the beat signal is synchronously detected using the synchronization signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2149054A JPH0442039A (en) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | Detected-signal processing method for particulate detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2149054A JPH0442039A (en) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | Detected-signal processing method for particulate detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0442039A true JPH0442039A (en) | 1992-02-12 |
Family
ID=15466655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2149054A Pending JPH0442039A (en) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | Detected-signal processing method for particulate detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0442039A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268168A (en) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Toshiba Corp | Image forming apparatus for forming an image on a recording medium |
| US8728619B2 (en) | 2010-02-19 | 2014-05-20 | Toyo Boseki Kabushiki Kaisha | Highly functional polyethylene fiber excellent in forming processability |
-
1990
- 1990-06-07 JP JP2149054A patent/JPH0442039A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268168A (en) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Toshiba Corp | Image forming apparatus for forming an image on a recording medium |
| US8728619B2 (en) | 2010-02-19 | 2014-05-20 | Toyo Boseki Kabushiki Kaisha | Highly functional polyethylene fiber excellent in forming processability |
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