JPH0442777B2 - - Google Patents
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- JPH0442777B2 JPH0442777B2 JP60080249A JP8024985A JPH0442777B2 JP H0442777 B2 JPH0442777 B2 JP H0442777B2 JP 60080249 A JP60080249 A JP 60080249A JP 8024985 A JP8024985 A JP 8024985A JP H0442777 B2 JPH0442777 B2 JP H0442777B2
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- magnification
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、走査型電子顕微鏡その他の電子線装
置(以下、SEM)の表示画面上における試料像
の倍率表示方法およびこの方法を実施例するため
の倍率表示装置に関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a method for displaying the magnification of a sample image on the display screen of a scanning electron microscope or other electron beam apparatus (hereinafter referred to as SEM), and embodiments of this method. The present invention relates to a magnification display device for.
[技術の背景]
SEMは、試料を電子ビームにより照射、走査
し、照射時に発生する試料信号に基づいて表示装
置(例えばCRT)上に試料の拡大像を表示する
ものである。従つて、SEMにおいては、拡大表
示された試料像が実際の試料上でどの程度の長さ
に相当するのかを知る必要がある。このため、従
来よりSEMに関し、表示装置上に試料像ととも
に試料のスケールを表示する種々の方法が提案さ
れている。[Technical background] SEM irradiates and scans a sample with an electron beam, and displays an enlarged image of the sample on a display device (eg, CRT) based on sample signals generated during irradiation. Therefore, in the SEM, it is necessary to know how long an enlarged sample image corresponds to on the actual sample. For this reason, various methods have been proposed for SEM to display the scale of the sample together with the sample image on the display device.
[従来の技術]
従来、SEMにおいて、倍率に応じた試料上の
長さを試料像とともに表示する技術的手段として
は、例えば、第7図および第8図に示すようなも
のがある。[Prior Art] Conventionally, in a SEM, there are technical means for displaying the length on a sample according to the magnification together with the sample image, as shown in FIGS. 7 and 8, for example.
第7図に示す方法は、試料上の一定の長さ(例
えば1μm)が対応するスケール1を試料像2とと
もに表示したものであり、試料像2の拡大率に応
じてスケール1が表示装置の表示画面10上で伸
縮するようになつている(特公昭47−21345号)。 In the method shown in Fig. 7, scale 1 corresponding to a certain length (for example, 1 μm) on the sample is displayed together with sample image 2, and scale 1 is displayed on the display device according to the magnification of sample image 2. It is designed to expand and contract on the display screen 10 (Japanese Patent Publication No. 47-21345).
ところが、このような手段によると、試料像2
の拡大率が大きくなるに従つてスケール1の長さ
が大きくなり、スケール1が画面10からはみ出
してしまつたり、低倍率の場合には、スケール1
の長さが小さくなつて、結局、試料の大きさを正
確に判断できないという問題がある。 However, according to such means, the sample image 2
The length of scale 1 increases as the magnification of
There is a problem in that the length of the sample becomes small and the size of the sample cannot be determined accurately.
第8図は、斯かる問題を解決するための手段を
示すものである。これは、表示画面10上に、試
料像の拡大率と無関係な一定の長さをもつスケー
ル4を表示するとともに、このスケール4の試料
上の換算長さを文字でキヤラクタ表示するもので
ある(特公昭58−51664号)。このような手段によ
れば、スケール4が表示装置の画面10からはみ
出したり、スケール4が小さすぎて視認性に欠け
るという不具合は解消される。 FIG. 8 shows a means for solving this problem. This displays on the display screen 10 a scale 4 having a constant length that is unrelated to the magnification of the sample image, and also displays the converted length of this scale 4 on the sample in characters ( Special Publication No. 58-51664). According to such means, problems such as the scale 4 protruding from the screen 10 of the display device or the scale 4 being too small and lacking in visibility can be solved.
[従来技術の問題点]
しかしながら、このような方法の場合、スケー
ル4の設定長さより短かい試料像長さを知ろうと
するときには、まず、求めようとする試料像2上
の長さがスケール4の長さの何分の一に相当する
かを求めることによつて試料像2上の長さを求め
なければならない。しかし、スケール4の長さを
基準として、試料像2上の長さがその何分の一に
相当するかを計測するのは手間を要するし、目分
量では必ずしも正確な数値を求めるとはできない
という問題がある。[Problems with the prior art] However, in the case of such a method, when trying to find out the sample image length that is shorter than the set length of the scale 4, first, the length on the sample image 2 to be determined is shorter than the set length of the scale 4. The length on the sample image 2 must be determined by determining what fraction of the length corresponds to. However, using the length of the scale 4 as a standard, it takes time and effort to measure what fraction of that the length on the sample image 2 corresponds to, and it is not always possible to obtain an accurate value by measuring by eye. There is a problem.
また、上記従来の表示方式は、試料像の縦方向
の測長に関しては特別な考慮がなされていないた
めに、試料像の縦方向長さを正確に測定するのは
必ずしも容易ではないという問題がある。 In addition, the conventional display method described above has the problem that it is not always easy to accurately measure the length of the sample image in the vertical direction because no special consideration is given to measuring the length of the sample image in the vertical direction. be.
[問題点を解決するための手段]
本発明は上記従来技術の問題点を解決するべく
なされたものであつて、試料像上の縦方向長さ及
び横方向長さを容易かつ正確に求めることのでき
る試料像の倍率表示方法および装置を提供するこ
とを目的とし、この目的達成の手段を、試料像を
表示する表示画面上に、全長を一定とした基準線
を表示するとともに、当該基準線が相当する試料
像上の換算長さをキヤラクタで表示する試料像の
倍率表示方法において、上記基準線を倍率に応じ
て区分する基準目盛を表示するとともに、当該基
準目盛の一目盛幅が相当する試料像上の換算長さ
をキヤラクタで表示し、かつ上記基準目盛の目盛
高さを倍率に応じて変化するようにしたものであ
る。[Means for Solving the Problems] The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and it is possible to easily and accurately determine the length in the vertical direction and the length in the lateral direction on the sample image. The purpose of the present invention is to provide a method and apparatus for displaying the magnification of a sample image, and the means for achieving this purpose is to display a reference line with a constant overall length on a display screen that displays a sample image, and to display a reference line with a constant overall length. In a sample image magnification display method in which the converted length on the sample image corresponding to is displayed as a character, a reference scale is displayed that divides the reference line according to the magnification, and one scale width of the reference scale is equivalent. The converted length on the sample image is displayed using characters, and the scale height of the reference scale is changed according to the magnification.
[実施例]
以下、添付図面に基づいて本発明の実施例を説
明する。[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described based on the accompanying drawings.
第1図ないし第3図は、本発明の実施例に係る
試料像の倍率表示方法を説明するものである。 1 to 3 illustrate a method for displaying the magnification of a sample image according to an embodiment of the present invention.
この表示方法は、第2図に示すように、試料像
15を表示する表示画面10の下方に、倍率の変
動とは無関係に常に一定の長さを有する基準線2
0を表示するとともに、基準線20を区分する基
準目盛Mを表示するものである。この基準目盛M
は、常に基準線20の左端に固定表示される目盛
M0、常に基準線20の右端に固定表示される目
盛M2、倍率の拡大に従つて基準線20上を左方
から右方へ移動する目盛M1とからなるものであ
る。目盛M1は第1図に示すように、1倍、10倍、
100倍、1000倍と10倍づつ倍率が増加するごとに、
基準線20の長さの10分の1を表わす位置に表示
される。すなわち、目盛M0〜目盛M2間の長さ基
準線をLとし、目盛M0〜目盛M1間の長さを目盛
幅lとすれば、l=1/10Lとなる。倍率が2倍に
なると、それに比例してl=1/5Lとなり、倍
率が10倍になると再びl=1/10Lとなる。また、
基準目盛Mの目盛高さhは、目盛M0〜目盛M1間
の長さ目盛幅lの1/10となるように表示される。
目盛M0〜目盛M1の長さlと目盛高さhは、倍率
に応じて比例的に変化し、常にh=1/10lであ
る。 In this display method, as shown in FIG. 2, a reference line 2 is placed at the bottom of the display screen 10 that displays the sample image 15, and has a constant length regardless of changes in magnification.
In addition to displaying 0, the reference scale M that divides the reference line 20 is also displayed. This standard scale M
is a scale that is always displayed fixedly at the left end of the reference line 20.
M0, a scale M2 that is always displayed fixedly at the right end of the reference line 20, and a scale M1 that moves from left to right on the reference line 20 as the magnification increases. As shown in Figure 1, the scale M1 is 1x, 10x,
As the magnification increases by 10x, such as 100x and 1000x,
It is displayed at a position representing one-tenth of the length of the reference line 20. That is, if the length reference line between the scale M0 and the scale M2 is L, and the length between the scale M0 and M1 is the scale width l, then l=1/10L. When the magnification increases to 2x, l = 1/5L, and when the magnification increases to 10x, l = 1/10L again. Also,
The scale height h of the reference scale M is displayed to be 1/10 of the length scale width l between the scale M0 and the scale M1.
The length l and the scale height h of the scale M0 to scale M1 change proportionally depending on the magnification, and are always h=1/10l.
また、この基準線20の右側には、少なくとも
基準線の長さLと、目盛M0〜目盛M1の長さ目盛
幅lの試料像15上での換算長さがキヤラクタ表
示される。例えば、倍率表示も行うとして倍率1
倍、基準線長さが100mm、目盛幅lが10mmの場合
には、(×1,100mm,10mm)という表示となり、
倍率が2倍に拡大すると(×2,50mm,10mm)と
いう表示がなされる。倍率10倍の場合には、(×
10,10mm,1000μ)というキヤラクタ表示とな
る。倍率10倍の場合、目盛高さhは、試料像15
上で目盛幅lの1/10、すなわち100μの換算長さ
となつている。このような表示を行うことによ
り、従来のような基準線20の換算長さだけによ
る計測に比べて、縦横両方向の計測をより正確に
行なうことができるようになる。 Further, on the right side of the reference line 20, at least the length L of the reference line and the converted length of the length scale width l of the scale M0 to scale M1 on the sample image 15 are displayed as characters. For example, if you also want to display the magnification, the magnification is 1.
If the reference line length is 100mm and the scale width l is 10mm, the display will be (×1, 100mm, 10mm).
When the magnification is doubled, the message (x2, 50mm, 10mm) is displayed. When the magnification is 10x, (×
10, 10mm, 1000μ). When the magnification is 10x, the scale height h is the sample image 15
Above, it is 1/10 of the scale width l, that is, the converted length is 100μ. By displaying in this manner, it becomes possible to perform measurements in both the vertical and horizontal directions more accurately than in the conventional measurement based only on the converted length of the reference line 20.
尚、基準目盛Mの高さの可変方法は、第3図に
示すように、目盛M0と目盛M1との間を太く表示
しても良いことは勿論である。 As a method of varying the height of the reference scale M, it goes without saying that the height between the scale M0 and the scale M1 may be displayed thickly, as shown in FIG.
次に、この方法を実施するための倍率表示装置
について説明する。第4図は、本発明の実施例に
係る試料像の倍率表示装置を示すものである。こ
の装置は、電子顕微鏡本体(図示せず)に設けら
れた水平偏向コイル40および垂直偏向コイル4
1に供給する電流を倍率切換装置42,43によ
つて切り換ることにより、CRT45上に試料像
15を拡大して表示するとともに、基準線表示手
段50、目盛表示手段60、キヤラクタ表示手段
70の各手段によつて試料像15上の長さに関す
る必要な情報の表示を行なうものである。 Next, a magnification display device for implementing this method will be described. FIG. 4 shows a sample image magnification display device according to an embodiment of the present invention. This device consists of a horizontal deflection coil 40 and a vertical deflection coil 4 provided in an electron microscope main body (not shown).
By switching the current supplied to 1 using the magnification switching devices 42 and 43, the sample image 15 is enlarged and displayed on the CRT 45, and the reference line display means 50, the scale display means 60, and the character display means 70 are displayed. Necessary information regarding the length on the sample image 15 is displayed by each means.
この図において、51は、鋸歯状波信号Exを
出力する水平走査回路、53は基準線20の始点
と終点を位置決めするための基準電圧E0、E10を
比較回路52に印加する基準電圧源である。この
比較回路52は、第5図a,bに示すように、基
準電圧E0,E2と鋸歯状波信号Exとが一致する
t1,t2,…t12の時点で、信号を出力する。また、
55は鋸歯状波信号Eyを供給する垂直走査回路、
57は基準線20の太さと表示画面10上での表
示の高さ位置を決定するための基準電圧V1,V2
を比較回路56入力するための基準電圧である。
この比較回路56は、第5図c,dに示すよう
に、基準電圧V1,V2と鋸歯状波信号Eyが一致し
たときにta〜tb間でレベルとなるパルス信号を出
力する。ゲート回路54は、比較回路52,56
の信号が一致した時点で、第5図eのような信号
を合成器44に対して出力する。これによつて、
CRT45の表示画面10に、一定の長さの基準
線20が適宜の位置に表示される。61は、基準
目盛M0,M1に対応した、それぞれ電圧値の異な
る基準電圧E0,E1を比較回路62に印加する目
盛基準電圧源である。比較回路62には、水平走
査回路51からの鋸歯状波信号Exが入力されて
おり、第6図a,bに示すように、基準電圧E0,
E1と鋸歯状波信号Exが一致した時点でパルス発
生回路65から基準目盛M0,M1の信号が出力さ
れる。また、基準目盛M2に対応する基準電圧E2
は、倍率と無関係となるよう独立した基準電圧源
64から比較回路62に入力される。従つて、比
較回路62からは、第6図c,dに示すように基
準電圧E2と鋸歯状波信号Exが一致したときに基
準目盛M2の信号が出力される。 In this figure, 51 is a horizontal scanning circuit that outputs a sawtooth signal Ex, and 53 is a reference voltage source that applies reference voltages E0 and E10 for positioning the start and end points of the reference line 20 to the comparison circuit 52. . This comparison circuit 52 allows the reference voltages E0 and E2 to match the sawtooth wave signal Ex, as shown in FIGS. 5a and 5b.
A signal is output at time points t1, t2,...t12. Also,
55 is a vertical scanning circuit that supplies a sawtooth wave signal Ey;
57 are reference voltages V1 and V2 for determining the thickness of the reference line 20 and the height position of the display on the display screen 10;
is the reference voltage for inputting to the comparison circuit 56.
The comparison circuit 56 outputs a pulse signal having a level between ta and tb when the reference voltages V1 and V2 match the sawtooth wave signal Ey, as shown in FIGS. 5c and 5d. The gate circuit 54 includes comparison circuits 52 and 56.
When the signals match, a signal as shown in FIG. 5e is outputted to the synthesizer 44. By this,
On the display screen 10 of the CRT 45, a reference line 20 of a certain length is displayed at an appropriate position. Reference numeral 61 denotes a scale reference voltage source that applies reference voltages E0 and E1 having different voltage values to the comparison circuit 62, respectively, corresponding to the reference scales M0 and M1. The sawtooth wave signal Ex from the horizontal scanning circuit 51 is input to the comparison circuit 62, and as shown in FIG. 6a and b, the reference voltages E0,
When E1 and the sawtooth wave signal Ex match, the pulse generation circuit 65 outputs signals on the reference scales M0 and M1. In addition, the reference voltage E2 corresponding to the reference scale M2
is input to the comparison circuit 62 from an independent reference voltage source 64 so as to be independent of the magnification. Therefore, the comparator circuit 62 outputs a signal on the reference scale M2 when the reference voltage E2 and the sawtooth wave signal Ex match, as shown in FIGS. 6c and 6d.
一方、67は、基準目盛Mの目盛高さを決定す
る基準電圧V1,V3を比較回路66に印加する基
準電圧源である。比較回路66には、垂直走査回
路55からの鋸歯状波信号Eyが入力されており、
第6図e,fに示すように、鋸歯状波信号Eyと
基準電圧V1,V3が一致したときにta〜tc間で信
号を発生する。従つて、ゲート回路63は、比較
回路62,66からの信号が一致したときに第6
図gのような信号を発生する。これによつて、基
準線20上には倍率に応じて基準線20上を左方
から右方へ移動する基準目盛M1と、固定的な基
準目盛M0,M2が表示される。 On the other hand, 67 is a reference voltage source that applies reference voltages V1 and V3 that determine the scale height of the reference scale M to the comparator circuit 66. A sawtooth wave signal Ey from the vertical scanning circuit 55 is input to the comparison circuit 66.
As shown in FIGS. 6e and 6f, when the sawtooth wave signal Ey and the reference voltages V1 and V3 match, a signal is generated between ta and tc. Therefore, the gate circuit 63 selects the sixth signal when the signals from the comparison circuits 62 and 66 match.
A signal as shown in Figure g is generated. Thereby, a reference scale M1 that moves from left to right on the reference line 20 according to the magnification and fixed reference scales M0 and M2 are displayed on the reference line 20.
尚、目盛基準電圧源61は、基準電圧E0を基
準に設定するから、基準線20左端に表示される
基準目盛Mは、常に固定した位置に留まる。ま
た、第6図c,dに示すように基準電圧E2も倍
率と無関係に常に一定値が印加されるから、基準
線20の右端には目盛M2が固定的に表示される。 Incidentally, since the scale reference voltage source 61 is set based on the reference voltage E0, the reference scale M displayed at the left end of the reference line 20 always remains at a fixed position. Furthermore, as shown in FIGS. 6c and 6d, since a constant value is always applied to the reference voltage E2 regardless of the magnification, the scale M2 is displayed fixedly at the right end of the reference line 20.
また、基準電圧V3は、1倍、10倍、100倍とい
うような、10倍づつの行数繰上げを1サイクルと
する倍率の切り換えによつえその電圧値が可変す
るから、目盛高さは、10倍ごとの倍率変化に応じ
て伸縮を繰り返すものである。 In addition, the voltage value of the reference voltage V3 is varied by switching the magnification such as 1x, 10x, and 100x, where one cycle is incrementing the number of rows by 10x, so the scale height is It repeatedly expands and contracts in response to changes in magnification every 10 times.
71は、倍率表示回路、72は基準線長さ表示
回路、73は基準目盛長さ表示回路である。これ
らの回路71,72,73は、マイクロコンピユ
ータ等の演算装置によつて、情報として表示すべ
き数字を算出するとともに、該算出結果を情報信
号として合成器44に出力する。尚、各表示回路
71,72,73は、キヤラクタの表示位置を決
めるために、垂直走査回路55から鋸歯状波信号
Eyをとり、予め設定された基準電圧と一致する
位置にキヤラクタを表示するものである。 71 is a magnification display circuit, 72 is a reference line length display circuit, and 73 is a reference scale length display circuit. These circuits 71, 72, and 73 calculate numbers to be displayed as information using arithmetic devices such as microcomputers, and output the calculation results to the synthesizer 44 as information signals. Note that each display circuit 71, 72, 73 receives a sawtooth wave signal from the vertical scanning circuit 55 in order to determine the display position of the character.
Ey is taken and a character is displayed at a position that matches a preset reference voltage.
以上のようにして、ゲート回路54、63およ
び各表示回路71,72,73から合成器44に
入力された各信号は、輝度変調信号としてCRT
45のグリツド電極に出力され、表示画面10上
に、基準線20、基準目盛M、キヤラクタを表示
するものである。尚、SEM本体の水平偏向コイ
ル40および垂直偏向コイル41CRT45の水
平偏向コイル47および垂直偏向コイル48が走
査回路51,55の信号によつて同期されている
ことは勿論である。 As described above, each signal inputted to the synthesizer 44 from the gate circuits 54, 63 and each display circuit 71, 72, 73 is transmitted to the CRT as a luminance modulation signal.
45, and displays the reference line 20, reference scale M, and characters on the display screen 10. It goes without saying that the horizontal deflection coil 40 of the SEM main body, the horizontal deflection coil 47 of the vertical deflection coil 41, and the vertical deflection coil 48 of the CRT 45 are synchronized by signals from the scanning circuits 51 and 55.
以上説明したように、斯かる倍率表示装置によ
つて、第1図ないし第3図に示すような、本発明
の倍率表示方法を実施できることになる。 As explained above, with such a magnification display device, the magnification display method of the present invention as shown in FIGS. 1 to 3 can be implemented.
[発明の効果]
以上説明したように、本発明はCRTの表示画
面上に一定の長さの基準線を表示するとともに、
その基準線を区分し、かつ倍率に応じて高さの可
変する基準目盛を表示する一方、基準線と基準目
盛幅の長さが相当する試料像上の換算長さをキヤ
ラクタ表示するようにしたものである。従つて、
本発明によれば、基準線および基準目盛幅の長さ
と、それらの換算長さ表示を用いることによつて
試料像の正確な測長が可能となる。また、基準目
盛の高さが倍率に応じて可変するから、試料像の
長さ、特に縦方向長さを正確に測定することがで
きることになる。[Effects of the Invention] As explained above, the present invention displays a reference line of a certain length on the display screen of a CRT, and
While dividing the reference line and displaying a reference scale whose height varies depending on the magnification, the converted length on the sample image corresponding to the length of the reference line and reference scale width is displayed as a character. It is something. Therefore,
According to the present invention, it is possible to accurately measure the length of a sample image by using the lengths of the reference line and reference scale width and their converted lengths. Furthermore, since the height of the reference scale varies depending on the magnification, the length of the sample image, especially the length in the longitudinal direction, can be accurately measured.
第1図ないし第3図は、本発明の実施例に係る
試料像の倍率表示方法を示す図、第4図は本発明
の実施例に係る試料像の倍率表示装置のブロツク
図、第5図および第6図は本発明の実施例に係る
試料像の倍率表示装置の作動を示すタイムチヤー
ト、第7図および第8図は従来の試料像の倍率表
示方法を示す図である。
10……表示画面、15……試料像、20……
基準線、50……基準線表示手段、60……目盛
表示手段、70……キヤラクタ表示手段。
1 to 3 are diagrams showing a sample image magnification display method according to an embodiment of the present invention, FIG. 4 is a block diagram of a sample image magnification display device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a time chart showing the operation of the sample image magnification display device according to the embodiment of the present invention, and FIGS. 7 and 8 are diagrams showing a conventional sample image magnification display method. 10...display screen, 15...sample image, 20...
Reference line, 50... Reference line display means, 60... Scale display means, 70... Character display means.
Claims (1)
とした基準線を表示するとともに、当該基準線が
相当する試料像上の換算長さキヤラクタで表示す
る試料像の倍率表示方法において、上記基準線を
倍率に応じて区分する基準目盛を表示するととも
に、当該基準目盛の一目盛幅が相当する試料像上
の換算長さをキヤラクタで表示し、かつ上記基準
目盛の目盛高さを倍率に応じて変化させることを
特徴とする試料像の倍率表示方法。 2 水平走査回路からの水平鋸歯状波信号と垂直
走査回路からの垂直鋸歯状波信号に基づいて表示
画面の所定位置に全長を一定とした基準線を表示
する基準線表示手段と、基準線の長さが相当する
試料像上の換算長さをキヤラクタによつて表示す
るキヤラクタ表示手段とを有する試料像の倍率表
示装置において、上記水平走査回路からの水平鋸
歯状波信号および垂直走査回路からの垂直鋸歯状
波信号と倍率切換装置に連動して電圧値が変化す
る目盛基準電圧に基づいて上記基準線を倍率に応
じて区分し、かつ倍率に応じて目盛高さが変化す
る基準目盛を表示する基準目盛表示手段を設ける
とともに、倍率切換装置に連動して基準目盛の一
目盛幅が相当する試料像上の換算長さを算出し、
該算出結果をキヤラクタによつて表示するキヤラ
クタ表示手段を設けたことを特徴とする試料像の
倍率表示装置。[Claims] 1. A reference line with a constant overall length is displayed on the display screen that displays the sample image, and the magnification of the sample image is displayed based on the converted length character on the sample image to which the reference line corresponds. In the display method, a reference scale that divides the above-mentioned reference line according to the magnification is displayed, and the converted length on the sample image to which one division width of the reference scale corresponds is displayed as a character, and the scale of the above-mentioned reference scale is A method for displaying magnification of a sample image, characterized by changing the height according to the magnification. 2 a reference line display means for displaying a reference line with a constant overall length at a predetermined position on a display screen based on a horizontal sawtooth wave signal from a horizontal scanning circuit and a vertical sawtooth wave signal from a vertical scanning circuit; In the sample image magnification display device, the sample image magnification display device has a character display means for displaying a converted length on the sample image with a character, and a horizontal sawtooth wave signal from the horizontal scanning circuit and a horizontal sawtooth wave signal from the vertical scanning circuit. A scale whose voltage value changes in conjunction with the vertical sawtooth signal and the magnification switching device.The above reference line is divided according to the magnification based on the reference voltage, and a reference scale whose scale height changes according to the magnification is displayed. A reference scale display means is provided, and a converted length on the sample image corresponding to one scale width of the reference scale is calculated in conjunction with a magnification switching device.
A magnification display device for a sample image, characterized in that it is provided with a character display means for displaying the calculation result by a character.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60080249A JPS61240545A (en) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | Specimen image magnification display method and device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60080249A JPS61240545A (en) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | Specimen image magnification display method and device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61240545A JPS61240545A (en) | 1986-10-25 |
| JPH0442777B2 true JPH0442777B2 (en) | 1992-07-14 |
Family
ID=13713044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60080249A Granted JPS61240545A (en) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | Specimen image magnification display method and device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61240545A (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5851664B2 (en) * | 1979-03-28 | 1983-11-17 | 株式会社日立製作所 | Sample image display device |
| JPS55166854A (en) * | 1979-06-15 | 1980-12-26 | Hitachi Ltd | Scanning electron microscope and magnification display unit in its simulator |
-
1985
- 1985-04-17 JP JP60080249A patent/JPS61240545A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61240545A (en) | 1986-10-25 |
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