JPH0442804B2 - - Google Patents
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- JPH0442804B2 JPH0442804B2 JP3686485A JP3686485A JPH0442804B2 JP H0442804 B2 JPH0442804 B2 JP H0442804B2 JP 3686485 A JP3686485 A JP 3686485A JP 3686485 A JP3686485 A JP 3686485A JP H0442804 B2 JPH0442804 B2 JP H0442804B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/02—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for manufacturing cores, coils, or magnets
- H01F41/04—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for manufacturing cores, coils, or magnets for manufacturing coils
- H01F41/041—Printed circuit coils
- H01F41/042—Printed circuit coils by thin film techniques
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はコイル体に関するものである。
従来のコイル体としては、第5図、第6図に示
すように、絶縁性の基板1の表面に導電層2を渦
巻状に形成してなるものが知られている。このコ
イル体は、第7図に示すように所定の厚みを有す
る基板1の表面に蒸着等によつて金属等の導電材
料の薄膜2′を形成し、この薄膜2′の表面にフオ
トレジスト膜3を形成して薄膜2′を選択的にエ
ツチングさせるいわゆるフオトエツチング法によ
つて製造するの通常である。
すように、絶縁性の基板1の表面に導電層2を渦
巻状に形成してなるものが知られている。このコ
イル体は、第7図に示すように所定の厚みを有す
る基板1の表面に蒸着等によつて金属等の導電材
料の薄膜2′を形成し、この薄膜2′の表面にフオ
トレジスト膜3を形成して薄膜2′を選択的にエ
ツチングさせるいわゆるフオトエツチング法によ
つて製造するの通常である。
ところで、上記のコイル体と構造は、コイル体
を全体に所定の機械的強度を得るために、基板1
を有することが必要条件であり、基板1を相当厚
手のものとしなければならないのが実情である。
すなわち、基板1を除去したり、基板1を薄く構
成した場合には、コイル体全体の機械的強度が著
しく低下し、実用に供し得ないものとなつてしま
う。
を全体に所定の機械的強度を得るために、基板1
を有することが必要条件であり、基板1を相当厚
手のものとしなければならないのが実情である。
すなわち、基板1を除去したり、基板1を薄く構
成した場合には、コイル体全体の機械的強度が著
しく低下し、実用に供し得ないものとなつてしま
う。
したがつて、上記のコイル体では、基板1の占
めるスペースが極めて大きく、コイル体全体を小
形、軽量化できないという欠点があつた。
めるスペースが極めて大きく、コイル体全体を小
形、軽量化できないという欠点があつた。
そこで、この発明では、充分な機械的強度を有
し、かつ小形、軽量化が可能であるコイル体を如
何に実現するかを問題としている。
し、かつ小形、軽量化が可能であるコイル体を如
何に実現するかを問題としている。
この発明は、非磁性の薄状金属シートに絶縁層
を形成した基板上に、導電体からなるコイルを形
成することにより上記の問題を解決している。
を形成した基板上に、導電体からなるコイルを形
成することにより上記の問題を解決している。
第1図は、この発明の第1の実施例を示す図で
ある。
ある。
この図に示すコイル体は、非磁性の導電層(薄
状金属シート)6の上面に絶縁層7を形成した基
板61上に、導電体からなる渦巻状の導電層(コ
イル)81を形成し、導電層81の上面おび側面
に絶縁層9を形成してなるものである。絶縁層7
には貫通孔71が形成されており、導電層81は
貫通孔71を通して導電層6と電気的に接続され
ている。
状金属シート)6の上面に絶縁層7を形成した基
板61上に、導電体からなる渦巻状の導電層(コ
イル)81を形成し、導電層81の上面おび側面
に絶縁層9を形成してなるものである。絶縁層7
には貫通孔71が形成されており、導電層81は
貫通孔71を通して導電層6と電気的に接続され
ている。
また、第2図は、この発明の第2図の実施例を
示す図である。
示す図である。
この図に示すコイル体は、第1図に示すコイル
体に別の要素を付加してその表面を平坦面とした
ものである。すなわち、第2図に示すコイル体
は、第1図に示すコイル体の絶縁層9で覆われた
導電層81内に形成された渦巻状の凹部内に導電
体または絶縁体からなる薄膜11Bと絶縁膜14
とを形成してその表面を平坦面としたものであ
る。基板61上に形成された導電層81、絶縁層
9、薄膜11B、絶縁膜14からなるコイル部I1
の上面は平坦面である。
体に別の要素を付加してその表面を平坦面とした
ものである。すなわち、第2図に示すコイル体
は、第1図に示すコイル体の絶縁層9で覆われた
導電層81内に形成された渦巻状の凹部内に導電
体または絶縁体からなる薄膜11Bと絶縁膜14
とを形成してその表面を平坦面としたものであ
る。基板61上に形成された導電層81、絶縁層
9、薄膜11B、絶縁膜14からなるコイル部I1
の上面は平坦面である。
また、第3図は、この発明の第3の実施例を示
す図である。
す図である。
この図に示すコイル体は、第2図に示すコイル
体の上面に、上記コイル部I1と略同一構成のコイ
ル部I2,I3を順次積層し、更にコイル部I3の上面
に導電層15を形成してなるものである。この場
合、各コイル部I1〜I3の絶縁層9,9,9にはそ
れぞれ貫通孔91が形成されており、各コイル部
I1〜I3の導電層81,81,81は各貫通孔91
を通して電気的に直列に接続され、コイル部I3の
導電層81は貫通孔91を通して導電層15と電
気的に接続されている。
体の上面に、上記コイル部I1と略同一構成のコイ
ル部I2,I3を順次積層し、更にコイル部I3の上面
に導電層15を形成してなるものである。この場
合、各コイル部I1〜I3の絶縁層9,9,9にはそ
れぞれ貫通孔91が形成されており、各コイル部
I1〜I3の導電層81,81,81は各貫通孔91
を通して電気的に直列に接続され、コイル部I3の
導電層81は貫通孔91を通して導電層15と電
気的に接続されている。
次に、上記の各実施例で述べたコイル体の製造
方法について説明する。
方法について説明する。
第1の実施例のコイル体を製造するには、ま
ず、第4図Aに示すように仮基台4の表面に絶縁
層5、導電層6、絶縁層7を順次形成する。仮基
台4としては任意のものを使用できるが、仮基台
4としてシリコンを使用する場合には、この仮基
台表面を熱酸化させることによりSiO2の絶縁層
5を形成することができる。なお前記導電層6は
最終的にはコイル体の指示基板を形成するもので
あると共に、コイル体の一方の端子となるもので
あり、非磁性の薄状金属、例えば銅、アルミニウ
ム等の金属が使用される。また絶縁層7としては
例えばSiO2,Si3N4等の絶縁体膜等が使用され
る。
ず、第4図Aに示すように仮基台4の表面に絶縁
層5、導電層6、絶縁層7を順次形成する。仮基
台4としては任意のものを使用できるが、仮基台
4としてシリコンを使用する場合には、この仮基
台表面を熱酸化させることによりSiO2の絶縁層
5を形成することができる。なお前記導電層6は
最終的にはコイル体の指示基板を形成するもので
あると共に、コイル体の一方の端子となるもので
あり、非磁性の薄状金属、例えば銅、アルミニウ
ム等の金属が使用される。また絶縁層7としては
例えばSiO2,Si3N4等の絶縁体膜等が使用され
る。
次いで第4図Bに示すように、前記絶縁層7の
一部をエツチング等の手段により除去して貫通孔
71を形成した後、銅、アルミニウム等の銅電層
8を蒸着、スパツタリング等の方法によつて形成
する。この後、第4図Cに示すように前記導電層
8を写真彫刻法等の手段により選択的にエツチン
グして、第5図に示したものと同様な渦巻状の導
電層81成形する。この状態で渦巻状の導電層8
1の一端は前記絶縁層7の貫通孔71を介して金
属層6と電気的に接続されている。
一部をエツチング等の手段により除去して貫通孔
71を形成した後、銅、アルミニウム等の銅電層
8を蒸着、スパツタリング等の方法によつて形成
する。この後、第4図Cに示すように前記導電層
8を写真彫刻法等の手段により選択的にエツチン
グして、第5図に示したものと同様な渦巻状の導
電層81成形する。この状態で渦巻状の導電層8
1の一端は前記絶縁層7の貫通孔71を介して金
属層6と電気的に接続されている。
次いで第4図Dに示すように導電層81の表
面、すなわち上面および側面に絶縁層9を形成す
る。
面、すなわち上面および側面に絶縁層9を形成す
る。
この絶縁層9は、導電層81の金属表面を熱酸
化等によつて酸化させることによつて形成しても
よい。例えば導電層9がアルミニウムである場
合、これを熱酸化させることにより酸化アルミニ
ウムAl2O3の絶縁層9を形成することができる。
化等によつて酸化させることによつて形成しても
よい。例えば導電層9がアルミニウムである場
合、これを熱酸化させることにより酸化アルミニ
ウムAl2O3の絶縁層9を形成することができる。
このようにして絶縁層9で被覆された渦巻状の
導電層81を有する中間製品10が得られる。
導電層81を有する中間製品10が得られる。
そして、最後に仮基台4および絶縁層5研摩ま
たはエツチング等の方法によつて除去することに
より第1図のコイル体を得ることができる。
たはエツチング等の方法によつて除去することに
より第1図のコイル体を得ることができる。
また、第2の実施例のコイル体を製造するに
は、上記第1の実施例のコイル体の製造方法と同
一の工程、つまり第4図A〜Dの工程を踏んで、
中間製品10を得る。
は、上記第1の実施例のコイル体の製造方法と同
一の工程、つまり第4図A〜Dの工程を踏んで、
中間製品10を得る。
この中間製品10の表面は、導電層81によつ
て凹凸が形成された状態となつている。この中間
製品10の表面には、続いて第4図Eに示すよう
に蒸着またはスパツタリング等の手段によつて薄
膜11を形成する。この薄膜11はその厚みが前
記導電層81の厚みとほぼ同程度となるように形
成する。ここで中間製品10の表面には前述のよ
うに凹凸が存在するから、薄膜11も凹凸状とな
る。すなわち薄膜11は導電層81の上面に位置
する凸部薄膜11Aと、隣り合う導電層間の凹部
を埋める凹部薄膜11Bとに区分される。なおこ
の薄膜11としては、金属、ポリシリコンまたは
各種絶縁物等が使用される。
て凹凸が形成された状態となつている。この中間
製品10の表面には、続いて第4図Eに示すよう
に蒸着またはスパツタリング等の手段によつて薄
膜11を形成する。この薄膜11はその厚みが前
記導電層81の厚みとほぼ同程度となるように形
成する。ここで中間製品10の表面には前述のよ
うに凹凸が存在するから、薄膜11も凹凸状とな
る。すなわち薄膜11は導電層81の上面に位置
する凸部薄膜11Aと、隣り合う導電層間の凹部
を埋める凹部薄膜11Bとに区分される。なおこ
の薄膜11としては、金属、ポリシリコンまたは
各種絶縁物等が使用される。
次いで第4図Fに示すように薄膜11の表面に
フオト・レジスト膜12を形成し、この後第4図
Gに示すように凹部薄膜11Bの部分のフオト・
レジスト膜を除去して凸部薄膜11Aの上面にの
みにフオト・レジスト膜12を残す。例えばフオ
ト・レジスト膜の材料が光硬化性のものである場
合、フオトマスクを用いて凸部薄膜11Aの上面
のフオト・レジスト膜12に光を照射し、これに
よりこの部分のフオト・レジスト膜を硬化させ、
未照射部分のフオト・レジスト膜を溶解除去すれ
ばよい。
フオト・レジスト膜12を形成し、この後第4図
Gに示すように凹部薄膜11Bの部分のフオト・
レジスト膜を除去して凸部薄膜11Aの上面にの
みにフオト・レジスト膜12を残す。例えばフオ
ト・レジスト膜の材料が光硬化性のものである場
合、フオトマスクを用いて凸部薄膜11Aの上面
のフオト・レジスト膜12に光を照射し、これに
よりこの部分のフオト・レジスト膜を硬化させ、
未照射部分のフオト・レジスト膜を溶解除去すれ
ばよい。
この後、化学的エツチング法により薄膜11を
若干エツチングし、第4図Hに示すように凸部薄
膜11Aにオーバーハング部13を形成すると共
に凹部薄膜11Bの表面の位置を絶縁層9の高さ
よりも若干低い位置、すなわち導電層81の凸部
高さと同程度の位置まで後退させる。この工程に
よつて前記凸部薄膜11Aと凹部薄膜11Bとは
完全に分割される。なおこのエツチングにおいて
は、薄膜11としてAlを用いた場合にはエツチ
ング液としてNaO、KOHH系のエツチング液を
用いれば良い。
若干エツチングし、第4図Hに示すように凸部薄
膜11Aにオーバーハング部13を形成すると共
に凹部薄膜11Bの表面の位置を絶縁層9の高さ
よりも若干低い位置、すなわち導電層81の凸部
高さと同程度の位置まで後退させる。この工程に
よつて前記凸部薄膜11Aと凹部薄膜11Bとは
完全に分割される。なおこのエツチングにおいて
は、薄膜11としてAlを用いた場合にはエツチ
ング液としてNaO、KOHH系のエツチング液を
用いれば良い。
次に第4図Iに示すように、SiO,SiO2,
Si3N4等の絶縁膜14を蒸着またはスパツタリン
グ等によつて形成する。これによつて凹部薄膜1
1Bが前記絶縁膜14で被覆される。なおフオ
ト・レジスト膜12の表面も絶縁膜14で被覆さ
れるが、凸部薄膜11Aの側面(オーバーハング
部表面)は被覆されない。ここで絶縁膜14の厚
みは、凹部薄膜11Bを覆う絶縁膜14の表面位
置が導電層81の上面を覆う絶縁層9の表面位置
とほぼ一致するように設定する。
Si3N4等の絶縁膜14を蒸着またはスパツタリン
グ等によつて形成する。これによつて凹部薄膜1
1Bが前記絶縁膜14で被覆される。なおフオ
ト・レジスト膜12の表面も絶縁膜14で被覆さ
れるが、凸部薄膜11Aの側面(オーバーハング
部表面)は被覆されない。ここで絶縁膜14の厚
みは、凹部薄膜11Bを覆う絶縁膜14の表面位
置が導電層81の上面を覆う絶縁層9の表面位置
とほぼ一致するように設定する。
次いで前記導電層81上の凸部薄膜11Aをエ
ツチング液によつて側面から溶解除去する。この
エツチング液としては、前記絶縁膜14をエツチ
ングせず薄膜11Aのみをエツチングするものを
用いれば良く、例えば絶縁膜14がSiO2で構成
されかつ薄膜11AがAlで構成されている場合
にはKOH,あるいはNaOHを用いれば良い。
ツチング液によつて側面から溶解除去する。この
エツチング液としては、前記絶縁膜14をエツチ
ングせず薄膜11Aのみをエツチングするものを
用いれば良く、例えば絶縁膜14がSiO2で構成
されかつ薄膜11AがAlで構成されている場合
にはKOH,あるいはNaOHを用いれば良い。
このようにして、第4図Jに示す如く表面が平
坦なコイル部I1が得られる。
坦なコイル部I1が得られる。
そして、最後に仮基台4および絶縁層5研摩ま
たはエツチング等の方法によつて除去することに
より第2図のコイル体を得ることができる。
たはエツチング等の方法によつて除去することに
より第2図のコイル体を得ることができる。
また、第3の実施例のコイル体を製造するに
は、上記第2の実施例のコイル体の製造方法と同
一の工程、つまり第4図A〜Jの工程を踏んで第
4図Jに示す中間製品を得る。
は、上記第2の実施例のコイル体の製造方法と同
一の工程、つまり第4図A〜Jの工程を踏んで第
4図Jに示す中間製品を得る。
以下第4図Bに示される工程から第4図Jに至
る工程を繰返せば、順次第2層目のコイル部I2,
第3層目のコイル部I3が積層され、最終的に第4
図Kに示すような所望の層数のコイル部が形成さ
れる。そして前記各層の導電層81は直列もしく
は並列に接続される。すなわち第4図Bに示す工
程において絶縁層7に貫通孔71を形成したのと
同様に各層の導電層81間の絶縁層9に貫通孔9
1を形成し、この貫通孔91を介して各導電層8
1を電気的に接続する。
る工程を繰返せば、順次第2層目のコイル部I2,
第3層目のコイル部I3が積層され、最終的に第4
図Kに示すような所望の層数のコイル部が形成さ
れる。そして前記各層の導電層81は直列もしく
は並列に接続される。すなわち第4図Bに示す工
程において絶縁層7に貫通孔71を形成したのと
同様に各層の導電層81間の絶縁層9に貫通孔9
1を形成し、この貫通孔91を介して各導電層8
1を電気的に接続する。
上述のようにして所望の層数のコイル部I1〜I3
が形成された後、第4図Lに示すように最上層I3
の表面の絶縁層9にも貫通孔91を形成し、さら
にその上面に金属またはポリシリコン等の導電層
15を蒸着等によつて形成する。この導電層15
は、前記貫通孔91を介して最上層I3の導電層8
1と電気的に接続されたものであり、このコイル
体の他方の端子となる。
が形成された後、第4図Lに示すように最上層I3
の表面の絶縁層9にも貫通孔91を形成し、さら
にその上面に金属またはポリシリコン等の導電層
15を蒸着等によつて形成する。この導電層15
は、前記貫通孔91を介して最上層I3の導電層8
1と電気的に接続されたものであり、このコイル
体の他方の端子となる。
最後に、仮基台4および絶縁層5を研摩または
エツチング等の方法によつて除去することにより
第3図のコイル体を得ることができる。
エツチング等の方法によつて除去することにより
第3図のコイル体を得ることができる。
上述した各実施例のコイル体は、導電層6、絶
縁層7が基板61を構成しており、この基板61
がコイル体全体に機械的強度を与えるものとして
作用する。この場合各コイル体の導電送6は、コ
イル体の一方の端子を構成する。また第3図のコ
イル体の導電層15は他方の端子を構成する。こ
こで、各コイル体の導電層6は、その材質が金属
であるため、厚さが極めて薄厚であるにもかかわ
らず充分な機械的強度を有する。したがつて、こ
れらのコイル体の構造によれば、充分な機械的強
度が得られる一方、基板61の占有スペースを小
となし得、コイル体の小形、軽量化が可能とな
る。
縁層7が基板61を構成しており、この基板61
がコイル体全体に機械的強度を与えるものとして
作用する。この場合各コイル体の導電送6は、コ
イル体の一方の端子を構成する。また第3図のコ
イル体の導電層15は他方の端子を構成する。こ
こで、各コイル体の導電層6は、その材質が金属
であるため、厚さが極めて薄厚であるにもかかわ
らず充分な機械的強度を有する。したがつて、こ
れらのコイル体の構造によれば、充分な機械的強
度が得られる一方、基板61の占有スペースを小
となし得、コイル体の小形、軽量化が可能とな
る。
また、特に第3図のコイル体の構造によれば、
第1図、第2図のコイル体の構造と比較して、よ
り一層のコイル部の占有スペース率の向上を図る
ことができ、例えば電磁式カートリツジのピツク
アツプ用コイルや小形マイクロホン用のコイルと
して利用すれば、インダクタンスの質量が小さい
こと等により優れた周波数特性を得ることができ
る。
第1図、第2図のコイル体の構造と比較して、よ
り一層のコイル部の占有スペース率の向上を図る
ことができ、例えば電磁式カートリツジのピツク
アツプ用コイルや小形マイクロホン用のコイルと
して利用すれば、インダクタンスの質量が小さい
こと等により優れた周波数特性を得ることができ
る。
なお、上記の各コイル体は、その製造過程にお
いて導電層6の下面に絶縁層5を残しておいても
よく、このようにした場合には絶縁層5により導
電層6を保護することができる。また、導電層6
をあまり厚くすると、渦電流損が大きくなるの
で、その厚さには限度があるが、絶縁層5を必要
な機械的強度が得られる厚さとして残すことによ
り、用途に応じ、任意の厚さの薄膜コイルをつく
ることができる。
いて導電層6の下面に絶縁層5を残しておいても
よく、このようにした場合には絶縁層5により導
電層6を保護することができる。また、導電層6
をあまり厚くすると、渦電流損が大きくなるの
で、その厚さには限度があるが、絶縁層5を必要
な機械的強度が得られる厚さとして残すことによ
り、用途に応じ、任意の厚さの薄膜コイルをつく
ることができる。
この発明は、非磁性の薄状金属シートに絶縁層
を形成した基板上に、導電体からなるコイルを形
成したものであるから、絶縁層によりコイルと金
属シートとを確実に絶縁することができ、基板に
よつて充分な機械的強度が得られると共に小形、
軽量化が可能である。また基板の導電層が金属で
あるため、放熱性が良好である等の利点がある。
を形成した基板上に、導電体からなるコイルを形
成したものであるから、絶縁層によりコイルと金
属シートとを確実に絶縁することができ、基板に
よつて充分な機械的強度が得られると共に小形、
軽量化が可能である。また基板の導電層が金属で
あるため、放熱性が良好である等の利点がある。
第1図ないし第3図はいずれもこの発明の実施
例として示したコイル体の縦断面図、第4図A〜
Lは第1図ないし第3図に示すコイル体の製造方
法の一例を示す工程図、第5図は従来のコイル体
の平面図、第6図は第5図X−X′線断面図、第
7図は第5図第6図に示すコイル体の製造方法を
示す説明図である。 6……薄状金属シート(導電層)、7……絶縁
層、61……基板、81……コイル(導電層)。
例として示したコイル体の縦断面図、第4図A〜
Lは第1図ないし第3図に示すコイル体の製造方
法の一例を示す工程図、第5図は従来のコイル体
の平面図、第6図は第5図X−X′線断面図、第
7図は第5図第6図に示すコイル体の製造方法を
示す説明図である。 6……薄状金属シート(導電層)、7……絶縁
層、61……基板、81……コイル(導電層)。
Claims (1)
- 1 非磁性の薄状金属シートに絶縁層を形成した
基板上に、導電体からなるコイルを形成したこと
を特徴とするコイル体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3686485A JPS60246605A (ja) | 1985-02-26 | 1985-02-26 | コイル体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3686485A JPS60246605A (ja) | 1985-02-26 | 1985-02-26 | コイル体 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2261278A Division JPS54115760A (en) | 1978-02-28 | 1978-02-28 | Method of producing multiilayer thin film inductance |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60246605A JPS60246605A (ja) | 1985-12-06 |
| JPH0442804B2 true JPH0442804B2 (ja) | 1992-07-14 |
Family
ID=12481648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3686485A Granted JPS60246605A (ja) | 1985-02-26 | 1985-02-26 | コイル体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60246605A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2615151B2 (ja) * | 1988-08-19 | 1997-05-28 | 株式会社村田製作所 | チップ型コイル及びその製造方法 |
| JP2002299121A (ja) * | 2001-04-02 | 2002-10-11 | Kawasaki Steel Corp | 平面磁気素子 |
| CN108303596B (zh) * | 2018-01-16 | 2024-07-02 | 宁波市计量测试研究院(宁波市衡器管理所、宁波新材料检验检测中心) | 一种利用薄膜沉积技术制作超薄线圈的方法及超薄线圈 |
-
1985
- 1985-02-26 JP JP3686485A patent/JPS60246605A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60246605A (ja) | 1985-12-06 |
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