JPH0443261U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0443261U JPH0443261U JP8441590U JP8441590U JPH0443261U JP H0443261 U JPH0443261 U JP H0443261U JP 8441590 U JP8441590 U JP 8441590U JP 8441590 U JP8441590 U JP 8441590U JP H0443261 U JPH0443261 U JP H0443261U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- defect
- reference voltage
- comparators
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
第１図は本考案の１実施例のシステム構成図で
あり、第２図は探傷信号の欠陥反射波にノイズが
重畳した波形図であり、第３図は比較器の基準電
圧設定図であり、第４図は本考案の１実施例にお
ける探傷信号のタイミング図であり、第５図は本
考案の１実施例に係るタイミングチヤート図であ
る。
あり、第２図は探傷信号の欠陥反射波にノイズが
重畳した波形図であり、第３図は比較器の基準電
圧設定図であり、第４図は本考案の１実施例にお
ける探傷信号のタイミング図であり、第５図は本
考案の１実施例に係るタイミングチヤート図であ
る。
Claims (1)
- 超音波パルスの反射波として検出した信号出力
を検波回路で半波又は全波整流した後、対象とす
る被検体の検査領域に対応した範囲に区扮し複数
個のゲート回路に供給し、各ゲート回路毎に複数
個の異なる基準電圧を有する比較器を設け、これ
ら比較器の中で１つだけを大欠陥による信号か、
ハイレベルなノイズでしか達しない基準電圧をも
たせ、繰返し周波数毎にゲート回路を通過させ、
前記ｍ個の比較器の基準電圧を上まわる信号の回
数を計数するカウンタを設け、予め設定した回数
に対し、連続してカウントした回数が大きくなる
条件をもつて欠陥信号を出力し、ｍ番目の比較器
の基準電圧を上まわる信号が入つた周期において
は、他のカウンタの計数値をホールドさせ、その
周期においては、カウントアツプを停止させ、カ
ウンタより出力された欠陥信号をオア回路を介し
て、ホールド回路に入力して欠陥信号を出力させ
、この欠陥信号を重み付回路に入力させて、設定
条件が満足した比較器の基準電圧に相応する電圧
レベルにし、欠陥の大きさを出力電圧の大きさに
変換することを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8441590U JP2510394Y2 (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8441590U JP2510394Y2 (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0443261U true JPH0443261U (ja) | 1992-04-13 |
| JP2510394Y2 JP2510394Y2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=31632885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8441590U Expired - Lifetime JP2510394Y2 (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2510394Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-08-09 JP JP8441590U patent/JP2510394Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2510394Y2 (ja) | 1996-09-11 |
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