JPH0443316A - 磁気光学薄膜材料 - Google Patents
磁気光学薄膜材料Info
- Publication number
- JPH0443316A JPH0443316A JP15223790A JP15223790A JPH0443316A JP H0443316 A JPH0443316 A JP H0443316A JP 15223790 A JP15223790 A JP 15223790A JP 15223790 A JP15223790 A JP 15223790A JP H0443316 A JPH0443316 A JP H0443316A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- magneto
- amount
- magnetic anisotropy
- garnet
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の産業上利用分野)
本発明は磁気光学薄膜材料、さらに詳細には光アイソレ
ータなどの磁気光学素子に用いられる磁気光学材料にお
いて、磁気異方性の制御が可能であり、かつファラデー
効果が大きな材料に関するものである。
ータなどの磁気光学素子に用いられる磁気光学材料にお
いて、磁気異方性の制御が可能であり、かつファラデー
効果が大きな材料に関するものである。
(従来の技術)
光通信あるいは光情報処理などの高性能化に伴い、戻り
光によって誘起されるレーザ光源の不安定性や雑音の増
大を防止するために、ファラデー効果を利用したアイソ
レータなどの磁気光学素子が重要となっている。磁気光
学素子に用いられる材料に要求される主要な条件は、使
用される波長でファラデー効果が大きいこと、光の吸収
が小さいこと、素子の構造に応じた磁気特性を有するこ
となどである。近赤外線波長領域で使用される材料には
Y3Fes○】2あるいはGd5Fe5012などのガ
ーネット型結晶構造の材料が知られている。
光によって誘起されるレーザ光源の不安定性や雑音の増
大を防止するために、ファラデー効果を利用したアイソ
レータなどの磁気光学素子が重要となっている。磁気光
学素子に用いられる材料に要求される主要な条件は、使
用される波長でファラデー効果が大きいこと、光の吸収
が小さいこと、素子の構造に応じた磁気特性を有するこ
となどである。近赤外線波長領域で使用される材料には
Y3Fes○】2あるいはGd5Fe5012などのガ
ーネット型結晶構造の材料が知られている。
これらのガニネット材料のファラデー効果を大きくする
ためにはYあるいはGdの一部をBiで置換することが
行われている。このようなりi置換ガーネットは液相エ
ピタキシャル法などで作製されるが、この方法ではBi
置換量に限界があり、ファラデー効果の増大はこの置換
量によって制限される。また、磁気異方性を制御するた
めに各種の元素を置換するが、・これによりファラデー
効果は一般に低下する。
ためにはYあるいはGdの一部をBiで置換することが
行われている。このようなりi置換ガーネットは液相エ
ピタキシャル法などで作製されるが、この方法ではBi
置換量に限界があり、ファラデー効果の増大はこの置換
量によって制限される。また、磁気異方性を制御するた
めに各種の元素を置換するが、・これによりファラデー
効果は一般に低下する。
(発明が解決する問題点)
多量のBiを置換するために、最近ECRプラズマスパ
ッタ法、イオンビームスパッタ法あるいはrfマグネト
ロンスパッタ法で薄膜形成が行われ、YあるいはGdを
全てBiで置換したBi5Fe50t2エピタキシヤル
薄膜が得られている。この薄膜のファラデー回転係数は
1,55μmの波長において、Y3Fes○12の値よ
りも約20倍大きいことが示された。ところが、この薄
膜の磁気異方性は膜面に対して垂直方向を向いており、
導波路型素子のように垂直方向以外の磁気異方性が必要
な素子へ応用する場合に、磁気異方性を制御できない欠
点があった。
ッタ法、イオンビームスパッタ法あるいはrfマグネト
ロンスパッタ法で薄膜形成が行われ、YあるいはGdを
全てBiで置換したBi5Fe50t2エピタキシヤル
薄膜が得られている。この薄膜のファラデー回転係数は
1,55μmの波長において、Y3Fes○12の値よ
りも約20倍大きいことが示された。ところが、この薄
膜の磁気異方性は膜面に対して垂直方向を向いており、
導波路型素子のように垂直方向以外の磁気異方性が必要
な素子へ応用する場合に、磁気異方性を制御できない欠
点があった。
本発明は、上記のBi3Fe5O12薄膜の欠点を解決
したものであり、磁気異方性の制御が可能であり、かつ
ファラデー効果が大きな磁気光学薄膜材料を提供するこ
とを目的とする。
したものであり、磁気異方性の制御が可能であり、かつ
ファラデー効果が大きな磁気光学薄膜材料を提供するこ
とを目的とする。
(発明の概要)
本発明による磁気光学薄膜材料は上述の問題点を解決す
るため、 組成式Bi3−XCeXFe5Ot2で表されるガーネ
ット型結晶構造の化合物において、Ceの量Xが0くX
≦2の範囲にあることを特徴とする。
るため、 組成式Bi3−XCeXFe5Ot2で表されるガーネ
ット型結晶構造の化合物において、Ceの量Xが0くX
≦2の範囲にあることを特徴とする。
すなわち本発明は、Bi3−xcexFeso12で表
されるガーネット型結晶構造の化合物において、Ceの
量を変えることにより、磁気異方性の制御が可能であり
、がっファラデー効果が大きいという発見に基づいてお
り、Ce量XがoくX≦2の範囲にあることを特徴とし
ている。
されるガーネット型結晶構造の化合物において、Ceの
量を変えることにより、磁気異方性の制御が可能であり
、がっファラデー効果が大きいという発見に基づいてお
り、Ce量XがoくX≦2の範囲にあることを特徴とし
ている。
(発明の詳細な説明〉
スパッタ法で形成された単結晶ガーネット膜の一軸磁気
異方性の符号および大きさは主に応力と磁気ひずみに依
存する。
異方性の符号および大きさは主に応力と磁気ひずみに依
存する。
垂直磁気異方性定数(Ku)は磁気ひずみ(λ)、ヤン
グ率(E)、ポアソン比(μ)、および基板の格子定数
(a、)と薄膜の格子定数(ap)の差(Δa=as−
ap)の関数であり、K。
グ率(E)、ポアソン比(μ)、および基板の格子定数
(a、)と薄膜の格子定数(ap)の差(Δa=as−
ap)の関数であり、K。
−(3/2>[E/(1+μ)] (Δa / a p
)λで表される。これらのパラメータの中で格子定数
の差、および磁気ひずみは共に材料により正もしくは負
の値をとるなめ、これらの正負の組み合わせにより垂直
磁気異方性定数の正負が決定される。Bi 3−XCe
XFe5Ox2薄膜の格子定数は12.62人であり、
通常入手できるガーネット基板の格子定数が最大で12
.55人であるため格子定数差は−0.07より大きい
。このことから上記の関係式の−(3/2)[E/(1
+μ)](Δa/ap)の項は正、すなわち膜面に垂直
方向には張力が働き、垂直磁気異方性定数の符号は磁気
ひずみの符号のみに支配される。
)λで表される。これらのパラメータの中で格子定数
の差、および磁気ひずみは共に材料により正もしくは負
の値をとるなめ、これらの正負の組み合わせにより垂直
磁気異方性定数の正負が決定される。Bi 3−XCe
XFe5Ox2薄膜の格子定数は12.62人であり、
通常入手できるガーネット基板の格子定数が最大で12
.55人であるため格子定数差は−0.07より大きい
。このことから上記の関係式の−(3/2)[E/(1
+μ)](Δa/ap)の項は正、すなわち膜面に垂直
方向には張力が働き、垂直磁気異方性定数の符号は磁気
ひずみの符号のみに支配される。
Bi3Fes○12薄膜の磁気ひずみの符号は負である
ので、垂直磁気異方性定数は負であり、垂直磁気異方性
を示す。
ので、垂直磁気異方性定数は負であり、垂直磁気異方性
を示す。
この薄膜のBiの一部をCeで置換すると、置換量が増
加するとともに磁気ひずみは小さくなり、次に符号が負
から正に反転する。Ceを置換したFNiMの格子定数
は、B i 3Fe5012薄膜の場合と同様に、ガー
ネット基板の値よりも大きい。
加するとともに磁気ひずみは小さくなり、次に符号が負
から正に反転する。Ceを置換したFNiMの格子定数
は、B i 3Fe5012薄膜の場合と同様に、ガー
ネット基板の値よりも大きい。
これらのことから垂直磁気異方性定数の符号は負から正
に反転し、面内磁気異方性の成分が強くなる。
に反転し、面内磁気異方性の成分が強くなる。
一方、B i 3−XCexF e 5012のCe
JLXが2までの薄膜はガーネット単相であるが、それ
よりもCe量が多い薄膜にはガーネット相の池に異相が
混在する。異相が混在すると光吸収が大きくなるため、
薄膜は磁気光学材料として適さない。
JLXが2までの薄膜はガーネット単相であるが、それ
よりもCe量が多い薄膜にはガーネット相の池に異相が
混在する。異相が混在すると光吸収が大きくなるため、
薄膜は磁気光学材料として適さない。
このガーネット単相薄膜のファラデー回転係数は0.9
5〜1.6μmの波長領域において、Bi3Fes○1
2薄膜の値よりも大きいので、近赤外光領域で使用され
る磁気光学素子用の材料に適している。
5〜1.6μmの波長領域において、Bi3Fes○1
2薄膜の値よりも大きいので、近赤外光領域で使用され
る磁気光学素子用の材料に適している。
以上のことから磁気異方性の制御が可能であり、かつフ
ァラデー効果が大きな り13−xCexFesO12のガーネット薄膜におけ
るCe量はO<X≦2の範囲である。
ァラデー効果が大きな り13−xCexFesO12のガーネット薄膜におけ
るCe量はO<X≦2の範囲である。
(実施例)
Bi3−xCexFes012とBi2O3からなるセ
ラミックターゲットを用いたrfスパッタ法により、格
子定数が12.51人の Nd3Ga5012基板上に Bi3−xCexFes○12薄膜を形成した。このと
きの基板温度は500℃とした。
ラミックターゲットを用いたrfスパッタ法により、格
子定数が12.51人の Nd3Ga5012基板上に Bi3−xCexFes○12薄膜を形成した。このと
きの基板温度は500℃とした。
このようにして形成した薄膜のCe量、相状態、磁気ひ
ずみおよび1.55μmの波長におけるファラデー回転
係数を第1表に示す。試料N011はCeを含有しない
Bi3Fe5O12薄膜の比較例である。試料N092
.3.4および5はCe量を変えたときの本発明の実施
例であり、試料No、6は比較例である。
ずみおよび1.55μmの波長におけるファラデー回転
係数を第1表に示す。試料N011はCeを含有しない
Bi3Fe5O12薄膜の比較例である。試料N092
.3.4および5はCe量を変えたときの本発明の実施
例であり、試料No、6は比較例である。
試料NO12,3,4および5のCe量を含有する薄膜
はすべてガーネット単相である。これらの薄膜の格子定
数はすべて基板の格子定数よりも大きいことを確認した
。Ce量が0.2である試料No、2の薄膜の磁気ひず
みの符号は負である。
はすべてガーネット単相である。これらの薄膜の格子定
数はすべて基板の格子定数よりも大きいことを確認した
。Ce量が0.2である試料No、2の薄膜の磁気ひず
みの符号は負である。
それよりもCe量が多い試料No、3.4および5の薄
膜の磁気ひずみの符号は正であり、Ce量が多いほど磁
気ひずみの値は大きい。これらの各実施例の薄膜のファ
ラデー回転係数の符号は負であり、その値は試料N01
1のBi5FesOt2膜の値である一B200deg
/cmよりも大きい。試料N096のCe量Xが2.5
の薄膜では膜中にガーネット相以外の相が混在し、単相
ではない。
膜の磁気ひずみの符号は正であり、Ce量が多いほど磁
気ひずみの値は大きい。これらの各実施例の薄膜のファ
ラデー回転係数の符号は負であり、その値は試料N01
1のBi5FesOt2膜の値である一B200deg
/cmよりも大きい。試料N096のCe量Xが2.5
の薄膜では膜中にガーネット相以外の相が混在し、単相
ではない。
以上の各実施例および比較例から、
Bi3Fe5O12のBiに一部をCeで置換したB
13−xcexFeso12ガーネット薄膜におり)で
、Ce量によりひずみの符号および大きさが変わり、磁
気異方性の制御が可能であることを確認した。
13−xcexFeso12ガーネット薄膜におり)で
、Ce量によりひずみの符号および大きさが変わり、磁
気異方性の制御が可能であることを確認した。
また、ファラデー回転係数がBi5FesO12薄膜の
値よりも大きいことも確認した。これらの効果を得るた
めのCe量はO<X≦2が有効である。
値よりも大きいことも確認した。これらの効果を得るた
めのCe量はO<X≦2が有効である。
第1表
B 13−xcexFesot2薄膜におし)でCe量
を調節することにより、磁気異方性の制御が可能である
。またファラデー効果がBi3Fe5O12の効果より
も大きい。これらのことから本発明の磁気光学薄膜材料
は磁気異方性制御が必要な磁気光学素子用の材料として
有用性がある。
を調節することにより、磁気異方性の制御が可能である
。またファラデー効果がBi3Fe5O12の効果より
も大きい。これらのことから本発明の磁気光学薄膜材料
は磁気異方性制御が必要な磁気光学素子用の材料として
有用性がある。
拳:Bi>XCeXFe5O12
1.:光の波長1,55μm
Claims (1)
- (1)組成式Bi_3_−_XCe_XFe_5O_1
_2で表されるガーネット型結晶構造の化合物において
、Ceの量Xが0<X≦2の範囲にあることを特徴とす
る磁気光学薄膜材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15223790A JPH0443316A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 磁気光学薄膜材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15223790A JPH0443316A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 磁気光学薄膜材料 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0443316A true JPH0443316A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15536086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15223790A Pending JPH0443316A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 磁気光学薄膜材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0443316A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0644408A (ja) * | 1992-03-24 | 1994-02-18 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 手書き記号の認識方法 |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP15223790A patent/JPH0443316A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0644408A (ja) * | 1992-03-24 | 1994-02-18 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 手書き記号の認識方法 |
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