JPH0444772B2 - - Google Patents

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JPH0444772B2
JPH0444772B2 JP58076621A JP7662183A JPH0444772B2 JP H0444772 B2 JPH0444772 B2 JP H0444772B2 JP 58076621 A JP58076621 A JP 58076621A JP 7662183 A JP7662183 A JP 7662183A JP H0444772 B2 JPH0444772 B2 JP H0444772B2
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JP
Japan
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plant
process data
cause
storage device
reference value
Prior art date
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Application number
JP58076621A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS59201111A (en
Inventor
Naotaka Terashita
Morikazu Takegaki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS59201111A publication Critical patent/JPS59201111A/en
Publication of JPH0444772B2 publication Critical patent/JPH0444772B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0243Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults model based detection method, e.g. first-principles knowledge model

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、大規模プラントの運転信頼性、稼
動率の向上に寄与するために、プラントの異常事
象をオンライン・リアル・タイムで同定するプラ
ント診断装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a plant diagnosis device that identifies abnormal events in a plant online in real time in order to contribute to improving the operational reliability and availability of large-scale plants.

従来この種の装置として第1図に示すものがあ
つた。図において、1はプロセスデータを読み込
むためのデータ収集装置(例えば、アナログ・デ
イジタル変換器)、2はプロセスデータを基準値
と比較し、許容範囲内にあれば“0”、範囲外に
あれば“1”に変換するための演算処理装置1、
3は演算処理装置1、2が演算処理した結果を格
納しておく記憶装置1、4はプラントで生ずる各
種異常事象の伝搬シーケンスを論理式で記述した
原因結果ツリー(以下、CCTと記す)を記憶す
る記憶装置2,5は記憶装置1、3に記憶された
判定結果と記憶装置2、4に記憶されたCCTを
用いて異常の第1原因を同定し、その第1原因を
ブラウン管表示装置6に出力する診断処理装置で
ある。
A conventional device of this type is shown in FIG. In the figure, 1 is a data acquisition device (for example, an analog-to-digital converter) for reading process data, and 2 is a data collection device that compares the process data with a reference value. arithmetic processing device 1 for converting into “1”;
Storage devices 1 and 4 store cause-and-effect trees (hereinafter referred to as CCT) that describe the propagation sequences of various abnormal events that occur in the plant using logical expressions. The storage devices 2 and 5 identify the first cause of the abnormality using the judgment results stored in the storage devices 1 and 3 and the CCT stored in the storage devices 2 and 4, and display the first cause in the cathode ray tube display device. This is a diagnostic processing device that outputs data to 6.

次に動作について説明する。 Next, the operation will be explained.

プロセス・データをxi(i=1、2、…、N)
とする。xiはデータ収集装置1により量子化され
る。量子化されたデータxiを入力として演算処理
装置2は式に示す処理を施こし、その結果si
(i=1、2、…、N)及び事象発生時刻を記億
装置3に格納する。
process data x i (i=1, 2,...,N)
shall be. x i is quantized by the data acquisition device 1. Using the quantized data x i as input, the arithmetic processing unit 2 performs the processing shown in the formula, and as a result, s i
(i=1, 2, . . . , N) and the event occurrence time are stored in the memory device 3.

Si=O IF XL i≦Xi≦XU i Si=l IF Xi>XU iorXi<XL i (i=1、2、…、N) ここで、xL iは下限警報レベル、xL iは上限警報レ
ベルであり、式で演算される。
S i = O IF X L iX i X U i S i = l IF The lower limit alarm level, x L i is the upper limit alarm level, and is calculated by the formula.

XL i=XR i−σi XU i=XR i+σi ここで、σiは変動許容値、xR iはプロセスデータ
xiの基準値であり、各プロセスデータの性質によ
り、次の3種の方法から選択され演算される。
X L i =X R i −σ i X U i =X R ii where σ i is the variation tolerance and x R i is the process data
This is the reference value of x i , and is selected and calculated from the following three methods depending on the nature of each process data.

(A) 一定値 (B) タービン負荷、原子炉出力の関数 (C) 別のプロセスデータxj (A)は全負荷帯において一定値に制御されるプロ
セスデータに適用される。(B)は負荷によつて設定
値が変化するプロセスデータに適用される。第2
図にその代表例を示す。(C)は多重化された検出器
から得られるプロセデータや、診断対象の入力プ
ロセス信号に依存して変動する出力プロセス信号
に適用される。
(A) Constant value (B) Function of turbine load, reactor power (C) Separate process data x j (A) is applied to process data that is controlled to a constant value in the entire load range. (B) is applied to process data whose set values change depending on the load. Second
A typical example is shown in the figure. (C) is applied to process data obtained from multiplexed detectors and output process signals that vary depending on the input process signal to be diagnosed.

で得られたsiをxiのステータスと呼ぶ。また、
ステータスが1となつた時間を事象発生時刻と呼
ぶ。
The obtained s i is called the status of x i . Also,
The time when the status becomes 1 is called the event occurrence time.

CCT実行処理装置は記憶装置3と4からの情
報を基に診断処理装置5で行われる。外乱の第1
原因探索のため以下の処理が実施される。
The CCT execution processing device is executed by the diagnostic processing device 5 based on information from the storage devices 3 and 4. First disturbance
The following processing is performed to search for the cause.

まず多数のCCT群の中から検索すべきサブ
CCT部分を抽出するために記憶装置3に格納さ
れているエントリーノード(解析を始めるノード
としてあらかじめ指定)のうちステータスが変化
したものを検出し、そのノードから下位のノード
側への検索が始まる。そして最初のゲートか
ANDゲートかORゲートか調べる。次に記憶装置
3に書き込まれているプラント観測データである
そのゲートの各入力の状態及び事象発生装置の関
係が、記憶装置4に書き込まれているCCTモデ
ルと一致しているか調べる。ロジツクが成立して
いる場合、更に下位のノードへと展開するための
記憶装置4に格納されているCCTモデルに従つ
て次の検索すべきノードを決める。検索ノードの
順番は、エントリー・ノードから始めて、エント
リー・ノードに対して子供に当るノードを全て検
索したのち孫に当るノードを全て検索すると言う
順序である。
First, subs to be searched from a large number of CCT groups.
In order to extract the CCT portion, an entry node whose status has changed (designated in advance as a node to start analysis) stored in the storage device 3 is detected, and a search starts from that node to lower nodes. And the first gate?
Find out whether it is an AND gate or an OR gate. Next, it is checked whether the plant observation data written in the storage device 3, which is the state of each input of the gate and the relationship between the event generating devices, matches the CCT model written in the storage device 4. If the logic is established, the next node to be searched is determined according to the CCT model stored in the storage device 4 for expansion to lower nodes. The order of search nodes is to start with the entry node, search for all nodes that are children of the entry node, and then search for all nodes that are grandchildren of the entry node.

こうして順番に従つて、エントリー・ノードの
下方に接続されている各ゲート毎に、各ゲートの
入力側のノードの偽(不一致)、真(一致)を判
定し、真なブランチを継ぎあわせていく。そして
展開がプライマリー・ノードにまで達すると、こ
のエントリー・ノードのロジツクが成立し、原因
同定が成功したと判定する。
In this way, in order, for each gate connected below the entry node, it is determined whether the node on the input side of each gate is false (mismatch) or true (match), and the true branches are spliced together. . When the expansion reaches the primary node, the logic of this entry node is established, and it is determined that the cause has been successfully identified.

展開の途中でエントリー・ノードに対してカツ
ト・セツトがない事が判明した時はそこで診断を
打ち切る。
If it is found that there is no cut/set for the entry node during the expansion, the diagnosis is terminated at that point.

診断が打ち切られるか又は終了すれば、次のエ
ントリー・ノードからの解析が優先順位を考慮し
て実行される。
If the diagnosis is aborted or finished, analysis from the next entry node is performed taking priority into account.

原因同定が成功したエントリー・ノードに対し
ては、そのノードから上にロジツクをたどつてい
き、外乱の進行状態の解析を行なう。すなわち、
外乱が上位方向にどれだけ拡がつたかチエツク
し、更に外乱が拡がると仮定し最上位のアクテイ
ブ・ノードより上のノードがしばらく後に状態を
変えるかどうかを決めるためにチエツクする。従
つて、まずエントリー・ノードの直ぐ上のゲート
の種類を調べる。次にそのゲートの入力ステータ
スを調べ、その出力ステータスは現在はまだ
Falscであるが時間がたてばTrueとなるかどうか
検索する。
For entry nodes for which the cause has been successfully identified, the logic is traced upwards from that node, and the progress of the disturbance is analyzed. That is,
Check how far the disturbance has spread in the upper direction, and then assume that the disturbance has spread further and check to determine whether the nodes above the topmost active node will change state after some time. Therefore, first check the type of gate immediately above the entry node. It then examines the input status of that gate and its output status is currently
Search to see if it is Falsc but becomes True over time.

以上、原因同定及び予測処理により、外乱の発
生から将来の伝搬までをシーケンシヤルに表わす
ツリーが決定できる。
As described above, through the cause identification and prediction processing, it is possible to determine a tree that sequentially represents the disturbance from its occurrence to its future propagation.

この該当ツリーに接続されているメツセージ内
容及び変数をリストアツプする。そして、以下の
情報をブラウン管表示装置6にリストアツプす
る。
Restores the message contents and variables connected to this relevant tree. Then, the following information is restored on the cathode ray tube display device 6.

(1) 現在までに進行してきたツリー部に指定され
ているメツセージ (2) 近い将来アクテイブになるであろうメツセー
ジ (3) 今までの手順で求められたツリー部に関係し
ているので変数リスト 従来のプラント診断装置は、演算処理装置2に
おいて、プラントの静的な特性より求めた基準
値、あるいは制御系診断対象要素の入出力プロセ
ス信号の比較によりロジツク変換しているため、
プラントの過渡時には、プラントの動特性の持つ
遅れや各要素の遅れなどにより、一時的にステー
タスが生起され、誤診断するなどの欠点があつ
た。
(1) Messages specified in the tree part that has progressed up to now (2) Messages that will become active in the near future (3) Variable list as they are related to the tree part obtained in the previous steps In conventional plant diagnosis devices, logic conversion is performed in the arithmetic processing unit 2 by comparing reference values determined from static characteristics of the plant or input/output process signals of control system diagnosis target elements.
During a plant transition, a temporary status is generated due to delays in the plant's dynamic characteristics and delays in each element, resulting in a drawback such as misdiagnosis.

この発明は上記のような従来のものの欠点を除
去するためになされたもので、演算処理装置2に
入る信号のうち、プライマリーノードに割り当て
られるプロセスデータを、プラントの動特性モデ
ルを用いて演算された基準値と比較してロジツク
変換する装置を付加することにより、プラントの
すべての運転モードに対しても誤診断することの
ないプラント診断装置を提供することを目的とし
ている。
This invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional system. Among the signals that enter the processing unit 2, the process data assigned to the primary node is calculated using a dynamic characteristic model of the plant. It is an object of the present invention to provide a plant diagnosis device that does not make a false diagnosis even in all operating modes of the plant by adding a device that performs logic conversion by comparing the plant with a reference value.

以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第3図において、7はデータ収集装置1によ
り読み込まれたプロセスデータxiを入力し、その
プロセスデータxiと基準値を比較することにより
そのプロセスデータxiが許容範囲内にあるか否か
を判定すべく、その基準値をプラントにおける各
診断対象機器の動特性モデルを用いて演算する演
算処理装置である。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 3, 7 inputs the process data x i read by the data collection device 1, and compares the process data x i with a reference value to determine whether the process data x i is within the allowable range. This is an arithmetic processing device that calculates the reference value using a dynamic characteristic model of each device to be diagnosed in the plant in order to determine the condition.

プロセスデータxiはデータ収集装置1により量
子化される。量子化されたデータxiのうち、図2
の基準値との比較によつて正確な診断を行うこと
ができる機器(プラントの過渡時等の影響を受け
ない機器)に関するプロセスデータXiは従来通
り演算処理装置2に入力させ、動特性モデルを用
いて演算した基準と比較しなければ正確な診断を
行うことができない機器に関するプロセスデータ
Xiは演算処理装置7に入力させる。
The process data x i is quantized by the data acquisition device 1 . Of the quantized data x i , Figure 2
The process data Xi related to equipment (equipment that is not affected by plant transients, etc.) that can be accurately diagnosed by comparison with the reference value of Process data related to equipment that cannot be accurately diagnosed unless compared to standards calculated using
Xi is input to the arithmetic processing unit 7.

演算処理装置7では、プラントの動特性モデル
を用いて基準値を計算し、ロジツク変換する。以
下に診断対象としてフイルター、コントローラ
ー、弁の各要素に対する演算例を示す。
The arithmetic processing unit 7 calculates a reference value using a plant dynamic characteristic model and performs logic conversion. Examples of calculations for each element of the filter, controller, and valve as diagnostic targets are shown below.

(A) フイルター フイルターの動特性は次の式で表わされる。(A) Filter The dynamic characteristics of the filter are expressed by the following equation.

y^f(k)=y^f(k-1)=△t/Tf(Uf(k-1) −y^f(k-1)) ここで、△tは時間きざみ、Tfは時定数、
y^f(k)はフイルターの出力推定値、Ufはフイルタ
ーに入力されるプラントデータ、kは時間ステ
ツプである。フイルターが正常であれば、y^f(k)
はフイルターの出力信号値yf(k)を模擬する。
で演算されたy^f(k)はフイルターの出力信号値
yf(k)の基準値として用い、式によりロジツク
変換する。
y^ f(k) = y^ f(k-1) = △t/T f (U f(k-1) −y^ f(k-1) ) Here, △t is the time step, T f is the time constant,
y^ f(k) is the output estimate of the filter, U f is the plant data input to the filter, and k is the time step. If the filter is normal, y^ f(k)
simulates the filter output signal value y f(k) .
y^ f(k) calculated by is the output signal value of the filter
Use it as a reference value for y f(k) and perform logic conversion using the formula.

XL yf(k)=y^f(k)−σyf XU yf(k)=y^f(k)−σyf Syf(k)=O IF XL yf(k)yf(k)XU yf(k) Syf(k)=l IF yf(k)>XU yf(k)oryf(k)<XL yf(k) ここで、Syfはフイルタの出力信号に対応す
るステータス、σyfは変動許容量である。
X L yf(k) =y^ f(k) −σ yf X U yf(k) =y^ f(k) −σ yf S yf(k) =O IF X L yf(k) y f(k ) X U yf( k ) S yf(k) = l IF y f(k) >X U yf(k) ory f (k) < The corresponding status, σ yf , is the variation tolerance.

(B) コントローラー(比例・積分制御器) コントローラーの動特性は次の式で表わされ
る。
(B) Controller (proportional/integral controller) The dynamic characteristics of the controller are expressed by the following formula.

y^c(k)=y^c(k-1)+kc(1+△t/Tc)uc(k) −kcuc(k-1) ここで、kcは比例ゲイン、Tcは積分時定数、
y^c(k)はコントローラの出力推定値、ucは制御器
に入力されるプラントデータ、kは時間ステツ
プである。で演算されたy^c(k)はコントローラ
の出力信号値yc(k)の基準値として用い、式に
よりロジツク変換する。
y^ c(k) =y^ c(k-1) +k c (1+△t/T c )u c(k) −k c u c(k-1) Here, k c is the proportional gain, T c is the integral time constant,
y^ c(k) is the estimated output value of the controller, u c is the plant data input to the controller, and k is the time step. The calculated y^ c(k) is used as a reference value for the output signal value y c(k) of the controller, and is subjected to logic conversion using the formula.

XL yc(k)=y^c(k)−σyc XU yc(k)=y^c(k)−σyc Syc(k)=O IF XL yc(k)yc(k)XU yc(k) Syc(k)=l IF yc(k)>XU yc(k)oryc(k)<XL yc(k) ここで、Sycはコントローラ出力信号に対応
するステータス、σycは変動許容量である。
X L yc(k) =y^ c(k) −σ yc X U yc(k) =y^ c(k) −σ yc S yc(k) =O IF X L yc(k) y c(k ) X U yc ( k ) S yc ( k) = l IF y c(k) > status, σ yc is the variation tolerance.

(C) 弁 弁の動特性は一般に一次遅れ要素と非線形要
素により近似できる。
(C) Valve The dynamic characteristics of a valve can generally be approximated by a first-order lag element and a nonlinear element.

z^v(k)=z^v(k-1)+△t/Tv(uv(k-1)−x^v(k-1)) z^v(k)=F(z^v(k)) ここで、Tvは遅れ時定数、y^v(k)は弁開度の推定
値、uv(k)は弁を駆動する制御器の信号、Fは非線
形関数である。で演算されたy^v(k)は弁開度yv(k)
の基準値として用い、ロジツク変換する XL yv(k)=y^v(k)−σyv XU yv(k)=y^v(k)−σyv Syv(k)=O IF XL yv(k)yv(k)XU yv(k) Syv(k)=l IF yv(k)>XU yv(k)oryv(k)<XL yf(k) ロジツク変換されるステータスは、記憶装置3
に格納される。CCTの実行処理は従来と同様の
方式で実行される。
z^ v(k) =z^ v(k-1) +△t/T v (u v(k-1) −x^ v(k-1) ) z^ v(k) = F(z^ v(k) ) Here, T v is the delay time constant, y^ v(k) is the estimated value of the valve opening, u v(k) is the signal of the controller that drives the valve, and F is the nonlinear function. . y^ v(k) calculated by is the valve opening y v(k)
X L yv(k) = y^ v(k) −σ yv X U yv( k) = y^ v(k) −σ yv S yv(k) =O IF X L yv ( k ) y v ( k ) _ _ The status shown is the storage device 3.
is stored in CCT execution processing is performed in the same manner as before.

上記実施例では、演算処理装置7の演算とし
て、フイルター、コントローラ、弁について説明
したが、プラント主機(たとえば、蒸気発生器)
の動特性モデル等も含めれば多重化されない検出
器のステータス演算も同様の論理で演算できる。
In the above embodiment, filters, controllers, and valves were explained as calculations by the processing unit 7, but plant main engines (for example, steam generators)
If a dynamic characteristic model, etc., are also included, the status calculations for non-multiplexed detectors can be performed using the same logic.

以上のように、この発明によればデータ収集装
置により読み込まれたプロセスデータを入力し、
そのプロセスデータと基準値を比較することによ
り、そのプロセスデータが許容範囲内にあるか否
かを判定すべく、この基準値をプラントにおける
各診断対象機器の動特性モデルを用いて演算する
演算処理装置を設けたので、プラントの状態に応
じて適切な基準値を設定でき、その結果として、
プラントの過渡時における誤診断を防止すること
ができるとともに、プラントの過渡時等を考慮し
た場合、従来は各プラントの状態ごとに原因結果
ツリーを作成する必要があつたが、動特性モデル
を用いて基準値を演算するようにしたため、一種
類の原因結果ツリーを作成するだけで各プラント
の状態に対応できるようになるなどの効果があ
る。
As described above, according to the present invention, process data read by a data collection device is input,
A calculation process that calculates the standard value using a dynamic characteristic model of each equipment to be diagnosed in the plant in order to determine whether the process data is within the allowable range by comparing the process data with the standard value. Since the equipment was installed, appropriate standard values could be set according to the plant status, and as a result,
It is possible to prevent misdiagnosis during plant transients, and when considering plant transients, it was previously necessary to create a cause-and-effect tree for each plant state, but this method uses a dynamic characteristic model. Since the reference value is calculated based on the system, it is possible to respond to the condition of each plant by simply creating one type of cause-and-effect tree.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のプラント診断装置を示すブロツ
ク図、第2図は従来の演算装置2の基準値の関数
例を示す図、第3図はこの発明によるプラント診
断装置の一実施例を示すブロツク図。 図において、1はデータ収集装置、2は第1の
演算処理装置、3は第1の記憶装置、4は第2の
記憶装置、5は診断処理装置、6はブラウン管表
示装置、7は本発明の動特性モデルを付加したス
テータス演算処理装置である。なお、同図中一符
号は同一又相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing a conventional plant diagnostic device, FIG. 2 is a diagram showing an example of a reference value function of a conventional arithmetic unit 2, and FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of the plant diagnostic device according to the present invention. figure. In the figure, 1 is a data collection device, 2 is a first arithmetic processing device, 3 is a first storage device, 4 is a second storage device, 5 is a diagnostic processing device, 6 is a cathode ray tube display device, and 7 is the present invention. This is a status arithmetic processing device with a dynamic characteristic model added. In addition, one reference numeral in the figure indicates the same or corresponding part.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 プロセスデータを読み込むデータ収集装置
と、上記データ収集装置により読み込まれたプロ
セスデータを入力し、そのプロセスデータと基準
値を比較することによりそのプロセスデータが許
容範囲内にあるか否かを判定すべく、その基準値
をプラントにおける各診断対象機器の動特性モデ
ルを用いて演算する演算処理装置と、上記演算処
理装置の判定結果を記憶する第1の記憶装置と、
上記プラントで生ずる各種異常事象の伝搬シーケ
ンスを論理式で記述した原因結果ツリーを記憶す
る第2の記憶装置と、上記第1の記憶装置に記憶
された判定結果と上記第2の記憶装置に記憶され
た原因結果ツリーを用いて異常の第1原因を同定
し、その第1原因を表示装置に出力する診断処理
装置とを備えたプラント診断装置。
1 A data collection device that reads process data is input, and the process data read by the data collection device is input, and it is determined whether the process data is within an allowable range by comparing the process data with a reference value. an arithmetic processing device that calculates the reference value using a dynamic characteristic model of each device to be diagnosed in the plant; a first storage device that stores the determination result of the arithmetic processing device;
a second storage device that stores a cause-and-effect tree that describes the propagation sequence of various abnormal events that occur in the plant using logical formulas; and a judgment result stored in the first storage device and a second storage device that stores the determination result stored in the first storage device. 1. A plant diagnostic device comprising: a diagnostic processing device that identifies a first cause of an abnormality using a cause-and-effect tree created by the operator, and outputs the first cause to a display device.
JP58076621A 1983-04-28 1983-04-28 Plant diagnosing device Granted JPS59201111A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58076621A JPS59201111A (en) 1983-04-28 1983-04-28 Plant diagnosing device

Applications Claiming Priority (1)

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JP58076621A JPS59201111A (en) 1983-04-28 1983-04-28 Plant diagnosing device

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Publication Number Publication Date
JPS59201111A JPS59201111A (en) 1984-11-14
JPH0444772B2 true JPH0444772B2 (en) 1992-07-22

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ID=13610416

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JP58076621A Granted JPS59201111A (en) 1983-04-28 1983-04-28 Plant diagnosing device

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JPS59201111A (en) 1984-11-14

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