JPH0445089B2 - - Google Patents
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- JPH0445089B2 JPH0445089B2 JP25446585A JP25446585A JPH0445089B2 JP H0445089 B2 JPH0445089 B2 JP H0445089B2 JP 25446585 A JP25446585 A JP 25446585A JP 25446585 A JP25446585 A JP 25446585A JP H0445089 B2 JPH0445089 B2 JP H0445089B2
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- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体磁気抵抗素子を用いた回転検
出装置に関し、例えば電気角で90゜の位相差を持
つた主信号を副信号を同時に出力しうるようにし
た回転検出装置に関する。
出装置に関し、例えば電気角で90゜の位相差を持
つた主信号を副信号を同時に出力しうるようにし
た回転検出装置に関する。
従来、この種の二相式回転検出装置は、磁性材
料からなる歯車と、永久磁石に設けられ、歯車の
回転方向に対して後述する(1)式の関係をもつて所
定寸法離間させて歯形と対向配設された2個一対
の磁気抵抗素子からなる第1、第2の検出手段
と、該各検出手段から出力される検出信号のスレ
ツシユホールドレベルを設定する第1、第2のス
レツシユホールドレベル設定手段とを備え、前記
第1、第2の検出手段間の離間寸法は後述する(2)
式の関係に設定され、かつ前記第1、第2の検出
手段は一対の磁気抵抗素子が直列接続されて中間
位置が出力端子をなすと共に、電圧を印加する端
子間に並列に接続する構成となつている。そし
て、歯車が回転するとき、歯先と対向する磁気抵
抗素子の抵抗値が大となり、歯底ないし歯溝と対
向する磁気抵抗素子の抵抗値が小となることを利
用し、各検出手段の磁気抵抗素子を直列接続して
電圧を印加し、該各検出手段から正弦波に近い出
力電圧を導出する。そして、この出力電圧を波形
整形してパルス状の主信号と副信号とするため、
各スレツシユホールドレベル設定手段によつてス
レツシユホールドレベルを基準電圧として設定
し、第1、第2の検出手段からの出力電圧と当該
基準電圧とをそれぞれ各比較手段に入力するよう
に構成されている。
料からなる歯車と、永久磁石に設けられ、歯車の
回転方向に対して後述する(1)式の関係をもつて所
定寸法離間させて歯形と対向配設された2個一対
の磁気抵抗素子からなる第1、第2の検出手段
と、該各検出手段から出力される検出信号のスレ
ツシユホールドレベルを設定する第1、第2のス
レツシユホールドレベル設定手段とを備え、前記
第1、第2の検出手段間の離間寸法は後述する(2)
式の関係に設定され、かつ前記第1、第2の検出
手段は一対の磁気抵抗素子が直列接続されて中間
位置が出力端子をなすと共に、電圧を印加する端
子間に並列に接続する構成となつている。そし
て、歯車が回転するとき、歯先と対向する磁気抵
抗素子の抵抗値が大となり、歯底ないし歯溝と対
向する磁気抵抗素子の抵抗値が小となることを利
用し、各検出手段の磁気抵抗素子を直列接続して
電圧を印加し、該各検出手段から正弦波に近い出
力電圧を導出する。そして、この出力電圧を波形
整形してパルス状の主信号と副信号とするため、
各スレツシユホールドレベル設定手段によつてス
レツシユホールドレベルを基準電圧として設定
し、第1、第2の検出手段からの出力電圧と当該
基準電圧とをそれぞれ各比較手段に入力するよう
に構成されている。
ところで、従来技術によるものは、各スレツシ
ユホールドレベル設定手段によるスレツシユホー
ルドレベルを、常温下での各検出手段の直流電圧
レベルを基準として設定しているのが殆んどであ
る。ここで、前記直流電圧レベルとは、各検出手
段から出力される出力電圧の電圧振幅の中心とな
る電圧、即ち全振幅電圧の中間電圧をいう。
ユホールドレベル設定手段によるスレツシユホー
ルドレベルを、常温下での各検出手段の直流電圧
レベルを基準として設定しているのが殆んどであ
る。ここで、前記直流電圧レベルとは、各検出手
段から出力される出力電圧の電圧振幅の中心とな
る電圧、即ち全振幅電圧の中間電圧をいう。
然るに、磁気抵抗素子はその特性として、低温
時の振幅特性に比較して高温時に振幅特性が小さ
くなる。また、歯車に対する磁気抵抗素子の取付
角度等の関係から磁束との交叉量が磁気抵抗素子
毎に異なり、歯車の回転方向に対して前側に位置
する第1の検出手段ではその直流電圧レベルは入
力電圧の平均電圧より高くなる傾向にあり、歯車
の回転方向に対して後側に位置する第2の検出手
段では逆にその直流電圧レベルは平均電圧より低
くなる傾向にある。
時の振幅特性に比較して高温時に振幅特性が小さ
くなる。また、歯車に対する磁気抵抗素子の取付
角度等の関係から磁束との交叉量が磁気抵抗素子
毎に異なり、歯車の回転方向に対して前側に位置
する第1の検出手段ではその直流電圧レベルは入
力電圧の平均電圧より高くなる傾向にあり、歯車
の回転方向に対して後側に位置する第2の検出手
段では逆にその直流電圧レベルは平均電圧より低
くなる傾向にある。
この結果、スレツシユホールドレベルを常温下
での各検出手段の直流電圧レベルとして設定した
のでは、外気温度の変化によつて比較手段から出
力されるパルス信号のパルス幅が変化してしま
い、パルスデユーテイが変動することとなつて、
高精度な回転検出ができないという問題点があつ
た。
での各検出手段の直流電圧レベルとして設定した
のでは、外気温度の変化によつて比較手段から出
力されるパルス信号のパルス幅が変化してしま
い、パルスデユーテイが変動することとなつて、
高精度な回転検出ができないという問題点があつ
た。
本発明はこのような従来技術の問題点に鑑みな
されたもので、磁気抵抗素子の温度特性を補正
し、低温時から高温時まで広範囲にわたつて高精
度な回転検出を可能とした回転検出装置を提供す
ることにある。
されたもので、磁気抵抗素子の温度特性を補正
し、低温時から高温時まで広範囲にわたつて高精
度な回転検出を可能とした回転検出装置を提供す
ることにある。
上記問題点を解決するために、本発明による回
転検出装置は、磁性材料からなる歯車と、永久磁
石に設けられ、歯車の回転方向に対し当該歯車の
歯形のピツチPの1/2の距離に離間して歯形と対
向配設された2個一対の磁気抵抗素子からなる第
1、第2の検出手段と、該各検出手段から出力さ
れる検出信号のスレツシユホールドレベルを設定
する第1、第2のスレツシユホールドレベル設定
手段とを備え、前記第1、第2の検出手段間の離
間寸法Wは、歯車の回転方向に対して歯形のピツ
チPに対して、 W=2n−1/4×P ただし、nは整数 に設定され、かつ前記第1、第2の検出手段は一
対の磁気抵抗素子が直列接続されて中間位置が出
力端子をなすと共に、電圧を印加する端子間に並
列に接続するようになつている。
転検出装置は、磁性材料からなる歯車と、永久磁
石に設けられ、歯車の回転方向に対し当該歯車の
歯形のピツチPの1/2の距離に離間して歯形と対
向配設された2個一対の磁気抵抗素子からなる第
1、第2の検出手段と、該各検出手段から出力さ
れる検出信号のスレツシユホールドレベルを設定
する第1、第2のスレツシユホールドレベル設定
手段とを備え、前記第1、第2の検出手段間の離
間寸法Wは、歯車の回転方向に対して歯形のピツ
チPに対して、 W=2n−1/4×P ただし、nは整数 に設定され、かつ前記第1、第2の検出手段は一
対の磁気抵抗素子が直列接続されて中間位置が出
力端子をなすと共に、電圧を印加する端子間に並
列に接続するようになつている。
そして、本発明が採用する構成の特徴は、前記
第1のスレツシユホールドレベル設定手段による
常温時のスレツシユホールドレベルを、前記第1
の検出手段による検出信号の直流電圧レベルより
低く設定し、第2のスレツシユホールドレベル設
定手段による常温時のスレツシユホールドレベル
を、前記第2の検出手段による検出信号の直流電
圧レベルよりも高く設定したことにある。
第1のスレツシユホールドレベル設定手段による
常温時のスレツシユホールドレベルを、前記第1
の検出手段による検出信号の直流電圧レベルより
低く設定し、第2のスレツシユホールドレベル設
定手段による常温時のスレツシユホールドレベル
を、前記第2の検出手段による検出信号の直流電
圧レベルよりも高く設定したことにある。
このように構成することにより、歯車が回転す
るとき、第1、第2の検出手段からは印加電圧の
1/2をほぼ中心とした正弦波に近い出力電圧をも
つた検出信号を出力する。この際、第1、第2の
検出手段を構成する磁気抵抗素子は、その特性と
して、低温時の振幅特性に比較して高温時の振幅
特性が小さくなり、一方歯車の回転方向に対して
前側に位置する第1の検出手段ではその直流電圧
レベルは入力電圧の平均電圧より高くなる傾向に
あり、歯車の回転方向に対して後側に位置する第
2の検出手段では逆にその直流電圧レベルは平均
電圧より低くなる傾向にある。
るとき、第1、第2の検出手段からは印加電圧の
1/2をほぼ中心とした正弦波に近い出力電圧をも
つた検出信号を出力する。この際、第1、第2の
検出手段を構成する磁気抵抗素子は、その特性と
して、低温時の振幅特性に比較して高温時の振幅
特性が小さくなり、一方歯車の回転方向に対して
前側に位置する第1の検出手段ではその直流電圧
レベルは入力電圧の平均電圧より高くなる傾向に
あり、歯車の回転方向に対して後側に位置する第
2の検出手段では逆にその直流電圧レベルは平均
電圧より低くなる傾向にある。
然るに、第1のスレツシユホールドレベル設定
手段による常温時のスレツシユホールドレベル
を、第1の検出手段による検出信号の直流電圧レ
ベルより低く設定し、第2のスレツシユホールド
レベル設定手段による常温時のスレツシユホール
ドレベルを、第2の検出手段による検出信号の直
流電圧レベルよりも高く設定したから、第1、第
2の検出手段から高温時に出力される検出信号と
低温時に出力される検出信号との間で、パルス波
に変換した後のパルス幅の変動を小さくすること
ができ、温度変化の影響をなくすことが可能とな
る。
手段による常温時のスレツシユホールドレベル
を、第1の検出手段による検出信号の直流電圧レ
ベルより低く設定し、第2のスレツシユホールド
レベル設定手段による常温時のスレツシユホール
ドレベルを、第2の検出手段による検出信号の直
流電圧レベルよりも高く設定したから、第1、第
2の検出手段から高温時に出力される検出信号と
低温時に出力される検出信号との間で、パルス波
に変換した後のパルス幅の変動を小さくすること
ができ、温度変化の影響をなくすことが可能とな
る。
以下、本発明の実施例を第1図ないし第10図
に基づいて詳細に述べる。
に基づいて詳細に述べる。
第1図ないし第8図は本発明の第1の実施例を
示し、第1図、第2図において、1はインボリユ
ート歯車からなる歯車で、該歯車1は歯数Zの歯
形1A,1A,…を有している。2は本実施例に
よる回転センサで、該回転センサ2は磁気バイア
スを与える永久磁石3と、該永久磁石3のN極側
着磁面に所定の寸法W1をもつて歯形1Aと対向
配設された第1、第2の検出部4,5とから構成
されている。ここで、各検出部4,5はそれぞれ
2個の磁気抵抗素子4Aと4B,5Aと5Bから
構成され、磁気抵抗素子4Aと4Bの間、5Aと
5Bの間は後述の所定の寸法lだけ離間し、かつ
これは歯車1の回転方向Rに対し4A→4B→5
A→5Bの順序で取付けられている。
示し、第1図、第2図において、1はインボリユ
ート歯車からなる歯車で、該歯車1は歯数Zの歯
形1A,1A,…を有している。2は本実施例に
よる回転センサで、該回転センサ2は磁気バイア
スを与える永久磁石3と、該永久磁石3のN極側
着磁面に所定の寸法W1をもつて歯形1Aと対向
配設された第1、第2の検出部4,5とから構成
されている。ここで、各検出部4,5はそれぞれ
2個の磁気抵抗素子4Aと4B,5Aと5Bから
構成され、磁気抵抗素子4Aと4Bの間、5Aと
5Bの間は後述の所定の寸法lだけ離間し、かつ
これは歯車1の回転方向Rに対し4A→4B→5
A→5Bの順序で取付けられている。
そして、歯車1のピツチ円でのピツチ(歯先円
でのピツチでもよい)をPとすると、各検出部
4,5からの出力電圧が最大出力となるために
は、磁気抵抗素子4Aと4B間、5Aと5B間の
離間寸法lは、下記(1)式に設定される。
でのピツチでもよい)をPとすると、各検出部
4,5からの出力電圧が最大出力となるために
は、磁気抵抗素子4Aと4B間、5Aと5B間の
離間寸法lは、下記(1)式に設定される。
l=P/2 ……(1)
また、各検出部4,5からの出力電圧がπ/2
の位相差をもつようにするには、該各検出部4,
5間の離間寸法Wを、1/4×P、3/4×P、
5/4×P、…のように設定すればよいもので、
一般式としては、下記(2)式によつて設定される。
の位相差をもつようにするには、該各検出部4,
5間の離間寸法Wを、1/4×P、3/4×P、
5/4×P、…のように設定すればよいもので、
一般式としては、下記(2)式によつて設定される。
W=2n−1/4×P ……(2)
ただし、nは整数
そして、第1図に示す本実施例では、(2)式にお
いてn=2の場合で、各検出部4,5間の離間寸
法W1は W1=3/4×P ……(2)′ に設定されている。
いてn=2の場合で、各検出部4,5間の離間寸
法W1は W1=3/4×P ……(2)′ に設定されている。
次に、各検出部4,5は第2図、第3図に示す
如く、各磁気抵抗素子4Aと4B、5Aと5Bが
直列接続されると共に、当該直列接続が電源端子
6、アース端子7間に並列に接続されて、電源端
子6から入力電圧Vinが印加されている。この結
果、磁気抵抗素子4Aと4B間、5Aと5B間の
出力端子8,9から出力電圧Vout4,Vout5が
第4図に示すように90゜の位相差をもつて出力さ
れるようになつている。
如く、各磁気抵抗素子4Aと4B、5Aと5Bが
直列接続されると共に、当該直列接続が電源端子
6、アース端子7間に並列に接続されて、電源端
子6から入力電圧Vinが印加されている。この結
果、磁気抵抗素子4Aと4B間、5Aと5B間の
出力端子8,9から出力電圧Vout4,Vout5が
第4図に示すように90゜の位相差をもつて出力さ
れるようになつている。
然るに、各磁気抵抗素子4A,4B,5A,5
Bは温度が上昇すれば素子感度が低下するという
特質から、出力電圧Vout4,Vout5ピークとピ
ーク間の全振幅電圧V0(第4図参照)は、第5図
に示す如く高温になるほど全振幅が小さくなるよ
うな温度特性を有している。
Bは温度が上昇すれば素子感度が低下するという
特質から、出力電圧Vout4,Vout5ピークとピ
ーク間の全振幅電圧V0(第4図参照)は、第5図
に示す如く高温になるほど全振幅が小さくなるよ
うな温度特性を有している。
一方、第1図に示すような歯車1を回転センサ
2との関係においては、中央の磁気抵抗素子4
A,5Aは歯形1Aとほぼ直角に対面するから、
磁束の交叉量が多くなるが、図中上、下の磁気抵
抗素子4A,5Bは歯形1Aと斜めに対向するか
ら、磁束の交叉量が少ない。この結果、出力電圧
Vout4,Vout5の直流電圧レベル(出力電圧の
電圧振幅の中心となる電圧)Vout4DC,Vout5D
Cは第6図に示すような温度特性を示す。即ち、
第1の検出部4の直流電圧レベルVout4DCは、
電源端子6に印加される入力電圧Vinの平均電圧
Vin/2よりも若干高く、高温ぼど電圧が低下する 特性を有し、第2の検出部5の直流電圧レベル
Vout5DCは、逆に入力電圧Vinの平均電圧Vin/2よ りも若干低く、高温ほど電圧が高くなる特性を有
する。
2との関係においては、中央の磁気抵抗素子4
A,5Aは歯形1Aとほぼ直角に対面するから、
磁束の交叉量が多くなるが、図中上、下の磁気抵
抗素子4A,5Bは歯形1Aと斜めに対向するか
ら、磁束の交叉量が少ない。この結果、出力電圧
Vout4,Vout5の直流電圧レベル(出力電圧の
電圧振幅の中心となる電圧)Vout4DC,Vout5D
Cは第6図に示すような温度特性を示す。即ち、
第1の検出部4の直流電圧レベルVout4DCは、
電源端子6に印加される入力電圧Vinの平均電圧
Vin/2よりも若干高く、高温ぼど電圧が低下する 特性を有し、第2の検出部5の直流電圧レベル
Vout5DCは、逆に入力電圧Vinの平均電圧Vin/2よ りも若干低く、高温ほど電圧が高くなる特性を有
する。
従つて、常温(または室温)における直流電圧
レベルVout4DC,Vout5DCを基準としてスレツ
シユホールドレベルを設定し、出力電圧Vout4,
Vout5と比較すると、高温側または低温側では
大きなずれが生じ、適切な信号処理を行なうこと
ができない。
レベルVout4DC,Vout5DCを基準としてスレツ
シユホールドレベルを設定し、出力電圧Vout4,
Vout5と比較すると、高温側または低温側では
大きなずれが生じ、適切な信号処理を行なうこと
ができない。
そこで、本実施例では第7図に示す信号処理回
路が用いられる。
路が用いられる。
即ち、第7図において、10、11は第1、第
2のスレツシユホールドレベル設定回路で、該各
スレツシユホールドレベル設定回路10,11は
抵抗R1とR2、R3とR4からなる直列接続を電源端
子6、アース端子7間にそれぞれ挿入することに
よつて構成され、第1のスレツシユホールドレベ
ル設定回路10では抵抗R1、R2間の出力端子1
2から後述する所定の設定電圧VT10を出力し、第
2のスレツシユホールドレベル設定回路11では
抵抗R3、R4間の出力端子13から後述する所定
の設定電圧VT11を出力する。
2のスレツシユホールドレベル設定回路で、該各
スレツシユホールドレベル設定回路10,11は
抵抗R1とR2、R3とR4からなる直列接続を電源端
子6、アース端子7間にそれぞれ挿入することに
よつて構成され、第1のスレツシユホールドレベ
ル設定回路10では抵抗R1、R2間の出力端子1
2から後述する所定の設定電圧VT10を出力し、第
2のスレツシユホールドレベル設定回路11では
抵抗R3、R4間の出力端子13から後述する所定
の設定電圧VT11を出力する。
ここで、第1のスレツシユホールドレベル設定
回路10側では、常温時の設定電圧VT10は検出部
4の直流電圧レベルVout4DCに対し、 VT10<Vout4DC ……(3) の関係におかれる。即ち、常温時は両者を第8図
aに示す関係におく。
回路10側では、常温時の設定電圧VT10は検出部
4の直流電圧レベルVout4DCに対し、 VT10<Vout4DC ……(3) の関係におかれる。即ち、常温時は両者を第8図
aに示す関係におく。
一方、第2のスレツシユホールドレベル設金回
路11側では、常温時の設定電圧VT11は検出部5
の直流電圧レベルVout5DCに対し、 VT11>Vout5DC ……(4) の関係におかれる。即ち、常温時は両者を第8図
bの関係におく。
路11側では、常温時の設定電圧VT11は検出部5
の直流電圧レベルVout5DCに対し、 VT11>Vout5DC ……(4) の関係におかれる。即ち、常温時は両者を第8図
bの関係におく。
さらに、14、15は例えばオペアンプからな
る第1、第2の比較回路で、第1の比較回路14
は非反転入力端子側が出力端子8と、反転入力端
子側が出力端子12とそれぞれ接続され、出力電
圧Vout4のレベルが設定電圧VT10より高いとき、
出力側から主信号をパルスとして出力する。一
方、第2の比較回路15も非反転入力端子側が出
力端子9と、反転入力端子側が出力端子13とそ
れぞれ接続され、出力電圧Vout5のレベルが設
定電圧VT11より高いとき、出力側から副信号をパ
ルスとして出力する。
る第1、第2の比較回路で、第1の比較回路14
は非反転入力端子側が出力端子8と、反転入力端
子側が出力端子12とそれぞれ接続され、出力電
圧Vout4のレベルが設定電圧VT10より高いとき、
出力側から主信号をパルスとして出力する。一
方、第2の比較回路15も非反転入力端子側が出
力端子9と、反転入力端子側が出力端子13とそ
れぞれ接続され、出力電圧Vout5のレベルが設
定電圧VT11より高いとき、出力側から副信号をパ
ルスとして出力する。
本実施例はこのように構成されるが、次にこの
作動について述べる。
作動について述べる。
第5図、第6図の特性から明らかなように、検
出部4側では、低温時なし常温時には第8図aに
示す出力電圧Vout4Lとなるのに対し、高温時に
は出力電圧Vout4Hとなつて低くなる。同様に、
検出部5側では、低温時ないし常温時には第8図
bに示す出力電圧Vout5Lとなるのに対し、高温
時には出力電圧Vout5Hとなつて高くなる。
出部4側では、低温時なし常温時には第8図aに
示す出力電圧Vout4Lとなるのに対し、高温時に
は出力電圧Vout4Hとなつて低くなる。同様に、
検出部5側では、低温時ないし常温時には第8図
bに示す出力電圧Vout5Lとなるのに対し、高温
時には出力電圧Vout5Hとなつて高くなる。
然るに、第1の検出部4とスレツシユホールド
レベル設定回路10との間では、常温時において
(3)式の関係にあるから、第8図aに示す如く、設
定電圧VT10を基準として比較回路14から出力さ
れる出力電圧Vout4L、Vout4Hによるパルス幅
はそれぞれt1,t2となり、従来技術のように常温
時の直流電圧レベルVout4DCを基準として出力
される出力電圧Vout4L、Vout4Hのパルス幅t1′,
t2′と比較し、パルス幅の変動を著るしく小さく
することができる。
レベル設定回路10との間では、常温時において
(3)式の関係にあるから、第8図aに示す如く、設
定電圧VT10を基準として比較回路14から出力さ
れる出力電圧Vout4L、Vout4Hによるパルス幅
はそれぞれt1,t2となり、従来技術のように常温
時の直流電圧レベルVout4DCを基準として出力
される出力電圧Vout4L、Vout4Hのパルス幅t1′,
t2′と比較し、パルス幅の変動を著るしく小さく
することができる。
また、第2の検出部5とスレツシユホールドレ
ベル設定回路11との間では、常温時において(4)
式の関係にあるから、第8図bに示す如く、設定
電圧VT11を基準として比較回路15から出力され
る出力電圧Voutt5L、Vout5Hによるパルス幅は
t3,t4となり、従来技術のように常温時の直流電
圧レベルVout5DCによるパルス幅t3′,t4′に比較
して、パルス幅の変動を著るしく小さくすること
ができる。
ベル設定回路11との間では、常温時において(4)
式の関係にあるから、第8図bに示す如く、設定
電圧VT11を基準として比較回路15から出力され
る出力電圧Voutt5L、Vout5Hによるパルス幅は
t3,t4となり、従来技術のように常温時の直流電
圧レベルVout5DCによるパルス幅t3′,t4′に比較
して、パルス幅の変動を著るしく小さくすること
ができる。
かくして、本実施例では外気温度の変化に影響
されることなく、常に一定のパルス幅をもつた回
転検出信号を出力しうるから、広い温度範囲にわ
たつて高精度な回転検出を行なうことができる。
されることなく、常に一定のパルス幅をもつた回
転検出信号を出力しうるから、広い温度範囲にわ
たつて高精度な回転検出を行なうことができる。
次に、第9図、第10図は本発明の第2の実施
例を示し、回転センサに関して第1の実施例と同
一構成要素にはダツシユ(′)を付し、その説明
を省略する。
例を示し、回転センサに関して第1の実施例と同
一構成要素にはダツシユ(′)を付し、その説明
を省略する。
然るに、本実施例の特徴は歯車1の回転方向R
に対し、検出部4′,5′の磁気抵抗素子を4
A′→5A′→4B′→5B′の順序で配設し、磁気抵
抗素子4A′と4B′、5A′と5B′の間の離間寸法
lを(1)式と同様にP/2に設定すると共に、検出
部4′,5′間の離間寸法W2を、 W2=1/4×P ……(2)″ に設定したことにある。なお、この(2)″式は前述
した(2)式において、n=1の場合である。
に対し、検出部4′,5′の磁気抵抗素子を4
A′→5A′→4B′→5B′の順序で配設し、磁気抵
抗素子4A′と4B′、5A′と5B′の間の離間寸法
lを(1)式と同様にP/2に設定すると共に、検出
部4′,5′間の離間寸法W2を、 W2=1/4×P ……(2)″ に設定したことにある。なお、この(2)″式は前述
した(2)式において、n=1の場合である。
本実施例はこのように構成されるが、回転セン
サ2′の形状を小型化しうる点を除いて第1の実
施例と変わるところがないので、その動作につい
ては説明を省略する。
サ2′の形状を小型化しうる点を除いて第1の実
施例と変わるところがないので、その動作につい
ては説明を省略する。
なお、本発明の各実施例では歯車1として平歯
車を例示したが、これに限ることなくラツク、内
歯車等でもよい。また、検出部4,5(4′,
5′)は90゜の位相差をもつた検出信号を出力する
ものとして述べたが、適宜の位相差(例えば、
45゜、10゜)を出力するような配置としてもよい。
また、磁気抵抗素子4A,4B,5A,5Bの配
置は(2)式の関係に限らず、適宜の離間寸法としう
る。さらに、スレツシユホールドレベル設定回路
10,11は検出部4,5と別電源としてもよ
い。
車を例示したが、これに限ることなくラツク、内
歯車等でもよい。また、検出部4,5(4′,
5′)は90゜の位相差をもつた検出信号を出力する
ものとして述べたが、適宜の位相差(例えば、
45゜、10゜)を出力するような配置としてもよい。
また、磁気抵抗素子4A,4B,5A,5Bの配
置は(2)式の関係に限らず、適宜の離間寸法としう
る。さらに、スレツシユホールドレベル設定回路
10,11は検出部4,5と別電源としてもよ
い。
本発明は以上詳細に述べた如くであつて、外気
温度の変化に影響されることなく、一定のパルス
幅をもつた回転検出信号を出力しうるから、パル
スデユーテイの変動をなくし、広い温度範囲にわ
たつて高精度な回転検出を行なうことができる。
温度の変化に影響されることなく、一定のパルス
幅をもつた回転検出信号を出力しうるから、パル
スデユーテイの変動をなくし、広い温度範囲にわ
たつて高精度な回転検出を行なうことができる。
第1図ないし第8図は本発明の第1の実施例に
係り、第1図は回転センサの構成図、第2図は第
1図においてN極側着磁面からみた磁気抵抗素子
の配置図、第3図は磁気抵抗素子の結線図、第4
図は各検出部からの出力電圧の特性線図、第5図
は各検出部からの出力電圧温度−全振幅電圧レベ
ル特性線図、第6図は各検出部からの出力電圧の
温度−直流電圧レベル特性線図、第7図は信号処
理回路の構成図、第8図は本実施例による出力電
圧とスレツシユホールドレベルとの関係を示す線
図にて、第8図aは第1の検出部からの出力電圧
と第1のスレツシユホールドレベル設定回路の設
定電圧の関係を示す特性線図、第8図bは第2の
検出部からの出力電圧と第2のスレツシユホール
ドレベル設定回路の設定電圧の関係を示す特性線
図、第9図および第10図は本発明の第2の実施
例に係り、第9図は回転センサの構成図、第10
図は9図においてN極側着磁面からみた磁気抵抗
素子の配置図である。 1……歯車、1A……歯形、2,2′……回転
センサ、3,3′……永久磁石、4,5,4′,
5′……検出部、4A,4B,5A,5B,4
A′,4B′,5A′,5B′……磁気抵抗素子、10,
11……スレツシユホールドレベル設定回路、
Vout4,Vout5……出力電圧(検出信号)、
Vout4DC,Vout5DC……直流電圧レベル、VT10,
VT11……設定電圧(スレツシユホールドレベル)。
係り、第1図は回転センサの構成図、第2図は第
1図においてN極側着磁面からみた磁気抵抗素子
の配置図、第3図は磁気抵抗素子の結線図、第4
図は各検出部からの出力電圧の特性線図、第5図
は各検出部からの出力電圧温度−全振幅電圧レベ
ル特性線図、第6図は各検出部からの出力電圧の
温度−直流電圧レベル特性線図、第7図は信号処
理回路の構成図、第8図は本実施例による出力電
圧とスレツシユホールドレベルとの関係を示す線
図にて、第8図aは第1の検出部からの出力電圧
と第1のスレツシユホールドレベル設定回路の設
定電圧の関係を示す特性線図、第8図bは第2の
検出部からの出力電圧と第2のスレツシユホール
ドレベル設定回路の設定電圧の関係を示す特性線
図、第9図および第10図は本発明の第2の実施
例に係り、第9図は回転センサの構成図、第10
図は9図においてN極側着磁面からみた磁気抵抗
素子の配置図である。 1……歯車、1A……歯形、2,2′……回転
センサ、3,3′……永久磁石、4,5,4′,
5′……検出部、4A,4B,5A,5B,4
A′,4B′,5A′,5B′……磁気抵抗素子、10,
11……スレツシユホールドレベル設定回路、
Vout4,Vout5……出力電圧(検出信号)、
Vout4DC,Vout5DC……直流電圧レベル、VT10,
VT11……設定電圧(スレツシユホールドレベル)。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 磁性材料からなる歯車と、永久磁石に設けら
れ、歯車の回転方向に対し当該歯車の歯形のピツ
チPの1/2の距離に離間して歯形と対向配設され
た2個一対の磁気抵抗素子からなる第1、第2の
検出手段と、該各検出手段から出力される検出信
号のスレツシユホールドレベルを設定する第1、
第2のスレツシユホールドレベル設定手段とを備
え、前記第1、第2の検出手段間の離間寸法W
は、歯車の回転方向に対して歯形のピツチPに対
して、 W=2n−1/4×P ただし、nは整数 に設定され、かつ前記第1、第2の検出手段は一
対の磁気抵抗素子が直列接続されて中間位置が出
力端子をなすと共に、電圧を印加する端子間に並
列に接続してなる回転検出装置において、前記第
1のスレツシユホールドレベル設定手段による常
温時のスレツシユホールドレベルを、前記第1の
検出手段による検出信号の直流電圧レベルより低
く設定し、第2のスレツシユホールドレベル設定
手段による常温時のスレツシユホールドレベル
を、前記第2の検出手段による検出信号の直流電
圧レベルよりも高く設定したことを特徴とする回
転検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25446585A JPS62115318A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | 回転検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25446585A JPS62115318A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | 回転検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62115318A JPS62115318A (ja) | 1987-05-27 |
| JPH0445089B2 true JPH0445089B2 (ja) | 1992-07-23 |
Family
ID=17265404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25446585A Granted JPS62115318A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | 回転検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62115318A (ja) |
-
1985
- 1985-11-13 JP JP25446585A patent/JPS62115318A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62115318A (ja) | 1987-05-27 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |