JPH0445320U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例によるヘツド装置の
光学系レイアウト構造の斜視図、第２図は従来の
ヘツド装置の光学系レイアウト構造の斜視図であ
る。 １……レーザダイオード、２……コリメートレ
ンズ、３……ビーム整形プリズム、４……ビーム
スプリツトプリズム、５……反射プリズム、６…
…対物レンズ、７……光磁気デイスク、８……反
射プリズム、９……集光レンズ、１０……検光子
、１１……フオトダイオード、１２……1/2波長
板。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 光軸がデイスクのほぼ径方向に配置され、レー
   ザダイオードからのビームを整形するコリメート
   レンズとビーム整形プリズムおよび偏光軸を９０
   度回転させる1/2波長板を含んだ光源系と、 前記光源系からのビームを前記デイスクのほぼ
   トラツク接線方向に折り曲げるビームスプリツト
   プリズムと、 前記ビームスプリツトプリズムで折り曲げられ
   た前記ビームを前記デイスクに垂直な方向に折り
   曲げる反射プリズムと、 前記反射プリズムからのビームを前記デイスク
   に照射するとともに前記デイスクからの反射光を
   集光して前記反射プリズムに戻す対物レンズと、 前記反射プリズムで反射し、さらに前記ビーム
   スプリツトプリズムを直進した前記デイスクから
   の反射ビームを前記デイスクのほぼ径方向に折り
   曲げる第２の反射プリズムと、 この第２の反射プリズムからの前記反射ビーム
   を集光レンズおよび検光子を介して受光素子で検
   出する受光系と、 を備えた光磁気記録装置のヘツド装置。