JPH0447892Y2 - - Google Patents
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- JPH0447892Y2 JPH0447892Y2 JP11350987U JP11350987U JPH0447892Y2 JP H0447892 Y2 JPH0447892 Y2 JP H0447892Y2 JP 11350987 U JP11350987 U JP 11350987U JP 11350987 U JP11350987 U JP 11350987U JP H0447892 Y2 JPH0447892 Y2 JP H0447892Y2
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- Expired
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Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、質量分析計に関し、とりわけその試
料保持体の固定具の構造に係る。
料保持体の固定具の構造に係る。
質量分析計は試料加熱室と隣接するイオン化室
とが隔壁によって隔てられており、その間を通じ
る気化試料導入孔は一般に小径のものが多い。
とが隔壁によって隔てられており、その間を通じ
る気化試料導入孔は一般に小径のものが多い。
多孔質試料保持体には、グラスウール、アスベ
ストなど不定型なものも含まれるが、これらのも
のは単に試料導入用プローブ先端に設けたリセス
に収容して気化試料導入孔に押し付けるようにし
ていた。
ストなど不定型なものも含まれるが、これらのも
のは単に試料導入用プローブ先端に設けたリセス
に収容して気化試料導入孔に押し付けるようにし
ていた。
多孔質試料保持体のうち、支持体上にもうけら
れた吸着剤層、あるいは自己支持性の多孔質吸着
剤集塊のような一定形状を保有する保持体は、そ
の太さが気化試料導入孔の内径より大きく、挿入
できないことが多い。こうした場合、気化された
試料の大部分が加熱室からイオン化室に導かれ
ず、加熱室から直接外気に排出されることとな
り、イオン化室に導かれる気化試料は保持体に保
持されている試料の極く小部分に限られ、測定の
感度及び精度を劣化させる。
れた吸着剤層、あるいは自己支持性の多孔質吸着
剤集塊のような一定形状を保有する保持体は、そ
の太さが気化試料導入孔の内径より大きく、挿入
できないことが多い。こうした場合、気化された
試料の大部分が加熱室からイオン化室に導かれ
ず、加熱室から直接外気に排出されることとな
り、イオン化室に導かれる気化試料は保持体に保
持されている試料の極く小部分に限られ、測定の
感度及び精度を劣化させる。
本考案は上記の問題点を解決するために提案さ
れたものであつて、質量分析計の試料加熱室内で
試料導入用プローブとともに移動可能とされた、
全体として電気絶縁性で、その根本に試料導入用
プローブとの着脱自在の接続部、その先端に多孔
質試料保持体の支承部を有する円柱状ステムを含
む質量分析計用試料保持体固定具において、該円
柱状ステムには、該ステムにその一端で圧着係合
し、かつ試料保持体の側面を包囲・被覆する他端
開放の良熱伝導性材料の肉薄キヤツプが装着さ
れ、該キヤツプはその開放端が該試料加熱室と隣
接するイオン化室との隔壁に接する時、該隔壁に
設けられた気化試料導入孔を通じ該キヤツブ内部
が該イオン化室と連通可能なように構成された質
量分析計用試料保持体固定具をその要旨とする。
れたものであつて、質量分析計の試料加熱室内で
試料導入用プローブとともに移動可能とされた、
全体として電気絶縁性で、その根本に試料導入用
プローブとの着脱自在の接続部、その先端に多孔
質試料保持体の支承部を有する円柱状ステムを含
む質量分析計用試料保持体固定具において、該円
柱状ステムには、該ステムにその一端で圧着係合
し、かつ試料保持体の側面を包囲・被覆する他端
開放の良熱伝導性材料の肉薄キヤツプが装着さ
れ、該キヤツプはその開放端が該試料加熱室と隣
接するイオン化室との隔壁に接する時、該隔壁に
設けられた気化試料導入孔を通じ該キヤツブ内部
が該イオン化室と連通可能なように構成された質
量分析計用試料保持体固定具をその要旨とする。
上記円柱状ステムとしては試料導入用プローブ
との着脱自在の接続部と多孔質試料保持体の支承
部を持つものであれば、金属、ガラス、プラスチ
ツクスのいずれによつて作られていてもよいが、
本体が電気伝導性であれば接続部はたとえば絶縁
性のプラスチツクスあるいはゴムであることが好
ましい。支承部は試料保持体が焼結薄層クロマト
グラフイ用プレートの細片であるときは、たとえ
ば四角の断面を丸く包むことのできる弾力性のあ
るプラスチツクスのチユーブであることが好まし
い。例示すれば、ポリテトラフルオロエチレン、
シリコーン、ポリアセタール、ポリイミドなどが
挙げられる。場合によれば、これらのレジンによ
つて上記接続部から支承部までの全体を一体に成
形してもよい。
との着脱自在の接続部と多孔質試料保持体の支承
部を持つものであれば、金属、ガラス、プラスチ
ツクスのいずれによつて作られていてもよいが、
本体が電気伝導性であれば接続部はたとえば絶縁
性のプラスチツクスあるいはゴムであることが好
ましい。支承部は試料保持体が焼結薄層クロマト
グラフイ用プレートの細片であるときは、たとえ
ば四角の断面を丸く包むことのできる弾力性のあ
るプラスチツクスのチユーブであることが好まし
い。例示すれば、ポリテトラフルオロエチレン、
シリコーン、ポリアセタール、ポリイミドなどが
挙げられる。場合によれば、これらのレジンによ
つて上記接続部から支承部までの全体を一体に成
形してもよい。
また上記肉薄キヤツプを構成する良熱伝導性材
料としては、アルミニウム、金、銅などがあげら
れ、成形が可能な限り薄い方がよくたとえば0.3
〜0.4mm程度である。
料としては、アルミニウム、金、銅などがあげら
れ、成形が可能な限り薄い方がよくたとえば0.3
〜0.4mm程度である。
本考案によれば、多孔質試料保持体はそのマス
スペクトル測定時にその側面を肉薄キヤツプによ
つて包囲・被覆されるため、試料の加熱室への拡
散が妨げられると同時にイオン化室へ導入される
比率が大きくなり、測定の感度および精度の向上
が計られる。
スペクトル測定時にその側面を肉薄キヤツプによ
つて包囲・被覆されるため、試料の加熱室への拡
散が妨げられると同時にイオン化室へ導入される
比率が大きくなり、測定の感度および精度の向上
が計られる。
第1〜3図は何れも本考案の質量分析計用試料
保持体固定具の実施例の略断面図であり、各図共
通して10は円柱状ステム、12はそのプローブ
(図示省略)との接続部、14は多孔質試料保持
体20の支承部を示す。また30は肉薄キヤツプ
であり、40は試料加熱室とイオン化室との間の
隔壁、42はその気化試料導入孔を示す。
保持体固定具の実施例の略断面図であり、各図共
通して10は円柱状ステム、12はそのプローブ
(図示省略)との接続部、14は多孔質試料保持
体20の支承部を示す。また30は肉薄キヤツプ
であり、40は試料加熱室とイオン化室との間の
隔壁、42はその気化試料導入孔を示す。
第1図の固定具の円柱状ステム10本体はガラ
ス管、第2図のものは金属の旋削物で両者とも接
続部12は高耐圧のフレキシブルな絶縁物となつ
ている。支承部14はポリテトラフルオロエチレ
ン製のチユーブである。ここで接続部12として
は島津製質量分析計(QP−1000)の標準試料導
入プローブから、そのセブタム部より先の部分を
取り去つたのち、代わりに取り付けることの出来
るガスクロマトグラフイ用のシリコーン・ゴム栓
をそのまま利用したものである。
ス管、第2図のものは金属の旋削物で両者とも接
続部12は高耐圧のフレキシブルな絶縁物となつ
ている。支承部14はポリテトラフルオロエチレ
ン製のチユーブである。ここで接続部12として
は島津製質量分析計(QP−1000)の標準試料導
入プローブから、そのセブタム部より先の部分を
取り去つたのち、代わりに取り付けることの出来
るガスクロマトグラフイ用のシリコーン・ゴム栓
をそのまま利用したものである。
また第3図のものは接続部12および支承部1
4をフレキシブルなレジンを用い円柱状ステム1
0と一体化して成形した試料保持体固定具であ
る。
4をフレキシブルなレジンを用い円柱状ステム1
0と一体化して成形した試料保持体固定具であ
る。
通常の場合、多孔質試料保持体20は多孔質の
薄層クロマトグラフイ(TLC)用の吸着剤薄層
を有するガラス板の細片として供給される。そこ
でこの細片の先端22にTLC展開ずみ試料のス
ポツトが位置するように不要な部分を切り取り支
承部14のポリテトラフルオロエチレン・チユー
ブに挿し込んで装着する。
薄層クロマトグラフイ(TLC)用の吸着剤薄層
を有するガラス板の細片として供給される。そこ
でこの細片の先端22にTLC展開ずみ試料のス
ポツトが位置するように不要な部分を切り取り支
承部14のポリテトラフルオロエチレン・チユー
ブに挿し込んで装着する。
その後、これにアルミニウム製の肉薄キヤツプ
30を被せて加熱室の前段にある試料導入室(図
示省略)を密閉し、導入室が充分減圧された状態
で、導入室と加熱室との開閉口(図示省略)を開
き両室間を連通させ、加熱室およびイオン化室の
排気を開始する。プローブを肉薄キヤツプ30先
端開口部32が隔壁40に接するまで前進させる
と肉薄キヤツブ30内部は隔壁40の気化試料導
入孔42を通じてイオン化室と連通するにいた
り、ここで測定準備が完了する。
30を被せて加熱室の前段にある試料導入室(図
示省略)を密閉し、導入室が充分減圧された状態
で、導入室と加熱室との開閉口(図示省略)を開
き両室間を連通させ、加熱室およびイオン化室の
排気を開始する。プローブを肉薄キヤツプ30先
端開口部32が隔壁40に接するまで前進させる
と肉薄キヤツブ30内部は隔壁40の気化試料導
入孔42を通じてイオン化室と連通するにいた
り、ここで測定準備が完了する。
なお第2図の実施例において、円柱状ステム1
0の支承部14周辺を段付部16に成形したのは
肉薄キヤツプ30装着が容易なことによる。
0の支承部14周辺を段付部16に成形したのは
肉薄キヤツプ30装着が容易なことによる。
また肉薄キヤツプ30も収容物の形状に沿つて
段付部34を形成されものを示してあるが、特
別、この形状にこだわる必要はなく、任意の形状
に成形してよい。隔壁40の気化試料導入孔42
は普通、環状くぼみ44の中心に設けられている
から、キヤツブ30先端開口部32の外径はこの
くぼみ44のなかに収まる程度に細いことが望ま
しい。なお、気化試料導入孔42が、加熱室に面
して導入孔42を中心として面取りされたもので
あれば、試料保持体固定具のセンターリングにと
つてより好都合である。
段付部34を形成されものを示してあるが、特
別、この形状にこだわる必要はなく、任意の形状
に成形してよい。隔壁40の気化試料導入孔42
は普通、環状くぼみ44の中心に設けられている
から、キヤツブ30先端開口部32の外径はこの
くぼみ44のなかに収まる程度に細いことが望ま
しい。なお、気化試料導入孔42が、加熱室に面
して導入孔42を中心として面取りされたもので
あれば、試料保持体固定具のセンターリングにと
つてより好都合である。
第1図の実施例に示したものを使用して、次期
の測定条件で質量分析実験を行い肉薄キヤツブ3
0の使用効果を確認した。
の測定条件で質量分析実験を行い肉薄キヤツブ3
0の使用効果を確認した。
イオン化室温度 210℃
試料加熱温度 230℃
イオン化電圧 70V
使用機種 日立M−80
その結果、先端22にハイドロコルチゾン
(15μg)を付着させたTLC薄層を有する保持体2
0を使用したM+(M/Z362)のイオン強度は、
キヤツプ30を取り付けることによつて、高さで
4倍、面積で15倍に向上した。
(15μg)を付着させたTLC薄層を有する保持体2
0を使用したM+(M/Z362)のイオン強度は、
キヤツプ30を取り付けることによつて、高さで
4倍、面積で15倍に向上した。
このように、本考案はその構成が極めて簡単で
あるにもかかわらず大きな実用的効果を有する。
あるにもかかわらず大きな実用的効果を有する。
第1〜3図はいずれも本考案を実施した質量分
折計用試料保持体固定具の略断面図である。 10……円柱状ステム、12……接続部、14
……支承部、16,34……段付部、20……多
孔質試料保持体、22……先端、30……肉薄キ
ヤツプ、32……開口部、40……試料加熱室と
イオン化室との間の隔壁、42……気化試料導入
孔、44……環状のくぼみ。
折計用試料保持体固定具の略断面図である。 10……円柱状ステム、12……接続部、14
……支承部、16,34……段付部、20……多
孔質試料保持体、22……先端、30……肉薄キ
ヤツプ、32……開口部、40……試料加熱室と
イオン化室との間の隔壁、42……気化試料導入
孔、44……環状のくぼみ。
Claims (1)
- 質量分析計の試料加熱室内で試料導入用プロー
ブとともに移動可能とされた、全体として電気絶
縁性で、その根本に試料導入用プローブとの着脱
自在の接続部、その先端に多孔質試料保持体の支
承部を有する円柱状ステムを含む質量分析計用試
料保持体固定具において、該円柱状ステムには、
該ステムにその一端で圧着係合し、かつ試料保持
体の側面を包囲・被覆する他端開放の良熱伝導性
材料の肉薄キヤツプが装着され、該キヤツプはそ
の開放端が該試料加熱室と隣接するイオン化室と
の隔壁に接する時、該隔壁に設けられた気化試料
導入孔を通じ該キヤツプ内部が該イオン化室と連
通可能なように構成された質量分析計用試料保持
体固定具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11350987U JPH0447892Y2 (ja) | 1987-07-23 | 1987-07-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11350987U JPH0447892Y2 (ja) | 1987-07-23 | 1987-07-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6418569U JPS6418569U (ja) | 1989-01-30 |
| JPH0447892Y2 true JPH0447892Y2 (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=31353408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11350987U Expired JPH0447892Y2 (ja) | 1987-07-23 | 1987-07-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0447892Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-07-23 JP JP11350987U patent/JPH0447892Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6418569U (ja) | 1989-01-30 |
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