JPH0448091A - Etching device - Google Patents
Etching deviceInfo
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- JPH0448091A JPH0448091A JP15800790A JP15800790A JPH0448091A JP H0448091 A JPH0448091 A JP H0448091A JP 15800790 A JP15800790 A JP 15800790A JP 15800790 A JP15800790 A JP 15800790A JP H0448091 A JPH0448091 A JP H0448091A
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- Japan
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- etching
- etched
- substrate
- chamber
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は印刷配線板等のエツチング液のスプレーにより
エツチング加工を行う装置に関し、特に大サイズの被エ
ツチング物(以下基板と称する)を全面均一に高精度な
エツチングを行って産業上微細高精度な配線板を得るた
めのものに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field 1] The present invention relates to an apparatus for etching printed wiring boards and the like by spraying an etching liquid, and particularly for etching large-sized objects (hereinafter referred to as substrates) uniformly over the entire surface. This invention relates to a method for obtaining industrially fine and highly accurate wiring boards by performing highly accurate etching.
[従来の技術1
従来のエツチング装置はチャンバー内の上下にスプレー
ノズルを配置してあり、チャンバー内のエツチング液を
スプレーざンプによりスプレーノズルに供給するように
しである。スプレーノズルは基板の搬送方向と直交する
方向に複数個並べであると共に基板を搬送する方向に複
数個並べである。そして基板をチャンバー内に供給する
と、基板の上下にスプレーノズルからエツチング液がス
プレーされて基板のエツチングがされる。またチャンバ
ー内のエツチング液を再生槽に導きエツチング液の疲労
度に応じて再生剤を必要量添加し、再生液をチャンバー
内に戻している。[Prior Art 1] A conventional etching apparatus has spray nozzles arranged above and below a chamber, and the etching liquid in the chamber is supplied to the spray nozzles by a spray pump. A plurality of spray nozzles are arranged in a direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported, and a plurality of spray nozzles are arranged in a direction in which the substrate is transported. When the substrate is supplied into the chamber, an etching liquid is sprayed from a spray nozzle above and below the substrate, thereby etching the substrate. Further, the etching liquid in the chamber is led to a regeneration tank, and a necessary amount of regenerating agent is added depending on the degree of fatigue of the etching liquid, and the regenerating liquid is returned to the chamber.
[発明が解決しようとする課題1
ところが、従来のエツチング装置ではチャンバー内の同
一のエツチング液を基板の全面に亘ってスプレーしてい
るので基板全面に均一なエツチングができないという問
題があった。[Problem to be Solved by the Invention 1] However, in the conventional etching apparatus, since the same etching solution in the chamber is sprayed over the entire surface of the substrate, there is a problem that uniform etching cannot be performed over the entire surface of the substrate.
すなわち大サイズの基板に灯してはスプレー7ズルを搬
送方向と直交する方向に首振りを行い、基板全面にエツ
チング液が均一に当たるようにエツチングを行っていた
。しかしこのようにして基板全面に均一にスプレーがで
きたとしても、基板の上面については中央部が、下面に
ついては1IiI端邪のエツチングが遅れ、ライン幅が
太く仕上がってしまうという欠点があった。特に基板の
上面についてはこの傾向が大きかった。That is, when a large-sized substrate is turned on, the seven spray nozzles are oscillated in a direction perpendicular to the conveyance direction, so that etching is performed so that the entire surface of the substrate is uniformly exposed to the etching solution. However, even if spraying can be done uniformly over the entire surface of the substrate in this manner, etching is delayed in the center of the upper surface of the substrate and in the edges of 1IiI on the lower surface, resulting in a thick line. This tendency was particularly strong on the upper surface of the substrate.
原因は、上面については基板に当たったエツチング液は
基板の上面を伝って端から落下するため、中央部が溜ま
りやすく、下面については必ずしも基板の端部から落下
しないため、逆に両端部にエツチング液が溜まりやすい
という傾向がみられるからである。従って、エツチング
液の液溜まり部分は新鮮な液が基板表面と接触しづらい
ため、この部分のエツチングが遅れ、ラインが太るとい
う欠点が現れたものと考えられる。The reason for this is that on the top surface, the etching solution that hits the substrate travels along the top surface of the substrate and falls from the edges, so it tends to accumulate in the center, while on the bottom surface, it does not necessarily fall from the edges of the substrate, so it etches on both ends. This is because there is a tendency for liquid to accumulate easily. Therefore, it is difficult for fresh etching liquid to come into contact with the substrate surface in the pooled area of the etching liquid, and this is considered to be a drawback in that etching in this area is delayed and lines become thicker.
本発明は叙述の点に鑑みてなされたものであって、本発
明の目的とするところは大サイズの基板についても全面
的に均一なエツチングを行い、エツチング加工により微
細高精度な回路板を製造することができるエツチング装
置を提供するにある。The present invention has been made in view of the above points, and the purpose of the present invention is to perform uniform etching on the entire surface even of large-sized substrates, and to manufacture fine, high-precision circuit boards through etching processing. The purpose of the present invention is to provide an etching device capable of etching.
[課題を解決するだめの手段]
上記目的を達成するため本発明エツチング装置は、多数
のスプレーノズルを取り付けたチャンバー内で被エツチ
ング物を搬送し、連続的にエツチング液を再生しながら
エツチングする装置において、被エツチング物の搬送方
向に対して直交する方向にスプレーノズル群を被エツチ
ング物の中央部と両端部とに分けると共にチャンバー内
のエツチング液と再生直後のエツチング液とを中央部の
スプレーノズルと両端部のスプレーノズルとに別系統で
供給するようにしたことを特徴とする。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the etching apparatus of the present invention is an apparatus that transports the object to be etched in a chamber equipped with a large number of spray nozzles, and performs etching while continuously regenerating the etching solution. In this process, the spray nozzle group is divided into the center and both ends of the object to be etched in a direction perpendicular to the transport direction of the object to be etched, and the etching solution in the chamber and the etching solution immediately after regeneration are transferred to the spray nozzles in the center. The spray nozzle at both ends is supplied through separate systems.
また再生槽からの再生直後のエツチング液を被エツチン
グ物の上面の中央部のスプレーノズルに供給すると共に
チャンバー内でエツチング液組成を均一混合したエツチ
ング液を被エツチング物の残りの部分に対応するスプレ
ーノズルに供給するようにしたことを特徴とすることも
好ましい。さチング物の上面の中央部及び被エツチング
物の下面の両F4部のスプレーノズルに供給すると共に
チャンバー内のエツチング液を被エツチング物の残りの
部分に対応するスプレーノズルに供給するようにしたこ
とを特徴とすることも好ましい。さらにまたチャンバー
内のエツチング液の能力を感知し、このエツチング能力
に応じて再生槽内のエツチング液の再生の程度を決める
手段を具備したことを特徴とすることも好ましい。In addition, the etching solution immediately after being regenerated from the regeneration tank is supplied to the spray nozzle at the center of the upper surface of the object to be etched, and the etching solution having a uniformly mixed etching solution composition is sprayed onto the remaining part of the object to be etched. It is also preferable that the liquid is supplied to a nozzle. The etching solution is supplied to the spray nozzles at both the center part of the upper surface of the object to be etched and the lower surface of the object to be etched, and the etching liquid in the chamber is also supplied to the spray nozzles corresponding to the remaining part of the object to be etched. It is also preferable to be characterized by: Furthermore, it is preferable that the apparatus is provided with means for sensing the capacity of the etching liquid in the chamber and determining the degree of regeneration of the etching liquid in the regeneration tank in accordance with this etching capacity.
[作用]
エツチング遅れが生じやすい部分に再生直後のの工・ン
チング液をスプレーしてエンチングすることにより被エ
ツチング物(基板)の全面に亘って均一なエツチングが
できる。[Function] Uniform etching can be achieved over the entire surface of the object to be etched (substrate) by spraying the etching solution immediately after regeneration onto areas where etching delays are likely to occur.
[実施例]
第1図、第2図は本発明エツチング装置の一実施例の正
断面図及び側断面図を示す。チャンバー1内の基板2の
搬送される部分の上下にはスプレー7ズル3を多数個配
置しである。このスプレー数@並べであると共に基板2
の搬送方向に複数個並べである。またスプレーノズル3
は基板2の搬送方向と直交する方向で中央部に位置する
スプレー7ズル3aと両端部に位置するスプレーノズル
3bとに分けである。チャンバー1には疲労度測定部4
を付設してあり、チャンバー1内のエツチング液6のエ
ツチング能力を測定し、それに応じて再生槽7へ矢印A
に示すように投入する再生剤の投入量を決定するように
なっている。またチャンバー1内のエツチング液6が再
生槽7に導かれ、再生剤を投入してエツチング液6の再
生を行うようになっている。スプレーノズル3にエツチ
ング液を供給する経路には第1供給経路8と第2供給経
路9がある。第1供給経路8はチャンバー1内のエツチ
ング液6をスプレー用ポンプP1にて供給するものであ
って、基板2の上面側の両1部のスプレーノズル3b及
び基板2の下面側の中央部のスプレーノズル3aに供給
するようになっている。第2供給経路9は再生槽7の再
生直後のエツチング液6をスプレー用ポンプP2にて供
給するものであっ゛C1基板2の上面側の中央部のスプ
レー7ズル3a及び基板2の下面側の両端部のスプレー
7ズル3bに供給するようになっている。またチャンバ
ー1にはチャンバー1内のエツチング液6の攪拌混合を
行う循環ポンプP。を配置しである。[Embodiment] FIGS. 1 and 2 show a front sectional view and a side sectional view of an embodiment of the etching apparatus of the present invention. A large number of spray nozzles 3 are arranged above and below the portion of the chamber 1 where the substrate 2 is transported. This number of sprays @ arrangement and substrate 2
Multiple pieces are arranged in the conveyance direction. Also spray nozzle 3
The spray 7 is divided into a nozzle 3a located at the center in a direction perpendicular to the conveying direction of the substrate 2 and a spray nozzle 3b located at both ends. The chamber 1 has a fatigue measuring section 4.
It measures the etching ability of the etching liquid 6 in the chamber 1 and directs it to the regeneration tank 7 by arrow A.
The amount of regenerant to be added is determined as shown in . Further, the etching liquid 6 in the chamber 1 is led to a regeneration tank 7, and a regenerating agent is introduced to regenerate the etching liquid 6. The paths for supplying etching liquid to the spray nozzle 3 include a first supply path 8 and a second supply path 9. The first supply path 8 is for supplying the etching liquid 6 in the chamber 1 using a spray pump P1, and includes spray nozzles 3b on both sides of the upper surface of the substrate 2 and spray nozzles 3b in the center of the lower surface of the substrate 2. The water is supplied to the spray nozzle 3a. The second supply path 9 is for supplying the etching liquid 6 immediately after regeneration from the regeneration tank 7 using a spray pump P2. It is designed to be supplied to spray 7 nozzles 3b at both ends. Further, in the chamber 1, there is a circulation pump P for stirring and mixing the etching liquid 6 in the chamber 1. It is arranged.
しかして第1図矢印Bに示すように基板2を供給すると
、チャンバー1内で基板2の上下にエツチング[6がス
プレーされてエツチングされる。When the substrate 2 is supplied as shown by arrow B in FIG. 1, etching [6] is sprayed on the top and bottom of the substrate 2 in the chamber 1, and the substrate 2 is etched.
このときエツチング液6が溜まりやすい基板2の上面の
中央部及び基板2の下面の両端部に再生直後のエツチン
グ能力の高いのエツチング液3をスプレーして基板2の
上面の中央部及び基板2の下面の両端部のエツチングを
促進でき、結果的に基板6の全面に均一なエツチングが
できる。At this time, an etching solution 3 having a high etching ability is sprayed on the center of the top surface of the substrate 2 where the etching solution 6 tends to accumulate and on both ends of the bottom surface of the substrate 2 immediately after regeneration. Etching at both ends of the lower surface can be promoted, resulting in uniform etching over the entire surface of the substrate 6.
また第3図は他の実施例を示すものである。本実施例の
場合、基板2の上面側のスプレーノズル3のみを中央部
のスプレーノズル3aと両端部のスプレー7Xル3bと
に分けてあり、再生槽7の再生直後のエツチング液6を
上面の中央部のスプレーノズル3aに供給できるように
なっている。Further, FIG. 3 shows another embodiment. In the case of this embodiment, only the spray nozzle 3 on the upper surface side of the substrate 2 is divided into a spray nozzle 3a at the center and a spray nozzle 3b at both ends. It can be supplied to the spray nozzle 3a in the center.
しかして最もエツチング液6の溜まりやすい基板2の上
面の中央部にエツチング能力の高い工7チングe、6を
スプレーして基板2の全面に亘って均一なエツチングが
できる。Therefore, by spraying the etching agent 7, 6, which has a high etching ability, on the central part of the upper surface of the substrate 2 where the etching solution 6 is most likely to accumulate, uniform etching can be performed over the entire surface of the substrate 2.
[発明の効果1
本発明は叙述の如く被エツチング物の搬送方向に対して
直交する方向にスプレーノズル群を被エツチング物の中
央部と両端部とに分けると共にチャンバー内のエツチン
グ液と再生直後のエツチング液とを中央部のスプレーノ
ズルと両端部のスプレーノズルとに別系統?供給するよ
うにしたので、エツチング液が溜まったりしてエツチン
グの遅くなる部分に再生した直後のエツチング能力の高
いエツチング液をスプレーしてエツチングを促進するこ
とができるものであって、大サイズの被エツチング物(
基板)でも均一なエツチングができて産業用の微細高精
度なプリント板がエツチング加工により製造できるもの
である。[Effects of the Invention 1] As described above, the present invention divides the spray nozzle group into the central part and both ends of the object to be etched in the direction perpendicular to the conveyance direction of the object to be etched, and also separates the etching liquid in the chamber and the etching liquid immediately after regeneration. Is the etching solution separated into spray nozzles in the center and spray nozzles at both ends? This makes it possible to accelerate etching by spraying the regenerated etching solution, which has a high etching ability, on areas where etching slows down due to accumulation of etching solution. Etching (
Even substrates can be etched uniformly, and fine, high-precision printed boards for industrial use can be manufactured by etching.
また本発明の請求項2記載の発明にあっては、再生槽か
らの再生直後のエツチング液を被エツチング物の上面の
中央部のスプレーノズルに供給すると共にチャンバー内
でエツチング液組成を均一混合したエツチング液を被エ
ツチング物の残りの部分に対応するスプレーノズルに供
給するようにしたので、エツチング液の溜まりやすい被
エツチング物の上面にエツチング能力の高いエツチング
液をスプレーしてエツチングを促進して被エツチング物
の全面に亘って均一にエツチングができるものである。In addition, in the invention according to claim 2 of the present invention, the etching solution immediately after being regenerated from the regeneration tank is supplied to the spray nozzle at the center of the upper surface of the object to be etched, and the composition of the etching solution is uniformly mixed in the chamber. Since the etching liquid is supplied to the spray nozzle corresponding to the remaining part of the object to be etched, the etching liquid with high etching ability is sprayed onto the top surface of the object to be etched, where the etching liquid tends to accumulate, thereby promoting etching. Etching can be performed uniformly over the entire surface of the etched object.
さらに本発明の請求項3記載の発明にあっては、再生槽
からの再生直後のエツチング液を被エツチング物の上面
の中央部及び被エツチング物の下面の両端部のスプレー
ノズルに供給すると共にチャンバー内のエツチング液を
被エツチング物の残りの部分に対応するスプレーノズル
に供給するようにしたので、エツチング液の溜まりやす
い被エツチング物の上面の中央部と下面の両端部にエツ
チング能力の高いエツチング液をスプレーして一層被エ
ッチング物の全面に亘って均一なエツチングができるも
のである。!−らにまた本発明のM′FC項4記載の発
明にあっては、チャンバー内のエツチング液の能力を感
知し、このエツチング能力に応じて再生槽内のエツチン
グ液の再生の程度を決める手段を具備したので、エツチ
ング液の能力に応じた再生ができてエツチング液の能力
を常に一定にして均一なエツチングができるものである
。Furthermore, in the invention according to claim 3 of the present invention, the etching solution immediately after regeneration from the regeneration tank is supplied to the spray nozzles at the center of the upper surface of the object to be etched and at both ends of the lower surface of the object to be etched, and Since the etching liquid inside is supplied to the spray nozzle corresponding to the remaining part of the object to be etched, the etching liquid with high etching ability is applied to the center of the top surface and both ends of the bottom surface of the object to be etched, where etching liquid tends to accumulate. By spraying the etching material, uniform etching can be achieved over the entire surface of the object to be etched. ! -Furthermore, in the invention described in M'FC item 4 of the present invention, there is a means for sensing the capacity of the etching liquid in the chamber and determining the degree of regeneration of the etching liquid in the regeneration tank according to this etching capacity. Since the etching solution is equipped with the above, it is possible to regenerate the etching solution according to its capacity, and to keep the capacity of the etching solution constant at all times to perform uniform etching.
第1図は本発明の一実施例の概略正断面図、第2図は同
上の概略側断面図、第3図は同上の他の実施例の概略側
断面図であって、1はチャンバー2は基板、3はスプレ
ーノズル、7は再生槽である。
代理人 弁理士 石 1)艮 七
゛て
7′、 Δ℃
鼾彫トゼ
+キトぞ
第3図
手続補正書く自発)
平成2年8月11日
平成2年特許願第158007号
発明の名称
エツチング装置
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
住 所 大阪府門真市大字門真1048番地名称(58
3)松下電工株式会社
代表者 三 好 俊 夫FIG. 1 is a schematic front sectional view of one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic side sectional view of the same, and FIG. 3 is a schematic side sectional view of another embodiment of the same. is a substrate, 3 is a spray nozzle, and 7 is a regeneration tank. Agent Patent Attorney Ishi 1) 议 7゛te7', Δ℃ Snore engraving Toze + Kitozo Figure 3 procedure amendment written spontaneously) August 11, 1990 1990 Patent Application No. 158007 Name of the invention etched Device 3, Relationship with the case of the person making the amendment Patent applicant address 1048 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Name (58
3) Toshio Miyoshi, Representative of Matsushita Electric Works Co., Ltd.
Claims (1)
で被エッチング物を搬送し、連続的にエッチング液を再
生しながらエッチングする装置において、被エッチング
物の搬送方向に対して直交する方向にスプレーノズル群
を被エッチング物の中央部と両端部とに分けると共にチ
ャンバー内のエッチング液と再生直後のエッチング液と
を中央部のスプレーノズルと両端部のスプレーノズルと
に別系統で供給するようにしたことを特徴とするエッチ
ング装置。 [2]再生槽からの再生直後のエッチング液を被エッチ
ング物の上面の中央部のスプレーノズルに供給すると共
にチャンバー内でエッチング液組成を均一混合したエッ
チング液を被エッチング物の残りの部分に対応するスプ
レーノズルに供給するようにしたことを特徴とする請求
項1記載のエッチング装置。 [3]再生槽からの再生直後のエッチング液を被エッチ
ング物の上面の中央部及び被エッチング物の下面の両端
部のスプレーノズルに供給すると共にチャンバー内のエ
ッチング液を被エッチング物の残りの部分に対応するス
プレーノズルに供給するようにしたことを特徴とする請
求項1記載のエッチング装置。 [4]チャンバー内のエツチング液の能力を感知し、こ
のエッチング能力に応じて再生槽内のエッチング液の再
生の程度を決める手段を具備したことを特徴とする請求
項1または請求項2または請求項3記載のエッチング装
置。[Claims] [1] In an apparatus that transports an object to be etched in a chamber equipped with a large number of spray nozzles and performs etching while continuously regenerating an etching solution, the object is perpendicular to the direction of transport of the object to be etched. The spray nozzle group is divided into the center and both ends of the object to be etched, and the etching solution in the chamber and the etching solution immediately after regeneration are supplied to the center spray nozzle and the spray nozzles at both ends using separate systems. An etching device characterized by: [2] The etching solution immediately after being regenerated from the regeneration tank is supplied to the spray nozzle at the center of the top surface of the object to be etched, and the etching solution with a uniform composition mixed inside the chamber is applied to the remaining part of the object to be etched. 2. The etching apparatus according to claim 1, wherein the etching apparatus is adapted to supply the etching apparatus to a spray nozzle for spraying. [3] The etching solution immediately after regeneration from the regeneration tank is supplied to the spray nozzles at the center of the top surface of the object to be etched and at both ends of the bottom surface of the object to be etched, and the etching solution in the chamber is also applied to the remaining portion of the object to be etched. 2. The etching apparatus according to claim 1, wherein the etching apparatus is adapted to supply the spray nozzle corresponding to the etching apparatus. [4] Claim 1, Claim 2, or Claims characterized in that it comprises means for sensing the capacity of the etching liquid in the chamber and determining the degree of regeneration of the etching liquid in the regeneration tank in accordance with this etching capacity. Item 3. Etching apparatus according to item 3.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15800790A JPH0448091A (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Etching device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15800790A JPH0448091A (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Etching device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0448091A true JPH0448091A (en) | 1992-02-18 |
Family
ID=15662220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15800790A Pending JPH0448091A (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Etching device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0448091A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07243061A (en) * | 1994-03-04 | 1995-09-19 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Apparatus and method for etching |
| KR100843381B1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-07-04 | 삼성전기주식회사 | Etching Equipment for Circuit Board |
-
1990
- 1990-06-15 JP JP15800790A patent/JPH0448091A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07243061A (en) * | 1994-03-04 | 1995-09-19 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Apparatus and method for etching |
| KR100843381B1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-07-04 | 삼성전기주식회사 | Etching Equipment for Circuit Board |
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