JPH0449501A - 磁気記録媒体のトラック品質検査装置 - Google Patents
磁気記録媒体のトラック品質検査装置Info
- Publication number
- JPH0449501A JPH0449501A JP2160530A JP16053090A JPH0449501A JP H0449501 A JPH0449501 A JP H0449501A JP 2160530 A JP2160530 A JP 2160530A JP 16053090 A JP16053090 A JP 16053090A JP H0449501 A JPH0449501 A JP H0449501A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はたとえばフレキシブル磁気ディスク等の円盤状
の磁気記録媒体のトラック品質を検査する磁気記録媒体
のトラック品質検査装置に関するものである。
の磁気記録媒体のトラック品質を検査する磁気記録媒体
のトラック品質検査装置に関するものである。
従来の技術
磁気記録媒体のトラック品質の評価は平均出力レベルに
対して所定割合以下の出力部分が所定時間以上継続した
ものの有無を検査することによってなされている。例え
ば平均出力レベルに対して一10dB以下の部分が30
μs以上継続するものの有無を検査していた。
対して所定割合以下の出力部分が所定時間以上継続した
ものの有無を検査することによってなされている。例え
ば平均出力レベルに対して一10dB以下の部分が30
μs以上継続するものの有無を検査していた。
発明が解決しようとする#J題
前記の方法によれば所定の欠陥の有無例えば10dBか
つ30μsの有無は検査できるが欠陥があったときその
欠陥のさらに詳しい程度すなわちこの欠陥が一20dB
のものかあるいは30dBのものかを知ることができな
かった。
つ30μsの有無は検査できるが欠陥があったときその
欠陥のさらに詳しい程度すなわちこの欠陥が一20dB
のものかあるいは30dBのものかを知ることができな
かった。
出力低下が大きくても出力低下の継続する時間が短いも
のは、媒体表面に付着した塵埃等による一時的な出力低
下である場合が多(、たとえ真実の欠陥であったとして
も、誤り訂正手段等の採用が可能なために実用上さして
問題とはならない。
のは、媒体表面に付着した塵埃等による一時的な出力低
下である場合が多(、たとえ真実の欠陥であったとして
も、誤り訂正手段等の採用が可能なために実用上さして
問題とはならない。
上記したこれら一時的な出力低下(テンポラリ−エラー
と呼ばれている)は、当然測定の再現性もなく結果を煩
雑にするので、トラック品質を評価する場合には何らか
の手段で除外するのが望ましい。
と呼ばれている)は、当然測定の再現性もなく結果を煩
雑にするので、トラック品質を評価する場合には何らか
の手段で除外するのが望ましい。
本発明は上記課題を解決しようとするものであり、出力
低下の継続時間の短いものを切り捨てて真の欠陥を取り
出し、欠陥の程度をさらに詳しく測定する検査装置を提
供しようとするものである。
低下の継続時間の短いものを切り捨てて真の欠陥を取り
出し、欠陥の程度をさらに詳しく測定する検査装置を提
供しようとするものである。
課題を解決するための手段
本発明は前記問題点を解決するために、磁気記録媒体か
らの再生信号をほぼ一定の振幅に増幅するAGC増幅手
段と、前記AGC増幅手段の出力をDC化するDC化手
段と、前記DC化手段の出力のエンベロープを検出する
エンベロープ検出手段と、前記エンベロープ検出手段の
出力が入力され所定期間例えば磁気ディスクのトラック
1周に相当する期間の平均出力レベルを出力する平均出
力レベル検出手段と、上記エンベロープ検出手段の出力
が入力され所定の時定数をもって減衰する減衰手段と、
前記減衰手段の出力が入力され一定時間継続して低下す
る出力の中で最低のレベルを検出する最低レベル検出手
段を備え、上記所定期間の平均出力レベルに対する上記
最低レベルの比を得るよう構成してなるものである。
らの再生信号をほぼ一定の振幅に増幅するAGC増幅手
段と、前記AGC増幅手段の出力をDC化するDC化手
段と、前記DC化手段の出力のエンベロープを検出する
エンベロープ検出手段と、前記エンベロープ検出手段の
出力が入力され所定期間例えば磁気ディスクのトラック
1周に相当する期間の平均出力レベルを出力する平均出
力レベル検出手段と、上記エンベロープ検出手段の出力
が入力され所定の時定数をもって減衰する減衰手段と、
前記減衰手段の出力が入力され一定時間継続して低下す
る出力の中で最低のレベルを検出する最低レベル検出手
段を備え、上記所定期間の平均出力レベルに対する上記
最低レベルの比を得るよう構成してなるものである。
作用
本発明は上記した構成により、磁気記録媒体の再生信号
のエンベロープを検出し、そのエンベロープに一定時間
以上継続してレベル低下する部分があるとその最低レベ
ルを検出し、所定期間の平均出力レベルと最低レベルと
の比を得ることができる。
のエンベロープを検出し、そのエンベロープに一定時間
以上継続してレベル低下する部分があるとその最低レベ
ルを検出し、所定期間の平均出力レベルと最低レベルと
の比を得ることができる。
実施例
以下、本発明の一実施例について第1図を参照しながら
説明する。同図において、1は磁気記録媒体からの再生
信号が印加される入力端子、2はその再生信号をほぼ一
定の振幅に増幅するAGC増幅手段、3はAGC増幅手
段の出力をDC化するDC化手段、4はDC化手段の出
力のエンベロープを検出するエンベロープ検出手段、5
はエンベロープ検出手段の出力が印加され所定の時定数
をもって減衰する減衰手段、6は減衰手段の出力が印加
され前記時定数で定まる時間を超えて継続して低下する
レベルの中で最低のレベルを検出する最低レベル検出手
段、7は最低レベル検出手段の出力端子、8は上記エン
ベロープ検出手段4の出力が印加され所定期間の平均出
力レベルを検出する平均レベル検出手段、9は平均レベ
ル検出手段の出力端子である。
説明する。同図において、1は磁気記録媒体からの再生
信号が印加される入力端子、2はその再生信号をほぼ一
定の振幅に増幅するAGC増幅手段、3はAGC増幅手
段の出力をDC化するDC化手段、4はDC化手段の出
力のエンベロープを検出するエンベロープ検出手段、5
はエンベロープ検出手段の出力が印加され所定の時定数
をもって減衰する減衰手段、6は減衰手段の出力が印加
され前記時定数で定まる時間を超えて継続して低下する
レベルの中で最低のレベルを検出する最低レベル検出手
段、7は最低レベル検出手段の出力端子、8は上記エン
ベロープ検出手段4の出力が印加され所定期間の平均出
力レベルを検出する平均レベル検出手段、9は平均レベ
ル検出手段の出力端子である。
次に上記構成による磁気記録媒体のトラック品質検査装
置の動作を第2図を用いて説明する。第2図は本発明に
よる磁気記録媒体のトラック品質検査装置の動作例を模
式的に示したものである。
置の動作を第2図を用いて説明する。第2図は本発明に
よる磁気記録媒体のトラック品質検査装置の動作例を模
式的に示したものである。
第2図(a)は磁気記録媒体例えば磁気ディスクの1周
期に対応したインデックス信号である。(ロ)は第1図
の入力端子1に加えられAGC増幅手段2によりほぼ一
定の振幅に増幅された磁気記録媒体からの再生信号であ
る。DC化手段3はこの再生信号をDC化しくC)に示
すDC信号を出力する。エンベロープ検出手段4はこの
DC信号のエンベロープを検出しくd)に示すエンベロ
ープ信号を出力する。時定数手段5はその放電時定数τ
により(e)の実線に示すエンベロープ信号を出力する
。最低レベル検出手段6は(e)の−点鎖線に示すよう
にエンベロープ信号の最低レベルを検出し、磁気ディス
クの1周期の終わりには1周期内の最低レベルを検出し
出力端子7に出力する。一方平均レベル検出手段8は(
d)に示すように1周期の平均出力レベルを出力端子9
に出力する。したがって、出力端子7および9に現れる
レベルを比較することにより1周期すなわち所定期間内
のトラック品質を詳細に知ることができる。
期に対応したインデックス信号である。(ロ)は第1図
の入力端子1に加えられAGC増幅手段2によりほぼ一
定の振幅に増幅された磁気記録媒体からの再生信号であ
る。DC化手段3はこの再生信号をDC化しくC)に示
すDC信号を出力する。エンベロープ検出手段4はこの
DC信号のエンベロープを検出しくd)に示すエンベロ
ープ信号を出力する。時定数手段5はその放電時定数τ
により(e)の実線に示すエンベロープ信号を出力する
。最低レベル検出手段6は(e)の−点鎖線に示すよう
にエンベロープ信号の最低レベルを検出し、磁気ディス
クの1周期の終わりには1周期内の最低レベルを検出し
出力端子7に出力する。一方平均レベル検出手段8は(
d)に示すように1周期の平均出力レベルを出力端子9
に出力する。したがって、出力端子7および9に現れる
レベルを比較することにより1周期すなわち所定期間内
のトラック品質を詳細に知ることができる。
なお、上記説明は1トラツクについての動作例であるが
、全トラックについて実施すれば磁気ディスク全体のト
ラック品質を詳細に知ることができる。
、全トラックについて実施すれば磁気ディスク全体のト
ラック品質を詳細に知ることができる。
また、減衰手段は2種以上の時定数を選択的に使用する
よう構成することがより有効である。
よう構成することがより有効である。
さらに、本発明は磁気ディスクのみならず磁気テープに
ついても同様に実施できることはいうまでもなく、この
場合、所定期間として例えば1秒を用いることができ、
1秒毎のトラック品質を詳細に知ることができる。
ついても同様に実施できることはいうまでもなく、この
場合、所定期間として例えば1秒を用いることができ、
1秒毎のトラック品質を詳細に知ることができる。
発明の効果
以上の実施例から明らかなように本発明は、磁気記録媒
体たとえばフレキシブル磁気ディスクや磁気テープ等の
一定時間以上継続して発生する出力低下を取り出して評
価し、出力低下の中で所定期間内の最低のレベルを平均
出力との比として知ることができる磁気記録媒体のトラ
ック品質検査装置を提供するものであり、従来rテンポ
ラリーエラー」として測定結果を煩雑にしていた再現性
のない「偽の信号」を除外し、対策を必要とする真の欠
陥のみを取り出して評価する効果もある。
体たとえばフレキシブル磁気ディスクや磁気テープ等の
一定時間以上継続して発生する出力低下を取り出して評
価し、出力低下の中で所定期間内の最低のレベルを平均
出力との比として知ることができる磁気記録媒体のトラ
ック品質検査装置を提供するものであり、従来rテンポ
ラリーエラー」として測定結果を煩雑にしていた再現性
のない「偽の信号」を除外し、対策を必要とする真の欠
陥のみを取り出して評価する効果もある。
第1図は本発明の一実施例の磁気記録媒体のトラック品
質検査装置の要部ブロック図、第2図はその動作例を説
明する模式図である。 l・・・・・・入力端子、2・・・・・・AGC増幅手
段、3・・・・・・DC化手段、4・・・・・・エンベ
ロープ検出手段、5・・・・・・減衰手段、6・・・・
・・最低レベル検出手段、8・・・・・・平均レベル検
出手段。
質検査装置の要部ブロック図、第2図はその動作例を説
明する模式図である。 l・・・・・・入力端子、2・・・・・・AGC増幅手
段、3・・・・・・DC化手段、4・・・・・・エンベ
ロープ検出手段、5・・・・・・減衰手段、6・・・・
・・最低レベル検出手段、8・・・・・・平均レベル検
出手段。
Claims (1)
- 磁気記録媒体からの再生信号をほぼ一定の振幅に増幅す
るAGC増幅手段と、前記AGC増幅手段の出力をDC
化するDC化手段と、前記DC化手段の出力のエンベロ
ープを検出するエンベロープ検出手段と、前記エンベロ
ープ検出手段の出力が入力された所定期間の平均出力レ
ベルを出力する平均レベル検出手段と、前記エンベロー
プ検出手段の出力が入力され所定の時定数をもって減衰
させる手段と、前記減衰手段の出力が入力され一定時間
継続して低下する出力の中で最低のレベルを検出する最
低レベル検出手段を備えたことを特徴とする磁気記録媒
体のトラック品質検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2160530A JPH0449501A (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 磁気記録媒体のトラック品質検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2160530A JPH0449501A (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 磁気記録媒体のトラック品質検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0449501A true JPH0449501A (ja) | 1992-02-18 |
Family
ID=15716963
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2160530A Pending JPH0449501A (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 磁気記録媒体のトラック品質検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0449501A (ja) |
-
1990
- 1990-06-19 JP JP2160530A patent/JPH0449501A/ja active Pending
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