JPH0449526Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0449526Y2 JPH0449526Y2 JP1986185980U JP18598086U JPH0449526Y2 JP H0449526 Y2 JPH0449526 Y2 JP H0449526Y2 JP 1986185980 U JP1986185980 U JP 1986185980U JP 18598086 U JP18598086 U JP 18598086U JP H0449526 Y2 JPH0449526 Y2 JP H0449526Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- gauge
- optical path
- gauges
- calibration gauge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、光路を遮る試験体の影により試験体
の寸法を測定する光学式測定装置の校正を行う装
置に関する。
の寸法を測定する光学式測定装置の校正を行う装
置に関する。
従来の技術
一般に測定装置は、測定精度を維持するために
校正が必要であつて、上記の光学式測定装置も同
様である。この場合には校正のための手段として
サイズが既知の校正ゲージが用いられている。そ
の手順としては、装置に見合つた数種のサイズの
校正ゲージを用意し、各校正ゲージ毎に測定を行
つて、測定結果の示す値が校正ゲージの値をより
正確に示すように、装置内部の演算常数の補正を
行つている。
校正が必要であつて、上記の光学式測定装置も同
様である。この場合には校正のための手段として
サイズが既知の校正ゲージが用いられている。そ
の手順としては、装置に見合つた数種のサイズの
校正ゲージを用意し、各校正ゲージ毎に測定を行
つて、測定結果の示す値が校正ゲージの値をより
正確に示すように、装置内部の演算常数の補正を
行つている。
考案が解決しようとする問題点
上記の校正を行うに際しては、校正ゲージを測
定装置の光路上に置き表示部の値を読み取ること
になるのであるが、光路を形成し影の検出を行う
検出部は大掛りな機械装置等に取り付けられてい
ることが多く、表示部は演算部と共に制御室等に
設置されているが一般的であるため、校正ゲージ
の取り換えを行う毎に制御室と検出部との間を往
復する必要がある。あるいは1人が制御室に、そ
してもう1人が検出部の近くに居て校正ゲージの
取り換えをするという2人掛りの作業となる。ま
た校正ゲージはサイズに比例して大きさは異なる
もののその形状は極めて似ていることから、校正
に必要なサイズとは異なるサイズの校正ゲージを
取り付けてしまう場合がある。
定装置の光路上に置き表示部の値を読み取ること
になるのであるが、光路を形成し影の検出を行う
検出部は大掛りな機械装置等に取り付けられてい
ることが多く、表示部は演算部と共に制御室等に
設置されているが一般的であるため、校正ゲージ
の取り換えを行う毎に制御室と検出部との間を往
復する必要がある。あるいは1人が制御室に、そ
してもう1人が検出部の近くに居て校正ゲージの
取り換えをするという2人掛りの作業となる。ま
た校正ゲージはサイズに比例して大きさは異なる
もののその形状は極めて似ていることから、校正
に必要なサイズとは異なるサイズの校正ゲージを
取り付けてしまう場合がある。
本考案は上記の問題点を解消するために着想さ
れたものであつて、その目的は自動でサイズの異
なる校正ゲージを光路上に位置させることのでき
る校正装置を提供することにある。
れたものであつて、その目的は自動でサイズの異
なる校正ゲージを光路上に位置させることのでき
る校正装置を提供することにある。
問題点を解決するための手段
上記目的を達成するため本考案の校正装置は、
光路を遮る試験体の影により試験体の寸法を測定
する測定装置の校正を行う装置に適用し、互いに
代表寸法の異なる複数の円柱状の校正ゲージと、
この複数の校正ゲージのうちから1つの校正ゲー
ジを指定する設定部と、複数の校正ゲージがその
中心軸を略同一として取り付けられ、複数の校正
ゲージをこの校正ゲージの中心軸方向に沿つて移
動させることにより、設定部により指定された校
正ゲージを光路に位置させる駆動部とを備えた構
成とする。そして校正を行わないときには複数の
校正ゲージを円周に沿つて移動させることによ
り、校正ゲージを光路から取り除く。
光路を遮る試験体の影により試験体の寸法を測定
する測定装置の校正を行う装置に適用し、互いに
代表寸法の異なる複数の円柱状の校正ゲージと、
この複数の校正ゲージのうちから1つの校正ゲー
ジを指定する設定部と、複数の校正ゲージがその
中心軸を略同一として取り付けられ、複数の校正
ゲージをこの校正ゲージの中心軸方向に沿つて移
動させることにより、設定部により指定された校
正ゲージを光路に位置させる駆動部とを備えた構
成とする。そして校正を行わないときには複数の
校正ゲージを円周に沿つて移動させることによ
り、校正ゲージを光路から取り除く。
作 用
設定部によつて複数の校正ゲージの中から1つ
の校正ゲージを指定し、駆動部によつてその校正
ゲージを光路上に位置させる。そして光路上に置
かれたこの校正ゲージの代表寸法を基にして測定
装置の校正を行う。次に他の代表寸法の校正ゲー
ジを設定部によつて指定し、駆動部によつてその
校正ゲージを光路上に位置させ、同様に測定装置
の校正を行う。以後同様の作業を他の校正ゲージ
に対して繰り返すことにより測定装置の校正が行
われ、完了する。
の校正ゲージを指定し、駆動部によつてその校正
ゲージを光路上に位置させる。そして光路上に置
かれたこの校正ゲージの代表寸法を基にして測定
装置の校正を行う。次に他の代表寸法の校正ゲー
ジを設定部によつて指定し、駆動部によつてその
校正ゲージを光路上に位置させ、同様に測定装置
の校正を行う。以後同様の作業を他の校正ゲージ
に対して繰り返すことにより測定装置の校正が行
われ、完了する。
実施例
第1図は本考案の一実施例を示す外観斜視図で
ある。
ある。
図において、例えばハロゲンランプやレンズ等
(図示されていない)を用いて平行光線を発生す
る投光部121の投光側正面には、対向する位置
に受光窓123を持つ受光部122が取り付けら
れていて、平行光線は受光窓123を通り受光部
122内のセンサーに達する。光路12はこの平
行光線の通路であり、この通路を遮ると受光窓1
23に影が生じる。
(図示されていない)を用いて平行光線を発生す
る投光部121の投光側正面には、対向する位置
に受光窓123を持つ受光部122が取り付けら
れていて、平行光線は受光窓123を通り受光部
122内のセンサーに達する。光路12はこの平
行光線の通路であり、この通路を遮ると受光窓1
23に影が生じる。
互いに異なる代表寸法をそれぞれの直径で示す
3種の円柱状の校正ゲージ11a〜11c(以下
では単に校正ゲージ11と称する)は、1つの円
柱の削り出しによつて作製され、直径の異なる3
種の円柱がその直径の大きさに従つて軸方向に連
なつた形状となつている。校正ゲージ11は、支
持軸141を介して駆動機構142に取り付けら
れており、駆動機構142内に内蔵されたギア機
構およびモーター(図示されていない)により校
正ゲージ11は、校正ゲージ11の中心軸方向
(矢印98,99によつて示す方向)へ移動可能
になつている。
3種の円柱状の校正ゲージ11a〜11c(以下
では単に校正ゲージ11と称する)は、1つの円
柱の削り出しによつて作製され、直径の異なる3
種の円柱がその直径の大きさに従つて軸方向に連
なつた形状となつている。校正ゲージ11は、支
持軸141を介して駆動機構142に取り付けら
れており、駆動機構142内に内蔵されたギア機
構およびモーター(図示されていない)により校
正ゲージ11は、校正ゲージ11の中心軸方向
(矢印98,99によつて示す方向)へ移動可能
になつている。
駆動機構142は支持アーム16によつて回転
機構15の回転軸151に連結され、この回転軸
151を中心にして駆動機構142は回転が可能
となつている。つまり校正ゲージ11は、回転軸
151を中心とする円周に沿つて移動可能となつ
ている。
機構15の回転軸151に連結され、この回転軸
151を中心にして駆動機構142は回転が可能
となつている。つまり校正ゲージ11は、回転軸
151を中心とする円周に沿つて移動可能となつ
ている。
第2図は本考案の装置の機構部および電気的部
分を示すブロツク線図である。
分を示すブロツク線図である。
校正ゲージ11を選択し指定するために設けら
れた設定部17からは、駆動機構142の制御を
行う制御部143と、回転機構15の制御を行う
制御部155との双方に向けて信号の送出が行わ
れている。2つの制御部143,155は、各々
の制御の対象となる駆動機構142、または回転
機構15に対して駆動のための出力を送出すると
共に、これらの機構部142,15から出力さ
れ、その動作位置を示す信号の入力を行つてい
る。駆動部14は、駆動機構142およびその制
御を行う制御部143とにより構成されている。
れた設定部17からは、駆動機構142の制御を
行う制御部143と、回転機構15の制御を行う
制御部155との双方に向けて信号の送出が行わ
れている。2つの制御部143,155は、各々
の制御の対象となる駆動機構142、または回転
機構15に対して駆動のための出力を送出すると
共に、これらの機構部142,15から出力さ
れ、その動作位置を示す信号の入力を行つてい
る。駆動部14は、駆動機構142およびその制
御を行う制御部143とにより構成されている。
以下に本考案に係る装置の動作について説明す
る。
る。
第1図における光路12の中央、つまり校正ゲ
ージ11が置かれた位置は、丸棒等の被測定物の
通路となつていて、長手方向に移動しながら次々
と一定間隔毎にその直径の測定が行われるように
なつている。そのため通常の測定が行われている
時には、駆動機構142は光路12中心から離れ
た場所に置かれるようになつている。そのための
位置としては、第1図において左下方から見て回
転軸151が反時計方向に90度回つた位置が選ば
れ、光路12上の被測定物の目視等の邪魔になら
ないようになつている。
ージ11が置かれた位置は、丸棒等の被測定物の
通路となつていて、長手方向に移動しながら次々
と一定間隔毎にその直径の測定が行われるように
なつている。そのため通常の測定が行われている
時には、駆動機構142は光路12中心から離れ
た場所に置かれるようになつている。そのための
位置としては、第1図において左下方から見て回
転軸151が反時計方向に90度回つた位置が選ば
れ、光路12上の被測定物の目視等の邪魔になら
ないようになつている。
校正を行う場合には、設定部17からの信号が
制御部155に出力されて回転機構15が動作
し、駆動機構142が第1図に示す位置へと移動
する。次に設定部17から校正を行おうとする代
表寸法を入力する。するとその代表寸法に対応す
る校正ゲージを光路12上に位置させるように制
御部143は駆動機構142の制御を行う。その
ため駆動機構142は支持軸141を介して校正
ゲージ11を、矢印98の方向、あるいは矢印9
9の方向に移動させる。第1図は校正ゲージ11
bが校正に用いられている場合を示しており、校
正ゲージ11bによつて生じた影13の長さを示
す測定値が代表寸法をより良く示すように測定装
置の演算常数の補正を行う。
制御部155に出力されて回転機構15が動作
し、駆動機構142が第1図に示す位置へと移動
する。次に設定部17から校正を行おうとする代
表寸法を入力する。するとその代表寸法に対応す
る校正ゲージを光路12上に位置させるように制
御部143は駆動機構142の制御を行う。その
ため駆動機構142は支持軸141を介して校正
ゲージ11を、矢印98の方向、あるいは矢印9
9の方向に移動させる。第1図は校正ゲージ11
bが校正に用いられている場合を示しており、校
正ゲージ11bによつて生じた影13の長さを示
す測定値が代表寸法をより良く示すように測定装
置の演算常数の補正を行う。
引き続いて他の代表寸法に対する校正を行う場
合には駆動機構142により校正ゲージ11を移
動させる。校正ゲージ11cを用いる場合には矢
印99の方向に、校正ゲージ11aを用いる場合
には矢印98の方向への移動が行われる。この移
動は設定部17から出力される信号に従い制御部
142を介して行われる。
合には駆動機構142により校正ゲージ11を移
動させる。校正ゲージ11cを用いる場合には矢
印99の方向に、校正ゲージ11aを用いる場合
には矢印98の方向への移動が行われる。この移
動は設定部17から出力される信号に従い制御部
142を介して行われる。
そして校正が終了した時には、回転機構15に
よつて駆動機構142を移動させ、被測定物の通
過の邪魔にならないと共に、光路12の目視の妨
げとならない位置へともつていく。
よつて駆動機構142を移動させ、被測定物の通
過の邪魔にならないと共に、光路12の目視の妨
げとならない位置へともつていく。
なお本考案は上記実施例に限定されず、校正ゲ
ージ11の種類については3種に限定されず、そ
の他の任意の種類として、例えば10種等とする構
成が可能である。
ージ11の種類については3種に限定されず、そ
の他の任意の種類として、例えば10種等とする構
成が可能である。
また設定部を測定装置の制御部内に設けること
により、一定の期間ごとに自動で校正を行う光学
式測定装置に適用することが可能である。
により、一定の期間ごとに自動で校正を行う光学
式測定装置に適用することが可能である。
また光路12はランプとレンズによる平行光線
によつて形成される場合について説明したが、レ
ーザー光により光路が形成される装置についても
適用可能である。
によつて形成される場合について説明したが、レ
ーザー光により光路が形成される装置についても
適用可能である。
考案の効果
本考案の校正装置は、互いに代表寸法の異なる
複数の校正ゲージの中から校正を行う代表寸法の
校正ゲージを設定部によつて選択し、その代表寸
法の校正ゲージを駆動部によつて光路に位置させ
る構成となつているので、自動で寸法の異なる校
正ゲージを光路に位置させることが可能になる。
複数の校正ゲージの中から校正を行う代表寸法の
校正ゲージを設定部によつて選択し、その代表寸
法の校正ゲージを駆動部によつて光路に位置させ
る構成となつているので、自動で寸法の異なる校
正ゲージを光路に位置させることが可能になる。
第1図は本考案の一実施例を示す外観斜視図、
第2図は本考案の装置の機構部および電気的部分
を示すブロツク線図である。 11……校正ゲージ、12……光路、13……
影、14……駆動部、17……設定部。
第2図は本考案の装置の機構部および電気的部分
を示すブロツク線図である。 11……校正ゲージ、12……光路、13……
影、14……駆動部、17……設定部。
Claims (1)
- 光路を遮る試験体の影により前記試験体の寸法
を測定する測定装置の校正を行う装置において、
互いに代表寸法の異なる複数の円柱状の校正ゲー
ジと、この複数の校正ゲージのうちから1つの校
正ゲージを指定する設定部と、前記の複数の校正
ゲージがその中心軸を略同一として取り付けら
れ、前記複数の校正ゲージをこの校正ゲージの中
心軸方向に沿つて移動させることにより、前記設
定部により指定された校正ゲージを前記光路に位
置させる駆動部とを備え、校正を行わないときに
は前記複数の校正ゲージを円周に沿つて移動させ
ることにより、前記校正ゲージを前記光路から取
り除くことを特徴とする校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986185980U JPH0449526Y2 (ja) | 1986-12-01 | 1986-12-01 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986185980U JPH0449526Y2 (ja) | 1986-12-01 | 1986-12-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6390107U JPS6390107U (ja) | 1988-06-11 |
| JPH0449526Y2 true JPH0449526Y2 (ja) | 1992-11-20 |
Family
ID=31135117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986185980U Expired JPH0449526Y2 (ja) | 1986-12-01 | 1986-12-01 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0449526Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010133944A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Gleason Asia Co Ltd | カッターブレード検査装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59117908U (ja) * | 1983-01-31 | 1984-08-09 | 安藤電気株式会社 | クシ型基準器をもつ測長機 |
| JPS60112761U (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-30 | 株式会社島津製作所 | バルブ切替駆動装置 |
-
1986
- 1986-12-01 JP JP1986185980U patent/JPH0449526Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010133944A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Gleason Asia Co Ltd | カッターブレード検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6390107U (ja) | 1988-06-11 |
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