JPH0449725A - 呼出し受信機の試験方法及び装置 - Google Patents

呼出し受信機の試験方法及び装置

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JPH0449725A
JPH0449725A JP2160700A JP16070090A JPH0449725A JP H0449725 A JPH0449725 A JP H0449725A JP 2160700 A JP2160700 A JP 2160700A JP 16070090 A JP16070090 A JP 16070090A JP H0449725 A JPH0449725 A JP H0449725A
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JP
Japan
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data
detection
signal
test
receiver
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JP2160700A
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English (en)
Inventor
Masahiro Sunaga
須永 昌弘
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Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Kokusai Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は呼出し受信機の周波数成分が含まれる呼出し信
号パターンを検出することにより呼出し受信機の試験を
行う方法及び装置に関する。
〔従来の技術とその課題〕
呼出し受信機の試験は、これに任意の組合せの試験デー
タを加えた時に、誤表示、誤呼出し、無応答がないこと
を検証することである。従って検出データは、鳴音・発
光ダイオード、液晶表示素子等である。
従来、呼出し受信機の呼出し信号(鳴音・発光素子)の
パターンおよび液晶表示素子表示tt!認は、試験者の
聴覚、視覚で行っていたため、誤認識があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明方法は予じめ、データ検出用処理装置1により演
算され、所定の位置にマーカー信号S、を付加した試験
データS!を試験信号S3として送信機2により送信し
、この送信された試験信号S、を呼出し受信機3で受信
し、この受信機3の出力信号S4a  +54kを検出
装置4a 、 4bに入力して検出データS5a  +
SSbを出力し、これらの検出データS1.。
ssbをマーカー信号軸の割込み入力毎にデータ検出用
処理装置1に取込み、この処理装置1より試験データS
アと同期して検出データSSm  + Sokを取出し
、当該検出データSSs  +SSkとそのシミュレー
ションデータS、をデータ判定用処理装置5により比較
判定するようにしたことを特徴とする。
本発明装置は予じめ演算を行って所定の位置にマーカー
信号S、を付加した試験データS、を作成し。
検出データS。、ssbをマーカー信号S、の割込み入
力毎に取込んで試験データS、と同期して取出すデータ
検出用処理装置lと、試験データS、を試験信号S、と
して送信する送信機2と、この送信された試験信号S、
を受信する呼出し受信機3と、この受信機3の出力信号
S。、S41を入力して検出データS5a l ssb
を出力する検出装置4a 、 4bと、データ検出処理
装置1より取出された検出データ551) r Sok
とそのシミュレーションデータS、を比較判定するデー
タ判定用処理装置5とよりなる構成としたものである。
〔作 用〕
データ検出用処理装置lにより予じめ演算を行って所定
の位置にマーカー信号S1を付加した試験データS2が
作成され、この試験データS、は送信機2により試験信
号S、として送信される。この送信された試験信号S、
は呼出し受信機3により受信され、その出力信号54m
  +S4kがそれぞれ検出装置4a 、 4bに入力
されて検出データS。、Sl、が出力される。これらの
検出データSea + SSbはマーカ信号S、の割込
み入力毎にデータ検出用処理装置1に取込まれ、この処
理装置1より試験データS2と同期して検出データS5
a + SSbが取出される。
この取出された検出データ551) 、ssbはそのシ
ミュレーションデータShとデータ判定用処理語W5に
より比較判定されることになる。
〔実施例〕
以下図面により本発明の詳細な説明する。
図面は本発明方法及び装置の一実施例の構成を示すブロ
ック図である6 1は予じめ演算を行って所定の位置に
マーカー信号S、を付加した試験データS、を作成し、
鳴音・発光素子検出データSSm 。
液晶表示素子検出データssbをマーカー信号S1の割
込み入力毎に取込んで試験データS、と同期して取出す
と共に鳴音・発光素子検出装置t4aにリセット信号S
、を1表示認識装置4bにスタート信号Slを出力する
データ検出用コンピュータである。
2は試験データStを試験信号S、として送信する送信
機で、所定の位置にマーカー信号S、を付加した試験デ
ータS、を符号化して転送し試験を開始するエンコーダ
7と、このエンコーダ7より出力する符号化された試験
データS、を入力しアンテナより試験信号S、を発射す
る信号発生器8とよりなる。
3は送(8機2のアンテナより発射された試験信号S3
を受信する呼出し受信機、4aはこの受信機3の鳴音・
発光ダイオードの出力信号54mを入力して鳴音・発光
ダイオード検出データS5aを出力する鳴音・発光素子
検出装置、4bは同じく受信機3の液晶表示素子の出力
信号S4bを入力して液晶表示素子検出データS。を出
力する市販の表示認識装置である。
鳴音・発光素子検出装置4aは鳴音・発光ダイオ−1′
の出力信号S。を入力して所望レベルの信号に変換する
レベル変換器9と、このレベル変換器9の出力を入力し
て周波数成分を取除くエンベロープ検出回路IOと、こ
の検出回路10の出力信号(直列イに号)を並列信号に
変換し鳴音・発光ダイオード検出データS。を出力する
直並列変換回路1)とよりなる。
5はデータ検出用コンピュータ1より取出された鳴音・
発光ダイオード検出データS5B  +液晶表示素子検
出データssbとそのシミュレーションデータS、を比
較判定するデータ判定用コンピュータ、6はその判定結
果を印字するプリンタである。
上記のような構成の本実施例においてデータ検出用コン
ピュータlにより予じめ演算を行って所定の位置にマー
カー信号S、を付加した試験データS、が作成され、こ
の試験データS、は送信機2のエンコーダ7により符号
化されて信号発生器8に入力され、アンテナより試験信
号S、として発射され、試験が開始される。
この発射された試験信号S3は呼出し受信機3により受
信され、これより鳴音・発光ダイオードの出力信号S4
a、液晶表示素子の出力信号sobが得られる。この出
力信号Seaは鳴音・発光素子検出袋[4aのレベル変
換器9に入力されて所望レベルの信号となり、この信号
がエンベロープ検出回路10に入力されて周波数成分が
取除かれ、この抽出回路10より出力する直列信号が直
並列変換回路1)により並列信号に変換され、これより
鳴音・発光ダイオード検出データSsmが出力される。
また液晶表示素子の出力信号34bは表示認識袋?lf
 4 bに入力されて、これより液晶表示素子検出デー
タS。
が出力される。
これらの検出データssm  +SS&はマーカー信号
SIの割込み入力毎にデータ検出用コンピュータ1に取
込まれ、鳴音・発光素子検出袋W4aのエンベロープ検
出回路10及び直並列変換回路1)にリセッ[・信号S
、を出力すると共に表示認識袋ff4bにスターHg号
S、を出力する。これにより試験データS。
と同期して検出データS!1m  +SSbがリアルタ
イムでデータ検出用コンピュータ1より取出される。
この取出された検出データS5a  −ssbとそのシ
ミュレーションデータShがデータ判定用コンピュータ
5により比較判定され、その判定結果がプリンタ5によ
り印字されることになる。
〔発明の効果〕
一↑二述のように本発明によれば、予じめ、データ検出
用想理装置1により演算され、所定の位置にマーカー信
号S、を付加した試験データ5tjr試験信号S、とし
て送信機2により送信し、この送信された試験信号S3
を呼出し受信機3で受信し、この受信機3の出力信号S
。、 5abを検出装置4a 、 /:hに入力して検
出データS。、ssbを出力し、これらの検出データS
。+SSbをマーカー信号S1の割込み入力毎にデータ
検出用処理装置1に取込み、この処理装置1より試験デ
ータS、と同期して検出データSum  、 sSbを
取出し、当該検出データ5ixSSbとそのシミュレー
ションデータS6をデータ判定用処理装置5により比較
判定するようにしたことを特徴とする呼出し受信機の試
験方法及び装置であるから誤表示、誤呼出し、無応答な
どの呼出し受信機の試験を、試験者の聴覚、視覚による
ことなく合理的に自動的に行い正確に行うことができ、
また、試験データ、検出データ、シミュレーションデー
タのデータベース化による再利用を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明方法及び装置の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。 1・・・・・・データ検出用処理装置、2・・・・・・
送信機、3・・・・・・呼出し受信機、4a・・・・・
・(鳴音・発光素子)検出装置、4b・・・・・・(表
示認識装置)検出装置、5・・・・・・データ判定用処
理装置、6・・・・・・プリンタ、7・・・・・・エン
コーダ、8・・・・・・信号発生器、9・・・・・・レ
ベル変換器、lO・・・・・・エンベロープ検出器、1
)・・・・・・直並列変換回路、Sl・・・・・・マー
カー信号、S2・・・・・・試験データ、S3・・・・
・・試験信号、54m・・・・・・鳴音・発光素子(ダ
イオード)の出力信号、54k・・・・・・液晶表示素
子の出力信号、S5a・・・・・・鳴音・発光素子(ダ
イオード)検出データ、sSb・・・・・・液晶表示素
子検出データ、S、・・・・・・シミュレーションデー
タ、S、・・・・・・リセット信号、Sl・・・・・ス
タート信号。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)予じめ、データ検出用処理装置(1)により演算
    され、所定の位置にマーカー信号(S_1)を付加した
    試験データ(S_2)を試験信号(S_3)として送信
    機(2)により送信し、この送信された試験信号(S_
    3)を呼出し受信機(3)で受信し、この受信機(3)
    の出力信号(S_4_a、S_4_b)を検出装置(4
    a、4b)に入力して検出データ(S_5_a、S_5
    _b)を出力し、これらの検出データ(S_5_a、S
    _5_b)をマーカー信号(S_1)の割込み入力毎に
    データ検出用処理装置(1)に取込み、この処理装置(
    1)より試験データ(S_2)と同期して検出データ(
    S_5_a、S_5_b)を取出し、当該検出データ(
    S_5_a)、(S_5_b)とそのシミュレーション
    データ(S_6)をデータ判定用処理装置(5)により
    比較判定するようにしたことを特徴とする呼出し受信機
    の試験方法。
  2. (2)呼出し受信機(3)の出力信号(S_4_a)が
    鳴音・発光素子の出力信号の場合、鳴音・発光素子検出
    装置(4a)により鳴音・発光素子検出データ(S_5
    _a)を出力し、かつ呼出し受信機(3)の出力信号(
    S_4_b)が液晶表示素子の出力信号の場合、表示認
    識装置(4b)を検出データ装置として液晶表示素子検
    出データ(S_5_b)を出力し、これらの検出データ
    (S_5_a、S_5_b)をマーカー信号(S_1)
    の割込み入力毎にデータ検出用処理装置(1)に取込み
    、鳴音・発光素子検出装置(4a)及び表示認識装置(
    4b)にそれぞれリセット、スタート信号(S_7、S
    _8)を出力するようにした請求項第(1)項記載の呼
    出し受信機の試験方法。
  3. (3)予じめ演算を行って所定の位置にマーカー信号(
    S_1)を付加した試験データ(S_2)を作成し、検
    出データ(S_5_a、S_5_b)をマーカー信号(
    S_1)の割込み入力毎に取込んで試験データ(S_2
    )と同期して取出すデータ検出用処理装置(1)と、試
    験データ(S_2)を試験信号(S_3)として送信す
    る送信機(2)と、この送信された試験信号(S_3)
    を受信する呼出し受信機(3)と、この受信機(3)の
    出力信号(S_4_a、S_4_b)を入力して検出デ
    ータ(S_5_a、S_5_b)を出力する検出装置(
    4a、4b)と、データ検出処理装置(1)より取出さ
    れた検出データ(S_5_a、S_5_b)とそのシミ
    ュレーションデータ(S_6)を比較判定するデータ判
    定用処理装置(5)とよりなる呼出し受信機の試験装置
  4. (4)検出装置(4a)は呼出し受信機(3)の出力信
    号(S_4_a)が鳴音・発光素子の出力信号の場合、
    鳴音・発光素子検出データ(S_5_a)を出力する鳴
    音・発光素子検出装置であり、検出装置(4b)は呼出
    し受信機(3)の出力信号(S_4_b)が液晶表示素
    子の出力信号の場合、液晶表示素子検出データ(S_5
    _b)を出力する表示認識装置である請求項第(3)項
    記載の呼出し受信機の試験装置。
JP2160700A 1990-06-18 1990-06-18 呼出し受信機の試験方法及び装置 Pending JPH0449725A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4776541B2 (ja) * 2004-09-29 2011-09-21 日本坩堝株式会社 加熱処理装置及び加熱処理方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP4776541B2 (ja) * 2004-09-29 2011-09-21 日本坩堝株式会社 加熱処理装置及び加熱処理方法

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