JPH04501005A - 帯状体用紙の横断方向プロフィルを測定するための測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 全測定するための測定装置 本発明は請求項１の上位概念に示された測定装置に現在では慣用化されている。

これによシ個々の測定個所における測定が常に等しい時間パターンにおＡて行こ の測定の目的は、帯状体の横断集プロフィールを検出して材料供給装置における 補正を、例えば材料供給スリットにおける間隙−用紙走行方向を横切る方向装置 からの材料流における障害により、品質が低下される。所望の横断面からの偏差 を生ぜさせるこれらの障害は、必ずしも完全に正確には検出できない。障害の周 波数と測定の周波数との間には整数比が存在する、薦 そのため測定結果を、所望の横断ｉプロフィルからの偏差が誤まらせることがあ る。そのためこの種の測定ィールを得ることができない。

提供することである。この構成により、エラー判定およびその結果としての、帯 状体用紙の横方向プロフィール金制御する設定調整装置における好適でない調整 設定を、阻止すべきである。

この課題は請求項１の特徴部分に示された構成を有する、上位概念に示された装 置により解決されている。

請求項２に本発明の装置による測定法が示されている。

次に本発明の装置を詳細に説明する。説明の記載は図面に関連づけられている。

第１図は本発明の装置の実施例の平面図、第２図は本発明の装置による測定の流 れを示す進行図である。

リッジを有する。この測定ブリッジは帯状体用紙２の上方にかつこれを横切るよ うに位置固定されている。

帯状体用紙は、材料供給装置３の後方で形成されて、記入された矢印の方向へ所 定の速度で移動する。測定ブリッジ４に測定ヘッド５が設けられている。この測 定ヘッドは測定ブリッジ４に沿って、即ち測定ブリッジの下方を移動する帯状体 用紙２を横切るように、往復運動される。この運動は、反転可能なかつ回転数の 調整可能な駆動モータ６により、実施される。駆動モータ６はプロセス制御装置 １により調整される。このプロセス制御装置へは、その都度に測定マーク１２に おいて測定される、横断面プロフィル全判定するための値も、導ひかれる。

個々の測定はその都度に帯状体用紙における仮想の［１３−個々のマーキング１ ２０下万を帯状体用紙に石って走行する−に沿って行なわれる。

プロセス制御Ｉの中へ横断に対するシーケンスプログラム１１が設定されており 、このプログラムに従って駆動モータ６がザ御される。この制御は次のように行 なわれる。即ち測定ヘッド５の横断速度を、測定ヘッドが帯状体用紙３を横切っ た後にその都度に変化させるか、または横断と横断との間の待ち時間の時間間隔 全変化させるのである。横断速度および待ち時間の時間間隔全両方とも常に変化 させることもできる。この測定法の目的は個々の各仮想の線に沿っての測定を、 互いに等しくない不規則な時間間隔で、実施することである。

この桟の手段の実施例が第２図に示されている。測定の順序が、横＠Ｂの帯状体 用紙の長手方向区間の上へ、示されている。帯状体用紙は、記入されている矢印 の方向へ移動する。帯状体の上方の実線が、異なる横断速度で行なわれる測定ヘ ッド５の、帯状体用紙に対する移動を示す。測定ヘッド５の横断時間は、量初の ２つの区間においてはＴＴで示されている。仮想の線１３に沿っての個々の測定 点がＭ−Ｍ７で長手方向の線分により示されている。（ｉ！々の横方向線分の間 の間隔は、その都度の待ち時間ＴＷｉ〜ＴＷ７の時間間隔により示されている。

この間隔は２つの相続く横断動作の間に存在する即ち設けられる時間を意味する 。

相続く各２つの測定Ｍ−Ｍ７の間の間隔はＴ１〜Ｔ７により示されておシ、これ らの間隔は互いに異なる。

即ち測定は、変化する測定周波数で行なわれている。

この周波数は前もって任意に定められかつ変化される。

そのためこの周波数が、帯状体用紙の製造における障害周波数と一致してしまっ て、そのため測定の品質低下ｔ−即ち測定エラーを生ぜさせるおそれが、冥質的 に方向 生じなくなる。横断暉プロフィル偏差の安定した測定に対するエラー発生のおそ れは、測定のこの不規則性化により、除去される。

測定の統計的な評価にもとづく材料供給装置３の開Ｏスリットの追従調整は、有 利に、調整用計算器８により行なうことができる。この計算器の制御命令は線プ ロフィルを制御するための別の設定調整装置へ導びかれるように、構成すること もできる。調整設定装置ｔ−製紙機械の帯状体用紙製造領域の前方でまた後方で 制御することもできる。

国際調査報告 国際調査報告 ＣＩＥ　８９００４９９ Ｓ＾　３０２１２

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. １．材料供給（３）の出口側で形成される帯状体用紙（２）の横断方向プロフイ ルを測定するための測定装置（１）であって、該測定装置は、帯状体用紙の上方 に位置固定されこの帯状体用紙を横切る方向に設けられている測定プリツジ（４ ）を有しており、該測定プリツジは、帯状体用紙を横切る方向にこの測定プリツ ジにおいて往復運動する測定ヘッド（５）を有し該測定ヘッドが、帯状体用紙の 厚さを判定するための測定値（Ｍ）を、測定プリツジの下方に帯状体用紙（２） に沿つて設けられている測定個所で、測定ヘッド（５）が測定プリツジ上を横断 する際に前記測定個所のちようど上方に位置する時に、測定するようにし、この 場合、測定プリツジに沿つてそれぞれ設けられている複数個の測定個所（１２） で測定値の検出が行なわれる形式の横断方向プロフイールの測定装置において、 測定装置（１）がプロセス制御装置（７）を有しており、該プロセス制御装置の 中に横断用のシーケンスプログラム（１１）が設定されており、該横断用ツーケ ンスプログラムにもとづいて測定ヘッド（５）の横断時間（ＴＴ）がおよび／ま たは転回時間（ＴＷ）が、該測定ブリツジ（４）の毎回の横断後に、変化される ようにしたことを特徴とする帶状体用紙の横断方向プロフィールを測定する測定 装置。
2. ２．請求項１に記載の測定装置により横断面を測定する方法において、測定値（ Ｍ）の検出が、移動する帯状体用紙に沿つて設けられた個々の測定個所でその都 度に、常に変化する時間間隔（Ｔ）にもとづいて行なわれるようにした横断面プ ロフイル測定法。
3. ３．帯状体用紙（２）の監視長さ（ＢＬ）にわたり正確な横断方向プロフィール を測定値（Ｍ）から求めるために、さらに帯状体用紙の横断方向プロフィールに 影響を与える操作装置を調整するために、調整用計算器が設けられている請求項 １記載の測定装置。
4. ４．材料供給部（３）の開口スリットの内のりを設定調整するために操作装置（ １０）が調整されるようにした請求項３記載の測定装置。