JPH04501635A - 再生修理可能エポキシダイ取り付け接着剤 - Google Patents

再生修理可能エポキシダイ取り付け接着剤

Info

Publication number
JPH04501635A
JPH04501635A JP2508488A JP50848890A JPH04501635A JP H04501635 A JPH04501635 A JP H04501635A JP 2508488 A JP2508488 A JP 2508488A JP 50848890 A JP50848890 A JP 50848890A JP H04501635 A JPH04501635 A JP H04501635A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive
admixture
thermoplastic
epoxy resin
resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2508488A
Other languages
English (en)
Inventor
リカリ、ジェイムズ・ジェイ
バクヒット、ガブリエル・ジー
Original Assignee
ヒューズ・エアクラフト・カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ヒューズ・エアクラフト・カンパニー filed Critical ヒューズ・エアクラフト・カンパニー
Publication of JPH04501635A publication Critical patent/JPH04501635A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/073Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/073Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • H10W72/07331Connecting techniques
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/073Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • H10W72/07331Connecting techniques
    • H10W72/07337Connecting techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone or epoxy
    • H10W72/07339Connecting techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone or epoxy hardening the adhesive by cooling, e.g. thermoplastics
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/321Structures or relative sizes of die-attach connectors
    • H10W72/325Die-attach connectors having a filler embedded in a matrix
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/351Materials of die-attach connectors
    • H10W72/352Materials of die-attach connectors comprising metals or metalloids, e.g. solders
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/351Materials of die-attach connectors
    • H10W72/353Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/351Materials of die-attach connectors
    • H10W72/353Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
    • H10W72/354Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/901Printed circuit
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24917Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including metal layer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/25Web or sheet containing structurally defined element or component and including a second component containing structurally defined particles
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31511Of epoxy ether
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31511Of epoxy ether
    • Y10T428/31515As intermediate layer

Landscapes

  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 再生修理可能エポキシダイ取り付は接着剤本発明は、一般に接着剤の分野に関し 、特にハイブリッド小型回路基板に電子集積回路ダイを強固に取り付け、その後 、必要ならば基板または近接したダイか損傷をうけないように十分に低い温度で 取外すことを可能にする接着剤混合物に間熱硬化性エポキシは、電子装置用の接 着剤として広く使用されている。それらは、幅広い種々な表面および材料に対し て高い接着強度を有することで認められている。それらの接着強度はH結合と、 アルミナ、セラミック、シリコン、他のエポキシおよび金のような表面に対する ファンデルヴアールス吸引力を生じる高有極分子構成から主として得られる。そ れゆえにエポキシは、例えば、ハイブリッド小型回路における集積回路ダイの取 り付け、印刷配線板における部品取り付け、ヒートシンク取り付け、およびハー メティックシールされたパッケージ中におけるセラミック基板取り付けに広く使 用されている。エポキシ樹脂は通常この技術においてよく知られる様々な触媒ま たは硬化剤で硬化させたビスフェノールA (DGEBA)タイプのジグリシジ ルエーテルである。エポキシにより一度接着された部品の再生修理にはいつも問 題があり、これまで理想的な方法は発見されなかった。一般に、熱と圧力が装置 を取外すために同時に提供される。エポキシが通常200℃またはそれ以上であ るガラスの転移温度T。
に達したとき、軟化し、その温度で横方向に供給された力はその分離を行う。回 路全体はしばしば高い温度(200℃またはそれ以上)にさらされなければなら ず、ワイヤボンドまたは別の回路の温度に敏感な素子が損傷する危険がある。そ れにもかかわらず小さいダイ(100ミル平方以下)および適度な間隔のダイ( チップ間が200ミル以上)の使用ではエポキシ接着の装置は再生修理が可能で あった。
ハイブリッドウェーハスケール集積、あるいはマルチチップモジュールと呼ばれ る非常に高い密度の回路が新しく出現したため、高い強度と再生修理可能性の組 合わせは臨界的な問題となる。これらの新しい回路は、VLSIC(超大規模集 積回路)、VH8IC(高速集積回路)、MIMIC(ミリメートルマイクロ波 集積回路)、および1インチ平方に近く、高速用の密接してパックされた(チッ プ間が70ミル以下)その他の高密度ダイを利用する。これらの大きい装置はま たそれらの構造の一部分としてポリイミドまたは別の低誘電率のポリマーを有す る薄膜の多層の相互連結基板の上に組み立てられる。
すべての現在の基準に合致し、また取外しのきくダイ取り付は用接着剤はおよそ 600ミル平方のゲートアレイのハイブリッド回路において必要とされ、70ミ ルのチップ間の間隔が要求される。HDMI (高密度マルチチップ相互連結基 板)を使用して制作される別のデジタルおよびアナログ回路は、またハイブリッ ドウェーハスケール集積として知られ、その処理はこれらの接着剤を必要とする 。
三つの問題がこの状況で発生する。
1、大きい装置は大きい表面積を有し、それゆえに取外すために大きな力を要す る。
2、小さなチップ間隔で緊密にバックされた装置は、隣接する装置またはワイヤ ボンドを損傷しないで装置間に剪断力を供給するために加熱された道具を使用す ることは困難であり不可能な場合もある。
3、ダイを取外すために必要な余分な力と温度は、下にある有機誘電体を損傷し 、非常に高価な相互結合基板を使用できなくする。
熱可塑性のフィルムとペースト接着剤は、軟化または溶融するので検討されてい る。しかしながらこれらは電子用において二つの制限を有している。
1、これらの多くは溶剤に分散され、これらの溶剤は特に下部の大きい面積のダ イから完全に除去することが難しい。
2、多くは、溶融または軟化するために非常に高い温度(300℃またはそれ以 上)を必要とし、再生修理の程度によりこのような温度はワイヤボンドおよびい (つかの装置に損傷を与える。
発明の概要 本発明は、熱硬化性エポキシ樹脂を含む接着剤混合物により前に明らかにされた 必要性を満たすものである。熱可塑性混合剤は、およそ150℃またはそれより 上のダイの動作または検査温度範囲に達するまでエポキシ樹脂の高い接着強度を 維持し、基板または近接したダイに損傷を与えることなしに150℃乃至200 ℃の範囲の好ましい温度で選択されたダイを除去可能にするように迅速に軟化す る。
接着剤混合物はまた、収縮または膨張率を制御し、熱伝導率を高めるまたは接着 剤に導電性を与える充填剤を含んでもよい。
本発明は、さらに少なくとも一つの電子部品を含んだ電子部品構造、典型的には 本接着剤によって基板に再生修理可能に取り付けられる集積回路ダイを提供する 。
本発明のこれらおよび別の特徴と利点は、添付図面を参照した以下の詳細な説明 から明らかにされる。
図面の説明 図は、本発明による再生修理可能なダイ取り付は接着剤を含む電子部品構成の部 分的に断片で示した側面図である。
本発明の詳細な説明 ハイブリッド小型回路は、多数の部品パッケージまたは基板の上に取り付けられ た集積回路あるいは個別部品のダイを含む。本接着剤は、特に小型回路技術で基 板にダイを取り付けるためのものであり、回路は再生修理なければならない状況 にある。このような再生修理は、試験において欠陥のあることが認められたとき 、または改良された部品、と交換することにより性能を向上させるとき基板から 特定のダイを取外すことを含む。しかしながら、本接着剤は二つの材料が強力に 接着され、意図する目的で後で分離可能であることを条件とするどんな分野の技 術にも直接適用することができる。
本発明の電子部品構造の実施例は、図1に10として示されている。この構造1 0は、誘電性シート12aの上部に形成される導電パッド金属層を有するハイブ リッド超小型電子装置基体12を含む。ワイヤボンドまたはテープ自動化ボンド によって接続される超小型電子回路となる部品14および16は、再生修理可能 な本発明のダイ取り付は接着剤18によって基板121;再使用可能に接着され る。二つの部品14および16のみが例示の目的のために図に示されているが、 本発明の実際的な構成の実施例は、お互いに近接した間隔で配置された多数の部 品を含む。
部品14および16には、パワートランジスタまたはインダクタのような個々の 部品から一体化の望ましい高水準の集積回路までの範囲の各種部品が含まれ、リ ード14aおよび16aを有する。リード14aおよびleaは、詳細に図示さ れていないが、はんだづけ、熱圧縮または熱音波ボンドのような手段により接続 層12bのそれぞれの部分にオーム接続される。接続層12bはその代りに誘電 性シーH2aの上部に形成され、あるいは本発明の範囲内において多層構造を有 することもできる。
構造lOは、基板12および部品14と16の一方または両方に硬化されていな い形態の接着剤18を適用し、適当に整列して基板12の上に部品14と16を 圧縮し、適当な熱またはその他の硬化機構を使用して接着剤18を硬化すること によって組立てられる。構造10は選択された部品14または16を取外すこと により再生修理される。これは、(a)100℃から250℃の間の温度(接着 剤の軟化または溶融温度による)に加熱されたブレード工具を選択された部品1 4または16と基板の間に挿入し、この部品が分離するまで剪断力を供給するこ とによる方法と、(b)この装置に選択的に熱を供給し、真空工具を使用して装 置の上部から取外すことによる方法の二つの方法の一つによって行われる。この 取り外し方法は、1例として示されたものであり、別の手段も可能である。リー ド14aおよび16aは部品の取外しより先に切断されるか、基板から部品を分 離するとき切断される。
本発明の接着剤18は望ましい温度まで強力な接着を維持することができ、それ より少し高い温度で接着した表面の分離ができるように接着剤が十分な軟化する 二つの主要成分を含む。本接着剤の基本的成分は、熱硬化性樹脂である。現在の エポキシ接着剤の到達水準は、現在の基本の工学要求のすべてを満足しているが 、取外しが難しく、高密度回路の再生修理はできない。特に、通常のエポキシ樹 脂は本接着剤における熱硬化性樹脂として利用されるものを含み、通常的200 ℃より上であるガラス転移温度TGで軟化し始める。軟化された接着剤の状態に おいてでさえ、ダイから基板を取外すためにかなりの機械力が要求される。実際 的な適用における有用な組立てられた電子部品は、一般に約155℃までの処理 および動作温度に耐えるように設計される。200℃を超える高い温度での取り 付けられたダイの加熱は、損傷を生ずる。
この問題を解決するために本発明の接着剤は、熱硬化性樹脂と混合された混合剤 を含み、その混合剤には硬化状態にある接着剤混合物が基板または隣接したダイ の損傷を避けるために小さな機械力でダイか取外しできるように約150℃から 200℃の間の温度で十分に軟化する材料が選ばれる。
任意の熱硬化性接着剤材料が本発明の技術的範囲内で利用されることができるが 、好ましい実施例はビスフェノールA(DGEBA)タイプのジグリシジルエー テルの熱硬化性エポキシ樹脂を含む。エポキシ樹脂は、1成分タイプまたは2成 分タイプとして供給され、発熱による反応または外部熱あるいは別の放射熱の供 給により生じた熱で室温で硬化するための硬化剤(硬化剤、活性化剤、または触 媒)を含む。エポキシ樹脂は、硬化処理中に生じまたは供給される熱が小型回路 ダイまたは基板を損傷するような高い温度を生じないように選ばれる。適用でき るエポキシ樹脂システムの詳細は、論文、例えば、1967年にH・り一氏によ る「エポキシ樹脂のハンドブック」というテキストに書かれている。例えば、エ ポン828またはジグリシジルエーテルまたはビスフェノールAをベースとし、 ジシ(d l Cy) 、置換されたユリア等のようにアミノ化合物(第1、第 2または第3)で硬化させる熱硬化性エポキシ樹脂は、本発明においての使用に 適当である。
本接着剤の第2の主成分は、約100℃から150℃の間の望ましい温度で強力 な接着力を維持し、それからダイの取外しを十分に可能にするように軟化する接 着剤混合物を生じるために選ばれた融点または温度TMを有する混合剤である。
本発明の技術的範囲内で望ましい効果を生じる任意の混合剤が使用できるが、好 ましい混合剤は約150℃以上の融点を有する熱可塑性エポキシ樹脂その他の熱 可塑性材料を含む。
適用できる熱可塑性樹脂の例は、ポリスルホン、ポリエテルイミド、ビニリデン フッ化物を有するクロロトリフロロエチレンのブロック共重合体、ポリカーボネ ート、ポリアミド、ポリエチレンテレフタレート、ポリフェニレン硫化物、フッ 素化ポリマ、およびビスメールイミドを含む。
熱可塑性材料は接着剤の重量の1乃至50%、通常10乃至30%で構成する。
1乃至10%の低い範囲で利用される熱可塑性樹脂の例はポリフェニレン硫化物 (TM−285℃から290℃)、および結晶性ポリアミド(TM −290℃ )のような結晶性または無定形絶縁性化合物を含む。次の説明から分かるように 、熱可塑性材料の融点は熱硬化性および熱可塑性成分間の相互作用により硬化さ れた接着剤混合物の軟化点と同じように必要でない。
熱硬化性および熱可塑性樹脂に加えて本発明の接着剤は、1またはそれ以上の付 加的な混合剤または、収縮または膨張率、熱伝導または導電性を制御する充填剤 を含んでもよい。
このような充填剤の例には、アルミニウム酸化物、シリコン酸化物、シリコン二 酸化物、シリコン窒化物、チタニウム酸化物、アルミニウム窒化物、ダイアモン ド、リソフラックス、カルシウムカーボネートまたはその他のカーボネートを含 まれるが、それに限定されない。
本発明の原理は、参照の図と共に次の実施例でより理解さ、れるであろう。
実施例 液体の熱可塑性の材料はダイ剪断力の効果を評価するために非導電性ダイ取り付 はエポキシと重量で10.20.30および50%の割合で混合された。シリコ ンダイは室温、100.150および200℃で取り付け、硬化、剪断検査され 、純粋なエポキシおよび熱可塑性材料を加えた接着剤混合物を使用した。100 ℃およびそれ以下で純粋なエポキシに比較して熱可塑性混合物の測定された剪断 力の低下が少ないことが分かった。しかしながら、150℃ではダイ取外しに必 要な剪断力は通常のダイ取付はエポキシによるよりもエポキシ/熱可塑性の混合 物による方がかなり少ない(50%)。
熱硬化性エポキシ樹脂はアブレボンドラボラトリーから入手されるアブレボンド 84−1と呼ばれる非導電性材料である。熱可塑性の材料はエマージン アンド  カミング社により供給された5M−933−60と呼ばれる熱可塑性エポキシ 樹脂であった。
熱硬化性および熱可塑性材料は上記記載の割合で混合され、ダイ取り付は前に排 気された。ダイは0.08インチ平方であり金メッキされたアルミナ基板の上に 取り付けられた。すべてのサンプルはダイ取り付は後5分間再び排気され、12 5℃で1時間硬化された。
50%までの熱可塑性材料の混合物を含むサンプルの平均的な剪断力は150℃ から170℃の温度で基板からダイを取外すために必要な純粋なエポキシ接着剤 の剪断力に比較して減少することが認められた。
100℃またはそれ以下では熱可塑性材料はエポキシの測定された剪断力に小さ な影響しかしないことが明らかにされた。純粋な熱可塑性材料は、25℃から1 00℃の間で非常に弱い剪断力を有する。高温での試験は実行されなかった。
試験の結果は次の通りである。
1、エポキシの材料への熱可塑性材料のふ加は、150℃および175℃でのダ イの取外しに必要な剪断力を少なくとも50%低下させた。
2.100℃およびそれ以下の温度において熱可塑性の材料の添加は測定された 接着剤の剪断力に影響が無いことが明らかにされた。
別の混合剤の無い熱硬化性エポキシ樹脂は約155℃まで約2000psi ( ポンド平方インチ)の剪断力を維持する。
それより上の温度では、剪断力が175℃で約1000psiの数値まで減少し た。純粋な熱可塑性材料は約1250psiの初期剪断力を有し、温度が100 ℃に近づくと500psi以下に降下する。
50%の混合物の剪断力は、約100℃で純粋なエポキシ樹脂の剪断力から離れ 始め、150℃で約1000ps iの値まで減少した。剪断力はさらに温度が 175℃まで増加さ。
れたとき67%減少した。
理想的に、接着剤は約155℃の値まで充分な力を維持し、温度がさらに増加さ れるとき非常に低い水準まで急激に落ちる。
本発明のいくつかの実施例が示され、説明されたが、多くの変形および別の実施 例が本発明の原理および技術的範囲から逸脱することなく当業者によって行い得 るであろう。
従って、本発明は明確に示された実施例のみに限定されるものではない。さまざ まな変形が予想され、添付の特許請求の範囲によって限定された本発明の技術的 範囲から逸脱することなく行われることができる。
平成 年 月 日 特願平 2−508488号 2、発明の名称 再生修理可能エポキシダイ取り付は接着剤3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称ヒユーズ・エアクラフト・カンパニー4、代理人 東京都千代田区霞が関3丁目7番2号 鈴榮内外國特許事務所内 5、自発補正 6、補正の対象 請求の範囲 1、基板と、 電子回路部品と、 基板に部品を接着する再生修理可能用の接着剤とを具備し、 その接着剤は、硬化可能な熱硬化性樹脂と、硬化状態で接着剤を約100℃から 250℃の間の温度で軟化させるように選択された混合剤とを含んでいる再生修 理可能電子部品構造。
2、混合剤が、約150乃至200℃の範囲の温度で接着剤を軟化させるように 選択される請求項1記載の構造。
3、熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂を含む請求項1記載の構造。
の構造。
ヱ、硬化可能な熱硬化性樹脂と、 硬化状態にある接着剤を約100乃至250℃の範囲の温度で軟化させるように 選択された混合剤とを具備している再生修理可能な電子ダイ取り付は用接着剤。
旦、混合剤は、熱可塑性樹脂を含む請求項二記載の接着剤。
2、熱可塑性樹脂は、熱可塑性エポシ樹脂を含む請求項8記載の接着剤。
旦、さらに充填剤材料を含む請求項二記載の接着剤。

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.基板と、 電子回路部品と、 基板に部品を接着する再生修理可能用の接着剤とを具備し、その接着剤は、硬化 可能な熱硬化性樹脂と、硬化状態で接着剤を約100℃から250℃の間の温度 で軟化させるように選択された混合剤とを含んでいる再生修理可能電子部品構造 。
  2. 2.混合剤が、約150乃至200℃の範囲の温度で接着剤を軟化させるように 選択される請求項1記載の構造。
  3. 3.混合物が約150℃以上の融点を有する請求項2記載の構造。
  4. 4.熱硬化性樹脂が約200℃以上のかラス転移温度を有する請求項3記載の構 造。
  5. 5.熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂を含む請求項1記載の構造。
  6. 6.エポキシ樹脂がビスフェノールAのジグリシジルエーテルを含む請求項5記 載の構造。
  7. 7.混合剤は、重量で接着剤の約1乃至50%の範囲である請求項5記載の構造 。
  8. 8.混合剤は、重量で接着剤の約10乃至30%の範囲である請求項5記載の構 造。
  9. 9.混合剤は、熱可塑性樹脂を含む請求項5記載の構造。
  10. 10.熱可塑性樹脂は、熱可塑性エポキシ樹脂を含む請求項9記載の構造。
  11. 11.部品は、集積回路ダイである請求項1記載の構造。
  12. 12.接着剤は、さらに充填剤材料を含む請求項1記載の構造。
  13. 13.硬化可能な熱硬化性樹脂と、 硬化状態にある接着剤を約100乃至250℃の範囲の温度で軟化させるように 選択された混合剤とを具備している胃生修理可能な電子ダイ取り付け用接着剤。
  14. 14.混合剤は、約150乃至200℃の範囲の温度で接着剤を軟化させるよう に選択される請求項13記載の接着剤。
  15. 15.混合剤は、約150℃以上の融点を有する請求項14記載の接着剤。
  16. 16.熱硬化性樹脂は、200℃以上のガラス転移温度を有する請求項15記載 の接着剤。
  17. 17.熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂を含む請求項13記載の接着剤。
  18. 18.エポキシ樹脂は、ビスフェノールAのジグリシジルエーテルを含む請求項 17記載の接着剤。
  19. 19.混合剤は、重量で接着剤の約1乃至50%の範囲である請求項17記載の 接着剤。
  20. 20.混合剤は、重量で接着剤の約10乃至30%の範囲である請求項17記載 の接着剤。
  21. 21.混合剤は、熱可塑性樹脂を含む請求項17記載の接着剤。
  22. 22.熱可塑性樹脂は、熱可塑性エポキシ樹脂を含む請求項21記載の接着剤。
  23. 23.さらに充填剤材料を含む請求項13記載の接着剤。
JP2508488A 1989-09-05 1990-05-14 再生修理可能エポキシダイ取り付け接着剤 Pending JPH04501635A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/408,864 US5002818A (en) 1989-09-05 1989-09-05 Reworkable epoxy die-attach adhesive
US408,864 1989-09-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04501635A true JPH04501635A (ja) 1992-03-19

Family

ID=23618088

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2508488A Pending JPH04501635A (ja) 1989-09-05 1990-05-14 再生修理可能エポキシダイ取り付け接着剤

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5002818A (ja)
EP (1) EP0442979A1 (ja)
JP (1) JPH04501635A (ja)
WO (1) WO1991003835A1 (ja)

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5538789A (en) * 1990-02-09 1996-07-23 Toranaga Technologies, Inc. Composite substrates for preparation of printed circuits
WO1991018957A1 (en) * 1990-06-08 1991-12-12 Minnesota Mining And Manufacturing Company Reworkable adhesive for electronic applications
US5143785A (en) * 1990-08-20 1992-09-01 Minnesota Mining And Manufacturing Company Cyanate ester adhesives for electronic applications
DE4028556C1 (ja) * 1990-09-08 1992-04-02 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De
US5150195A (en) * 1990-10-24 1992-09-22 Johnson Matthey Inc. Rapid-curing adhesive formulation for semiconductor devices
US5386000A (en) * 1990-10-24 1995-01-31 Johnson Matthey Inc. Low temperature flexible die attach adhesive and articles using same
US5371178A (en) * 1990-10-24 1994-12-06 Johnson Matthey Inc. Rapidly curing adhesive and method
US5250600A (en) * 1992-05-28 1993-10-05 Johnson Matthey Inc. Low temperature flexible die attach adhesive and articles using same
US5155066A (en) * 1990-10-24 1992-10-13 Johnson Matthey Inc. Rapid-curing adhesive formulation for semiconductor devices
FR2669177B1 (fr) * 1990-11-09 1992-12-31 Sofradir Ste Fse Detecteurs In Procede pour realiser l'assemblage reversible d'un circuit electronique de lecture et/ou d'exploitation et d'un support conducteur ou non de l'electricite.
US5291066A (en) * 1991-11-14 1994-03-01 General Electric Company Moisture-proof electrical circuit high density interconnect module and method for making same
US5524422A (en) * 1992-02-28 1996-06-11 Johnson Matthey Inc. Materials with low moisture outgassing properties and method of reducing moisture content of hermetic packages containing semiconductor devices
US5311404A (en) * 1992-06-30 1994-05-10 Hughes Aircraft Company Electrical interconnection substrate with both wire bond and solder contacts
JP2707189B2 (ja) * 1992-08-26 1998-01-28 株式会社日立製作所 電子部品の基板からの取外し方法及び装置
SE470501B (sv) * 1992-10-07 1994-06-06 Ericsson Telefon Ab L M Förfarande vid montering på ett substrat av en TAB-krets, varvid TAB-strukturens anslutningar utgörs av ett elektriskt ledande anslutningsmönster som framställts på en filmremsa och vilket är anslutet till TAB-strukturens halvledarkretsbricka
US5358992A (en) * 1993-02-26 1994-10-25 Quantum Materials, Inc. Die-attach composition comprising polycyanate ester monomer
US5489641A (en) * 1993-02-26 1996-02-06 Quantum Materials Freeze resistant die-attach compositions
AU5448294A (en) * 1993-10-22 1995-05-08 Toranaga Technologies, Inc. Composite substrates for preparation of printed circuits
US5500279A (en) * 1994-08-26 1996-03-19 Eastman Kodak Company Laminated metal structure and metod of making same
US5700398A (en) * 1994-12-14 1997-12-23 International Business Machines Corporation Composition containing a polymer and conductive filler and use thereof
US5753748A (en) * 1995-05-12 1998-05-19 Quantum Materials, Inc. Bleed resistant cyanate ester-containing compositions
US5646241A (en) * 1995-05-12 1997-07-08 Quantum Materials, Inc. Bleed resistant cyanate ester-containing compositions
US5718789A (en) * 1995-06-07 1998-02-17 The Dexter Corporation Method for making a debossed conductive film composite
US5761801A (en) * 1995-06-07 1998-06-09 The Dexter Corporation Method for making a conductive film composite
US5731086A (en) * 1995-06-07 1998-03-24 Gebhardt; William F. Debossable films
US5928767A (en) * 1995-06-07 1999-07-27 Dexter Corporation Conductive film composite
WO1998015593A1 (en) * 1996-10-08 1998-04-16 Fibercote Industries, Inc. Sheet material for core support
EP0843352A1 (en) * 1996-11-15 1998-05-20 Montpellier Technologies Method for removing a semiconductor chip bonded to a wire-bonded multichip module
US5912282A (en) * 1996-12-16 1999-06-15 Shell Oil Company Die attach adhesive compositions
US5948922A (en) * 1997-02-20 1999-09-07 Cornell Research Foundation, Inc. Compounds with substituted cyclic hydrocarbon moieties linked by secondary or tertiary oxycarbonyl containing moiety providing reworkable cured thermosets
US6015955A (en) * 1997-06-20 2000-01-18 International Business Machines Corporation Reworkability solution for wirebound chips using high performance capacitor
US6172141B1 (en) * 1998-01-07 2001-01-09 Georgia Tech Research Corporation Reworkable epoxy underfill encapsulants
US6380322B1 (en) 1998-06-19 2002-04-30 Georgia Tech Research Corporation Reworkable high temperature adhesives
US6707671B2 (en) * 2001-05-31 2004-03-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Power module and method of manufacturing the same
US20060118601A1 (en) * 2004-12-06 2006-06-08 Brandenburg Scott D Epoxy-solder thermally conductive structure for an integrated circuit
CN101194540B (zh) * 2005-04-11 2010-06-16 3M创新有限公司 导电产品的连接方法和具有由该连接方法连接的部分的电气或电子元件
JP4811015B2 (ja) * 2005-12-21 2011-11-09 イビデン株式会社 プリント配線板の製造方法
US20070290378A1 (en) * 2006-06-20 2007-12-20 International Business Machines Corporation Novel reworkable underfills for ceramic mcm c4 protection
US8685528B2 (en) * 2007-04-20 2014-04-01 GM Global Technology Operations LLC Shape memory polymer and adhesive combination and methods of making and using the same
US8618238B2 (en) 2007-04-20 2013-12-31 GM Global Technology Operations LLC Shape memory epoxy polymers
US8043460B2 (en) 2007-04-20 2011-10-25 GM Global Technology Operations LLC Reversible dry adhesives
US8236129B2 (en) * 2007-05-23 2012-08-07 GM Global Technology Operations LLC Attachment pad with thermal reversible adhesive and methods of making and using the same
US8012292B2 (en) * 2007-05-23 2011-09-06 GM Global Technology Operations LLC Multilayer adhesive for thermal reversible joining of substrates
US20080318061A1 (en) * 2007-06-20 2008-12-25 Akira Inaba Insulation paste for a metal core substrate and electronic device
US7932342B2 (en) 2008-01-16 2011-04-26 International Business Machines Corporation Method to improve wettability by reducing liquid polymer macromolecule mobility through forming polymer blend system
US12312504B2 (en) * 2020-10-15 2025-05-27 International Business Machines Corporation Thermally reworkable adhesives for electronic devices
CN113046007A (zh) * 2021-03-22 2021-06-29 东莞澳中新材料科技股份有限公司 一种热失粘组合物、包含其的热失粘保护膜及制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6049635A (ja) * 1983-08-29 1985-03-18 Sumitomo Bakelite Co Ltd チップのマウント方法
JPS6322734B2 (ja) * 1982-11-04 1988-05-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd
JPS63132435A (ja) * 1986-11-22 1988-06-04 Toshiba Chem Corp 半導体素子

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3600246A (en) * 1968-05-17 1971-08-17 Rca Corp Method of making laminated semiconductor devices
US4652398A (en) * 1985-09-12 1987-03-24 Stauffer Chemical Company Rapid curing, thermally stable adhesive composition comprising epoxy resin, polyimide, reactive solvent, and crosslinker
CN87107692A (zh) * 1986-11-13 1988-05-25 Mt化学公司 半导体器件的制造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6322734B2 (ja) * 1982-11-04 1988-05-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd
JPS6049635A (ja) * 1983-08-29 1985-03-18 Sumitomo Bakelite Co Ltd チップのマウント方法
JPS63132435A (ja) * 1986-11-22 1988-06-04 Toshiba Chem Corp 半導体素子

Also Published As

Publication number Publication date
EP0442979A1 (en) 1991-08-28
WO1991003835A1 (en) 1991-03-21
US5002818A (en) 1991-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04501635A (ja) 再生修理可能エポキシダイ取り付け接着剤
US7341642B2 (en) Manufacturing method for electric device
JP5792833B2 (ja) 可逆接着性熱界面材料
US6158115A (en) Method of mounting a plurality of electronic parts on a circuit board
JP4258984B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0329207A (ja) 回路接続用組成物及びこれを用いた接続方法並びに半導体チップの接続構造
US20070054114A1 (en) Multilayer anisotropic conductive adhesive and connection structure using the same
CN100392831C (zh) 半导体装置及其制造方法
KR20070022101A (ko) 반도체 봉지용 수지 시트 및 이것을 사용한 반도체장치의제조방법
JPH06232186A (ja) 電子部品の接着方法
JPH10289969A (ja) 半導体装置およびそれに用いる封止用樹脂シート
CN101983419A (zh) 半导体装置及其制造方法
JP5585542B2 (ja) 接着フィルムおよびその用途ならびに半導体装置の製造方法
JP2008038111A (ja) フィルム状接着剤及びそれを使用する半導体パッケージの製造方法
JP4574631B2 (ja) マルチチップ実装法
KR100642889B1 (ko) 반도체용 접착필름
US6022616A (en) Adhesive composition with small particle size for microelectronic devices
JP4223581B2 (ja) マルチチップ実装法
JP4045471B2 (ja) 電子部品実装法
JP2009135506A (ja) 接着フィルムおよびその用途ならびに半導体装置の製造方法
Gilleo et al. Thermoplastic Adhesives–The Attachment Solution for Multichip Modules
US6861291B2 (en) Method producing a contact connection between a semiconductor chip and a substrate and the contact connection
US20050233161A1 (en) Thermosetting adhesive sheet with electroconductive and thermoconductive properties
EP0699220A1 (en) Reworkable poly(ethylene-vinyl alcohol) adhesive for electronic applications
JP4337941B2 (ja) マルチチップ実装方法