JPH04501978A - 酸と塩とを含む物質からの酸の精製方法 - Google Patents
酸と塩とを含む物質からの酸の精製方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
と声と 4・ か“のの ′。
l肛」1
本発明は酸を含む塩溶液からの酸の分離方法に関する。さらに詳しくは、本発明
は二極性till (bipolar■embrane)と陰イオン膜とを含む
装置の、酸と塩とを含む溶液からの酸の分離への新しい利用に関する。
三区画セル(two compartment cell)での電気透析による
水分離は周知である。
例えば、米国特許第4,391,680号は塩化ナトリウム水溶液の三区画水分
離による強酸性化塩化ナトリウムと水酸化ナトリウム水溶液との形成を開示して
いる。三区画電気透析水分離装置は技術上周知である。交互酸、塩及び塩基区画
を形成する交互双極性、陰イオンと陽イオン交換膜から成る、これらの装置が開
示されている。米国出願第135,562号は、電気透析装置を用いて酸を濃縮
し、次に電気透析三区画水分離装置(water−splHter)により塩か
ら酸を分離することから成る、酸と塩とを含む物質からの酸の回収を開示してい
る。
米国特許第4,608.141号は多重室二区画電気透析水分離装置と同装置を
用いた、水溶性塩の塩基性化(basification)方法を開示している
。米国特許第4,536.269号は多重室二区画電気透析水分離装置と同装置
を用いた、水溶性塩の酸性化方法を開示している。これらの2特許は二区at気
透析水分離装置の使用とそれらを用いた塩処理とを考察している。
一つの三区画水分離装置の塩基区画から塩基溶液を取り出し、第二の三区画水分
離装置の塩基区画を通して供給する、二つの通常の三区画電気透析水分離装置の
ステージング(staging)は公知である。二極性膜の効率を高めようと試
みて、米国特許第3.111.472号〔オダ(Oda)等〕は三区画電気透析
水分離装置の酸及び/又は塩基区画に微孔質透水性陽イオン又は中性膜を配置す
ることを開示している。
二極性膜は酸と塩基とを得るための電気透析による水分離に有用であることが数
年前から知られており〔オダ等の米国特許第2.289.095号、チアンダ(
Chianda)等の米国特許第3.787.304号、ジェンチェウスキ(J
enczewsk+ )等の米国特許第4.552.635号〕、種々なセル形
状へのそれらの使用は報告されているが〔オダ等の日本特許第2923(’ 5
8)号、ケミカル アブストラクト53 : 11070bに報告;米国特許第
4,536.269号及び米国特許第4.608.141号〕、効果的にH4ま
たは)−イオンのみを輸送し、相客れない生成物を形成することな(、酸の精製
に有効である、高度に選択的な膜としてのそれらの使用はまだ実現されていない
。
上記参考文献のいずれも例えば三区画分離装置のような装置での二極性膜を用い
た、酸含有塩溶液の分離と次の塩溶液の除去とを開示していない。
例えば米国特許第4.536.269号のような先行技術は、陽イオン膜が例え
ば水素イオン以外の、金属イオンのような他の陽イオンに比べて水素イオンの選
択的輸送を優先的に可能にすることを教えているが、この選択性は小さい。
光朋坐盟約
本発明は酸と塩を含む水性供給流(aqueor+s feed atrea−
から酸を分離する方法である。塩は陽イオンと陰イオンとを含む0本発明の方法
は、陽イオン層(layer)と陰イオンとから成る、少なくとも1種の二極性
膜を含む酸精製装置を用いて実施される。陽イオン層は陽イオンを通過させ、陰
イオン層は陰イオンを通過させる。陽イオン層は陰イオンに対するバリヤーであ
り、陰イオン層は陽イオンに対するバリヤーである。各二極性膜は少なくとも一
つの第り陰イオン膜と少なくとも一つの第2陰イオン膜との間に配置される。酸
精製装置(acid purif−ication unit)は少なくとも二
つの区画(co+mpartment)を有する。供給区画は二極性膜の陰イオ
ン層と少なくとも一つの第1陰イオン膜との間のスペース(space)として
定義される。生成物区画は二極性膜の陽イオン層と少なくとも一つの第2陰イオ
ン膜との間のスペースとして定義される。用いる装置は三区画水分離装置(tw
o compartment water 5plitter)と同し構造を有
するが、機能は完全に異なる。
方法は酸と塩とを含む水性供給流を少なくとも一つの供給区画(feed co
mpartm−en t)に供給する工程を含む、水性生成物供給流を少なくと
も一つの生成物区画に供給する。
充分な電位を与えて、装置を横切る直流を生じさせ、二極性膜に形成される水素
イオン(Ho)を生成物区画に導入させる。この電流は陰イオンを少なくとも一
つの陰イオン膜を通過させる。陰イオンは少なくとも一つの生成物区画に入る。
供給材料区画(feed compartment)の酸の濃度は陰イオン移動
の結果として減少し、Hoの導入は生成物区画の酸濃度を高める。この方法はさ
らに、生成物区画からの生成物の取出し工程と供給材料区画からの生成供給材料
の取出し工程を含む。
装置が少なくとも一つの供給材料区画を含み、各供給材料区画が生成物区画と交
互であることが好ましい、好ましい実施態様では、装置は複数の交互二極性膜と
陰イオン膜とを含み、複数の生成物区画と供給材料区画とを生ずる。このような
配置は製造装置をコンパクトにし、それによって資本とスペースの必要性を低下
させる。
本発明の方法の代替え実施態様では、装置がさらに、少なくとも一つの陰イオン
透過選択性(permselective)層と少なくとも一つの陰イオン膜と
の間に少なくとも一つの陽イオン膜を含む、酸区画は二極性膜の陰イオン層と陽
イオン膜との間のスペースとして定義される0本発明のこの実施態様に用いられ
る装置は、供給材料流が二極性膜の陰イオン層と錯体(co−ρ1ex)を形成
して又は不溶性水酸化物を形成して二極性膜に付着する金属イオンを含む場合に
特に有用である。用いられる装置は三区画水分離装置と同じ構造を有するが、8
1能は全く異なる。
本発明の他の実施態様は、塩と酸を含む溶液を三区画酸精製装置に供給する工程
を含む方法である。三区画酸精製装置では、塩と酸の溶液が第1塩流を生ずる。
酸の実質的に全てがこの第1塩流から分離される。二区函酸精製装置は塩漬のp
l+が約7になるようにこの第1酸流を生ずることが好ましい、酸はこの三区画
酸精製装置を第1M流として出る。最初の塩溶液中に存在する酸を次にプロセス
から取出す、実質的に中性の第1塩流を三区画水分離装置に供給する。塩は分離
されて第2塩基流、酸と任意に塩とを含む第2酸流及び最後に、希薄な塩漬を生
ずる塩区画の希薄な残渣を形成する。特定の好ましい実施amでは、希薄な塩漬
を再循環のために再濃縮する。希薄な塩漬は電気透析または逆浸透を含めた、適
当な手段によって濃縮することができる。
存意な酸量を含む塩溶液からの酸の製造のための三区画酸精製装宜と三区画水分
解装置との組合せは、三区画装置に比べた三区画装置の膜面積と電力必要量の減
少のために有利である。付加的な操作上の若干の自由さも得られる0例えば、中
性塩漬を三区画水分解装置の塩区画に供給することができ、この装置は塩漬が中
性であるために、弱塩基型膜を用いることができる。このような膜は高効率を存
する。
図】F吋区単L」v匠
第1図は単極性膜のみを有し、酸の精製に用いることのできる、先行技術の装置
又はセルを示す。
第2図は二極性膜を用い、本発明の方法による酸の精製に用いることのできる装
置又はセルを示す。
第3図は本発明の方法による操作中の二極性膜の概念的な細部を示す。
第4図は非常に汚染された酸の精製に有用な、本発明の他の実施態様を示す。
第5図は本発明の実施例に用いる装置の概略図を示す。
第6図は本発明の方法に有用な装置の流れ図を示す。
第7図は時間対電流効率〔η(%)〕と、時間対供給濃度と生成物濃度のグラフ
である。
第8図は本発明の他の実施態様に用いる装置の概略図である。
第9図は電流が不溶性水酸化物を形成しない陽イオンを含む、本発明の特定の実
施apJの概略流れ図を示す。
第10図は電流が不溶性水酸化物を形成する陽イオンを含む本発明の特定の実施
態様の概略流れ図を示す。
発皿Ω詳璽笠説皿
本発明は添付図面を参照するならば、当業者によって理解されるであろう。
本発明は酸と、金属陽イオン及び陰イオンから成る塩とを含む水性供給材料流か
らの酸の分離方法である。この方法は陽イオン層と陰イオン層とから成る、少な
くとも一つの二極性膜を含む装置において実施される。各二極性膜は少なくとも
一つの第1陰イオン膜と少なくとも一つの第2陰イオン膜との間に配置される。
二極性膜の陰イオン層と少なくとも一つの第1陰イオン膜との間には供給材料区
画(product compartsent)が存在する。二極性膜の陽イオ
ン層と少なくとも一つの第2陰イオン膜との間には生成物区画が存在する。
この方法は酸と塩を含む水性供給材料流を少なくとも一つの供給材料区画に供給
する工程と水性生成物流を少なくとも一つの生成物区画に供給する工程とを含む
、充分な電位を供給して、供給材料区画と生成物区画とを通過する直流を生しさ
せ、二極性膜で形成されるH゛を生成物区画に導入する。二極性膜の陰イオン層
又は陽イオン層中に水が移動して分離され、ヒドロキシルは陰イオン層を通って
移動し、水素イオンは陽イオン層を通って移動すると考えられる。水素イオンは
陽イオン層を通って生成物区画に運ばれる。供給材料流からの陰イオンは少なく
とも一つの陰イオン膜を横切って生成物区画に移動する。供給材料区画中の酸濃
度は陰イオンが生成物区画中に移動して二極性膜で形成される水素イオンと結合
して酸を生ずる結果として減少する。#を含む生成物流は生成物区画から取出さ
れ、酸陰イオンと水素イオンが低下した、塩を含む、この結果の供給材料流は供
給材料区画から取出される。特定の好ましい実施態様を以下で、添付図面に関連
して説明する。
第1図は酸の精製に有用な、「セル」とも呼ばれる先行技術装置である。先行技
術セル10は交互の陽イオン膜12と陰イオン膜14とから成る。直流を電極、
陽極16と陰極1日によってセル全体に供給する。陰イオン膜と陽イオン膜との
間のスペースは、入口と出口を除いて、実質的に閉鎖された区画である。陰イオ
ン膜はn−の電荷を有する陰イオンAA11−(nは整数)を通過させるが、陽
イオンの通過は阻止する。陽イオン膜は水素イオンを通過させるがM”(nは整
数)として表される金属陽イオンのような陽イオンの通過には抵抗するように設
計される0点線は少量の金属陽イオンが陽イオン膜から漏出しうろことを示す、
陽イオン膜は、水素イオンの可動性(■obility)が大きいために、他の
陽イオンに比べて、一般に水素イオンを選択的に通過させる。
金属陽イオンのような陽イオンと陰イオンとから成る塩と酸とを含む供給材料流
は供給材料区画Fに供給される。供給材料区画Fでは、陰イオン膜が陽極に接近
し、陽イオン膜は陰極に接近しているので、水素イオンと他の陽イオンは陽イオ
ン膜を通りで駆動され、陰イオンは陰イオン膜を通って反対方向に駆動される。
供給材料区画に隣接する区画は生成物区画Pと呼ばれる。生成物区画Pは入口と
出口を有する閉鎖区画である。生成物区画は陽極に近い陽イオン膜と陰極に近い
陰イオン膜との間に存在する。それ故、陰極方向に移動する水素イオンと他の陽
イオンは、陰イオン膜14に達すると停止する。陰イオンは陽極方向に移動し、
陽イオン膜に達すると停止する。生成物流、典型的には水性流は生成物区画Pに
供給される。直流による、水素イオンと陰イオンの生成物区画Pへの移動は酸の
形成をもたらす、生成物流を取り出す、生成物流は酸と、H゛と共に陰イオン膜
中に運ばれた他の陽イオンを含む、取出される供給材料は移動しなかった、最初
の塩(original 5alt)及び酸の一部を含む。
図示した先行技術セルは塩から酸を分離することができるが、得られる酸の純度
は、特に酸の大部分を取出そうと試みる場合に、比較的低い、薄層の陰イオン交
換物質を含む陽イオン膜ば一価陽イオンに対する陽イオン膜の選択性を改良する
ために公知である〔ケイ、シマサキ(K、Shi閣asaki)等、ジェイ、ア
プル、ポリ、サイ、 (J、Appl、Po1y、Scj、)、34.1093
(1987)) 、このような膜は多価陽イオンの酸からの分離により効果的で
あるが、有意な金属陽イオン輸送がなおも生じ、H。
と他の一価陽イオンとの間の区別(discri■inating)にはあまり
効果的ではない。
第2図は本発明に有用な装置、すなわちセルを説明する。この装置は少なくとも
一つの二極性膜20を含む、第3図は二極性膜の概略図を示す、二極性膜は陽イ
オン層22と陰イオン層24とを含む、陽イオン層は例えば水素イオンのような
陽イオンを通過させる物質から製造される。陰イオン層は例えばヒドロキシルイ
オンのような陰イオンを通過させる。陰イオン層と陽イオン層は水も通過させる
。陰イオン層と陽イオン層との境界では、水のイオン化によって水素イオンとヒ
ドロキシルイオンが形成される。層全体に供給される充分な電位によって、正に
帯電した水素イオンの陽イオン層を通る陰極方向への移動と負に帯電したヒドロ
キシル陰イオンの陰イオン選択性膜を通る陽極方向への移動が生ずる。
第2回に示すような、本発明の好ましい実施態様では、二極性膜20が第1陰イ
オン膜30と第2陰イオン膜32との間に存在する。二極性膜の陰イオン層24
と少なくとも一つの第1陰イオン膜30との間には供給材料区画Fが存在する。
二極性膜の陽イオン層24と少なくとも一つの第2陰イオン1Ei32との間に
は生成物区画Pが存在する。陽イオン層22は陰極22に面する。
本発明の方法によって、酸と例えば金属陽イオン又はアンモニウム陽イオンのよ
うな陽イオンとを含む水性供給材料流34を少なくとも一つの供給材料区画Fに
供給する。水性生成物流36は生成物区画Pに供給する。水性生成物流36は酸
と溶解性塩を含みうる。電極26と28によって導入される直流は供給材料区画
Fと生成物区画Pとを通過し、二極性膜で形成される水素イオンを生成物区画P
に導入させるこの電流は陰イオンA”−を陰イオン透過選択性膜を通過させる。
供給材料区画中の酸濃度は陰イオンと正味水素イオン(net hydroge
n 1on)が生成物区画に移動する結果として減少する。得られる生成物流3
6′を生成物区画から取出され、得られる処理供給材料流34′は供給材料区画
から取出される。
本発明の方法によると、この装置はさらに複数の交互の二極性膜と陰イオン膜を
含み、少なくとも一つの供給材料区画を生じ、各供給材料区画は一つの生成物区
画と交互である。
二極性膜はH゛以外殆んど全ての陽イオンの移動を排除しうるので、得られる酸
は供給材料流よりもはるかに少ない塩(すなわち陽イオン不純物)を含む、陽イ
オンは一価、二価及び三価の金属陽イオン及びアンモニウムを含めた非金属陽イ
オンを含む、陰イオンは例えばハライド(41alide)のような−価陰イオ
ン、例えばスルフェートのような二価陰イオン、例えばホスフェートのような三
価陰イオン及びこれらの混合物を含む、精製することのできる典型的な酸−塩組
合せはHCI/NaC1,酢酸/Na0Ac、 HCI/N)+4CII Na
zSOn/HtSOat RtSOn/FeSO4/Fe*(SO=js。
NaNOs/)INO31NHaNOs/HNOs+ NazPOa/HsPO
a+ HNOx/N1(NOsン!+ NBFa/Cr(Be4)z。
HtSOa/Cu5Oa+又はl(F/KFがある。酸の混合物も陽イオン不純
物に関して精製することができ、例えばHF/HNOツ/Ni (NO3) z
を処理して、精製してIIF/HNO,を得ることができる。
多くの金属は例えば塩化物又はフッ化物のような陰イオンと、例えばFeClm
−及びTiFh−のような錯体を容易に形成する。これらのイオンが存在する場
合に、これらのイオンは陰イオン膜を横切って運ばれる傾向があるので、得られ
る酸は金属不純物を含むことになる。しかし、二極性膜の代りに陽イオン膜を用
いて、陽イオン性金属汚染物が陽イオン膜を横切って運ばれた場合に考えられる
純度よりも純度は高くなる。
酸供給材料流はO,INから5N以上までの範囲内の酸濃度を有しうるが、一般
に弱酸(あまりイオン化しない酸)によって高濃度が得られる。生成物の濃度は
通常、供給材料の濃度よりも高いが、特に供給材料の濃度が高い場合には、生成
物の濃度は供給材料濃度以下になることもある。第2図に示した1#類の系の効
率は陰イオン膜の選択性に依存する。良好な陰イオン膜は高い酸濃度の発生を可
能にする。
供給材料中の酸濃度は好ましくは0.5N〜5Nであり、最も好ましくは1〜3
Nである。
塩は飽和までの濃度でありうるが、o、ootモルから飽和までの濃度が好まし
く、0.1モル以上が典型的である。
生成する生成物流36′は最初の供給材料fL34の0,1倍以下の塩濃度、好
ましくは0.01倍以下の塩濃度をとり得る。
膜の安定性と溶液成分の溶解度が許すならば、0℃〜100℃の有用な作業温度
が可能になる。一般に、膜の寿命は低温において長く、電力消費量は高温におけ
る方が低い、好ましい作業温度は25〜60℃、さらに好ましい作業温度は35
〜50℃である。硫酸の場合には、45℃より高い温度が最も好ましい。
陰イオン交換物質の薄い被膜のみを含む、先行技術の被覆陽イオン膜とは異なり
、本発明に有用な二極性膜は陰イオンの輸送に対して高度に選択性である陰イオ
ン交換物質の有意な厚さを含む、このような膜は米国特許第4,024,043
号〔デゲ(Dege)等〕、米国特許第4,116.889号〔クラツプ(Ch
landa)等〕、及び米国特許第4.584.246号〔リウ(Lfu)等〕
に述べられている。陰イオン交換膜は単に電荷数またはイオンサイズに基づくの
ではなく、ドナンの原理(Donnan Rrincip−Ie) (エル、エ
ッチ、シャツy −(L」、5haffer)とエム、ニス、ミンツ(M、S、
Mintz)のプリンシブシス オブ デサリネーション(Principle
s of Desalination)の6章「エレクトロダイアリシス(El
ectro dialysis) J %アカデミツク プレス(^cadem
ic Press) 、 NY (1966) 、ケイ、ニス、スビーグラー(
K、S、Spieglar)編集を参照のこと〕によって陽イオンを排除するの
で、陰イオン交換膜は一般に高選択性であり、電荷数に関係なく、全ての陽イオ
ンに対して効果的である Heに対する二極性膜の高選択性は、概念的に、第3
図に説明するようにして達成される。ドナンの排除原理のために、陽イオン(H
”を含む)が陰イオン層から排除される。Hoは中性水分子の一部として陰イオ
ン層を通過することができる。水分子は二極性膜の陰イオン交換層と陽イオン交
換層との間の境界においてH・とOl+−にイオン化することができ、膜を横切
る電位勾配に応じて運ばれる。界面において発生するO「は膜の陰イオン層内又
は陰イオン層のすぐ外側でPと反応する。
正味の結果は膜を横切る■゛の殆んど排他的な移動である。
ある一定の酸を含む漬れ、例えばステンレスロ酸洗い(pickling)がら
の流れは比較的少量の酸と、二極性膜の陰イオン層と錯体を形成しうるか又は不
溶性水酸化物を形成しうる。このような流れに対して、付加的な通常の陽イオン
膜を含む、第4図に示・すような、セル配置を用いて、二極性膜の陰イオン層に
対する損傷を裂けることができる。
第4図に示す装置を用いる方法では、陰イオン層24と少なくとも一つの陰イオ
ン層との間に少なくとも一つの陽イオン膜38が存在する。二極性膜の陰イオン
層と陽イオン膜との間には酸区画Aが存在する。供給材料流40は陰イオン層と
錯体と形成しうるか又は二極性膜る付着する不溶性水酸化物を形成しうる金属イ
オンを含む、水性流42は生成物区画に供給され、水性酸流44は酸区画Aに供
給される。
第4図に示す装置すなわちセルスタック(cell 5tack)の操作は、第
2図に示した装置と類領しており、第2図に関連して上述した。酸区画は二極性
膜の陰イオン表面近くの金属イオン濃度を減するためのバリヤーとして作用する
。
陰イオン層の目的は、H゛イオン移動対する陽イオン膜の選択性を利用して、二
極性膜の陰イオン表面近くの金属イオン濃度を減することである。陽イオン膜と
二極性膜とによって形成される酸区画Aに供給される酸は供給材料区画からの生
成物の一部になりうる。陽イオン膜を横切って運ばれる、P対金属イオンの比は
、特に金属が中性又は陰イオン錯体として存在する場合に、供給材料中における
よりも高くなる筈である。#区画中の金属イオン濃度は供給材料区画中よりも低
ぐ維持されうる。*区画からの酸は、金属で充分に汚染された後に、供給材料流
中に供給される。酸回収に損失は生じないが、このプロセスの効率は低下する。
第1図の先行技術装置中で塩汚染した電流を処理し、この装置の生成物を第2図
に示した本発明の装置に供給材料として導入することによって、本質的に同じ効
果が得られる。第4図に示したような単一装置の使用は、その単純性、膜数の減
少を含む装置の必要条件の減少、及び電力消費量とボンピング容ii(pump
ing cap−a i c ty)の減少を含む操作必要条件の軽減のために
より有利である。
第9図は、不溶性水酸化物を形成しない金属陽イオン又はアンモニウムを含む電
流を第2図に示した種類の三区画酸精製装置50において処理した、生成物区画
から酸の実質的に全てを回収することができる。第2図と第9図の参照数字は共
通要素に対して共通である。供給材料流Fから生ずる流れ34′は実質的に中性
の塩を含む、この中和された流れ34′を三区画又は三区画水分解装!で処理し
て、塩基と付加的な酸とを回収することができる。第5図に示すように、三区画
水分解装置60を用いて、完全な回収が達成される。このような三区画水分解装
置は参考文献として関係する米国特許第4.740.281号に開示されている
。水分解装置からの希薄な塩層のi!縮手段70を任意に備えて、塩を再循環流
72を介して水分解装置の塩区WiSに再循環させることができる。濃縮手段は
米国特許第4.740.281号に述べられているような電気透析セル(EDセ
ル)を含む、生成物塩基による塩層の中和を必要とする先行技術方法を凌駕する
、このようなプロセスの主な利点は、プロセスの全てを三区画装置で実施する代
りにプロセスの一部を三区画装置で実施するために総膜面積と総電力量が減少し
、水性塩基を加えないので水分解装置からの希薄な基波出液が減少することであ
る。第9図に示す実施態様は、NaClとflcIとを含む流れ34からの純粋
なMCIの製造に用いることができる。
第10図は、不溶性水酸化物を形成する陽イオンが存在する、本発明の特定の好
ましい実施態様を説明する。二極性膜の陰イオン側への金属水酸化物の付着を阻
止するために若干の酸性度(acidity)が必要であるので、酸の回収を完
全にすることはできない。
第9図に示した実施Li様と同様に、第2図と第6図の参照数字は共通要素に対
して共通である。生ずる供給材料流34′を処理して、不溶性水酸化物を除去す
る。
第10図では、供給材料流34′を中和装置/フィルター80に供給する。流れ
34′は塩と希酸とを含む、水溶性の水性塩基流82を中和装置/フィルター8
0に供給する。
不溶性塩基が生成し、これを濾別して、不溶性塩基ライン84から除去する。中
和された水溶性塩の水性塩fL86は、三区画水分解装置8Bのような、三区画
又は三区画水分解装置に供給することができる。これは酸、塩及び塩基流90.
92及び82をそれぞれ生ずる。塩基流82は中和装置/フィルター80に再循
環させる。塩層92は第9図の濃縮手段70に関して述べたように濃縮すること
ができる。被処理塩流の若干の希釈が生じ、プロセスの大部分を三区画装置で実
施しなければならないが、直接の中和を凌駕する幾らかの利点は保持される。
特に有用な二極性膜の例には、オダ等の米国特許第2.829.095号(一般
的に水分解を述べる)、米国特許第4.024.043号(単一フィルム二極性
膜を開示)、及び米国特許第4.116.889号〔キャス) (cast)二
極性膜を述べており、最も好ましい〕に述べられている二極性膜がある。しかし
、水を水素とヒドロキシルイオンに分離できる手段ならば、例えば、それらの間
に水が存在する、間隔をおいて配置された陰イオン膜と陽イオン膜のような、如
何なる手段も使用できる。
用られる有用な陽イオン膜は中等度に酸性〔例えばホスホン基(phospho
nicgroup)含有〕又は強度に酸性〔例えばスルホン基(sulfoni
c group)含有〕の陽イオン透過選択性(permselective)
の、使用pHににおいて低い抵抗性を示す膜である。特に有用な陽イオン膜はデ
ュポン(Du Pant)のナフィオン(Naf 1on)■110と324陽
イオン膜がある。さらに好ましい陽イオン膜はクラツプ等の、共通に譲渡された
、米国特許第4,738.764号に述べられている組成と構造のものである。
用いられる有用な陰イオン膜は強度に、中等度にまたは軽度に塩基性の陰イオン
膜である。使用可能な膜は例えばイオエックス社(Ionics+Inc、)
(マサチューセッツ州、ウォータータウン)から〔イオエックス(Ionics
) 204−UZL−386陰イオン膜として販売〕、または旭ガラス工業(^
5ahi Glass Co、)から〔商品名、セレミオン(Selemion
) @AMν、 AAV、 ASV陰イオン透過選択性膜として販売〕、商業的
に入手可能である。
水分解装置(@ater 3plitter)を通常のように通過する電流は当
業者に容易に分る設計及び性能特性値によって指定される及び/又はルーチン実
験によって定められる電圧の直流である。 25〜300amp、 /平方フィ
ート(28〜33(1on IHamp、 /d)の電流密度が好ましく、50
〜150amp、/平方フィート(55〜165milHamp、/d)の電流
密度が特に好ましい、ある特定の用途のためには、これより高い又は低い電流密
度を用いることもできる。
好ましくは0.5〜5分間、特に好ましくは1〜3分間iit流を定期的に中断
する又は大きく減することは、二極性膜の陰イオン層の汚染〔すなわち金属イオ
ン錯化及び金属水酸化物付着〕効果を減するために有益である。このような中断
の間隔及び期間は酸と金属との相対量及びセル中の流体流量(fluid fl
o+*)に依存する。効果的な期間と間隔は実験によって定めることができる。
供給材料区画を通る流量を維持するために必要な圧力の増加は、電流を中断して
、この高い圧力が正常レベルに戻るまで電流を標準値まで(to normal
)高めるべきではないという徴候の一つである。
電気透析と関連プロセスでは、スタックを通る流量(flow rate)は新
鮮な供給材料の流入速度(input rate)より一般に大きい、スタック
は再循環形式で操作され、再循環供給材料は再循環タンク(recyle re
servoir)から得られる。このようにして、全系の好ましい組成変化が得
られるように、正味の流入速度(netinput rate)を測定し、U@
節することができるが、スタックを通る1回のパス(pass)での濃度変化は
小さい、系の各再循環ループへの供給と生成物取出しは連続的にする(定常状態
操作)ことも又は定期的にする(バッチ操作)こともできる。
酸精製に関して、酸を酸として回収することは必らずしも必要ではなく、他の生
成物に転化させることもできる。例えば、HtSOa/Cr□(SOa)sを含
む流れを供給材料として用い、酸生成物流をCa (OH) zで処理して、比
較的無害な石こう(gypsum)廃棄物を形成することができる。酸を取り出
した残りのCr含有流れの処理は危険なCr含を廃棄物を少量生ずるにすぎない
、又はCr回収を笥単にすることができる。
酸を中和するための他の有用な塩基には、限定するわけではなく、NaOH,K
OH。
NH,OHがある。
下記の例によって本発明の詳細な説明する0例は本発明を開示されたもの又は開
示されたものから当業者に自明であるものに限定するものと解釈すべきではない
。
例において、電流効率(η、エータ)は質量バランス(mass balanc
e)によって算出した、すなわち供給材料及び/又は生成物中のH゛含量変化は
量と濃度の変化から判定した。H゛濃度標準Na0HN液によってpH5に滴定
することによって測定した。再循環タンクは量を読取ることができるように、ス
ケールで目盛りをつけた。電流効率の計算式は次の通りである:電流効率−生底
物中に得られた又は供給材料から失われたH゛モル数十セル数×電1(A)x時
間(秒) +96,500 (cou11モル)〕効率は一定期間(the t
ise enterval)の電動率として、及び実験開始からの累積効率(c
uws+エータ)として報告する。スタック電圧は電極反応に必要な電位を含め
た総供給電位(高インピーダンス電圧計によって測定)である、金属濃度は原子
吸収(atomic absorption) (AA)又は誘導結合アルゴン
プラズマ(indnctiv−ity coupled argon plas
ma) (ICAP)スペクトロスコピーによって測定した。
侃−上
第5図と第6図に説明した電気透析スタックを組立てた。スタックはpt陽極、
二極性膜、4セツトの交互陰イオン交換膜と二極性膜及びステンレス鋼陰極から
成り、陽極区画、4セツトの交互生成物区画と供給材料区画及び陰極区画を形成
するものであった。各層は規則的な六角形の形状であり、23dの面積を有し、
1.25Bmのスペースで分離していた。米国特許第4.766.161号に従
って製造された二極性膜を陽極方向にそれらの陰イオン透過性面を向けて配置し
た。陰イオン膜は旭ガラスからのアサヒガラスAAVであった。陽極と陰極区画
は0.5Mg酸ルを含むタンクから第6図に示さないポンプによって供給した。
第6図に関して、初期供給材料溶液(不純な酸) (50)はFe″” 280
ppm、 Mn” 290pp−及びA1” 3200pp−を含む4.7ON
硫酸251畦であった(このような供給材料は使用済みA1陽極酸化浴の組成を
表す)、生成物タンク(純粋な酸) (52)には0.4N硫酸2501dを装
入した。タンクからの溶液をポンプM1とA2によって、100mL/分より大
きい速度で再循環ループに導入し、スタックの区画を通してポンプP1とP2に
よって約500■L/分の速度で循環させた。再循環ループに導入された過剰な
溶液はタンクに戻された。
2.5Aの直流を全体で336.5分間通し、溶液をセルに循環させた。実験中
の供給材料中の酸濃度(弓。)と生成物濃度(C=。)を、硫酸製造のための電
流効率と共に、第7図に示す、最終生成物は3.651i硫酸であり、263*
Lの量を有し、Fe 1.3■、Mn 1.3[及びAI 6.71gを含有し
た。最終供給材料溶液は0.56N硫酸であり、177*Lの量を存し、Fe
266ppm、 Mn 309ppm及びal 3285ppmを含有した。供
給材料中に最初に存在した酸の約90%は回収され、A1の0.7%が生成物に
移行したにすぎなかった。
■−1
硫酸の精製、装置は例1で用いた装置と同じであったが、この場合には供給材料
にCd″” 42ppm、 Fe” 221pp−及びCa″” asppmを
含む4.51N硫酸315mLを装入し、生成物に0.3N硫酸301mLを装
入した。供給材料は電池酸再生の廃棄物を表すと考えられる。 2.OAのtf
Lを420分間通した後に、供給材料はCd 50ppm、 Fe 299pp
m。
及びCa 84pp−を含む0.95N硫酸233mLであった。生成物はCd
1.4ppm、 Fe 5.8ppm及びCa 4ppmを含む3.47N硫
酸36b+Lであった。
比較桝よ
例1で用いたスタックと同じスタックを用いた、但しこの場合には二極性膜の代
りに米国特許第4,738,764号に従って製造された、抵抗3ohm ci
を有する陽イオン膜を用いて、先行技術の慣習的な電気透析装置を報告した。供
給材料はCa″ズ13Bppm、 Fe″’ 450ppm及びCd″” 9o
ppsを含む8.76N硫酸170mLであった。2.5への電流を430分間
通した。最終供給材料溶液中の硫酸は0.82Nであった。実験を通して生成物
を取出し、0.65〜0.85mL/分の速度で水を補充した。取出した溶液の
分析は第1表に記載する。
第1表
時間 Fe Cd Ca HtSOa
(分) (ppm) (ppm) (ppm) (N)185 35 7 22
3.52
275 43 12 30 3.60
340 58 19 46 3.58
380 70 27 63 3.08
410 85 33 75 3.34
平均 57 19 52
このように、先行技術のプロセスによって製造された酸は、不純物対酸の比は同
じであるとしても、約1/10の純度であった。
班ユニエ
精製すべき不純な酸はAI” 739pp+m、 Fe43900ppm、 M
g″” 130ppm+、 Ca” 420pp−。
Ni″” 40pp(Mn” 34ppm、 Cu” 25pp−及びNa 2
600ppmを含む1.268 )INOsであった。
このような酸はウラニウム抽出プロセスからの廃棄物であると考えられた。
ロー主
不純なHNOsの処理に、例1の装置と方法を用いた。電極区画に供給するため
に、0.5N HNOs ILを用いた。スタックを通しての不純な酸の再循環
は<300wL/分であった。実験中に観察された純粋な酸と不純な酸の濃度と
量ならびに大体の電流効率を第2表に記載する。最終的な純粋な酸生成物中の不
純物は次の通りであった : A1439.0ppm、Pe” 1.7ppm、
Mg” 0.2ppm、Ca” 1.0ppm、Ni” 0.7ppm。
Mu” 0.1ρps+及びCu” 0.lppm*実験後に、膜の検査のため
にセルを分解した。陰イオン膜は新品同様であった。
二極性膜はそれらの陰イオン面に赤褐色の沈殿(おそら< Fe (041)
s)を示し、この沈殿はセル中に拡散した。この沈殿はゆる(粘着しており、H
NOs(Pに容易に溶解した。二極性膜はこの沈殿のために損傷を示さなかった
。
箪−1−表
純粋な酸
時 間 [H” ] V obs V out’ Ac1d” Cue、’ ス
タック(分) (mル) (mL) (mL) :L−タ エータ Volt。
0.0 .20 250 0.0 − − −21.0 .59 252 5.
0 .872 .872 14.2058.0 1.26 260 5.0 .
791 .817 13.50106.0 2.00 26B 5.0 .71
6 .770 13.30169.2 2.61 2B1 5.0 .527
.678 13.3(1228,83,152925,0,537,64113
,80279,63,532985,0,473,61015,30不純な酸
時 間 [H4] νobs V out’ Ac1d Cue、 スタック(
分) (−九) (mL) (mL) Eff、 エータ Volt。
0.0 1.26 1000 5.0 − − −24.5 1.15 986
5.0 .8B0 .880 14.1073.0 .95 963 5.0
.70? 、761 13.4010g、5 .80 947 5.0 .6
91 。737 13.30170.8 .55 922 5.0 .636
.700 13.30230.6 .35 900 5.0 .509 .65
0 13.70262.5 .20 884 5.0 .688 .655 1
4.401、分析のために採取
2、特定時間間隔の電流効率
1 実験開始からの平均電流効率
班−互
例3の実験をくり返したが、この場合には不純な酸区画に形成されたと考えられ
る沈殿が再溶解する時間を与えるために、半時間間隔で2分間電流を中断した。
この種の操作はセルが閉塞し、結果として二極性膜に損傷を与える可能性を減じ
る筈である。
実験後に、検査のためにセルを用いた。不純な酸の区画には痕跡量の沈殿があっ
たにすぎなかった。最終的な純粋な酸はPe 2.4ppm、 Ca 1.6p
pm及びAl 1.7ppmを含有した。
茅−盈一表
に粋皇厳
0.0 .22 249 0.0 − − 13.5830.0 .80 25
9 5.0 .892 .892 15.4360.0 1.32 263 5
.0 .770 .829 14.8190.0 1.76 266 5.0
.683 .779 14.66120.0 2.15 269 5.0 .6
43 .744 14.66150.0 2.50 271 5.0 .5B2
.711 14.73180.0 2.86 275 5.0 .650 .
701 14.85215.0 3.1? 276 5.0 .479 .66
4 15.20240.0 3.40 27? 5.0 .521 .649
15.53272.0 3.65 279 5.0 .479 .629 16
.50不遍μ旬實
0.0 1.24 1004 0.0 − −31.6 1.1.0 98B
5.0 .877 .87761.0 .99 974 5.0 .640 .
75891.0 .85 959 5.0 .773 .763121.0 .
70 944 5.0 .805 .774151.0 .60 930 5.
0 .534 .725181.0 .47 914 5.0 .671 .7
16215.0 .39 900 5.0 .361 .659241.0 .
25 889 5.0 .784 .673261.0 .20 882 5.
0 .359 .648272.0 .15 871 0.0 .654 .6
49医−1
例3と同じ装置を用いて同じように実験を実施したが、この場合には不純な酸の
高い(〉50抛L/分)再循環速度を用いた。この実験の結果は第4表に記載す
る。実験後に、セルを分解して、膜を検査した。セル中に沈殿は殆んど存在せず
、例3で認められた沈殿より確実にはるかに少ない沈殿が存在したにすぎなかっ
た。
このことはセル中での沈殿形成を避けるために、良好な流動が重要であることを
実証する。
第−互一表
に粋水酸
0.0 .20 396 5.0 − − −30.0 .60 399 1.
0 .975 .975 16.4060.0 .93 40B 20.0 .
754 .858 15.5090.0 1.30 397 1.0 .832
.849 15.10120.0 1.57 406 20.0 .657
.800 14.90150.0 1.85 394 1.0 .654 .7
70 14.801B0.0 2.20 401 20.0 .837 .78
1 15.00210.0 2.43 389 1.0 .568 .750
15.20223.0 2.51 391 5.0 .492 .735 15
.50不純笠醗
0.0 1.25 1000 20.0 − −30.0 1.15 967
1.0 .663 .66360.0 .95 954 10.0 1.097
.89090.0 .80 931 1.0 .815 .864120.0
.65 917 10.0 .793 .846150.0 .54 894
1.0 .573 .7901B0.0 .40 880 10.0 .69
8 .775210.0 .25 857 1.0 .717 .766220
.0 .22 B52 2.0 .359 .748223.0 .20 B5
0 0.0 1.139 .753最終的な純粋な酸生成物は次の金属不純物を
含有した: Na 90pp鴫Fe O,8ppm。
Ca 0.8ppm、 AI 0.4ppt不純な酸区画を通る流動の改良が生
成純度のこの上昇の原因でもあった。
比較例l
比較例1の先行技術装置を用いて、廃棄物のステンレス鋼酸洗い液から酸を回収
した。廃(不純な)酸は0.41MFe”(23,OOOppm) 、 0.0
94M Ni″”(5500ppm) 、及び0.084M Cr″’ (44
00ppm)を含有した。さらに、この廃液は2.33M F−及び1.2M
NO,−を含有した。差によって、廃酸洗い液のH’(遊離酸)i11度は1.
87Mであった。
廃酸洗い液750hLを用いて、不純な酸区画に供給し、2.5Aにおいて数日
間の期間にわたって処理した。各日、新鮮な0.1N HNOs 1752@L
を純粋な(生成物)酸タンクに入れ、次の日に取出した。生成物酸の分析と遊離
酸回収率は次の通りであった:
1一旦一表
バッチ 時 間 HNOs HP Pe Ni Cr 遊離酸# (時) mo
le/L mole/L (ppm) (ppm) (ppm) 回収%1 2
4.0 2.57 0.29 591 766 185 182 26.0 2
.48 0.25 745 1063 276 393 24.4 2.38
0.25 865 1515 394 584 18゜0 1.87 0.16
880 2049 495 72生成物酸は酸洗い作業に再循環させることが
できたが、これは高レベルの金属不純物を含有した。
斑一旦
第5図と第6図とに示し、例1で説明した装置を用いて、ステンレス鋼酸洗い作
業からの廃棄物を処理した。廃(不純な)酸は0.32M Fe″’(18,0
00ppm) 。
0.072M Ni″”(4200ppm) 、及び0.067M Cr″’
(3500ppm)を含有した。さらに、廃酸は0.22M K′″、 1.1
6M No、−及び1.76M F−を含有した。差によって、酸洗い液のHo
(遊離酸)a度は1.4Mであった。開始時に、廃酸洗い液1470mLを不純
な酸タンクに装入し、0.5M HNOz 323■Lを純粋な酸タンクに入れ
た。純粋な酸は実験の開始時に、Fe約12ppm、 Ni 12pp!1及び
Cr 3ppmを含有した。2.5Aの電流をセルに6時間通した。この酸のサ
ンプル10dを1時間間隔で滴定した0モル成製度は1時間後に1.45M、2
時間後に2.1M、3時間後に2.75M、4時間後に3.25M’、5時間後
に3.7鵠であった。生成物の最終量は335畦であり、4.2ONであった。
これはFe約95ppm、 Ni 20ppm及び(r 9pp−であった、純
粋な酸生成物の量に基づいて、′tIR酸の78%が回収された。生成物中の金
属不純物量は比較例2に比べて約1720である。
二極性膜の陰イオン面は固着した褐色沈殿によって覆われた。長期間にわたる操
作中のこのような沈殿の累積が二極性膜に不可逆的な損傷を与えたと考えられる
。
炎−1
第8図に概略的に示したように装置を組立てた。陽極液区画と陰極液区画に0.
5M KOH溶液11.を供給した。廃酸洗い液90hLをPで表示された区画
に循環させた。廃(不純な)酸は0.35M Pe″5(19,500pp++
)、 0.079M Ni”(4600pp@)及び0.089M Cr”(4
600ppm)を含有した。さらに、この廃酸は0.25M K”、 1.18
M N0s−及び1.88M P−を含有した。差によって、酸洗い液のH′″
(遊離酸)濃度は1.36Mであった。Aで表示された区画に0.5M 1(N
Ox 350*Lを供給した。Pで表示された区画には、FB 1.7pp1m
、 Cr O,2pp−及びNi 0.2ppmを含む0.49M HNO33
30mL装入したや2.5Aのt流を4.0時間通した。実験後に、遊離酸86
%がF区画の供給材料から回収され、P区画からの溶液は3.0ON HNO3
と0.27N HFであり、Fe 12.9ppm、Cr 0.5ppm及びN
i Oo−3ppを含有した。A区画の溶液の処理によって、付加的な純粋な酸
が回収された。実験後に、二極性膜の陰イオン面に沈殿の徴候は存在しなかった
。
FIG、2 34−A 外36・
FIG、8
、?沌Lカメ
FIG、7
No CI/ HCI Fe、904/ H2SO4補正書の翻訳文提出書
(特許法第184条の8)
平成 3年 5月30日
Claims (23)
- 1.陽イオン層と陰イオン層とから成る少なくとも一つの二極性膜を含み、各二 極性膜が少なくとも一つの第1陰イオン膜と少なくとも一つの第2陰イオン膜と の間に存在し、陰イオン層と少なくとも一つの第1陰イオン膜との間に供給材料 区画が存在し、陽イオン層と第2陰イオン膜との間に生成物区画が存在する装置 において、酸と、隔イオン及び陰イオンから成る塩とを含む水性供給材料流から 酸を分離する方法であって、次の工程:少なくとも一つの供給材料区画に酸と金 属陽イオンとを含む水性供給材料流を供給する工程; 水性生成物波を少なくとも一つの生成物区画に供給する工程;装置を横切る充分 な電位を供給して、直流を生じさせ、二極性膜からのH+を生成物区画に導入し 、供給材料からの陰イオンを陰イオン膜を通して生成物区画に移動させる工程; 生じた生成物法を生成物区画から取出す工程;及び生じた供給材料流を供給材料 区画から取出す工程 から成る方法。
- 2.装置が複数の交互の二極性膜と陰イオン膜を含む請求項1記載の方法。
- 3.装置が少なくとも一つの供給材料区画を含み、各供給材料区画が一つの生成 物区画と交互である請求項1記載の方法。
- 4.装置がさらに、陰イオン層と少なくとも一つの陰イオン膜との間に少なくと も一つの陽イオン膜を含み、陰イオン層と各陽イオン膜との間に酸区画が存在す る請求項1記載の方法。
- 5.供給材料流が、陰イオン層と錯体を形成する又は不溶性水酸化物を形成する 金属イオンを含む請求項4記載の方法。
- 6.塩をNaCl,HNaNO3,NH4Cl,Na2SO4,FeSO4,F e2(SO4)3,Ni(NO3)2,Cr(BF4)3,NH4NO3,Na 3PO4,CuSO4,KF及びこれらの混合物から成る群から選択される請求 項1記載の方法。
- 7.酸が酢酸、HCl,H2SO4,HNO3,HBF4,HF,H3,PO4 及びこれらの混合物から成る群から選択される請求項1記載の方法。
- 8.酸濃度が0.1N〜5Nである請求項1記載の方法。
- 9.塩濃度が0.001モルから飽和までである請求項1記載の方法。
- 10.電流が25〜300amp./平方フィートである請求項1記載の方法。
- 11.電流を15分間〜2時間の間隔で0.5〜5分間中断するか又は実質的に 減ずる請求項1記載の方法。
- 12.少なくとも一つの供給材料区画における線状流速度が少なくとも2.5c m/秒である請求項1記載の方法。
- 13.少なくとも二つの二極性膜、第1二極性膜と第2二極性膜を含み、各二極 性膜が陽イオン層と陰イオン層とから成り、少なくとも一つの陰イオン膜と少な くとも一つの陽イオン膜を含み、陰イオン膜と陽イオン膜が二つの二極性膜の間 に存在し、陰イオン膜が第1二極性膜の陽イオン層と陽イオン膜との間に存在し 、陽イオン膜が第2二極性膜の陰イオン層と陰イオン膜との間に存在し、陰イオ ン層と隔イオン膜との間に酸区画が存在し、陰イオン膜と陽イオン膜との間に供 給材料区画が存在し、陽イオン層と陰イオン膜との間に生成物区画が存在する装 置において、酸と、陽イオン及び陰イオンから成る塩とを含む水性供給材料流か ら酸を分離する方法において、 酸と金属陽イオンとを含む水性供給材料流を少なくとも一つの供給材料区画に供 給する工程; 水性生成物流を少なくとも生成物区画に供給する工程;少なくとも一つの酸区画 に任意に酸性の水性流を供給する工程;装置を横切って充分な電位を与えて、直 流を生じさせ、二極性膜からのH+を生成物区画に導入し、供給材料からの陰イ オンを陰イオン膜を通して生成物区画に移動させる工程; 得られた生成物流を生成物区画から取出す工程;得られた酸流を酸区画から取出 す工程;及び得られた供給材料流を供給材料区画から取出す工程から成る方法。
- 14.供給材料流が陰イオン層と錯体を形成しうる又は不溶性水酸化物から(f rominsoluble hydroxides)形成しうる金属イオンを含 む請求項13記載の方法。
- 15.生成物の酸を塩基によって中和する請求項1記載の方法。
- 16.塩基をNaOH,KOH,NH4OH,Ca(OH)2又はこれらの混合 物から成る群から選択する請求項15記載の方法。
- 17.次の工程: 塩と酸とを含む溶液を二区画水分離装置に基する工程;塩と酸の溶液を分離して 、第1塩波と第1酸流とを形成する工程;第1塩流を三区画水分解装置に供給す る工程;及び第1塩流を分離して、第2酸流、塩基と任意の塩を含む第2ベース ド(based)流及び希薄塩流を形成す工程 から成る方法。
- 18.第1塩流が3〜7のpHを有する請求項7記載の方法。
- 19.第1塩流を精製して、重金属不純物を除去する工程をさらに含む請求項1 7記載の方法。
- 20.希薄塩流を濃縮する工程をさらに含む請求項17記載の方法。
- 21.希薄な塩流を電気透析によって濃縮する請求項17記載の方法。
- 22.希薄な塩基を逆浸透によって濃縮する請求項17記載の方法。
- 23.三区画水分離装置が酸区画、塩基区画及び塩区画を含み、希薄塩流を塩基 区画に供給する請求項17記載の方法。
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|---|---|---|---|
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