JPH0450720A - 光学式測長装置 - Google Patents

光学式測長装置

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JPH0450720A
JPH0450720A JP15967290A JP15967290A JPH0450720A JP H0450720 A JPH0450720 A JP H0450720A JP 15967290 A JP15967290 A JP 15967290A JP 15967290 A JP15967290 A JP 15967290A JP H0450720 A JPH0450720 A JP H0450720A
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JP
Japan
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phase
light
light source
photodiodes
lens
Prior art date
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Pending
Application number
JP15967290A
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English (en)
Inventor
Kazuo Shiratori
白鳥 和男
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Futaba Corp
Original Assignee
Futaba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、対面して配設された2つの格子の相対移動に
伴って発生する明暗パターンの変化を検出し、各格子の
相対移動距離を測定する光学式測長装置に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
例えば、工作機械などの加工テーブルの移動量を高精度
で読取る装置として、光学格子を用いた測長装置が知ら
れている。
第6図はこの種の光学式測長装置の一例を示している。
この測長装置は、はぼ同一ピッチの刻線によって格子が
それぞれ形成され、所定間隔をおいて互いに対向して配
設されたメインスケール100とインデックススケール
101を有している。インデックススケール101の上
方には複数のフォトダイオード102が受光面を下に向
けて設けられ、さらにその上方にはコリメーションレン
ズ103と光源104が設けられている。
光源104からの光は、コリメーションレンズ103を
通って平行光となり、フォトダイオード102の間を通
過する。そして、インデックススケール101を通フて
メインスケール100の刻線で反射し、再びインデック
ススケール101を通ってフォトダイオード102に入
る。
ここで、メインスケール100とインデックススケール
101が相対的に移動すると、フォトダイオード102
に入射する反射光には明暗のパターンがあられれ、フォ
トダイオード102はこのパターンの変化に対応した電
気信号を圧力する。
なお、位置測定のためには、位相が90°ずれた2相体
号が必要である。ここでは、4個のフォトダイオード1
02が90°位相差の0゜90°  180°、270
°信号をそれぞれ検出し、互いに180°ずれた信号を
差動増幅することにより、バックグラウンドの明るさに
相当する検出信号中の直流成分を除去し、DCオフセッ
トの少ない安定した2相体号を得ているものである。
これ以外の従来の光学式測長装置としては、第7図に示
すようにコリメーションレンズ103とインデックスス
ケール101の間にハーフミラ−105を置き、フォト
ダイオード102をその側方に配設したものかある。ま
た、第8図に示すように、コリメーションレンズ103
の光軸を傾けて、フォトダイオード102を入射経路か
ら外ねた位置に設けたものもある。さらに、第9図に示
すように、コリメーションレンズ103の光軸を傾ける
とともに、光軸を傾けた集光レンズ106を用いてフォ
トダイオード107に光を集めるようにしたものもある
〔発明が解決しようとする課題〕
第6図に示した装置によれば、フォトタイオー)? 1
02をコリメーションレンズ103とインデックススケ
ール101の間の中空に配設しなければならず、また光
線がフォトダイオード102で遮られてしまうという問
題があった。
第7図に示した装置によれば、ハーフミラ−105を使
用するため、光量が行きて局、帰りてさらにその%にな
り、フォトダイオード102に入る光量が少くなってし
まう。このため、フォトダイオード102のサイズを大
きくしなければならず、応答速度が遅くなるという問題
かあつた。
第8図に示した装置によれば、所定の角度で部品を斜め
に配設しなければならず、組立てが難しいという問題が
あった。
第9図に示した装置によれば、受光側に集光レンズ10
6を用いることで迷光を受光しないようにし、フォトダ
イオード107のサイズを小さくして応答速度を速くす
ることができるが、光源104とフォトダイオード10
7が1対1の関係で対応していなければならず、二相信
号が必要な場合にはこの組合せが2組以上必要となる。
従って、複数組の検出系の温度特性や経時変化に対する
対策が新たに必要となるという問題があった。
本発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであり
、組立てやすく小型化ができ、一つの光源に対して複数
の受光素子が配設でき、集光した光を受光することによ
フて受光素子のサイズを小さくするとともに迷光の悪影
響を排除した光学式測長装置を提供することを目的とし
ている。
(課題を解決するための手段) 本発明の光学式測長装置は、対面して配設された2つの
格子の相対移動に伴フて発生する明暗パターンの変化を
検出し、各格子の相対移動距離を測定する光学式測長装
置において、共通の光源と、前記光源からの光を前記格
子に導くとともに、前記格子からの反射光を集光する複
数のレンズと、前記各レンズの共通の焦点面上で、前記
各レンズの各光軸に関して前記光源と対称な各位置にそ
れぞれ設けられた複数の光検出素子とを具備している。
〔作  用〕
共通の光源から出た光は、各レンズにそれぞれ入射して
平行光線となり、格子で反射する。反射光は、各レンズ
によってそれぞれ焦光され、各レンズの各光軸に関して
前記光源と対称な各位置にある焦点面上の各光検出素子
にそれぞれ入射する。
(実施例) 本発明の第1実施例に係る光学式測長装置1を第1図及
び第2図によって説明する。
第1図において、2及び3は相対移動自在とされたメイ
ンスケール及びインデックススケールである。これら両
スケール2.3にはそれぞれ格子が形成され、モアレ縞
のような明暗のパターンが両スケール2,3の相対移動
に伴って変化するようになっている。
前記両スケール2.3の上方には、4個のレンズLが設
けられている。これら4個のレンズLは、焦点距離fが
同じであり、各々の光軸4は互いに平行で、各焦点が光
軸4に垂直な同一平面内に入るようになっている。即ち
、各レンズLは焦点面5を共有しており、第2図に示す
ように焦点面と平行な平面内において正方形の各頂点に
各光軸4が位置するようなパターンで配設されている。
なお、これら4個のレンズLは、一体に成形されており
装置の構成部品としては1個になっている。
前記レンズLの上方には焦点面5と平行に基板6が設け
られており、その下面には1個の光源7と、光検出素子
としてのフォトダイオードP。
D、が4個設けられている。光源7とフォトダイオード
PDは前記焦点面5内に位置している。そして、光源7
は各レンズLの中央の位置に設けられ、4個の各フォト
ダイオードPDは、各レンズLの各光軸4に関して前記
光源7と対称な4箇所の位置にそれぞれ配設されている
上述した4個のフォトダイオードPDは、前記両スケー
ル2,3に生しる明暗のパターンを90°の位相差をお
いた4箇所の位置で検出するようになっている。そして
、位相が180°異なる0°の位置と180°の位置に
ある2個のフォトダイオードPDが第1の増幅器8に接
続され、これによって両フォトダイオードPD、PDの
出力は差動的に処理されて直流分が相殺され、交流信号
のみの一方の信号(a相信号)が得られるようになって
いる。また、90°の位置と270゜の位置にある2個
のフォトダイオードPDが第2の増幅器9に接続され、
同様にして前記a相信号とは90°位相の異なるb相信
号が得られるようになっている。
従って、a相信号及びb相信号の進み、遅れを検出する
ことによって両スケール2.3の移動方向が判別でき、
またこの二相信号を計数することによって移動距離を測
定できる。
次に、以上の構成における作用を説明する。第1図に示
すように、焦点面5内における光軸4と光源7の距離を
hとする。共通の光源7から呂だ光は各レンズLを通り
、各光軸4と角度Wをもつ平行光線となり、それらの関
係は次式で表わされる。
h=−ftanW この光はインデックススケール3を経てメインスケール
2で反射される。反射された光は、再び各レンズLを通
り、各光軸4と−Wなる角度をもつ平行光線となる。そ
して、この光は、各レンズLの各光軸4に関して光源7
と対称な位置にある各フォトオードPDに集光する。
このように、本実施例によれば、1個の光源7に対して
4個のフォトダイオードPDを対応させることができる
次に、本発明の第2実施例を第3図によフて説明する。
この実施例は、3個のレンズL及び3個のフォトダイオ
ードPDI〜3を有している点と、各フォトダイオード
PDI〜3の出力信号を処理する回路構成が前記第1実
施例と異なっている。
各レンズLの焦点面が共通てあり、焦点面のほぼ中央に
共通の光源10があり、焦点面に設けられた3個のフォ
トダイオードPDか各レンズLの各光軸4に関して共通
の光源10と対称の位置にある点等は、前記第1実施例
の場合と同しである。
2個のフォトダイオードPC1,PD2は、直流分に交
流分が重なった明暗のパターンを90゜位相の異なる位
置から検出するようになっている。もうひとつのフォト
ダイオードPD3は基準用で、直流分を検出するように
なっている。そして、前記フォトダイオードPDI、P
D2の各出力は、それぞれ演算増幅器11.12の反転
入力端子に入力され、前記基準用のフォトダイオードP
D3の出力はそれぞれ抵抗R1,R2を介して各演算増
幅器11.12の反転入力端子に入力されている。これ
によって、フォトダイオードPDI、PD2からの出力
と、フォトダイオードPD3からの出力を適宜増幅して
演算処理すれば、各演算増幅器11.12からは直流分
を含まない互いに90”の位相差をもった交流信号を得
ることができる。なお、本実施例における信号処理の回
路構成等の詳細については、本出願人の呂願に係る特公
昭61−5081号を参照されたい。
次に、第4図は本発明の第3実施例を示している。この
装置は焦点位置に絞り2oが設けられているので、特に
外部光による悪影響を受けにくい。その他の構成及び作
用効果は第1実施例と同様である。
次に、第5図は本発明の第4実施例を示している。この
装置は共通の光源21とレンズLの間に一枚の補助レン
ズ22を設けたもので、これによってレンズLの焦点面
5よりもレンズLに近接した位置に光源21を設けるこ
とかてき、設計上の自由度か増大する。その他の構成及
び作用効果は第1実施例と同様である。
〔発明の効果] 本発明によれば、コリメーションレンズと集光レンズを
兼ねたレンズを複数設け、各レンズの中心位置に共通の
光源を設け、各レンズの各光軸に関して光源と対称な焦
点面内の各位置に複数の受光素子を設けるようにしであ
る。従って本発明によれば、次のような効果かある。
■共通の光源と複数の受光素子を同一焦点面内に組むこ
ともできるし、補助レンズを用いれば光源をレンズに近
い位置に設けることもできる。即ち、部品配置の自由度
が大きく、組立てやすい配置を採用できる。また、従来
のように部品を所定角度に傾けた状態で取付ける必要が
ないのて組立てやすい。
■S6図及び第7図に示したような部品配置の従来の装
置に比べて、装置をより小型にすることができる。
■集光しているので、受光素子のサイズを小さくできる
。小さいと、受光素子の接合容量が小さくなるので、応
答時間を短くできる。また、迷光を受光しにくくなる。
■ひとつの光源に対して複数の受光素子を配置できるの
で、温度特性や経時変化に対する対応が行いやすい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例を示す断面図、第2図は同
実施例におけるレンズ等の配置を示す図、第3図は同第
2実施例におけるレンズ等の配置を示す図、第4図は同
第3実施例を示す断面図、第5図は同第4実施例を示す
断面図、第6図は従来の光学式測長装置の一例における
部品配置を示す斜視図、第7図はハーフミラ−を用いた
他の従来例を示す図、第8図はレンズの光軸を傾けた他
の従来例を示す図、第9図は集光レンズを用いた他の従
来例を示す図である。 1・・・光学式測長装置、   4・・・光軸、5・・
・焦点面、 7.10.21−・・光源、 L・・・レンズ、PD、
PDI〜3・・・光検比素子としてのフォトダイオード
。 特許出願人 双葉電子工業株式会社 代理人・弁理士 西  村  教  光第 匡 第 図 叩(270”) 第 図 第 図 第 図 PO2(基準) 第6図 り104

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 対面して配設された2つの格子の相対移動に伴って発生
    する明暗パターンの変化を検出し、各格子の相対移動距
    離を測定する光学式測長装置において、 共通の光源と、 前記光源からの光を前記格子に導くとともに、前記格子
    からの反射光を集光する複数のレンズと、 前記各レンズの共通の焦点面上で、前記各レンズの各光
    軸に関して前記光源と対称な各位置にそれぞれ設けられ
    た複数の光検出素子とを具備する光学式測長装置。
JP15967290A 1990-06-20 1990-06-20 光学式測長装置 Pending JPH0450720A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002081964A (ja) * 2000-06-21 2002-03-22 Mitsutoyo Corp 光学式エンコーダ
JP2010151817A (ja) * 2008-12-23 2010-07-08 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd 反射式光学エンコーダ・システム、装置及び方法
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JP2018518705A (ja) * 2015-05-18 2018-07-12 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー リソグラフィシステムにおける多数のミラーのそれぞれの位置を決定するセンサ構成体及び方法
US12038310B2 (en) 2019-11-15 2024-07-16 Renishaw Plc Encoder apparatus with readhead having circuit board and a folded sheet-metal structure to support a light emitting element
US12072216B2 (en) 2019-11-15 2024-08-27 Renishaw Plc Encoder apparatus and readhead

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