JPH045148B2 - - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業状の利用分野〕
この発明は表面電位計に関し、特に中央制御回
路で発生させるデイジタル信号で直接測定するこ
とのできる交流変換型非接触表面電位計に関する
ものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention relates to a surface electrometer, and more particularly to an AC conversion type non-contact surface electrometer that can directly measure using a digital signal generated by a central control circuit. .
従来、表面電位を測定してそれを記憶、演算処
理し、その値に基づいてたとえば各複写プロセス
を制御する場合にはアナログ値で測定した各プロ
セスの状態をA/D変換器でデイジタル値に変換
して中央制御回路で処理した後、再びD/A変換
器でアナログ値に変換して各プロセス条件を処理
しているがこのような方法ではA/D変換器等が
必要不可欠であるために回路構成が複雑になると
共に、全体が高価になるという欠点を有してい
た。
Conventionally, when surface potential is measured, stored, and processed, and when each copying process is controlled based on that value, the state of each process measured as an analog value is converted into a digital value using an A/D converter. After converting and processing in the central control circuit, each process condition is processed by converting it back to an analog value using a D/A converter, but this type of method requires an A/D converter, etc. However, it has the drawbacks that the circuit configuration becomes complicated and the whole becomes expensive.
この発明は前記のような従来のもののもつ欠点
を排除して、中央制御回路で発生するデイジタル
値により表面電位を直接測定することによりA/
D変換器を用いることなく表面電位を記憶、演算
処理するようにして回路構成を簡単にすると共
に、全体を安価にして表面電位に基づいて例えば
各複写プロセス条件の制御を行うことのできる表
面電位計を提供することを目的とする。
This invention eliminates the drawbacks of the conventional ones as described above, and enables A
The surface potential can be stored and arithmetic processed without using a D converter, simplifying the circuit configuration, making the entire structure inexpensive, and controlling, for example, each copying process condition based on the surface potential. The purpose is to provide a
この発明は、交流変換型非接触表面電位計であ
つて、デイジタル信号によつて段階的に変化する
電圧を発生すると共に、該電圧をチヨツパーに印
加する電圧印加手段と、チヨツパー駆動信号と測
定電極に誘起される検出信号との位相差を検出す
る検出手段とを具え、前記検出手段が位相差を検
出して出力した際、この出力した時の前記電圧印
加手段のデイジタル信号を表面電位検出信号とし
て取出す構成を有している。
The present invention is an AC conversion type non-contact surface electrometer, which generates a voltage that changes stepwise in response to a digital signal, and includes a voltage applying means for applying the voltage to a chopper, a chopper drive signal, and a measuring electrode. a detection means for detecting a phase difference between the detection signal and the detection signal induced by the detection signal, and when the detection means detects and outputs the phase difference, the digital signal of the voltage application means at the time of output is converted into a surface potential detection signal It has a configuration that allows it to be taken out.
以下、図面に示すこの発明の実施例について説
明する。
Embodiments of the invention shown in the drawings will be described below.
まず、この発明の原理について説明する。第3
図A,B,Cはチヨツパーの位置と電位計出力の
位相関係を示す概念図である。 First, the principle of this invention will be explained. Third
Figures A, B, and C are conceptual diagrams showing the phase relationship between the chopper position and the electrometer output.
第3図Aは被測定物表面電位Vs、およびプロ
ープアパーチヤ板、チヨツパー電位Vgが、Vs>
Vgなる場合に被測定物にプローブを対置したと
きの状態を示す。 Figure 3A shows that the surface potential Vs of the object to be measured and the probe aperture plate and chopper potential Vg are Vs>
This shows the state when the probe is placed opposite the object to be measured when Vg.
プローブを対置した瞬間に測定電極には被測定
物と逆極性の電荷が結城されるが、電位計アンプ
の入力インピーダンスが小さいため誘起された電
荷は瞬時に消失してしまう。 The moment the probes are placed opposite each other, a charge with a polarity opposite to that of the object to be measured is generated on the measurement electrode, but because the input impedance of the electrometer amplifier is small, the induced charge disappears instantly.
ところが、チヨツパーにより被測定物と測定電
極間の電界が連続的に遮られているため、測定電
極に到達する電気力線の変化に応じて測定電極に
は連続的に電荷が誘起される。 However, since the electric field between the object to be measured and the measurement electrode is continuously interrupted by the chopper, charges are continuously induced in the measurement electrode in response to changes in the lines of electric force reaching the measurement electrode.
つまり、前記した電位関係においては、チヨツ
パーが閉じる方向に動いている時(図中矢印a方
向)には外部回路を図中矢印a方向に抵抗Rを介
して誘起電流iが流れ、チヨツパーが開く方向
(図中矢印b方向)に動いている時には図中矢印
b方向に誘起電流iが流れる。 In other words, in the potential relationship described above, when the chopper is moving in the closing direction (in the direction of arrow a in the figure), an induced current i flows through the external circuit in the direction of arrow a in the figure through the resistor R, and the chopper opens. When moving in the direction (direction of arrow b in the figure), an induced current i flows in the direction of arrow b in the figure.
以上が交流変換型表面電位計の原理であるが、
第3図Bには電位関係が逆、つまり、Vs<Vg′の
場合の様子を示してある。 The above is the principle of the AC conversion type surface electrometer.
FIG. 3B shows the situation when the potential relationship is reversed, that is, Vs<Vg'.
この場合はチヨツパーの同く方向と誘起される
電流の方向の関係はVs>Vgの場合とまつたく逆
になる。 In this case, the relationship between the direction of the chopper and the direction of the induced current is exactly opposite to the case where Vs>Vg.
今、仮に電極と被測定物の対向面積が時間とと
もに第3図Cに示すように変化するとすれば、第
3図A,Bに示す出力1、2の電圧波形は第3図
Cのようになる。つまり、Vs>Vgの場合とVs<
Vgの場合とでは出力電圧の位相は180゜ずれるこ
とになる。 Now, if the opposing area of the electrode and the object to be measured changes over time as shown in Figure 3C, the voltage waveforms of outputs 1 and 2 shown in Figure 3A and B will be as shown in Figure 3C. Become. In other words, when Vs>Vg and when Vs<
The phase of the output voltage will be 180° different from the case of Vg.
ここで、たとえば、Vgを第4図Aに示すよう
に時間とともに変化させれば、一定の表面電位
Vsに対し、t1なる時間領域と、T2なる時間領域
とでは出力の位相は180゜ずれることになる。 For example, if Vg is changed over time as shown in Figure 4A, a constant surface potential
With respect to Vs, the output phase shifts by 180° between the time domain t1 and the time domain T2 .
これば逆に出力の位相がずれる瞬間t0における
Vg(t0)を検出すれば表面電位を測定することが
可能であることを示している。 In this case, at the moment t 0 when the output phase shifts,
This shows that it is possible to measure the surface potential by detecting Vg (t 0 ).
この発明の原理は以上のようになるわけである
が、位相のずれを検出するためには、少なくとも
測定時間内において位相が固定されている基準信
号が必要となる。 The principle of the present invention is as described above, but in order to detect a phase shift, a reference signal whose phase is fixed at least within the measurement time is required.
ここで基準信号として最も容易に利用し得るも
のとしてチヨツパーの位置を検知してそれを電気
信号に変換することが考えられる。 Here, the most easily usable reference signal would be to detect the position of the chopper and convert it into an electrical signal.
たとえば、チヨツパーの振動を圧電素子のよう
なもので行えば、その振動信号によりチヨツパー
の位置を正確に検知し得ることは既に公知の技術
であり、広く用いられている。 For example, if the chopper is vibrated using a piezoelectric element, the position of the chopper can be accurately detected from the vibration signal, which is a well-known and widely used technique.
以上のような技術手段を用いれば、第4図Bに
示すような位相関係を有する同期信号(チヨツパ
ーの駆動信号を整形した基準信号をこのように呼
ぶ)を極めて簡単な回路構成により得ることがで
きる。 By using the above-mentioned technical means, it is possible to obtain a synchronizing signal (the reference signal obtained by shaping the chopper drive signal) having the phase relationship shown in Figure 4B with an extremely simple circuit configuration. can.
そして、この発明においては中央制御回路1か
らデイジタル値にて階段波を発生させ、その値を
D/A変換器2にてアナログ値に変換して昇圧す
る点にある。 The present invention is characterized in that a staircase wave is generated as a digital value from the central control circuit 1, and the value is converted into an analog value by the D/A converter 2 and boosted.
中央制御回路1から階級波をつくり出すための
出力がD/A変換器2に入力されると共に、この
D/A変換器2の出力は昇圧器3と差動増幅器4
の一方の入力端子に入力され、そして昇圧器3の
出力はプローブのアパーチヤ板5およびチヨツパ
ー6に入力されると共に、分圧器7にも入力さ
れ、また分圧器7の出力は作動増幅器4の他方の
入力端に入力されている。この差動増幅器4の出
力は比較器8の一方の入力端に入力され、また比
較器8の他方の入力端には許容される誤差の基準
値9が入力されると共に、比較器3の出力は中央
制御回路1に入力されている。 The output for creating a class wave from the central control circuit 1 is input to a D/A converter 2, and the output of this D/A converter 2 is input to a booster 3 and a differential amplifier 4.
The output of the booster 3 is input to the aperture plate 5 and chopper 6 of the probe, as well as the voltage divider 7, and the output of the voltage divider 7 is input to the other input terminal of the operational amplifier 4. is input to the input terminal of. The output of the differential amplifier 4 is input to one input terminal of the comparator 8, and the reference value 9 of the allowable error is input to the other input terminal of the comparator 8. is input to the central control circuit 1.
一方、測定のプローブ10の測定電極11は測
定プローブ10内に設けられたプリアンプ12に
接続されると共に、プリアンプ12の出力はバン
ドパスフイルター13に入力され、このバンドパ
スフイルター13の出力は移相器14に入力さ
れ、移相器14の出力は信号波形整回路15に入
力されると共に、信号波形整形回路15の出力は
位相差検出回路16の一方の入力端に入力されて
いる。 On the other hand, the measurement electrode 11 of the measurement probe 10 is connected to a preamplifier 12 provided in the measurement probe 10, and the output of the preamplifier 12 is input to a bandpass filter 13, and the output of the bandpass filter 13 is phase-shifted. The output of the phase shifter 14 is input to a signal waveform shaping circuit 15, and the output of the signal waveform shaping circuit 15 is inputted to one input terminal of a phase difference detection circuit 16.
また測定プローブ10のチヨツパー6に設けら
れた一方の圧電素子17の出力はセンサー駆動発
振回路18に入力されると共に、センサー駆動発
振回路18の出力は同期信号波形整形回路19に
入力され、そしてチヨツパー6に設けられた他方
の圧電素子20の出力は同期信号波形整形回路1
9に入力されていて、同期信号波形整形回路19
の出力は位相差検出回路16の他方の入力端に入
力されると共に、この位相差検出回路19の出力
は中央制御回路1に入力されている。 Further, the output of one piezoelectric element 17 provided in the chopper 6 of the measurement probe 10 is input to the sensor drive oscillation circuit 18, and the output of the sensor drive oscillation circuit 18 is input to the synchronization signal waveform shaping circuit 19, The output of the other piezoelectric element 20 provided in the synchronous signal waveform shaping circuit 1
9, the synchronizing signal waveform shaping circuit 19
The output of this phase difference detection circuit 19 is input to the other input terminal of the phase difference detection circuit 16, and the output of this phase difference detection circuit 19 is input to the central control circuit 1.
次に前記のものの動作について説明する。 Next, the operation of the above-mentioned device will be explained.
前記中央制御回路1はデイジタル値で段階波を
発生するように構成されており、この中央制御回
路1が発生するデイジタル値の段階波はD/A変
換器2に入力されるとデイジタル値の段階波はア
ナログ値に変かされたのちに昇圧器3に入力され
るので昇圧器3からは高圧お階段波が出力され
て、これが測定プローブ10のアパーチヤ板5お
よびチヨツパー6に印加されている。 The central control circuit 1 is configured to generate a step wave of digital values, and when the step wave of the digital value generated by the central control circuit 1 is input to the D/A converter 2, the step wave of the digital value is converted into a step wave of the digital value. The wave is converted into an analog value and then input to the booster 3, so that the booster 3 outputs a high-voltage staircase wave, which is applied to the aperture plate 5 and chopper 6 of the measurement probe 10.
一方側定プローブ10の測定電極11に誘起さ
れた電流は測定プローブ10内のプリアンプ12
によつて電圧に変換されたのちにバンドパスフイ
ルター13に入力されて基準周波数(チヨツパー
6の固有振動数に対応する周波数)以外の周波数
成分がカツトされた信号波形(正弦波)となつて
出力されて移相器14に入力される。そして位相
器14で位相が後述する同期信号との位相差を検
出できるよう(基準となる状態での位相差を0と
設定する。)に調整されたのちに信号波形整形回
路15に入力され、この信号波形整形回路15で
矩形波に変換されて位相差検出回路16に入力さ
れている。 The current induced in the measurement electrode 11 of the one-side constant probe 10 is transferred to the preamplifier 12 in the measurement probe 10.
After being converted into a voltage by and input to the phase shifter 14. Then, the phase is adjusted by the phase shifter 14 so that a phase difference with a synchronization signal, which will be described later, can be detected (the phase difference in the reference state is set to 0), and then input to the signal waveform shaping circuit 15. The signal waveform shaping circuit 15 converts the signal into a rectangular wave, which is input to the phase difference detection circuit 16.
また、前記測定電極11の出力信号との位相の
ずれを検出するための基準信号である同期信号は
チヨツパー6の位置を検知してそれを電気信号に
変換することによつて得ることができるので、た
とえばチヨツパー6の振動を厚電素子で検知して
その信号でチヨツパー6の位置を正確に検知でき
る。従つて同期信号は測定プローブ10内の一方
の圧電素子17の出力がセンサー駆動発振回路1
8に入力されると共に、このセンサー駆動発振回
路18の出力と、他方の圧電素子20の出力とが
同期信号波形整形回路19に入力され、これによ
つてセンサー駆動発振回路18からの駆動信号が
同期信号波形整形回路19で整形されて作られる
ものであり、同期信号波形整形回路19の出力で
ある同期信号は前記位相差検出回路16の他方の
入力端に入力されている。 Furthermore, the synchronization signal, which is a reference signal for detecting the phase shift with the output signal of the measurement electrode 11, can be obtained by detecting the position of the chopper 6 and converting it into an electrical signal. For example, the vibration of the chopper 6 can be detected by a thick electric element, and the position of the chopper 6 can be accurately detected based on the signal. Therefore, the synchronization signal is the output of one piezoelectric element 17 in the measurement probe 10.
8, the output of this sensor drive oscillation circuit 18 and the output of the other piezoelectric element 20 are input to the synchronization signal waveform shaping circuit 19, whereby the drive signal from the sensor drive oscillation circuit 18 is The synchronizing signal is shaped by a synchronizing signal waveform shaping circuit 19, and the synchronizing signal output from the synchronizing signal waveform shaping circuit 19 is input to the other input terminal of the phase difference detection circuit 16.
前記位相差検出回路16はたとえばExclusive
−OR回路で構成され、センサー駆動発振回路の
出力に基づく同期信号と測定電極11の出力信号
とが位相が一致しているときは位相差検出回路1
6の出力はLであるが位相が反転するとHの出力
に変化するのでその時点での階段波のデイジタル
値はその点でのD/A変換器2への出力を中央制
御回路1内で判断され中央制御回路1のメモリー
に第2図bの如く記憶される。そして各サンプリ
ングの状態は第2図a,bに示されており位相検
出回路16の出力の立上り時での段階波の電位を
サンプリングすれば中央制御回路1からの階段波
の電位21が表面電位22を越した時点の階段波
の電位がサンプリングされ、その電位が電位計の
出力23となるものでメモリに表面電位として記
憶される。勿論段階波をもつと細かく、より三角
波に近づけることもできる。 The phase difference detection circuit 16 is, for example, Exclusive.
- Consisting of an OR circuit, when the synchronization signal based on the output of the sensor drive oscillation circuit and the output signal of the measurement electrode 11 are in phase, the phase difference detection circuit 1
6 output is L, but when the phase is reversed, it changes to H output, so the digital value of the staircase wave at that point is determined by the central control circuit 1 based on the output to the D/A converter 2 at that point. and stored in the memory of the central control circuit 1 as shown in FIG. 2b. The state of each sampling is shown in FIGS. 2a and 2b. If the step wave potential 21 from the central control circuit 1 is sampled at the rising edge of the output of the phase detection circuit 16, the step wave potential 21 from the central control circuit 1 becomes the surface potential. The potential of the staircase wave at the time when it exceeds 22 is sampled, and that potential becomes the output 23 of the electrometer and is stored in the memory as a surface potential. Of course, if you have a step wave, you can make it finer and closer to a triangular wave.
また、測定プローブ10のアパーチヤ板5およ
びチヨツパー6に印加する電圧は直読できないが
監視回路によつて周囲環境の変化による精度の低
下を防止している。すなわち測定プローブ10に
印加される昇圧器3の出力である高圧の段階波は
分圧器7により昇圧器3で昇圧される以前の電圧
と等しいレベルに分圧され差動増幅器4の一方の
入力端に入力され、差動増幅器4の他の入力端に
はD/A変換器2の出力が入力されているので中
央制御回路1からの出力値と実際に印加されてい
る電圧との差分が差動増幅器4によつて増幅され
て比較器8の一方の入力端に入力される。従つて
本発明では比較器8の他方の入力端には許容され
る誤差の基準値が入力されているので誤差が基準
値以上になると比較器8から中央制御回路1へ異
常信号が入力されるので中央制御回路1は表面電
位測定に異常が生じたのを感知し得るものであ
る。 Furthermore, although the voltages applied to the aperture plate 5 and chopper 6 of the measurement probe 10 cannot be directly read, a monitoring circuit prevents the accuracy from decreasing due to changes in the surrounding environment. That is, the high-voltage step wave that is the output of the booster 3 applied to the measurement probe 10 is divided by the voltage divider 7 to a level equal to the voltage before being boosted by the booster 3, and is then applied to one input terminal of the differential amplifier 4. Since the output of the D/A converter 2 is input to the other input terminal of the differential amplifier 4, the difference between the output value from the central control circuit 1 and the voltage actually applied is the difference. The signal is amplified by the dynamic amplifier 4 and input to one input terminal of the comparator 8. Therefore, in the present invention, since the reference value of the allowable error is input to the other input terminal of the comparator 8, when the error exceeds the reference value, an abnormality signal is input from the comparator 8 to the central control circuit 1. Therefore, the central control circuit 1 can sense when an abnormality occurs in surface potential measurement.
なお前記実施例においては中央制御回路1から
のデイジタル値をアナログ値に変換するための
D/A変換器を設けたが、中央制御回路でプロセ
ス制御を行う際に用いるD/A変換器を転用する
ことが可能である。 In the above embodiment, a D/A converter was provided to convert the digital value from the central control circuit 1 into an analog value, but the D/A converter used when the central control circuit performs process control may be repurposed. It is possible to do so.
この発明は前記のように構成したことにより、
表面電位をデイジタル処理することができると共
に、A/D変換器のような高価な部材を用いない
ので全体を簡単な回路構成で安価にすることがで
き、さらに高温高湿のような悪条件下でも表面電
位の誤検知によつてプロセス制御の暴走を防いで
確実な制御ができるなどのすぐれた効果を有する
ものである。
By configuring this invention as described above,
The surface potential can be digitally processed, and since expensive components such as A/D converters are not used, the overall circuit structure can be made simple and inexpensive, and it can also be used under adverse conditions such as high temperature and high humidity. However, it has excellent effects such as preventing runaway of process control due to erroneous detection of surface potential and ensuring reliable control.
第1図は回路図、第2図aは表面電位とあ階段
波の電位との関係を示す図、第2図bは電位計出
力を示す図、第図A,B,C、および第4図A,
Bはこの発明の原理を説明するための図である。
1……中央制御回路、2……D/A変換器、3
……昇圧器、4……差動増幅器、5……アパーチ
ヤ板、6……チヨツパー、7……分圧器、8……
比較器、9……基準値、10……測定プローブ、
11……測定電極、12……プリアンプ、13…
…バンドパスフイルタ、14……移相器、15…
…信号波形整形回路、16……位相差検出回路、
17,20……圧電素子、18……センサー駆動
発振回路、19……同期信号波形整形回路、21
……階段波、22……表面電位、23……電位計
出力。
Figure 1 is a circuit diagram, Figure 2a is a diagram showing the relationship between the surface potential and the staircase wave potential, Figure 2b is a diagram showing the electrometer output, Figures A, B, C, and 4. Figure A,
B is a diagram for explaining the principle of this invention. 1...Central control circuit, 2...D/A converter, 3
...Booster, 4...Differential amplifier, 5...Aperture plate, 6...Chipper, 7...Voltage divider, 8...
Comparator, 9...Reference value, 10...Measurement probe,
11...Measurement electrode, 12...Preamplifier, 13...
...Band pass filter, 14... Phase shifter, 15...
...Signal waveform shaping circuit, 16...Phase difference detection circuit,
17, 20...Piezoelectric element, 18...Sensor drive oscillation circuit, 19...Synchronizing signal waveform shaping circuit, 21
...Staircase wave, 22...Surface potential, 23...Electrometer output.
Claims (1)
圧を発生させると共に、該電圧をチヨツパーに印
加する電圧印加手段と、チヨツパー駆動信号と測
定電極に誘起される検出信号との位相差を検出す
る検出手段とを具え、前記検出手段が位相差を検
出して出力した時の前記電圧印加手段のデイジタ
ル信号を表面電位検出信号とすることを特徴とす
る交流変換型非接触表面電位計。1 Voltage application means that generates a voltage that changes stepwise according to a digital signal and applies the voltage to the chopper, and detection means that detects the phase difference between the chopper drive signal and the detection signal induced in the measurement electrode. An AC conversion type non-contact surface potential meter, characterized in that a digital signal from the voltage application means when the detection means detects and outputs a phase difference is used as a surface potential detection signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8545283A JPS59210377A (en) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | Ac conversion type contactless surface electrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8545283A JPS59210377A (en) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | Ac conversion type contactless surface electrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59210377A JPS59210377A (en) | 1984-11-29 |
| JPH045148B2 true JPH045148B2 (en) | 1992-01-30 |
Family
ID=13859270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8545283A Granted JPS59210377A (en) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | Ac conversion type contactless surface electrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59210377A (en) |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP8545283A patent/JPS59210377A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59210377A (en) | 1984-11-29 |
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