JPH0451674U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の第１の実施例を示すブロツク
構成図、第２図は第１図に示した構成の測定シー
ケンスを示すタイミング図、第３図は本考案によ
る第２の実施例を示すブロツク構成図、第４図は
従来のｔ_ｒｒ測定装置の構成ブロツク図、第５図
ａは従来例のタイミング図、第５図ｂはｔ_ｒｒ波
形図である。 １……試料_１〜ｎ、２……順電流供給電源、３
……逆電流供給電源、４……ＩＦスイツチ、５…
…ＩＲスイツチ、６……順電流設定抵抗、７……
逆電流設定抵抗、８……ｔ_ｒｒ検出抵抗_１〜ｎ、
９……ｔ_ｒｒ検出回路、１０……測定点設定回路
、１１……表示回路_１〜ｎ、１２……試料切替回
路Ａ，Ｂ、１３……リレーコントロール回路、１
４……良、不良設定回路、１５……比較回路、１
６……良、不良表示用ＬＥＤ１〜２。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 高速ダイオードの逆方向回復時間特性を一
   定時間内に繰返し測定し、逆方向回復時間を平均
   化して求める装置において、前記一定時間内に複
   数個のダイオードの測定を時分割的に行う回路と
   、各ダイオードの逆方向回復時間を求めて表示す
   る手段とを有することを特徴とするダイオード特
   性測定装置。 (2) 判定しようとする逆方向回復時間を設定す
   る良、不良設定手段と、前記逆方向回復時間を求
   める手段により検出された実際の測定値と前記良
   、不良設定手段により設定された判定基準値とを
   入力して両者を比較する比較手段と、該比較手段
   による比較の結果基準値内であればその結果を表
   示する良、不良表示手段とを有することを更に特
   徴とするダイオード特性測定装置。