JPH0451675U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0451675U JPH0451675U JP9348390U JP9348390U JPH0451675U JP H0451675 U JPH0451675 U JP H0451675U JP 9348390 U JP9348390 U JP 9348390U JP 9348390 U JP9348390 U JP 9348390U JP H0451675 U JPH0451675 U JP H0451675U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- main body
- movable plate
- opening
- contact
- spring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は、この考案の実施例の外観を簡略に、
示した斜視図、第２図はこの考案の実施例を示す
断面図、第３図は第２図の実施例にＩＣ素子を装
着した状態を示す断面図、第４図は従来のＩＣソ
ケツトを示す断面図、第５図は第４図のＩＣソケ
ツトにＩＣ素子を装着した時のリードと接触子と
の接触状態を示す図である。
示した斜視図、第２図はこの考案の実施例を示す
断面図、第３図は第２図の実施例にＩＣ素子を装
着した状態を示す断面図、第４図は従来のＩＣソ
ケツトを示す断面図、第５図は第４図のＩＣソケ
ツトにＩＣ素子を装着した時のリードと接触子と
の接触状態を示す図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 一面に、ＩＣ素子が挿脱される開口が形成され
た絶縁材の本体と、 その本体の上記開口の一側内面に沿つて配列さ
れて上記本体に取付けられ、上記挿脱方向に延長
された複数の接触子と、 上記本体内において、上記開口と対向して移動
自在に配された可動板と、 その可動板を上記開口側へ偏倚するばねと、 一端部が上記接触子の対応するものにそれぞれ固
定され、他端部が上記可動板と係合された剛体よ
りなる複数の連結バーとを有し、 上記接触子は、上記ばねによる上記可動板の偏倚
力により上記連結バーを介して上記本体の内面側
に位置して上記ＩＣ素子の挿入時にＩＣ素子とほ
ぼ接触しない状態にあり、 上記ＩＣ素子の挿入により上記連結バーが上記
バネの偏倚力に抗して回動されて上記接触子が内
側に変位して上記ＩＣ素子のリードと接触するよ
うにされている測定用ＩＣソケツト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9348390U JPH0451675U (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9348390U JPH0451675U (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0451675U true JPH0451675U (ja) | 1992-04-30 |
Family
ID=31830740
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9348390U Pending JPH0451675U (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0451675U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012524905A (ja) * | 2009-04-21 | 2012-10-18 | ジョンステック インターナショナル コーポレーション | 超小型回路試験器の導電ケルビン接点 |
| US8988090B2 (en) | 2009-04-21 | 2015-03-24 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive kelvin contacts for microcircuit tester |
| US9329204B2 (en) | 2009-04-21 | 2016-05-03 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive Kelvin contacts for microcircuit tester |
-
1990
- 1990-09-05 JP JP9348390U patent/JPH0451675U/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012524905A (ja) * | 2009-04-21 | 2012-10-18 | ジョンステック インターナショナル コーポレーション | 超小型回路試験器の導電ケルビン接点 |
| US8988090B2 (en) | 2009-04-21 | 2015-03-24 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive kelvin contacts for microcircuit tester |
| US9329204B2 (en) | 2009-04-21 | 2016-05-03 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive Kelvin contacts for microcircuit tester |
| US9500673B2 (en) | 2009-04-21 | 2016-11-22 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive kelvin contacts for microcircuit tester |
| US10247755B2 (en) | 2009-04-21 | 2019-04-02 | Johnstech International Corporation | Electrically conductive kelvin contacts for microcircuit tester |