JPH0452548A - プラズマ計測装置 - Google Patents
プラズマ計測装置Info
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- JPH0452548A JPH0452548A JP2163819A JP16381990A JPH0452548A JP H0452548 A JPH0452548 A JP H0452548A JP 2163819 A JP2163819 A JP 2163819A JP 16381990 A JP16381990 A JP 16381990A JP H0452548 A JPH0452548 A JP H0452548A
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- plasma
- optical fibers
- slit
- face
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 45
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 230000004927 fusion Effects 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 229940085805 fiberall Drugs 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/10—Nuclear fusion reactors
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプラズマ計測装置に関し、特にトカマク型核融
合装置内で発生するプラズマの複数点からの散乱光をバ
ンドル光フアイバアレイを用いて遠方の分光器に導き９
分光器によって分光されたスペクトルを光検知器を用い
て検出しプラズマを計測するプラズマ計測装置に関する
。
合装置内で発生するプラズマの複数点からの散乱光をバ
ンドル光フアイバアレイを用いて遠方の分光器に導き９
分光器によって分光されたスペクトルを光検知器を用い
て検出しプラズマを計測するプラズマ計測装置に関する
。
従来の技術を図面を参照して説明する。第２図は、従来
のプラズマ計測装置の構成図である。
のプラズマ計測装置の構成図である。
第２図において、１は測定対象のプラズマ。
２はレーザ光でありプラズマ１によって散乱される。３
〜８はそれぞれ観測点Ａ〜Ｆであり、この位置から散乱
されたレーザ光２が集光レンズ９により集光され、結像
面１０に結像する。結像面ｌＯにはバンドル光ファイバ
Ａ−Ｆｉｌ〜１７のバンドル光ファイバＡ〜Ｆ入射端面
１７〜２２のように設置されており、観測点Ａ−Ｆ３〜
８から散乱されたレーザ光２を分光器２３まで導く０分
光器２３で分光されたスペクトルは光検知器２４で電気
信号に変換される。
〜８はそれぞれ観測点Ａ〜Ｆであり、この位置から散乱
されたレーザ光２が集光レンズ９により集光され、結像
面１０に結像する。結像面ｌＯにはバンドル光ファイバ
Ａ−Ｆｉｌ〜１７のバンドル光ファイバＡ〜Ｆ入射端面
１７〜２２のように設置されており、観測点Ａ−Ｆ３〜
８から散乱されたレーザ光２を分光器２３まで導く０分
光器２３で分光されたスペクトルは光検知器２４で電気
信号に変換される。
このとき、観測点Ｂ〜Ｅ４〜７の位置とレーザ光２の通
過する位置が一致している必要がある。
過する位置が一致している必要がある。
このアライメントを行うために、バンドル光ファイバＡ
ｌｌとＦ１６は、バンドル光ファイバＡ入射端面１７と
バンドル光ファイバＦ入射端面２２のように、それぞれ
２つに分かれている。アライメントＡ古川端面３７は光
検知器Ａ有用３３に。
ｌｌとＦ１６は、バンドル光ファイバＡ入射端面１７と
バンドル光ファイバＦ入射端面２２のように、それぞれ
２つに分かれている。アライメントＡ古川端面３７は光
検知器Ａ有用３３に。
アライメントＡ左用端面３８は光検知器Ａ右用３４に、
またアライメントＦ右用端面３９は光検知器Ｆ石川３５
に、アライメントＦ左用端面４０は光検知器Ｆ表相３６
にそれぞれ散乱光を導くための入射端である。
またアライメントＦ右用端面３９は光検知器Ｆ石川３５
に、アライメントＦ左用端面４０は光検知器Ｆ表相３６
にそれぞれ散乱光を導くための入射端である。
光検知器Ａ有用３３の出力信号の光検知器Ａ右用３６の
出力信号、および光検知器Ｆ石川３５の出力信号と光検
知器Ｆ表相３６の出力信号をそれぞれ等しくなるように
レーザ光２に位置調整を施すことにより、観測点Ａ−Ｆ
３〜８の位置とレーザ光２の通過する位置を設定してい
た。
出力信号、および光検知器Ｆ石川３５の出力信号と光検
知器Ｆ表相３６の出力信号をそれぞれ等しくなるように
レーザ光２に位置調整を施すことにより、観測点Ａ−Ｆ
３〜８の位置とレーザ光２の通過する位置を設定してい
た。
上述した従来のプラズマ計測装置は、アライメントを行
うために２本のバンドル光ファイバを専用に必要とし、
かつアライメントのなめに４つの専用の光検知器を必要
としており、コスト高を招くという欠点がある。
うために２本のバンドル光ファイバを専用に必要とし、
かつアライメントのなめに４つの専用の光検知器を必要
としており、コスト高を招くという欠点がある。
本発明の装置は、トカマク型核融合装置内で発生するプ
ラズマの複数の観測点からのレーザの散乱光を結像面に
集光するための集光レンズと、結像面に集光されたプラ
ズマがらの散乱光を分光器まで導くための複数のバンド
ル光ファイバと、このバンドル光ファイバによって導が
れな散乱光を分光するための分光器と、この分光器で分
光されたスペクトルを電気信号に変換するための光検知
器とを有してプラズマを計測するプラズマ計測装置にお
いて、前記複数のバンドル光ファイバのうち前記結像面
の最外側に配設された２つのバンドル光ファイバの入射
端面の前面に設置し１通常のプラズマ計測を行なう場合
に前記２つのバンドル光ファイバの入射端面のすべてに
前記散乱光による結像を受光させる全開スリットと、観
測点のアライメントを行なう場合に前記２つのバンドル
光ファイバの入射端面の右半分と左半分に前記散乱光に
よる結像を受光させる古川スリットと布層スリットを備
えて成る。
ラズマの複数の観測点からのレーザの散乱光を結像面に
集光するための集光レンズと、結像面に集光されたプラ
ズマがらの散乱光を分光器まで導くための複数のバンド
ル光ファイバと、このバンドル光ファイバによって導が
れな散乱光を分光するための分光器と、この分光器で分
光されたスペクトルを電気信号に変換するための光検知
器とを有してプラズマを計測するプラズマ計測装置にお
いて、前記複数のバンドル光ファイバのうち前記結像面
の最外側に配設された２つのバンドル光ファイバの入射
端面の前面に設置し１通常のプラズマ計測を行なう場合
に前記２つのバンドル光ファイバの入射端面のすべてに
前記散乱光による結像を受光させる全開スリットと、観
測点のアライメントを行なう場合に前記２つのバンドル
光ファイバの入射端面の右半分と左半分に前記散乱光に
よる結像を受光させる古川スリットと布層スリットを備
えて成る。
また本発明の装置は、前記複数の観測点が、プラズマに
照射して散乱されるレーザ光の光路上に設定された構成
を有する。
照射して散乱されるレーザ光の光路上に設定された構成
を有する。
次に１本発明について図面を参照して説明する。
第１図は１本発明のプラズマ計測装置の一実施例の構成
図である。
図である。
１は測定対象のプラズマ、２はレーザ光でプラズマ１に
よって散乱される。観測点Ａ−Ｆ３〜８の位置から散乱
されたレーザ光２が集光レンズ９により集光され、結像
面１ｏに結像する。結像面１０にはバンドル光ファイバ
Ａ〜Ｆｌｌ〜１６がバンドル光ファイバＡ〜Ｆ入射端面
１７〜２２のように設置されており、観測点Ａ〜Ｆ３〜
８がら散乱されたレーザ光２を分光器２３まで導く０分
光器２３で分光されたスペクトルの光検知器２４で電気
信号に変換する。
よって散乱される。観測点Ａ−Ｆ３〜８の位置から散乱
されたレーザ光２が集光レンズ９により集光され、結像
面１ｏに結像する。結像面１０にはバンドル光ファイバ
Ａ〜Ｆｌｌ〜１６がバンドル光ファイバＡ〜Ｆ入射端面
１７〜２２のように設置されており、観測点Ａ〜Ｆ３〜
８がら散乱されたレーザ光２を分光器２３まで導く０分
光器２３で分光されたスペクトルの光検知器２４で電気
信号に変換する。
このとき観測点Ａ〜Ｆ３〜８の位置とレーザ光２の通過
する位置が一致している必要がある。このアライメント
を行うために、バンドル光ファイバＡｌｌとバンドル光
ファイバＦ１６の前に可動スリット（１）２５と可動ス
リット（２）３２を設置する。
する位置が一致している必要がある。このアライメント
を行うために、バンドル光ファイバＡｌｌとバンドル光
ファイバＦ１６の前に可動スリット（１）２５と可動ス
リット（２）３２を設置する。
通常の計測を行う場合は、可動スリット（１）２５の基
準（１）２９をバンドル光ファイバＡ入射端面１７の中
央に合わせる。これにより可動スリット（１）２５の全
開スリット２６がバンドル光ファイバＡ入射端面１７と
対面一致する。
準（１）２９をバンドル光ファイバＡ入射端面１７の中
央に合わせる。これにより可動スリット（１）２５の全
開スリット２６がバンドル光ファイバＡ入射端面１７と
対面一致する。
同様にして、可動スリット（２）３２の基準（１）３６
をバンドル光ファイバＦ入射端面２２の中央に合わせる
。これにより可動スリット（２）３２の全開スリット４
１がバンドル光ファイバＦ入射端面２２と対面一致する
。以上により集光レンズ９により集光された散乱光はバ
ンドル光ファイバＡ１１とＦ１６に妨げられることなく
入射する。
をバンドル光ファイバＦ入射端面２２の中央に合わせる
。これにより可動スリット（２）３２の全開スリット４
１がバンドル光ファイバＦ入射端面２２と対面一致する
。以上により集光レンズ９により集光された散乱光はバ
ンドル光ファイバＡ１１とＦ１６に妨げられることなく
入射する。
アライメントを行う場合には、可動スリット（１）、２
５の基準（２＞３０をバンドル光ファイバＡ入射端面１
７の中央に合わせる。これにより可動スリット（１）２
５の石川スリット２７がバンドル光ファイバＡ入射端面
１７と一致する。この状態で光量データを取り光量デー
タ１とする。次に可動スリット（１）２５の基準（３）
３１）！−バンドル光ファイバＡ入射端面１７の中央に
合わせる。これにより可動スリット（１）２５の表層ス
リット２８がバンドル光ファイバＡ入射端面１７と一致
する。この状態で光量データを取り光量データ２とする
。同様に、可動スリット（２＞３２の基準（２）４５を
バンドル光ファイバＦ入射端面２２の中央に合わせる。
５の基準（２＞３０をバンドル光ファイバＡ入射端面１
７の中央に合わせる。これにより可動スリット（１）２
５の石川スリット２７がバンドル光ファイバＡ入射端面
１７と一致する。この状態で光量データを取り光量デー
タ１とする。次に可動スリット（１）２５の基準（３）
３１）！−バンドル光ファイバＡ入射端面１７の中央に
合わせる。これにより可動スリット（１）２５の表層ス
リット２８がバンドル光ファイバＡ入射端面１７と一致
する。この状態で光量データを取り光量データ２とする
。同様に、可動スリット（２＞３２の基準（２）４５を
バンドル光ファイバＦ入射端面２２の中央に合わせる。
これにより可動スリット（２）３２の石川スリット４２
がバンドル光ファイバＦ入射端面と一致する。この状態
で光量データを取り光量データ３とする。次に可動スリ
ット（２）３２の基準（３＞４６をバンドル光ファイバ
ーＦ入射端面２２の中央に合わせる。これにより可動ス
リット（２）３２の表層スリット４３がバンドル光ファ
イバＦ入射端面２２と一致する。この状態で光量データ
を取り光量データ４とする。
がバンドル光ファイバＦ入射端面と一致する。この状態
で光量データを取り光量データ３とする。次に可動スリ
ット（２）３２の基準（３＞４６をバンドル光ファイバ
ーＦ入射端面２２の中央に合わせる。これにより可動ス
リット（２）３２の表層スリット４３がバンドル光ファ
イバＦ入射端面２２と一致する。この状態で光量データ
を取り光量データ４とする。
上述した光量データを比較し、光量データ１と光量デー
タ２および光量データ３と光量データ４がそれぞれ等し
くなるように２のレーザ光の光軸の移動を行い調整する
。
タ２および光量データ３と光量データ４がそれぞれ等し
くなるように２のレーザ光の光軸の移動を行い調整する
。
以上により観測点Ａ−Ｆ３〜８の位置とレーザ光２の通
過する位置とを一致させることができる。
過する位置とを一致させることができる。
以上説明したように本発明は、バンドル光ファイバの入
射端面の前面に散乱光の像の一部だけを通過させるため
の可動スリットを設置してアライメントを行なうことに
より、アライメントを行うための専用のバンドル光ファ
イバおよび４つの専用の光検知器を不必要とし、大幅な
コスト低減が図れるという効果がある。
射端面の前面に散乱光の像の一部だけを通過させるため
の可動スリットを設置してアライメントを行なうことに
より、アライメントを行うための専用のバンドル光ファ
イバおよび４つの専用の光検知器を不必要とし、大幅な
コスト低減が図れるという効果がある。
第１図は９本発明プラズマ計測装置の一実施例の構成図
、第２図は、従来のプラズマ計測装置の一例を示す構成
図である。 １・・・プラズマ、２・・・レーザ光、３〜８・・・観
測点Ａ〜観測点Ｆ、９・・・集光レンズ、１０・・・結
像面。 １１〜１６・・・バンドル光ファイバＡ〜Ｆ、１７〜２
２・・・バンドル光ファイバＡ〜Ｆ入射端面。 ２３・・・分光器、２４・・・光検知器、２５・・・可
動スリット（１）、２６．４１・・・全開スリット、２
７゜４２・・・石川スリット、２８．４３・・・表層ス
リット、２９．４４・・・基準（１）、３０．４５・・
・基準（２）、３１．４６・・・基準（３）、３２・・
・可動スリッ）（２）、３３・・・光検知器Ａ有用、３
４・・・光検知器Ａ右用、３５・・・光検知器Ｆ有用、
３６・・・光検知器Ｆ表相、３７・・・アライメントＡ
有用端面、３Ｂ・・・アライメントＡ左用端面、３９
アライメントＦ右用端面、４０・・・アライメントＦ左
用端面。
、第２図は、従来のプラズマ計測装置の一例を示す構成
図である。 １・・・プラズマ、２・・・レーザ光、３〜８・・・観
測点Ａ〜観測点Ｆ、９・・・集光レンズ、１０・・・結
像面。 １１〜１６・・・バンドル光ファイバＡ〜Ｆ、１７〜２
２・・・バンドル光ファイバＡ〜Ｆ入射端面。 ２３・・・分光器、２４・・・光検知器、２５・・・可
動スリット（１）、２６．４１・・・全開スリット、２
７゜４２・・・石川スリット、２８．４３・・・表層ス
リット、２９．４４・・・基準（１）、３０．４５・・
・基準（２）、３１．４６・・・基準（３）、３２・・
・可動スリッ）（２）、３３・・・光検知器Ａ有用、３
４・・・光検知器Ａ右用、３５・・・光検知器Ｆ有用、
３６・・・光検知器Ｆ表相、３７・・・アライメントＡ
有用端面、３Ｂ・・・アライメントＡ左用端面、３９
アライメントＦ右用端面、４０・・・アライメントＦ左
用端面。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、トカマク型核融合装置内で発生するプラズマの複数
の観測点からのレーザの散乱光を結像面に集光するため
の集光レンズと、結像面に集光されたプラズマからの散
乱光を分光器まで導くための複数のバンドル光ファイバ
と、このバンドル光ファイバによって導かれた散乱光を
分光するための分光器と、この分光器で分光されたスペ
クトルを電気信号に変換するための光検知器とを有して
プラズマを計測するプラズマ計測装置において、前記複
数のバンドル光ファイバのうち前記結像面の最外側に配
設された２つのバンドル光ファイバの入射端面の前面に
設置し、通常のプラズマ計測を行なう場合に前記２つの
バンドル光ファイバの入射端面のすべてに前記散乱光に
よる結像を受光させる全開スリットと、観測点のアライ
メントを行なう場合に前記２つのバンドル光ファイバの
入射端面の右半分と左半分に前記散乱光による結像を受
光させる右用スリットと左用スリットを備えた可動スリ
ットを有することを特徴とするプラズマ計測装置。 ２、前記複数の観測点が、プラズマに照射して散乱され
るレーザ光の光路上に設定したものであることを特徴と
する請求項１記載のプラズマ計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2163819A JPH0452548A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | プラズマ計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2163819A JPH0452548A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | プラズマ計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0452548A true JPH0452548A (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=15781332
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2163819A Pending JPH0452548A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | プラズマ計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0452548A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009521706A (ja) * | 2005-12-27 | 2009-06-04 | レンセラール ポリテクニック インスティチュート | テラヘルツ放射線を検出する光学技術を利用して離れたところにある物体を分析する方法 |
| KR100921964B1 (ko) * | 2007-12-14 | 2009-10-15 | 한국기초과학지원연구원 | 플라즈마 상태 모니터링 시스템 |
| KR100946702B1 (ko) * | 2007-12-14 | 2010-03-12 | 한국기초과학지원연구원 | 광 수집계가 내장된 카세트 |
| WO2023238928A1 (ja) * | 2022-06-10 | 2023-12-14 | 国立大学法人北海道大学 | プラズマ計測装置 |
-
1990
- 1990-06-21 JP JP2163819A patent/JPH0452548A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009521706A (ja) * | 2005-12-27 | 2009-06-04 | レンセラール ポリテクニック インスティチュート | テラヘルツ放射線を検出する光学技術を利用して離れたところにある物体を分析する方法 |
| KR100921964B1 (ko) * | 2007-12-14 | 2009-10-15 | 한국기초과학지원연구원 | 플라즈마 상태 모니터링 시스템 |
| KR100946702B1 (ko) * | 2007-12-14 | 2010-03-12 | 한국기초과학지원연구원 | 광 수집계가 내장된 카세트 |
| WO2023238928A1 (ja) * | 2022-06-10 | 2023-12-14 | 国立大学法人北海道大学 | プラズマ計測装置 |
| JPWO2023238928A1 (ja) * | 2022-06-10 | 2023-12-14 |
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