JPH0452921Y2 - - Google Patents

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JPH0452921Y2
JPH0452921Y2 JP1115387U JP1115387U JPH0452921Y2 JP H0452921 Y2 JPH0452921 Y2 JP H0452921Y2 JP 1115387 U JP1115387 U JP 1115387U JP 1115387 U JP1115387 U JP 1115387U JP H0452921 Y2 JPH0452921 Y2 JP H0452921Y2
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JP
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light
light emitting
photoelectric detector
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groove
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Description

【考案の詳細な説明】 〔技術分野〕 この考案は光電検出器に関する。
〔背景技術〕
光電検出器には、色々な種類のものがあるが、
その内のひとつとして、投光部と受光部が対向し
て設けられ、その間に被検知物体が通る溝が形成
されており、投光部内に設けられた投光素子から
出た光が溝を横切つて受光部内に設けられた受光
素子に入るようになつていて、溝を通る被検知物
体が前記光を遮断することによりその検知がなさ
れる光電検出器(「溝型光電検出器」と称される)
がある。
このものは、例えば、自動販売機のコイン(被
検知物体)の検知などに用いられる。ところが、
コインのような金属製被検知物体は電荷を帯びて
いることが少なからずあり、この電荷による電圧
は、結構、高い電圧であるため、このような金属
製物体の検知を行う場合には、上記電荷が原因と
なつて投光素子や受光素子の破壊が起き易い。い
わゆる静電気による素子破壊である。破壊の機構
は、電荷が素子へ直接放電されることにより素子
破壊が起きる場合と、静電誘導により素子の周辺
に電荷が誘起され、この二次的な電荷により素子
破壊が起きる場合とがある。
このような破壊を防ぐために、例えば、高耐圧
の発光ダイオードや受光ダイオードを用いること
も考えられる。しかし、この場合、静電気による
電圧は、その程度の予想が困難なため、通常必要
とされる耐電圧からかけ離れた定格のものを使用
しなければならず、コストアツプが著しい。しか
し、一度の放電では破壊が起きなくても、ダイオ
ードに繰り返し異常高電圧が加わることには変わ
りがないため、徐々に劣化が進行し、ついには検
知動作不良が起きるようになることから、ダイオ
ードの耐電圧を上げるという対策では、本質的な
解決が得られないのである。
〔考案の目的〕
前記事情に鑑み、この考案は、被検知物体が帯
びる静電気による破壊を本質的に防止し、しか
も、投・受光素子の間の光軸が安定し正常な物体
検知動作が長期間に亙り維持できる光電検出器を
提供することを目的とする。
〔考案の開示〕
前記目的を達成するため、この考案は、投光部
と受光部が対向して設けられ、その間に被検知物
体が通る溝が形成されており、投光部内に設けら
けた投光素子から出た光が前記溝を横切つて受光
部内に設けられた受光素子に入るようになつてい
て、前記溝を通る被検知物体が前記光を遮断する
ことによりその検知がなされる光電検出器におい
て、前記両光素子の各前面が前記光の通過を妨げ
ないようにして金属ばね板で覆われ、これらの金
属ばね板がそれぞれのばね力により前記両光素子
を前記投・受光部のケースを構成する壁の内面に
押し付けていることを特徴とする光電検出器を要
旨とする。
以下、この考案を、その一実施例をあらわす図
面を参照しながら詳しく説明する。
第1図は、この考案にかかる光電検出器の一実
施例の外観をあらわす。第2図は、この光電検出
器の内部構造をあらわす。
この光電検出器1では、基部2の上に投光部3
と受光部4が対向して設けられ、その間に被検知
物体(例えば、コインM)が通る溝5が形成され
ている。溝5に面する投光部3のケース壁3cに
は窓6が明けられ、受光部4のケース壁4cには
窓6′が明けられている。投光部3内に設けられ
た投光素子10から出た光が窓6を出て、溝5を
横切り、窓6′から入つて受光部4内に設けられ
た受光素子11に当たるようになつている。
溝5を被検知物体が通らない場合は光が受光素
子11で検出されているが、被検知物体が溝5を
通ると光が遮断され、受光素子11が光を検出し
なくなる。したがつて、この光電検出器1では、
受光素子11が光を検出している時は被検知物体
が無しと判定され、受光素子11が光を検知しな
い時は被検知物体が有りと判定されるのである。
投光素子10は、投光用の非球面レンズ13を
前部に備え、内部に発光ダイオードチツプ15を
備えている。受光素子11は、受光用の非球面レ
ンズ14を前部に備え、内部に受光ダイオード
(あるいは受光トランジスタ)チツプ16を備え
ている。両光素子10,11は、それぞれの金属
端子17,18がプリント基板20へハンダ付け
されることにより基板20に搭載されている。プ
リント基板20自体は、ねじ止め(図示省略)な
ど適当な方法により基部2に固定されている。光
電検出器1内外の電気的接続はケーブル21…2
1を介して行われる。
投光素子10と受光素子11は、いずれも、そ
の前面が、光の通過を妨げないようにした静電シ
ールド用の金属ばね板25,25で覆われてい
る。この金属ばね板25,25は、静電シールド
作用だけでなく、それぞれの光素子10,11
を、ばね力により前記投・受光部のケースを構成
する壁の内面3b,4bに押し付けている。
以下、金属ばね板25まわりの構成に付いて詳
しく説明する。
金属ばね板25は、第2図や第3図にみるよう
に、略U字形状をしている。投・受光素子10,
11は金属ばね板25のU字の間に挟まれてい
る。素子の前面を覆うU字の片25aには非球面
レンズ13,14が嵌まり込む窓25bが設けら
れていて、光の通過が妨げられないようになつて
いる。
金属ばね板25は、第3図にみるように、受光
素子11を挟んだ状態で、片25aが受光素子1
1の前面にぴつたりと沿い、もう一方の片25a
が裾拡り状となつている。金属ばね板25は、受
光部11内に押し込まれており、受光素子11後
側の壁の内面4aに当たつている金属ばね板25
の片25cのばね力によつて、受光素子11が、
受光部11を構成する壁の内面4bに強く押し付
けられている。投光素子10の金属ばね板25に
ついても、壁の内面4aが内面3aに代わり、壁
の内面3bが内面4bに代わる点が異なるだけで
ある以外、上に述べた受光素子11の場合と全く
同様のことが言える。
なお、両金属ばね板25は、脚25e,25e
がプリント板20にハンダ付けされ、基板20に
搭載されているとともに、電気的なアース(共通
ライン)がプリント板20上で取られるようにな
つている。
上にみたように、光電検出器1の投・受光素子
10,11は静電シールド用の金属板25,25
が装着されている。したがつて、被検知物体が静
電気を帯びていたとしても、電荷が、光素子1
0,11を経ることなく、金属ばね板25から、
直接、アースに放電される。また、静電誘導によ
つて生ずる電荷も金属板25を介してアースへ直
接放電もされるし、誘起される電荷量そのもの
が、金属板25のシールド作用で、破壊が起きな
い程度にまで軽減もされる。つまり、光素子1
0,11の破壊の原因となつていた静電気の作用
が光素子10,11に加わらなくなるか、または
軽減されるから、破壊に対する本質的な防止策が
施されたことになる。
金属材からなる被検知物体を10000〜15000ボル
ト程度の電圧となるように帯電させておいて、実
際に検知動作をさせる実験を繰り返し行つたが、
光素子10,11の破壊は全く起きなかつた。
投・受光素子10,11は、いずれも、金属ば
ね板25で壁の内面3b,4bへ押し付けられた
状態であるから、固定位置がずれたりしない。そ
のため、投・受光素子10,11の間の光軸が安
定し、正常な物体検知動作が長期に亙つて維持さ
れることとなる。
なお、第4図は、この考案にかかる光電検出器
の他の実施例の一部の内部構造をあらわす。この
光電検出器1′は、投光部3′内に受光素子10′
の位置決め用リブ3′h…3′hが予め形成されて
いる。そのため、投光素子10′がリブ3′hに当
たつて止まるようにして固定するだけで正確な位
置決めがなされるため、光軸の設定が精度良く行
える。このような位置決め用リブが受光部内にも
設けられてもよいことは言うまでもない。
第5図は、光電検出器1,1′の電気回路をあ
らわす。
発光ダイオードD1からの光Lが、受光ダイオ
ードD2で受光されている間は、増幅器Aがトラ
ンジスタTを導通させる。光Lが被検知物体で遮
られ、受光ダイオードD2が受光しなくなると、
増幅器AがトランジスタTを遮断する。つまり、
物体検知がトランジスタTの導通・遮断として出
力されるのである。なお、Vcは駆動用電源部で
ある。
この考案は上記の実施例に限定されない。金属
ばね板の形状や溝の形状が図示以外の形状であつ
てもよい。光電検出器が、電源部、トランジスタ
や増幅器を備えていなくてもよい。発光素子や受
光素子の非球面レンズが金属ばね板から突出せ
ず、ばね板内側に設けられている構造であつても
よい。光電検出器が、例えば、投・受光部の上壁
や側壁が用いていて、発光素子や受光素子が露出
するような開放構造であつてもよい。
〔考案の効果〕
この考案にかかる光電検出器は、以上に述べた
構成を有している。そのため、被検知物体の静電
気による破壊が本質的に防止され、しかも、投・
受光素子の間の光軸が安定し正常な物体検知動作
が長期間維持される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この考案にかかる光電検出器の一実
施例の外観斜視図、第2図は、この光電検出器の
内部構造をあらわす断面図、第3図は、上記光電
検出器の受光素子と金属ばね板の外観斜視図、第
4図は、この考案にかかる光電検出器の他の実施
例の部分断面図、第5図は、この考案にかかる光
電検出器の一実施例の電気回路図である。 1……光電検出器、2……基部、3……投光
部、4……受光部、5……溝、10……投光素
子、11……受光素子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 投光部と受光部が対向して設けられ、その間に
    被検知物体が通る溝が形成されており、投光部内
    に設けられた投光素子から出た光が前記溝を横切
    つて受光部内に設けられた受光素子に入るように
    なつていて、前記溝を通る被検知物体が前記光を
    遮断することによりその検知がなされる光電検出
    器において、前記両光素子の各前面が前記光の通
    過を妨げないようにして金属ばね板で覆われ、こ
    れらの金属ばね板がそれぞれのばね力により前記
    両光素子を前記投・受光部のケースを構成する壁
    の内面に押し付けていることを特徴とする光電検
    出器。
JP1115387U 1987-01-27 1987-01-27 Expired JPH0452921Y2 (ja)

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