JPH0453097B2 - - Google Patents

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JPH0453097B2
JPH0453097B2 JP61182821A JP18282186A JPH0453097B2 JP H0453097 B2 JPH0453097 B2 JP H0453097B2 JP 61182821 A JP61182821 A JP 61182821A JP 18282186 A JP18282186 A JP 18282186A JP H0453097 B2 JPH0453097 B2 JP H0453097B2
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JP
Japan
Prior art keywords
cutting
semiconductor device
outer lead
printed circuit
semiconductor
Prior art date
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Application number
JP61182821A
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Japanese (ja)
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JPS6340329A (en
Inventor
Minoru Okamura
Fumimaro Ikeda
Hideaki Myoshi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaijo Corp
NEC Corp
Original Assignee
Kaijo Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Kaijo Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical Kaijo Corp
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Publication of JPS6340329A publication Critical patent/JPS6340329A/en
Publication of JPH0453097B2 publication Critical patent/JPH0453097B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/701Tape-automated bond [TAB] connectors

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置のアウターリードを基板の
アウターリードと接続して半導体装置を基板に装
着するアウターリードボンデイング装置に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an outer lead bonding apparatus for connecting the outer leads of a semiconductor device to the outer leads of a substrate and mounting the semiconductor device on the substrate.

この種の装置においては、多数の半導体装置を
等ピツチで取付けたキヤリヤテープを長手方向に
移送せしめ、その下側或いは別の位置に、半導体
装着を装着すべきプリント基板を移送せしめ、キ
ヤリヤテープから切断した半導体装置を降下せし
めて基板の装着位置に重ねてアウターリード部を
可熱融着せしめて相互に接続しボンデイングする
ようになつている。
In this type of equipment, a carrier tape on which a number of semiconductor devices are mounted at equal pitches is transferred in the longitudinal direction, and a printed circuit board to which semiconductor mounting is to be mounted is transferred to the underside of the carrier tape or to another position, and the printed circuit board is cut from the carrier tape. The semiconductor device is lowered and stacked on the board at the mounting position, and the outer lead portions are thermally fused to connect and bond each other.

この操作に当たり、キヤリヤテープから半導体
装着を切断して取り出すのに、半導体装着と切断
装着との位置整合は特にははかられておらず、そ
のまま切断が行われていた。
In this operation, when cutting and taking out the semiconductor mount from the carrier tape, no particular care was taken to align the positions of the semiconductor mount and the cutting mount, and cutting was performed as is.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、半導体装着はキヤリヤテープに
対して正しい位置に装着されているとは限らず、
X,Y方向のズレ、或いはθ方向(回転方向)の
ズレを有する場合がある。
However, semiconductor mounting is not always mounted in the correct position relative to the carrier tape.
There may be deviations in the X and Y directions or in the θ direction (rotational direction).

例えば、第12図の如く、キヤリヤテープ11
に対し、穴12の中に半導体装置2が、基準位置
からθ1だけ回転してズレた位置に装着されていた
とする。切断装置のカツターは基準位置に合わせ
てセツトされているので、そのカツターでアウタ
ーリード4を切断すると、切断線は14,15の
如くなり、アウターリード4の長さは長短不揃い
となる。
For example, as shown in FIG.
On the other hand, assume that the semiconductor device 2 is installed in the hole 12 at a position rotated by θ 1 from the reference position. Since the cutter of the cutting device is set in accordance with the reference position, when the outer lead 4 is cut with the cutter, the cutting lines will be lines 14 and 15, and the length of the outer lead 4 will be irregular.

このように斜めに切断された半導体装置2をボ
ンデイングステージ上のプリント基板にまで運ん
で接合を行えのであるが、第13図の如くプリン
ト基板3には予め穴16の周縁部にリード5がプ
リントされており、このリード5のパターンに合
わせて後述の如く半導体装置2がX,Y及びθ方
向に移動せしめられて整合され、その後に密着
し、加熱押圧せしめられてリード5と4とが接合
される。
The semiconductor device 2 cut diagonally in this way can be carried to the printed circuit board on the bonding stage and bonded. However, as shown in FIG. As described later, the semiconductor device 2 is moved and aligned in the X, Y, and θ directions according to the pattern of the leads 5, and then brought into close contact with each other and heated and pressed to join the leads 5 and 4. be done.

このようなX,Y,θの移動により、半導体装
置2のリード5との整合をはかることはできる
が、リード5とリード4との重なり合いは不均一
となり、第14図に示す如く、AとBとでは重な
り長さが大幅に異なり、短い部分では接続不良を
おこす恐れがある、という問題点があつた。
Although alignment with the leads 5 of the semiconductor device 2 can be achieved by such movement of X, Y, and θ, the overlapping of the leads 5 and 4 becomes uneven, and as shown in FIG. There was a problem in that the overlap length was significantly different from that of B, and there was a risk of connection failure in short portions.

本発明は、従来のものにおける上記の問題点を
解決し、半導体装置がキヤリヤテープに対して基
準位置からズレて装着されていても、正しく切断
が行われ、リードの重なりが良好で、接続不良を
おこすおそれのない、信頼性の高いアウターリー
ドボンデイング装置を提供することを目的とする
ものである。
The present invention solves the above-mentioned problems in the conventional devices, and even if the semiconductor device is mounted on the carrier tape at a position shifted from the reference position, the cutting is performed correctly, the leads overlap well, and connection failures are prevented. The object of the present invention is to provide a highly reliable outer lead bonding device that is free from any risk of damage.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、上記の問題点を解決するための手段
として、複数の半導体装置を取付けたキヤリヤテ
ープから、前記半導体装置を切断装置によりアウ
ターリードの部分で切断して取り出し、該半導体
装置をプリント基板のアウターリード部と接続せ
しめてプリント基板に装着せしめるアウターリー
ドボンデイング装置において、前記キヤリヤテー
プ上の前記半導体装置が、切断前に基準位置から
ズレている位置ズレを検出する切断前位置ズレ検
出装置と、該切断前位置ズレ検出装置の検出信号
に基づいて前記切断装置を、ズレた位置の前記半
導体装置の位置に整合せしめる切断装置整合装置
と、前記装着位置において、前記基板に対する前
記半導体装置の位置のズレを検出する装着前位置
ズレ検出装置と、該装着前位置ズレの検出値に基
づいて位置ズレを修正する装着前位置ズレ修正装
置を備えていることを特徴とするアウターリード
ボンデイング装置を提供せんとするものである。
As a means for solving the above-mentioned problems, the present invention involves cutting a plurality of semiconductor devices from a carrier tape to which a plurality of semiconductor devices are attached at the outer lead portion using a cutting device, and removing the semiconductor devices from a printed circuit board. An outer lead bonding device that connects with an outer lead portion and attaches to a printed circuit board, comprising: a pre-cutting positional deviation detection device that detects a positional deviation of the semiconductor device on the carrier tape from a reference position before cutting; a cutting device alignment device that aligns the cutting device with the position of the semiconductor device at a shifted position based on a detection signal of a pre-cutting positional shift detection device; An outer lead bonding device is provided, comprising: a pre-attachment positional deviation detection device for detecting a positional shift; and a pre-attachment positional shift correction device for correcting the positional shift based on the detected value of the pre-attachment positional shift. It is something to do.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例を図面を用いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described using the drawings.

第1図はプリント回路1の一部に半導体装置2
が組み込まれたプリント基板3を示す。
FIG. 1 shows a semiconductor device 2 in a part of a printed circuit 1.
3 shows a printed circuit board 3 in which is incorporated.

第2図は、その半導体装置2の付近の拡大図で
あり、第3図に実線で示す如き半導体装置2が、
そのアウターリード4の先端がプリント基板3上
のプリント回路のリード5に重ねられて接続され
て装着されている。
FIG. 2 is an enlarged view of the vicinity of the semiconductor device 2, and the semiconductor device 2 as shown by the solid line in FIG.
The tips of the outer leads 4 are mounted so as to be overlapped with the leads 5 of the printed circuit on the printed circuit board 3.

半導体装置2は第3図に示く如く、ICチツプ
6の周縁のパツド7に接続してリード8が設けら
れている。リード8の相互は、リード保持板9に
より支えられ補強されている。リード8の端部は
リード保持板9から突出してアウターリード4を
形成している。10は位置検出のためのマークで
ある。
As shown in FIG. 3, the semiconductor device 2 is provided with leads 8 connected to pads 7 on the periphery of the IC chip 6. The leads 8 are mutually supported and reinforced by a lead holding plate 9. The ends of the leads 8 protrude from the lead holding plate 9 to form the outer leads 4. 10 is a mark for position detection.

第3図においては、半導体装置2が、基準位置
から角度θ1だけ回転方向にズレたものが示されて
いる。
In FIG. 3, the semiconductor device 2 is shown shifted from the reference position by an angle θ 1 in the rotational direction.

半導体装置2は次の如くして製造される。即
ち、第3図に二点鎖線で示す如き、プラスチツク
フイルムより成る長いキヤリヤテープ11の長手
方向に沿つて等ピツチで多数(図では一個のみ示
す)設けられている穴12の周辺に未端部13を
有し、内方に向けて延長されているリード8の内
側端にICチツプ6が接続されている。この状態
までは、予めインナーリードボンダを用いて製造
される。
The semiconductor device 2 is manufactured as follows. That is, as shown by the two-dot chain line in FIG. 3, a large number of holes 12 (only one is shown in the figure) are provided at equal pitches along the longitudinal direction of the long carrier tape 11 made of plastic film. The IC chip 6 is connected to the inner end of the lead 8 which extends inward. Up to this state, it is manufactured in advance using an inner lead bonder.

このような状態のキヤリヤフイルム11をアウ
ターリードボンデイング装置に導き、リード8の
架橋部を、後述の如く半導体装置2と切断装置と
の整合を行つて切断線14,15にて不揃いなく
切断し、半導体装置2を取り出す。リード8の一
部はリード保持板9より突出しアウターリード4
を形成する。
The carrier film 11 in such a state is led to an outer lead bonding device, and the bridge portions of the leads 8 are cut uniformly along the cutting lines 14 and 15 by aligning the semiconductor device 2 and the cutting device as described later. , take out the semiconductor device 2. A portion of the lead 8 protrudes from the lead holding plate 9 and the outer lead 4
form.

プリント基板3の所定の場所には第4図に示す
如き穴16が設けられ、この周縁の一部にはプリ
ント回路によるリード5が設けられている。この
穴16の上に第3図の実線の如き半導体装置2を
重ね、リード5の上にアウターリード4を重ね、
その上から加圧、加熱を行つてリード5とアウタ
ーリード4とを融着せしめる。このようにして半
導体装置2がプリント基板3に装着される。
A hole 16 as shown in FIG. 4 is provided at a predetermined location on the printed circuit board 3, and a lead 5 made of a printed circuit is provided at a part of the periphery of the hole 16. A semiconductor device 2 as shown by the solid line in FIG. 3 is placed on top of this hole 16, an outer lead 4 is placed on top of the lead 5,
Pressure and heat are applied from above to fuse the lead 5 and the outer lead 4. In this way, the semiconductor device 2 is mounted on the printed circuit board 3.

以上の如き作業を行うアウターリードボンデイ
ング装置について詳細に説明する。
The outer lead bonding apparatus that performs the above operations will be explained in detail.

第5図は装置の側面図であり、フレーム17上
には、ボンデイングヘツド18を載せたXYテー
ブル19、アウターリードの切断部20、移送部
21、及びボンデイングステージ22が設けられ
ている。
FIG. 5 is a side view of the apparatus, in which an XY table 19 on which a bonding head 18 is mounted, an outer lead cutting section 20, a transfer section 21, and a bonding stage 22 are provided on a frame 17.

ボンデイングヘツド18には、アウターリード
を融着するボンデイングツール23と、プリント
基板3に対する、半導体装置2の位置ズレを検出
するためのカメラ24が設けられている。
The bonding head 18 is provided with a bonding tool 23 for fusing the outer leads, and a camera 24 for detecting a positional shift of the semiconductor device 2 with respect to the printed circuit board 3.

切断部20には、キヤリヤテープ11の受け台
25が固定され、アウターリード4を切断するカ
ツタ26と切断前の半導体装置2の位置を検出す
るカメラ55とが、θテーブル(回転テーブル)
Xテーブル、Yテーブルより成るXYθテーブル
56上に載置されている。
A holder 25 for the carrier tape 11 is fixed to the cutting section 20, and a cutter 26 for cutting the outer lead 4 and a camera 55 for detecting the position of the semiconductor device 2 before cutting are mounted on a θ table (rotary table).
It is placed on an XYθ table 56 consisting of an X table and a Y table.

移送部21は、半導体装置2を吸収する吸着機
構27を先端に備え、垂直軸のまわりに回転する
アーム28を有する。
The transfer unit 21 has a suction mechanism 27 at its tip that absorbs the semiconductor device 2, and an arm 28 that rotates around a vertical axis.

ボンデイングステージ22は、XYテーブル2
9、回転動作を行うθテーブル30、昇降動作を
行うZテーブル31及び上面に真空吸着の開口を
設けた吸着台32とより成る。
Bonding stage 22 is XY table 2
9. Consists of a θ table 30 that rotates, a Z table 31 that moves up and down, and a suction table 32 that has an opening for vacuum suction on its top surface.

カメラ24の検出により得られた装着前の半導
体装置2の位置ズレの信号は、カメラコントロー
ルユニツトCCU33に入力されてモニタ34に
画像を現し、さらにパターン認識装置PRU35
に入りインターフエース制御系36に入り、ステ
ージドライバ54を経てXYテーブル19,2
9、θテーブル30、Zテープル31に信号を与
え、これらの動きを制御するようになつている。
A signal indicating the positional deviation of the semiconductor device 2 before mounting obtained by the detection by the camera 24 is inputted to the camera control unit CCU33 to display an image on the monitor 34, and further to the pattern recognition unit PRU35.
It enters the interface control system 36, passes through the stage driver 54, and goes to the XY tables 19, 2.
9. Signals are given to the θ table 30 and Z table 31 to control their movements.

同様に、カメラ55の検出によつて得られた切
断前の半導体装置2の、基準位置からのX,Y,
θのズレの信号はXYθテーブル56の動きを制
御するようになつている。
Similarly, the X, Y,
The θ deviation signal is designed to control the movement of the XYθ table 56.

第6図、第7図において、37はプリント基板
3を水平に一つづつ間欠的に移動せしめる(移動
装置の図は省く)ガイドレールであり、38はガ
イドレール37にプリント基板3を一つづつ供給
するローダ、39はガイドレール37から排出さ
れるプリント基板3を一つづつ受け入れるアンロ
ーダである。
In FIGS. 6 and 7, 37 is a guide rail that intermittently moves the printed circuit boards 3 horizontally one by one (the moving device is not shown), and 38 is a guide rail that moves the printed circuit boards 3 one by one on the guide rail 37. The loader 39 is an unloader that receives the printed circuit boards 3 discharged from the guide rail 37 one by one.

第7図、第8図において、11はキヤリヤテー
プ、40はキヤリヤテープをほぼ水平に、プリン
ト基板3とほぼ同じ高さで平行に間欠的に移動せ
しめる(駆動装置の図は省く)ガイドレールであ
る。41はキヤリヤテープ11の供給リール、4
2はスペーサフイルム43の収納リール、44は
送りスプロケツト、45は空テープ収納箱であ
る。
In FIGS. 7 and 8, 11 is a carrier tape, and 40 is a guide rail that intermittently moves the carrier tape substantially horizontally and parallel to the printed circuit board 3 at substantially the same height (the drive device is not shown). 41 is a supply reel for the carrier tape 11;
2 is a storage reel for the spacer film 43, 44 is a feed sprocket, and 45 is an empty tape storage box.

第9図は切断部20の詳細図であり、ダイ46
とポンチ47を備える。48はバネ49にて下向
力を受けておさえである。フレーム50が、カメ
ラ55の動作のために大きくXY方向に動くとき
には、ポンチ47はガイドレール40に当たらぬ
ように受け台25の中に入るようになつている。
FIG. 9 is a detailed view of the cutting section 20, and shows the die 46.
and a punch 47. Reference numeral 48 is a presser that receives downward force from a spring 49. When the frame 50 moves significantly in the XY directions due to the operation of the camera 55, the punch 47 enters into the cradle 25 without hitting the guide rail 40.

第10図はアーム先端の吸着機構27を示し、
中空孔51が真空源と接続し、半導体装置2吸着
する。
FIG. 10 shows the suction mechanism 27 at the tip of the arm.
Hollow hole 51 is connected to a vacuum source and attracts semiconductor device 2 .

第11図はボンデイングステージ22の上部の
詳細である。ガイドレール37の下から、吸着台
32に設けられた中空の吸着軸52が貫通して、
Zテーブル(第5図)31により昇降し、上昇し
たときは吸着した半導体装置2が持ち上げられた
状態で支えられ、アウターリード4とリード5と
の間に隙間が保てるようになつている。下降した
ときは、ICチツプ6の下面よりも吸着軸52の
上面が下がつて隙間があくようになつている。5
3は出没可能の、プリント基板3の位置決めピン
である。
FIG. 11 shows details of the upper part of the bonding stage 22. A hollow suction shaft 52 provided on the suction table 32 penetrates from below the guide rail 37,
The Z table (FIG. 5) is raised and lowered, and when raised, the attracted semiconductor device 2 is supported in a lifted state, so that a gap can be maintained between the outer leads 4 and the leads 5. When lowered, the upper surface of the suction shaft 52 is lower than the lower surface of the IC chip 6, creating a gap. 5
Reference numeral 3 denotes a positioning pin for the printed circuit board 3 that can be retracted and retracted.

ボンデイングツール23は昇降可能に支えら
れ、かつ加熱され、アウターリード4をリード5
に押し付けて融着して接続するようになつてい
る。
The bonding tool 23 is supported so as to be movable up and down, is heated, and connects the outer lead 4 to the lead 5.
It is designed to be connected by pressing it on and fusing it.

動作につき説明すれば、第8図において供給リ
ール41より送りスプロケツト44の作用で繰り
出されたキヤリヤテープ11の、或る半導体装置
2が切断部20に至ると移送は一時停止され、第
5図に示されるXYθテーブル56が作動してカ
メラ55をその半導体装置2の真上に位置せし
め、パターン認識を行い、その半導体装置2の、
基準位置(予め記憶)に対するX,Y及びθ方向
のズレ量を後述のカメラ24によるパターン認識
と同様に検出する。このパターン認識に当たつて
は第3図に示す二つのマーク10を利用する。
To explain the operation, when a certain semiconductor device 2 reaches the cutting section 20 of the carrier tape 11 fed out from the supply reel 41 by the action of the feed sprocket 44 in FIG. 8, the transport is temporarily stopped, and as shown in FIG. The XYθ table 56 operated to position the camera 55 directly above the semiconductor device 2 performs pattern recognition, and the
The amount of deviation in the X, Y, and θ directions with respect to a reference position (stored in advance) is detected in the same manner as pattern recognition by the camera 24, which will be described later. Two marks 10 shown in FIG. 3 are used for this pattern recognition.

このようにして検出されたX,Y,θのズレ量
に基づきXYθテーブル56が操作されて、カツ
タ26が移動し、第9図のダイ46、ポンチ47
による切断線14,15が第3図に示す如くX,
Y方向もθ方向も半導体2の位置と整合する。
The XYθ table 56 is operated based on the X, Y, and θ deviations detected in this way, the cutter 26 is moved, and the die 46 and punch 47 in FIG.
As shown in FIG. 3, the cutting lines 14 and 15 are X,
Both the Y direction and the θ direction match the position of the semiconductor 2.

この状態でカツタ26のダイ46が下降する。
先ずおさえ48がアウターリード4に接触し、ポ
ンチ47との間でアウターリード4を挟みこれを
固定する。なおもダイ46を押し下げればダイ4
6とポンチ47との剪断作用でアウターリード4
は第3図に示す如く、長さがそろえられて切断さ
れ半導体装置2が分離する。
In this state, the die 46 of the cutter 26 is lowered.
First, the presser 48 contacts the outer lead 4 and clamps the outer lead 4 with the punch 47 to fix it. If die 46 is pressed down again, die 4
6 and the punch 47, the outer lead 4
As shown in FIG. 3, the semiconductor devices 2 are separated by cutting to the same length.

次にアーム28を回転させ吸着機構27で半導
体装置2を吸着し、アーム28を戻して吸着機構
27を移動せしめ、半導体装置2をボンデイング
ステージ22の真上に位置せしめる。
Next, the arm 28 is rotated to attract the semiconductor device 2 with the attraction mechanism 27, and the arm 28 is returned to move the attraction mechanism 27 to position the semiconductor device 2 directly above the bonding stage 22.

このとき吸着台32は上昇せしめておき、吸着
軸52の上端は52′の位置にある。
At this time, the suction table 32 is raised, and the upper end of the suction shaft 52 is at a position 52'.

アーム28を下降せしめ、半導体装置2を吸着
台32の吸着軸52の上端に載せ、吸着軸52に
よる吸着を行い吸着機構27は吸着作用を中止
し、半導体装置2の上方から去る。このときアウ
ターリード4の下面は、リード5の上面からhだ
け上方に離れている。
The arm 28 is lowered, the semiconductor device 2 is placed on the upper end of the suction shaft 52 of the suction stand 32, the suction shaft 52 performs suction, the suction mechanism 27 stops the suction action, and the semiconductor device 2 is removed from above. At this time, the lower surface of the outer lead 4 is separated upward from the upper surface of the lead 5 by h.

ここで、カメラ24により上方からパターン認
識を行う。パターン認識に当たつては、半導体装
置2のほぼ対角線の位置の二つのマーク10が正
確な基準位置にある状態の基準パターンを予め記
憶せしめておき、吸着軸52上に保持された実際
の半導体装置2の合わせマークと基準パターンの
合わせマークとのズレをXYテーブル29を動か
しながら光学・電気的に検出してそのズレ量の信
号を得る。一方プリント基板3のリード5の位置
のズレも同様にしてXYテーブル19を動かしな
がら光学・電気的に検出してそのズレ量の信号を
得る。この両方のズレ量の検出信号により、プリ
ント基板3側のリード5及び半導体装置2のアウ
ターリード4′の位置を確かめて、X,Y方向の
ズレ及びθのズレを検出し、インターフエース制
御系36からの出力信号により、XYテーブル2
9、θテーブル30、の動きによりリード5とア
ウターリード4′とを整合せしめ、しかる後Zテ
ーブル31の操作により半導体装置2を下降せし
めアウターリード4′をリード5に重ねて接触せ
しめる。
Here, pattern recognition is performed from above using the camera 24. For pattern recognition, a reference pattern in which the two marks 10 at approximately diagonal positions on the semiconductor device 2 are at accurate reference positions is stored in advance, and the reference pattern is stored in advance when the actual semiconductor held on the suction shaft 52 is used. The deviation between the alignment mark of the device 2 and the alignment mark of the reference pattern is detected optically and electrically while moving the XY table 29, and a signal of the amount of deviation is obtained. On the other hand, the positional deviation of the leads 5 of the printed circuit board 3 is similarly detected optically and electrically while moving the XY table 19, and a signal indicating the amount of deviation is obtained. The positions of the leads 5 on the printed circuit board 3 side and the outer leads 4' of the semiconductor device 2 are confirmed by the detection signals of both of the amounts of deviation, and the deviations in the X and Y directions and in θ are detected, and the interface control system By the output signal from 36, XY table 2
9. The leads 5 and the outer leads 4' are aligned by the movement of the θ table 30, and then the semiconductor device 2 is lowered by operating the Z table 31 so that the outer leads 4' overlap and contact the leads 5.

この動機と平行してXYテーブル19によりボ
ンデイングツール23が移動して半導体装置2の
真上に達し、下降してアウターリード4′のボン
デイングを行う。
In parallel with this movement, the bonding tool 23 is moved by the XY table 19, reaches directly above the semiconductor device 2, and descends to bond the outer lead 4'.

移送部21の動きは、アーム28の如き回転運
動でなくともよく、直線運動で吸着機構27がガ
イドレール40と37との間を往復するようにし
てもよい。
The movement of the transfer section 21 does not have to be a rotational movement like the arm 28, but the suction mechanism 27 may reciprocate between the guide rails 40 and 37 by linear movement.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明により、切断部において、基準位置に対
する半導体位置の切断前ズレ量を検出してカツタ
をそれに整合させて切断するようにしたことによ
り、アウターリードの長さを均一にそろえること
ができ、プリント基板のリードとの重なり長さが
均一となり、接続不良を生ずることがなく、信頼
性の高いアウターリードボンデイング装置を提供
することができ、実用上極めて大なる効果を有す
る。
According to the present invention, in the cutting section, the amount of deviation before cutting of the semiconductor position with respect to the reference position is detected and the cutter is aligned with the deviation amount before cutting, thereby making it possible to make the length of the outer lead uniform and printing. The overlapping length of the leads on the substrate is uniform, no connection failure occurs, and a highly reliable outer lead bonding device can be provided, which is extremely effective in practice.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面は本発明の実施例に関するものであり、第
1図はプリント基板の平面図、第2図は半導体装
置付近の拡大平面図、第3図は半導体装置の拡大
平面図、第4図はプリント基板の穴の拡大平面
図、第5図はアウターリードボンデイング装置の
側面図、第6図はその正面図、第7図は第6図の
平面図、第8図は−線断面正面図、第9図は
切断部詳細図、第10図は吸着機構の一部断面
図、第11図はボンデイングステージ頂部の断面
図、第12図は従来例の切断状態の説明平面図、
第13図はその相手のプリント基板の穴の平面
図、第14図はその接合状態を示す平面図であ
る。 1……プリント回路、2……半導体装置、3…
…プリント基板、4,4′……アウターリード、
5……リード、6……ICチツプ、7……パツド、
8,8′……リード、9……リード保持板、10
……マーク、11……キヤリヤテープ、12……
穴、13……末端部、14,15……切断線、1
6……穴、17……フレーム、18……ボンデイ
ングヘツド、19……XYテーブル、20……切
断部、21……移送部、22……ボンデイングス
テージ、23……ボンデイングツール、24……
カメラ、25……受け台、26……カツタ、27
……吸着機構、28……アーム、29……XYテ
ーブル、30……θテーブル、31……Zテーブ
ル、32……吸着台、33……CCU、34……
モニタ、35……PRU、36……インターフエ
ース制御系、37……ガイドレール、38……ロ
ーダ、39……アンローダ、40……ガイドレー
ル、41……供給リール、42……収納リール、
43……スペーサフイルム、44……送りスプロ
ケツト、45……空テープ収納箱、46……ダ
イ、47……ポンチ、48……おさえ、49……
バネ、50……フレーム、51……中空孔、5
2,52′……吸着軸、53……ピン、54……
ステージドライバ、55……カメラ、56……
XYθテーブル。
The drawings relate to embodiments of the present invention, and FIG. 1 is a plan view of a printed circuit board, FIG. 2 is an enlarged plan view of the vicinity of the semiconductor device, FIG. 3 is an enlarged plan view of the semiconductor device, and FIG. 4 is a printed circuit board. FIG. 5 is a side view of the outer lead bonding device, FIG. 6 is a front view thereof, FIG. 7 is a plan view of FIG. 6, FIG. 9 is a detailed view of the cut portion, FIG. 10 is a partial sectional view of the adsorption mechanism, FIG. 11 is a sectional view of the top of the bonding stage, and FIG. 12 is a plan view illustrating the cutting state of the conventional example.
FIG. 13 is a plan view of the hole in the mating printed circuit board, and FIG. 14 is a plan view showing the bonded state. 1...Printed circuit, 2...Semiconductor device, 3...
...Printed circuit board, 4,4'...outer lead,
5...Lead, 6...IC chip, 7...Putted,
8, 8'...Lead, 9...Lead holding plate, 10
...Mark, 11...Carrier tape, 12...
Hole, 13... End part, 14, 15... Cutting line, 1
6... Hole, 17... Frame, 18... Bonding head, 19... XY table, 20... Cutting section, 21... Transfer section, 22... Bonding stage, 23... Bonding tool, 24...
camera, 25...cradle, 26...katsuta, 27
... Suction mechanism, 28 ... Arm, 29 ... XY table, 30 ... θ table, 31 ... Z table, 32 ... Suction table, 33 ... CCU, 34 ...
Monitor, 35... PRU, 36... Interface control system, 37... Guide rail, 38... Loader, 39... Unloader, 40... Guide rail, 41... Supply reel, 42... Storage reel,
43... Spacer film, 44... Feed sprocket, 45... Empty tape storage box, 46... Die, 47... Punch, 48... Press, 49...
Spring, 50... Frame, 51... Hollow hole, 5
2,52'...Adsorption shaft, 53...Pin, 54...
Stage driver, 55... Camera, 56...
XYθ table.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数の半導体装置を取付けたキヤリヤテープ
から、前記半導体装置を切断装置によりアウター
リードの部分で切断して取り出し、該半導体装置
を、プリント基板のアウターリード部と接続せし
めてプリント基板に装着せしめるアウターリード
ボンデイング装置において、 前記キヤリヤテープ上の前記半導体装置が、切
断前に基準位置からズレている位置ズレを検出す
る切断前位置ズレ検出装置と、 該切断前位置ズレ検出装置の検出信号に基づい
て前記切断装置を、ズレた位置の前記半導体装置
の位置に整合せしめる切断装置整合装置と、 前記装着位置において、前記基板に対する前記
半導体装置の位置のズレを検出する装着前位置ズ
レ検出装置と、該装着前位置ズレの検出値に基づ
いて位置ズレを修正する装着前位置ズレ修正装置
を備えている ことを特徴とするアウターリードボンデイング装
置。
[Scope of Claims] 1. A plurality of semiconductor devices are cut from a carrier tape on which a plurality of semiconductor devices are attached at outer lead portions using a cutting device, and the semiconductor devices are connected to outer lead portions of a printed circuit board and printed. In an outer lead bonding device attached to a substrate, the semiconductor device on the carrier tape includes a pre-cutting positional deviation detection device for detecting a positional deviation from a reference position before cutting, and a detection device for detecting a positional deviation before cutting. a cutting device alignment device that aligns the cutting device with the position of the semiconductor device at a deviated position based on a signal; and a pre-mounting position shift detection device that detects a positional shift of the semiconductor device with respect to the substrate at the mounting position. An outer lead bonding apparatus comprising: a pre-attachment positional shift correcting device for correcting the positional shift based on a detected value of the pre-attachment positional shift.
JP61182821A 1986-08-05 1986-08-05 Bonding apparatus for outer lead Granted JPS6340329A (en)

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