JPH0453247B2 - - Google Patents
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- JPH0453247B2 JPH0453247B2 JP24678084A JP24678084A JPH0453247B2 JP H0453247 B2 JPH0453247 B2 JP H0453247B2 JP 24678084 A JP24678084 A JP 24678084A JP 24678084 A JP24678084 A JP 24678084A JP H0453247 B2 JPH0453247 B2 JP H0453247B2
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- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 8
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/32—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
- G01L1/248—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet using infrared
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は熱弾性効果を用いた応力分布画像を得
る装置に関する。
る装置に関する。
［従来の技術］
熱弾性効果を用いて非接触で試料の応力分布を
測定することが行われている。この測定は、試料
の応力集中部位の表面温度が、圧縮荷重を受けた
とき上昇し、逆に引張り荷重を受けたとき下降す
ることに着目したものである。すなわち、この測
定では、試料に周期的に荷重を印加し、その間、
試料の温度に対応した試料表面からの赤外線を検
出しており、試料の各部分毎に荷重を加えたとき
の温度から荷重なし又は逆方向荷重を加えたとき
の温度を差し引いた信号を得、この差信号に基づ
いて試料の温度分布像、すなわち応力分布画像を
得るようにしている。
測定することが行われている。この測定は、試料
の応力集中部位の表面温度が、圧縮荷重を受けた
とき上昇し、逆に引張り荷重を受けたとき下降す
ることに着目したものである。すなわち、この測
定では、試料に周期的に荷重を印加し、その間、
試料の温度に対応した試料表面からの赤外線を検
出しており、試料の各部分毎に荷重を加えたとき
の温度から荷重なし又は逆方向荷重を加えたとき
の温度を差し引いた信号を得、この差信号に基づ
いて試料の温度分布像、すなわち応力分布画像を
得るようにしている。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで、応力分布画像を得るためには、試料
に周期的に荷重を印加しなければならないが、こ
の周期的な荷重の変化の周波数が変動している
と、荷重時の温度もその変動に応じて変化するた
め、正確な応力分布画像を得ることはできない。
に周期的に荷重を印加しなければならないが、こ
の周期的な荷重の変化の周波数が変動している
と、荷重時の温度もその変動に応じて変化するた
め、正確な応力分布画像を得ることはできない。
本発明は、上述した点に鑑みてなされたもの
で、荷重の周波数が変動しても、正確な応力分布
画像を得ることのできる装置を提供することを目
的としている。
で、荷重の周波数が変動しても、正確な応力分布
画像を得ることのできる装置を提供することを目
的としている。
［問題点を解決するための手段］
本発明に基づく応力画像分布を得る装置は、被
測定試料に周期的な荷重を与える荷重印加手段
と、該荷重が印加されている試料の各部分からの
赤外線を検出する手段と、該試料に加えられる荷
重変化に同期した周期的変化信号から該変化の周
波数に対応した信号を得る手段と、該周期的変化
の周波数が所定範囲内の周波数になつたことを検
知する手段と、該検知手段からの信号に基づき該
検出手段からの映像信号をサンプリングする手段
と、該サンプリングされた信号に基づいて応力映
像を得るためのデータ処理手段とを備えたことを
特徴としている。
測定試料に周期的な荷重を与える荷重印加手段
と、該荷重が印加されている試料の各部分からの
赤外線を検出する手段と、該試料に加えられる荷
重変化に同期した周期的変化信号から該変化の周
波数に対応した信号を得る手段と、該周期的変化
の周波数が所定範囲内の周波数になつたことを検
知する手段と、該検知手段からの信号に基づき該
検出手段からの映像信号をサンプリングする手段
と、該サンプリングされた信号に基づいて応力映
像を得るためのデータ処理手段とを備えたことを
特徴としている。
［実施例］
以下本発明の一実施例を添附図面に基づいて詳
述する。
述する。
第１図において、１は被測定試料であり、該試
料１には荷重印加機２から荷重が印加されてお
り、周期的に圧縮、引張りを受けている。３は赤
外線スキヤナであり、該赤外線スキヤナ３は該試
料１の表面からの赤外線を順々に検出器に導き、
映像信号を得るようにしている。該映像信号は増
幅器４によつて増幅された後、Ａ−Ｄ変換器５に
供給されデイジタル信号に変換される。該荷重印
加機２からは試料１に印加する荷重の変化に対応
した信号が発生されており、その信号は増幅器６
によつて増幅された後コンパレータ７に供給され
る。該コンパレータ７からの信号は第１と第２の
単安定マルチバイブレータ８，９に供給され、該
２つの単安定マルチバイブレータからのパルス信
号は、カウンタ１０に供給される。該カウンタ１
０は該単安定マルチバイブレータ８，９からのパ
ルスに応じてクロツク信号発生回路１１からのク
ロツク信号のカウントを行い、その値をラツチ回
路１２にラツチする。該ラツチ回路の値は第１と
第２のコンパレータ１３，１４に供給される。該
第１と第２のコンパレータの出力信号はアンド回
路１５に供給され、該アンド回路１５の出力信号
はアンド回路１６，１７に供給される。該アンド
回路１６には第１の単安定マルチバイブレータ８
からの信号も供給され、又、アンド回路１７には
第２の単安定マルチバイブレータ９からの信号も
供給されている。該アンド回路１６，１７からの
信号は、前記Ａ−Ｄ変換器５に供給されており、
該Ａ−Ｄ変換器５は該アンド回路からの信号に応
じて映像信号のサンプリングを行つている。該Ａ
−Ｄ変換器５からの信号はコンピユータの如きデ
ータ処理手段１８を介してメモリ１９に供給され
記憶される。該データ処理手段１８はメモリに記
憶されたデータに基づいて所定の処理を行い、そ
の結果を表示装置２０に供給する。
料１には荷重印加機２から荷重が印加されてお
り、周期的に圧縮、引張りを受けている。３は赤
外線スキヤナであり、該赤外線スキヤナ３は該試
料１の表面からの赤外線を順々に検出器に導き、
映像信号を得るようにしている。該映像信号は増
幅器４によつて増幅された後、Ａ−Ｄ変換器５に
供給されデイジタル信号に変換される。該荷重印
加機２からは試料１に印加する荷重の変化に対応
した信号が発生されており、その信号は増幅器６
によつて増幅された後コンパレータ７に供給され
る。該コンパレータ７からの信号は第１と第２の
単安定マルチバイブレータ８，９に供給され、該
２つの単安定マルチバイブレータからのパルス信
号は、カウンタ１０に供給される。該カウンタ１
０は該単安定マルチバイブレータ８，９からのパ
ルスに応じてクロツク信号発生回路１１からのク
ロツク信号のカウントを行い、その値をラツチ回
路１２にラツチする。該ラツチ回路の値は第１と
第２のコンパレータ１３，１４に供給される。該
第１と第２のコンパレータの出力信号はアンド回
路１５に供給され、該アンド回路１５の出力信号
はアンド回路１６，１７に供給される。該アンド
回路１６には第１の単安定マルチバイブレータ８
からの信号も供給され、又、アンド回路１７には
第２の単安定マルチバイブレータ９からの信号も
供給されている。該アンド回路１６，１７からの
信号は、前記Ａ−Ｄ変換器５に供給されており、
該Ａ−Ｄ変換器５は該アンド回路からの信号に応
じて映像信号のサンプリングを行つている。該Ａ
−Ｄ変換器５からの信号はコンピユータの如きデ
ータ処理手段１８を介してメモリ１９に供給され
記憶される。該データ処理手段１８はメモリに記
憶されたデータに基づいて所定の処理を行い、そ
の結果を表示装置２０に供給する。
上述した如き構成において、被測定試料１に
は、荷重印加機２によつて圧縮と引張りの荷重が
周期的に印加されているが、この周期的変化に対
応した第２図ａに示す信号が該荷重印加機２から
得られる。該第２図ａに示す信号は、増幅された
後コンパレータ７に供給され、第２図ｂに示す信
号が得られる。該コンパレータ７の出力信号は第
１と第２の単安定マルチバイブレータ８，９に供
給されるが、該第１の単安定マルチバイブレータ
８は供給される信号の立上りで第２図ｃに示すパ
ルス信号を発生し、該第２の単安定マルチバイブ
レータ９は供給される信号の立下がりで第２図ｄ
に示すパルス信号を発生する。該２つの単安定マ
ルチバイブレータ８，９の出力パルスはカウンタ
１０に供給されるが、該カウンタ１０は、第１の
単安定マルチバイブレータ８からのパルスによつ
てそれまでのカウント値がクリアされると同時に
クロツク信号のカウントを開始し、第２の単安定
マルチバイブレータ９からのパルス信号によつて
そのカウントを停止する。該カウンタ１０のカウ
ント値は、ラツチ回路１２によつてラツチされる
が、該ラツチされたカウント値は、圧縮から引張
りまでの荷重の１周期の半分の時間に発生したク
ロツク信号の数であり、該荷重の変化の周波数に
対応している。該ラツチ回路１２にラツチされた
値は第１と第２のコンパレータ１３，１４に供給
される。
は、荷重印加機２によつて圧縮と引張りの荷重が
周期的に印加されているが、この周期的変化に対
応した第２図ａに示す信号が該荷重印加機２から
得られる。該第２図ａに示す信号は、増幅された
後コンパレータ７に供給され、第２図ｂに示す信
号が得られる。該コンパレータ７の出力信号は第
１と第２の単安定マルチバイブレータ８，９に供
給されるが、該第１の単安定マルチバイブレータ
８は供給される信号の立上りで第２図ｃに示すパ
ルス信号を発生し、該第２の単安定マルチバイブ
レータ９は供給される信号の立下がりで第２図ｄ
に示すパルス信号を発生する。該２つの単安定マ
ルチバイブレータ８，９の出力パルスはカウンタ
１０に供給されるが、該カウンタ１０は、第１の
単安定マルチバイブレータ８からのパルスによつ
てそれまでのカウント値がクリアされると同時に
クロツク信号のカウントを開始し、第２の単安定
マルチバイブレータ９からのパルス信号によつて
そのカウントを停止する。該カウンタ１０のカウ
ント値は、ラツチ回路１２によつてラツチされる
が、該ラツチされたカウント値は、圧縮から引張
りまでの荷重の１周期の半分の時間に発生したク
ロツク信号の数であり、該荷重の変化の周波数に
対応している。該ラツチ回路１２にラツチされた
値は第１と第２のコンパレータ１３，１４に供給
される。
該第１のコンパレータ１３は上限の周波数に対
応した値と該ラツチ回路１２にラツチされた値と
を比較しており、該ラツチされた値が該上限の周
波数に対応した値以下の時、第２図ｅに示すハイ
レベル信号を発生する。該第２のコンパレータ１
４は下限の周波数に対応した値と該ラツチ回路１
２にラツチされた値とを比較しており、該ラツチ
された値が該下限の周波数に対応した値以上の
時、第２図ｆに示すハイレベル信号を発生する。
該第２図ｅと第２図ｆに示す信号はアンド回路１
５に供給され、該アンド回路１５からは第２図ｇ
に示す信号が得られる。該アンド回路１５からの
信号はアンド回路１６，１７に供給される。該ア
ンド回路１６には第１の単安定マルチバイブレー
タ８からのパルス信号も供給されており、該アン
ド回路１５からハイレベル信号が供給された時、
すなわち、荷重の変化の周波数が所定の範囲内の
時、圧縮開始のパルス信号がＡ−Ｄ変換器５に供
給され、その時スキヤナ３からの映像信号は、圧
縮時信号としてサンプリングされデイジタル信号
に変換されてデータ処理装置に供給される。一
方、該アンド回路１７には第２の単安定マルチバ
イブレータ９からのパルス信号も供給されてお
り、該アンド回路１５からハイレベル信号が供給
された時、すなわち、荷重の変化の周波数が所定
の範囲内の時、引張り開始のパルス信号がＡ−Ｄ
変換器５に供給され、その時スキヤナ３からの映
像信号は、引張り時信号としてサンプリングされ
デイジタル信号に変換されてデータ処理装置１８
に供給される。該圧縮時信号と引張り時信号は試
料表面の位置に応じてメモリ１９に記憶され、試
料表面のスキヤナ３による多数回の走査に基づい
た多数のデータはメモリ１９内で積算される。こ
の所定回の積算が終了した後、該データ処理装置
１８は試料各部毎に圧縮信号と引張り時信号との
信号強度の差を求め、この差の信号を映像表示装
置２０に供給することから、該表示装置には試料
の応力分布が表示されることになる。
応した値と該ラツチ回路１２にラツチされた値と
を比較しており、該ラツチされた値が該上限の周
波数に対応した値以下の時、第２図ｅに示すハイ
レベル信号を発生する。該第２のコンパレータ１
４は下限の周波数に対応した値と該ラツチ回路１
２にラツチされた値とを比較しており、該ラツチ
された値が該下限の周波数に対応した値以上の
時、第２図ｆに示すハイレベル信号を発生する。
該第２図ｅと第２図ｆに示す信号はアンド回路１
５に供給され、該アンド回路１５からは第２図ｇ
に示す信号が得られる。該アンド回路１５からの
信号はアンド回路１６，１７に供給される。該ア
ンド回路１６には第１の単安定マルチバイブレー
タ８からのパルス信号も供給されており、該アン
ド回路１５からハイレベル信号が供給された時、
すなわち、荷重の変化の周波数が所定の範囲内の
時、圧縮開始のパルス信号がＡ−Ｄ変換器５に供
給され、その時スキヤナ３からの映像信号は、圧
縮時信号としてサンプリングされデイジタル信号
に変換されてデータ処理装置に供給される。一
方、該アンド回路１７には第２の単安定マルチバ
イブレータ９からのパルス信号も供給されてお
り、該アンド回路１５からハイレベル信号が供給
された時、すなわち、荷重の変化の周波数が所定
の範囲内の時、引張り開始のパルス信号がＡ−Ｄ
変換器５に供給され、その時スキヤナ３からの映
像信号は、引張り時信号としてサンプリングされ
デイジタル信号に変換されてデータ処理装置１８
に供給される。該圧縮時信号と引張り時信号は試
料表面の位置に応じてメモリ１９に記憶され、試
料表面のスキヤナ３による多数回の走査に基づい
た多数のデータはメモリ１９内で積算される。こ
の所定回の積算が終了した後、該データ処理装置
１８は試料各部毎に圧縮信号と引張り時信号との
信号強度の差を求め、この差の信号を映像表示装
置２０に供給することから、該表示装置には試料
の応力分布が表示されることになる。
このように、上述した実施例では、試料に印加
される荷重変化の１周期毎に周波数に対応した半
周期の時間を検知し、この検知信号が所定範囲の
時、次の１周期の間温度信号のサンプリングを行
うように構成しており、予め定められた周波数で
試料に荷重が印加された状態における温度信号の
みを選択的に得ることができ、表示装置には試料
の正確な応力分布画像が表示される。尚、本発明
はこの実施例に限定されることなく幾多の変形が
可能である。例えば、試料の温度信号を連続的に
Ａ−Ｄ変換して時刻と共にメモリに記憶し、一
方、試料に印加される荷重変化の周波数を検知
し、所定の周波数範囲となつているときの時刻を
検知して記憶しておき、一連の測定が終了した
後、記憶されている全温度信号から該荷重変化が
所定の周波数範囲となつた時刻の温度信号のみを
取り出し、所望のデータ処理を行うように構成し
ても良い。又、試料に印加する荷重は、圧縮と引
張りを周期的に行うものに限定されず、圧縮と無
荷重、あるいは無荷重と引張りを周期的に試料に
印加するようにしても良い。
される荷重変化の１周期毎に周波数に対応した半
周期の時間を検知し、この検知信号が所定範囲の
時、次の１周期の間温度信号のサンプリングを行
うように構成しており、予め定められた周波数で
試料に荷重が印加された状態における温度信号の
みを選択的に得ることができ、表示装置には試料
の正確な応力分布画像が表示される。尚、本発明
はこの実施例に限定されることなく幾多の変形が
可能である。例えば、試料の温度信号を連続的に
Ａ−Ｄ変換して時刻と共にメモリに記憶し、一
方、試料に印加される荷重変化の周波数を検知
し、所定の周波数範囲となつているときの時刻を
検知して記憶しておき、一連の測定が終了した
後、記憶されている全温度信号から該荷重変化が
所定の周波数範囲となつた時刻の温度信号のみを
取り出し、所望のデータ処理を行うように構成し
ても良い。又、試料に印加する荷重は、圧縮と引
張りを周期的に行うものに限定されず、圧縮と無
荷重、あるいは無荷重と引張りを周期的に試料に
印加するようにしても良い。
［効果］
以上詳述した如く、本発明においては、試料へ
印加される荷重の周波数を監視し、所定の周波数
のときの温度信号のみによつて応力分布画像を得
るように構成しているため、正確な画像を得るこ
とができる。
印加される荷重の周波数を監視し、所定の周波数
のときの温度信号のみによつて応力分布画像を得
るように構成しているため、正確な画像を得るこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は
第１図に示した実施例の動作を説明するために用
いた信号波形図である。 １……試料、２……荷重印加機、３……スキヤ
ナ、４……増幅器、５……Ａ−Ｄ変換器、６……
増幅器、７……コンパレータ、８，９……単安定
マルチバイブレータ、１０……カウンタ、１１…
…クロツク信号発生器、１２……ラツチ回路、１
３，１４……コンパレータ、１５，１６，１７…
…アンド回路、１８……データ処理装置、１９…
…メモリ、２０……表示装置。
第１図に示した実施例の動作を説明するために用
いた信号波形図である。 １……試料、２……荷重印加機、３……スキヤ
ナ、４……増幅器、５……Ａ−Ｄ変換器、６……
増幅器、７……コンパレータ、８，９……単安定
マルチバイブレータ、１０……カウンタ、１１…
…クロツク信号発生器、１２……ラツチ回路、１
３，１４……コンパレータ、１５，１６，１７…
…アンド回路、１８……データ処理装置、１９…
…メモリ、２０……表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定試料に周期的な荷重を与える荷重印加
手段と、該荷重が印加されている試料の各部分か
らの赤外線を検出する手段と、該試料に加えられ
る荷重変化に同期した周期的変化信号から該変化
の周波数に対応した信号を得る手段と、該周期的
変化の周波数が所定範囲内の周波数になつたこと
を検知する手段と、該検知手段からの信号に基づ
き該赤外線検出手段からの映像信号をサンプリン
グする手段と、該サンプリングされた信号に基づ
いて応力画像を得るためのデータ処理手段とを備
えた応力画像を得る装置。 ２ 該試料に加えられる荷重の周期的変化の１周
期毎に周波数に対応した信号が得られ、周波数が
所定の範囲内の場合には、次の周期的変化の１周
期に映像信号のサンプリングが行われる特許請求
の範囲第１項記載の応力画像を得る装置。 ３ 該検出手段からの映像信号は、時刻に応じて
メモリに記憶され、一方、周期的変化の周波数が
所定の範囲内となつた時刻も併せて記憶されてお
り、データ処理手段は記憶された両信号に基づい
て必要データのサンプリングを行うように構成し
た特許請求の範囲第１項記載の応力画像を得る装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24678084A JPS61124836A (ja) | 1984-11-21 | 1984-11-21 | 応力画像を得る装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24678084A JPS61124836A (ja) | 1984-11-21 | 1984-11-21 | 応力画像を得る装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61124836A JPS61124836A (ja) | 1986-06-12 |
| JPH0453247B2 true JPH0453247B2 (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=17153548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24678084A Granted JPS61124836A (ja) | 1984-11-21 | 1984-11-21 | 応力画像を得る装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61124836A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4803652B2 (ja) * | 2005-12-16 | 2011-10-26 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 構造物の欠陥検出方法および装置 |
-
1984
- 1984-11-21 JP JP24678084A patent/JPS61124836A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61124836A (ja) | 1986-06-12 |
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