JPH0454193B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0454193B2 JPH0454193B2 JP57073532A JP7353282A JPH0454193B2 JP H0454193 B2 JPH0454193 B2 JP H0454193B2 JP 57073532 A JP57073532 A JP 57073532A JP 7353282 A JP7353282 A JP 7353282A JP H0454193 B2 JPH0454193 B2 JP H0454193B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- height analyzer
- measurement system
- reference value
- gate circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線エネルギー分光分析におけるパル
ス増幅器の動作活性を監視する装置に関する。
ス増幅器の動作活性を監視する装置に関する。
Ｘ線分光分析の分野では分析感度の向上及び分
析能率向上の要求の絶える時がない。それに伴つ
て比例計数管等のＸ線検出器及びパルス増幅並び
にパルス計数等の計測系の性能、信頼性の向上も
著るしい。しかし分析精度及び感度の向上の要求
が強いのでパルス増幅器等は常にその性能、信頼
性のギリギリの所で使われていると云つた状況で
ある。従つてパルス増幅器等の動作活性のチエツ
クと云うことは常に必要なのであるが、従来適当
な随時チエツクの方法がなかつた。本発明はこの
ような状況に鑑み、計測系の空き時間を利用し簡
単な切換え操作によつて計測系の動作活性をチエ
ツクできるようにした装置を提供しようとするも
のである。
析能率向上の要求の絶える時がない。それに伴つ
て比例計数管等のＸ線検出器及びパルス増幅並び
にパルス計数等の計測系の性能、信頼性の向上も
著るしい。しかし分析精度及び感度の向上の要求
が強いのでパルス増幅器等は常にその性能、信頼
性のギリギリの所で使われていると云つた状況で
ある。従つてパルス増幅器等の動作活性のチエツ
クと云うことは常に必要なのであるが、従来適当
な随時チエツクの方法がなかつた。本発明はこの
ような状況に鑑み、計測系の空き時間を利用し簡
単な切換え操作によつて計測系の動作活性をチエ
ツクできるようにした装置を提供しようとするも
のである。
本発明は自然雑音を利用してＸ線エネルギー分
光分析装置の動作活性をチエツクすることを要旨
とするものである。以下実施例によつて本発明を
説明する。
光分析装置の動作活性をチエツクすることを要旨
とするものである。以下実施例によつて本発明を
説明する。
図は本発明の一実施例を示す。１，１′は比例
計数管（Ｘ線検出器）で、その出力を対応する
２，２′のパルス増幅器で増幅し３，３′の夫々異
る高さにウインドウレベルが設定されているパル
ス波高分析器（P.H.A）に送り込むことにより、
比例計数管１の出力から夫々設定された波高範囲
のパルスを選別する。４，４′等はパルス計数装
置で夫々対応する設定された波高範囲のパルスを
計数する。５は制御装置で監視モードに設定する
と次のようなチエツク動作をする。まず波高分析
器３のウインドウをエネルギーレベルの低い自然
雑音が取出せるように設定し、ゲート回路６を閉
じ、パルス計数装置４をリセツトし、次に一定時
間ゲート回路６を開いて、自然雑音のパルスをパ
ルス計数装置４で計数させ、ゲート回路６を閉じ
た後、パルス計数装置４の計数値をメモリ７に記
憶させてある基準値と比較し、計数値が基準値以
上であればＸ線検出器１パルス増幅器２を含むチ
ヤンネルの動作活性は良と判定し、以下であると
きは不良と判定して警告動作を行つて一つのチヤ
ンネルの監視を終了し、次にパルス増幅器２′、
波高分析器３′、パルス計数装置４′ゲート６′の
チヤンネルに対して上述した所と同じ動作を繰返
す。チヤンネル数は測定しようとする元素数に応
じて設けられており、順次上述した動作を実行し
て行く。自然雑音は統計的に一定しているので、
これを計数して基準値と比較することにより計測
系の動作活性のチエツクができるのである。なお
Ｘ線検出器は半導体を用いたものでもよいことは
いうまでもない。
計数管（Ｘ線検出器）で、その出力を対応する
２，２′のパルス増幅器で増幅し３，３′の夫々異
る高さにウインドウレベルが設定されているパル
ス波高分析器（P.H.A）に送り込むことにより、
比例計数管１の出力から夫々設定された波高範囲
のパルスを選別する。４，４′等はパルス計数装
置で夫々対応する設定された波高範囲のパルスを
計数する。５は制御装置で監視モードに設定する
と次のようなチエツク動作をする。まず波高分析
器３のウインドウをエネルギーレベルの低い自然
雑音が取出せるように設定し、ゲート回路６を閉
じ、パルス計数装置４をリセツトし、次に一定時
間ゲート回路６を開いて、自然雑音のパルスをパ
ルス計数装置４で計数させ、ゲート回路６を閉じ
た後、パルス計数装置４の計数値をメモリ７に記
憶させてある基準値と比較し、計数値が基準値以
上であればＸ線検出器１パルス増幅器２を含むチ
ヤンネルの動作活性は良と判定し、以下であると
きは不良と判定して警告動作を行つて一つのチヤ
ンネルの監視を終了し、次にパルス増幅器２′、
波高分析器３′、パルス計数装置４′ゲート６′の
チヤンネルに対して上述した所と同じ動作を繰返
す。チヤンネル数は測定しようとする元素数に応
じて設けられており、順次上述した動作を実行し
て行く。自然雑音は統計的に一定しているので、
これを計数して基準値と比較することにより計測
系の動作活性のチエツクができるのである。なお
Ｘ線検出器は半導体を用いたものでもよいことは
いうまでもない。
本発明によれば上述したように制御装置を監視
モードに設定するだけで、後は自然雑音を利用し
て自動的に計測系の動作活性のチエツクができ、
測定開始前、試料交換中等測定系の空いている時
間中にチエツクができるので、随時監視が可能と
なり計測系の信頼性が高められる。
モードに設定するだけで、後は自然雑音を利用し
て自動的に計測系の動作活性のチエツクができ、
測定開始前、試料交換中等測定系の空いている時
間中にチエツクができるので、随時監視が可能と
なり計測系の信頼性が高められる。
図面は本発明の一実施例装置の構成を示すブロ
ツク図である。 １，１′……比例計数管（Ｘ線検出器）、２，
２′……パルス増幅器、３，３′……パルス波高分
析器、４，４′……パルス計数装置、５……制御
装置、６，６′……ゲート、７……メモリ。
ツク図である。 １，１′……比例計数管（Ｘ線検出器）、２，
２′……パルス増幅器、３，３′……パルス波高分
析器、４，４′……パルス計数装置、５……制御
装置、６，６′……ゲート、７……メモリ。
Claims (1)
- １ Ｘ線検出器、パルス増幅器、パルス波高分析
器、ゲート回路及びパルス計数装置を有する計測
系を複数個備えたＸ線エネルギー分光分析装置に
おいて、監視モードに設定したとき、上記パルス
波高分析器のウインドウを自然雑音を取り出せる
ように設定するとともに、そのパルス波高分析器
に対応する計測系のゲート回路を一定時間開き、
パルス計数装置の計数値を基準値と比較する制御
回路を有し、パルス計数装置の計数値と基準値と
の比較結果により各計測系の動作活性を監視する
ようにしたことを特徴とするＸ線エネルギー分光
分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7353282A JPS58190788A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ線測定装置用監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7353282A JPS58190788A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ線測定装置用監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58190788A JPS58190788A (ja) | 1983-11-07 |
| JPH0454193B2 true JPH0454193B2 (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=13520930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7353282A Granted JPS58190788A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ線測定装置用監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58190788A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4501523B2 (ja) * | 2004-05-07 | 2010-07-14 | 富士電機システムズ株式会社 | 線量検出器および線量計 |
| JP5283858B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2013-09-04 | 株式会社東芝 | 放射線検出器 |
| US9839794B2 (en) | 2014-07-14 | 2017-12-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Particle beam therapy apparatus |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5432184U (ja) * | 1977-08-05 | 1979-03-02 |
-
1982
- 1982-04-30 JP JP7353282A patent/JPS58190788A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58190788A (ja) | 1983-11-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4591984A (en) | Radiation measuring device | |
| US3381130A (en) | Method and apparatus for counting standardization in scintillation spectrometry | |
| US4075480A (en) | Quench determination in liquid scintillation counting systems | |
| IL30781A (en) | Method and device for data analyzing systems in particular for liquid scintillation spectral analysis | |
| EP1410068B1 (en) | Environmental radioactivity monitor | |
| JP3709340B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| CN116449038B (zh) | 一种多道分析器的质量控制方法、装置及多道分析器 | |
| JPH0454193B2 (ja) | ||
| US7161153B2 (en) | Apparatus and method for detecting α-ray | |
| US6922654B2 (en) | Method for shortening the statistical measurement times in the domain of radioactivity measurements | |
| JP2000074968A (ja) | 信号検出装置 | |
| US4151412A (en) | Method and apparatus for automatic spectrum scanning in a proportional counter | |
| CN115932935B (zh) | 一种反康谱仪电子学信号处理方法 | |
| JPH11118932A (ja) | 核分光システムにおけるパルス波形調整及び弁別方法 | |
| JPH05232234A (ja) | 放射線検出装置 | |
| US3896296A (en) | Live time correction system | |
| JPH033198B2 (ja) | ||
| JPH0375833B2 (ja) | ||
| US4810959A (en) | Method of improving signal-to-noise ratio of detected random pulses | |
| RU2293999C1 (ru) | Способ обнаружения и измерения слабых потоков ионизирующих излучений | |
| RU2106702C1 (ru) | Способ идентификации делящегося и воспроизводящего материала | |
| JPH056674B2 (ja) | ||
| JPS63127180A (ja) | Ｘ線分析装置 | |
| JPH07306267A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPH0627849B2 (ja) | 放射線検出信号弁別回路 |