JPH0454445Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の目的〕 （産業上の利用分野） 本考案は、透光体中の光学的不均質を検出、観
察するシユリーレン法観察装置に関する。

（従来の技術） 透明媒質中で屈折率がわずかに変化する部分が
ある時、光線の進行方向の変化を利用してその様
子を観察する光学的方法としていわゆるシユリー
レン法が知られている。すなわち、第６図示のよ
うに光源イの発散光束を集光レンズロで集光し、
遮光板ハのピンホールニを通過した光束ホをレン
ズヘによつて平行光束トに変換し、これを長焦点
レンズチによつて集束し、この集束点リに小形遮
光板ヌを置き、またその背後に望遠鏡ルを配置す
る。したがつて、平行光束ト中に被検体オを挿入
すると、この被検体が光学的に均質ならば暗黒に
観察され、不均質部ワがあれば光ト′のように経
路が乱され望遠鏡ルに入射し不均質部ワが発光し
ているように明るく見える。このように不均質部
ワの敏感な検出を行なうためには、ピンホールニ
が小さいこと、レンズヘ，チの非点収差が小さ
く、特にレンズチの焦点距離の長いことが要件と
なり、よつてレンズヘも非点収差を小さく保持す
るため焦点距離の長いことが要求され、結果とし
て装置全体が極めて長くなる。

第７図は装置全体を短縮するため、平行光束ト
の中間に傾斜状に平面鏡カを挿入して光路を折り
曲げたものであるが、被検体オの被観察面積を大
とするためにはレンズヘ，チと、平面鏡カとの間
の距離を十分大きくする必要があり、依然として
装置の大形化は免れない。

第８図はさらに他の短縮手段を示すもので、レ
ンズヘ，チを除いて凹球面鏡ヨを配置したもので
あるが、ピンホールニと、小形遮光板ヌとの距離
を小さくできないため、凹球面鏡ヨの非点収差が
大きいような配置条件で使用されており装置の感
度を高くできないこと、また被検体オの不均質部
ワは二つの光タ，レにより不均質部として検出さ
れるため、結果として不均質部ワが実際より多数
存在するものと見なされ、信頼性を損なう不都合
を有している。

（考案が解決しようとする問題点） 上記したように従来のシユリーレン法観察装置
は装置全体が長大であり、これを防止する凹球面
鏡を設けた装置にあつても光学的調整が困難であ
り、不均質部の検出感度向上が望めず信頼性を損
なう問題点を有している。本考案は上記問題点を
除去するためなされたもので、測定時の光学的調
整が簡易かつ迅速に行われて装置全体の長さが短
く、検出感度が高く信頼性の向上が得られるとと
もに、コンパクトに収納可能なシユリーレン法観
察装置を提供することを目的とする。

〔考案の構成〕

（問題点を解決するための手段） 発光ダイオードまたは半導体レーザを光源とし
た発光部、遮光板および観察用光学系を収納する
第１の函体と、光源からの光を遮光板の集光部に
反射させる凹球面鏡を収納する第２の函体とを設
けるとともに第１の函体内には遮光板の位置調整
部、第２の函体内には凹球面鏡の調整機構を設
け、かつ使用時にはこれら函体を適正距離に配置
したことにある。

（作用） 発光部の光源は極めて小さいので、ピンホール
を持つ遮光板を必要とすることなく光の利用効率
が向上する。また、使用時には各函体を凹球面鏡
の曲率半径と等しい距離となるよう発光部と集光
部とを位置させたので光源と集光部とが近接す
る。すなわち、凹球面鏡は非点収差が極めて小さ
い条件下で使用されているので、集光部が小さ
く、したがつて、遮光板を小さくして装置の検出
感度を高めることができる。

（実施例） 以下、本考案の詳細を実施例について第１図な
いし第５図を参照して説明する。

１は発光部で、２はその光源、たとえば、発光
ダイオードを示す。３は光源２の電源装置で、小
形トランス４、整流子５、時限抵抗６、平滑コン
デンサ７からなる。８は集光部９を設けた遮光
板、１０は遮光板８を貼着支持するガラス板で、
このガラス板１０はＸ−Ｙ微動位置調整部１１に
よつて遮光板８の集光部９を反射光束１２と一致
するように微調整される。１３は観測用光学系を
構成する望遠鏡で、ガラス板１０の背後に開口部
１４を有して配設されている。１５は第１の函体
で、上記発光部１、遮光板８および観測用光学系
１３を収納する。１６は第１の函体１５と対設し
た第２の函体で、凹球面鏡１７を収納した光源２
からの発散光束１８を反射面１９により上記反射
光束１２として遮光板８へ集光させる。２０は鏡
保持板で、凹球面鏡１７の傾斜位置を調整する調
整機構２１を有している。２２は凹球面鏡１７の
背面に取着された保持金具で、ばね２３により凹
球面鏡１７を背方へ付勢する。２４は調整ねじ
で、それぞれの高さ調整により傾斜角度を変えて
集光部９への位置調整を可能とする。第４図は不
使用時における各函体の連結構造を示すもので、
２５は取り付け金具、２６，２７は基準線で、使
用時においては函体間の距離を正確に決定するた
めに使用する。２８は第１の函体１５内に設けら
れた収納棚で、たとえば、距離測定用の巻尺２９
を収納している。３０はたとえば、被検体となる
ガラス板で、支持体３１により支持され凹球面鏡
１７の直前に置かれる。

次に使用手順について述べる。まず、各函体１
５，１６は第４図に示す接合固定状態から分離展
開させ、その各基準線２６，２７、巻尺２９等に
よりあらかじめ設定された距離だけ離間させる。
これによつて各函体１５，１６は凹球面鏡１７の
有する曲率半径に相当する距離を存して発光部８
を配置させることができる。次に光源２を発光さ
せ凹球面鏡１７にあてて反射する反射光１２の集
光部９が観測用光学系１３の開口部１４内に形成
されるように凹球面鏡１７の傾斜角度を調整機構
２１によつて調整し、さらにＸ−Ｙ微動位置調整
部１１によつて遮光板８を集光部９に合致させ
る。そして被検体３０を凹球面鏡１７の直前に第
３図示のように位置させて観察を行なえばよい。
第５図は他の実施例を示すもので、遮光板８の背
後に対物レンズ３１、画像センサ３２からなる光
学系１３′を置いてビデオ像器３３に表示させ記
録表示や多人数による同時観察を可能としたもの
である。

〔発明の効果〕

本考案は以上詳述したように発光ダイオードま
たは半導体レーザを光源とした発光部、集光部を
設けた遮光板およびその背後に配置された観測用
光学系を収納する第１の函体と、光源からの光を
受けて集光部へ反射させる凹球面鏡を収納した第
２の函体とを設けるとともにこれら函体を不使用
時には相互に接合固定し、使用時には分離展開さ
せて凹球面鏡の曲率半径に等しい所定間隔となる
ように発光部および遮光板を位置させ、かつ各函
体に位置調整部と、調整機構とを設けた構成によ
り光学的調整も容易に可能となり、しかも、発光
部と集光部とを近接させることができるので被検
物における不均質部の検出感度が高くなるので信
頼性の格段な向上が得られるすぐれた利点を有す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す観察装置使用
時の側面図、第２図は遮光板の位置調整部を示す
正面図、第３図は被検体への光透過状態を示す説
明図、第４図は不使用時における函体の接合固定
状態を示す側面図、第５図は観測用光学系の他の
実施例を示す側面図であり、第６図ないし第８図
は従来例を示すもので第６図は側面図、第７図は
光路を折り曲げて小形化した状態の側面図、第８
図は凹面鏡を用いた場合の側面図である。 １……発光部、２……光源、８……遮光板、９
……集光部、１１……調整部、１２……反射光、
１３……観測用光学系、１５……第１の函体、１
６……第２の函体、１７……凹球面鏡、２１……
調整機構、３０……被検体。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 発光ダイオードまたは半導体レーザを光源とし
   た発光部、上記光源からの光を凹球面鏡にあてて
   反射する反射光の集光部を設けた遮光板およびこ
   の遮光板の背後に配置された観察用光学系を設け
   るとともに上記凹球面鏡に近接して被検体を配置
   し、かつ上記発光部および集光部をともに上記凹
   球面鏡の反射面からその曲率半径に等しい距離に
   配置するようにしたシユリーレン法観察装置にお
   いて、上記発光部、遮光板および観察用光学系を
   収納する第１の函体と、上記凹球面鏡を収納する
   第２の函体とを設け各函体は不使用時にあつては
   相互に接合固定され使用時には所定間隔を有して
   分離展開されるとともに第１の函体内には遮光板
   の位置調整部を設け、第２の函体内には凹球面鏡
   の調整機構を有して光学的調整が得られるように
   したことを特徴とするシユリーレン法観察装置。