JPH0454794A - テストパターン信号発生回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は同期周波数の異なる画像（映像）信号源を受像
可能とする自動追従同期方式の受像機におけるコンバー
ゼンス調整時に使用するテストパターン信号を発生する
テストパターン信号発生回路に関する。

（従来の技術） コンピュータなどの文字情報や図形情報を画面に表示す
るモニター受像機や投射型受像機などでは、一般のテレ
ビ受像機などに比べて高度なコンバーゼンス精度が要求
され、これを満たすためにクロスハツチ・テストパター
ン等を画面に表示して調整することが一般的に行われて
いる。尚、このクロスハツチ・テストパターンは周知の
とうり複数本の縦線と横線とで構成される格子状のテス
トパターンのことである。

又、投射型受像機では家庭で使用されるものも含めてコ
ンバーゼンスドリフトを日常的に補正するために、縦線
−本と横線−本で構成される十字状のテストパターンを
画面に表示して、ユーザがミスコンバーゼンスを調整す
るようになっている。

このようなコンバーゼンス調整に供されるテストパター
ン信号を発生する手段は多々存在するが、同期周波数の
異なる画像（映像）信号源を切り替えて選択することに
より受像可能な自動追従同期方式のモニター受像機等に
設けられているテストパターン信号発生回路は第５図に
示すような構成を有している。即ち、ＰＬＬ回路１は水
平同期信号周波数１００の整数倍で発振し、発振したパ
ルス信号を分周器２に出力する。分周器２は入力される
パルス信号を分周してテストパターンの縦線を構成する
水平周期の信号２００を作り出し、これをコンデンサ３
を及び抵抗４にて構成される微分回路に出力する。この
水平周期の信号２００は前記微分回路により微分された
後波形整形回路（バッファゲート）５により波形整形さ
れて出力される。このような回路を用いれば、入力され
る画像信号の水平同期信号の周波数が異なっても常に同
じ本数の縦線を得ることができる。

第６図はコンバーゼンス調整に供されるテストパターン
信号を発生する他の従来回路例を示したブロック図であ
る。７は水平同期信号周波数１００よりも高い周波数で
パルス信号を発信する発信回路で、水平同期信号１００
（又は水平帰線パルス）等でリセットされることにより
、前記パルス信号の発信開始点が同期されるようになっ
ている。この発信回路７から出力されたパルス信号はコ
ンデンサ３及び抵抗４から成る微分回路により微分され
た後、バッファーゲート（波形整形回路〉５により波形
整形されて出力され、この信号がテストパターンを構成
する縦線として使用される。

上記の如く水平同期周波数のことなる画像（映像）源を
切り替え選択することにより受像可能な自動追従同期方
式のモニター受像機の画面に、従来のテストパターン発
生回路から発生されるテストパターン信号が表示された
場合、以下に述べるような欠点があった。

即ち、第５図又は第６図に示すテストパターン発生回路
から出力されるパルス信号のパルス幅はコンデンサ３及
び抵抗４から成る微分回路の時定数によって決定され、
常に一定値になる。しかし、上記した自動追従同期方式
のモニター受像機では、入力される水平同期周波数が変
化して一定でないため、この周波数が変化すると、水平
周期に対する縦線信号のパルス幅の比率が変化する。こ
のことは、自動追従同期方式のモニター受像機に入力さ
れる水平同期周波数によって、画面上に表示されるテス
トパターンの縦線の太さが変化するという現象となって
現れ、例えば、水平同期周波数が低くなれば縦線は細く
なり、水平同期周波数が高くなれば縦線は太くなる。

このような現象があると、例えば、水平同期周波数の高
い信号源を受像した際のコンバーゼンス調整は、縦線が
太くて正確さを欠くことになり、逆に水平同期周波数の
低い信号源を受像した際のコンバーゼンス調整は、縦線
が細くて画面輝度が低下してやりににくくなるという欠
点があった。

（発明が解決しようとする課題） 上記のような自動追従同期方式のモニター受像機の画面
に、従来のテストパターン信号発生回路により発生され
たテストパターンを表示すると、前記受像機に入力され
る水平同期周波数の違いによって、テストパターンを構
成する縦線の太さが変化して、コンバーゼンス調整がや
りにくくなったり、精度の高い調整を行うことができな
くなってしまうという欠点があった。

そこで本発明は上記の欠点を除去するもので、信号源の
水平同期周波数が異なっても、発生されるテストパター
ンの縦線の太さをほぼ一定とすることができるテストパ
ターン信号発生回路を提供することを目的としている。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段） 本発明は水平同期周波数の異なる複数種の信号源を受像
することができる同期周波数自動追従同期方式の受像機
において、水平同期周波数もしくは水平偏向周波数に依
存する直流電圧を発生する周波数電圧変換手段と、水平
走査期間中に少なくとも１個以上のパルスを発生するパ
ルス発生手段と、このパルス発生手段から発生されるパ
ルスを微分する微分手段と、この微分手段から発生され
る微分波形を波形整形する波形整形手段とを備え、この
波形整形手段の動作点もしくは前記微分波形の電位を前
記周波数電圧変換手段から出力される前記直流電圧で制
御する構成を有する。

（作用） 本発明のテストパターン信号発生回路において、周波数
電圧変換手段は水平同期周波数もしくは水平偏向周波数
に依存する直流電圧を発生する。

パルス発生手段は水平走査期間中に少なくとも１個以上
のパルスを発生する。微分手段は前記パルス発生手段か
ら発生されるパルスを微分する。波形整形手段は前記微
分手段から発生される微分波形を波形整形する。前記周
波数電圧変換手段から出力される前記直流電圧は前記波
形整形手段の動作点もしくは前記微分波形の電位を、波
形整形手段から出力されるパルス幅が常に一定になるよ
うに制御する。

（実施例） 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。第
１図は本発明のテストパターン信号発生回路の一実施例
を示したブロック図である。１は入力される水平同期信
号（原信号）の位相に同期したパルス信号を発信するＰ
ＬＬ回路、２はＰＬＬ回路１から出力されるパルス信号
を分周してテストパターン信号の縦線の数を調整する分
周器、３は積分回路を構成するコンデンサ、４は積分回
路を構成する抵抗器、５は入力される信号の波形を整形
するバッファゲート、６は入力される信号の周波数に比
例した電圧を発生する周波数電圧変換回路、７は入力さ
れる電圧の極性を反転させる極性反転回路、８は極性反
転回路７の出力側とコンデンサ３と抵抗４との接続点と
の間に挿入された抵抗器である。

次に本実施例の動作について説明する。第２図（Ａ）で
示されるような水平同期信号１００はＰＬＬ回路１と周
波数電圧変換回路６に入力されると共に、分周器２のリ
セット端子に入力される。

これにより、ＰＬＬ回路１は入力される水平同期信号１
００に位相同期したパルス信号を発信して、これを分周
器２に出力する。分周器２は入力されるパルス信号を第
２図（Ｂ）に示すように分周して周波数の低いパルス信
号をコンデンサ３に出力する。しかし、この分周器２は
水平同期信号１００によりリセットされるため、第２図
（Ｂ）に示すように分周したパルス信号２００が毎周期
同じタイミングで出力されるようになっている。分周さ
れたパルス信号２００はコンデンサ３及び抵抗４．８で
構成される微分回路により微分されて、第２図（Ｃ）に
示すような微分信号となってバッファゲート５に入力さ
れる。但し、前記微分回路の時定数はパルス信号２００
の周期よりも十分小さいものとする。バッファゲート５
は入力される微分信号が閾値■、□を越えればハイレベ
ルとなり、■、□以下であればローレベルになるため、
その出力信号は第２図（Ｄ＞に示すような矩形状のパル
ス４００になる。

一方、周波数電圧変換回路６は入力される水平同期信号
１００の周波数に比例した電圧を発生して、これを極性
反転回路７に出力する。従って、極性反転回路７は入力
される電圧の極性を反転した負極性の電圧を抵抗８を介
して微分回路に出力する。この極性反転回路７から出力
される直流電圧ＶＤＣは水平同期信号１００の周波数に
比例する電圧を負極性にしたものであるから、周波数が
高いほど低くなる。しかも、この直流電圧■ｏｃはバッ
ファゲート５の入力電流を無視すれば微分された電圧の
平均値に一致するため、コンデンサ３と抵抗４の接続点
で得られる電圧波形は周波数が高いときには第３図の実
線で示すようになり、周波数の低いときは破線で示すよ
うになる。しかし、この時、閾値■ＴＨは一定であるた
め、バッファゲート５から出力される矩形波パルス４０
０のパルス幅は第３図に示す如く周波数が高ければ狭く
なり、周波数が低ければ広くなってしまう。これは■Ｄ
ｃを微分パルスの平均電圧に印加していない従来例と逆
であるため、矩形波パルスのパルス幅は水平同期信号の
周波数に依存しなくなる。

ここで、水平同期信号１００の周期Ｔと周波数ｆの関係
はＴ＝１／ｆである。又、微分波形の立ち下がり部分の
電位はピーク値をＶとすれば、■・ε−７の関係がある
。但し、τ＝ｔ／（Ｃ・Ｒ）の関係があり、ｔは時間、
Ｃはコンデンサ３の容量、Ｒは抵抗器４．８の合成抵抗
値とする。

前記■Ｄｃがｆに比例することを考えると、波形整形し
て得られる矩形波パルス４００の幅を完全に周期Ｔに比
例させることは不可能であるが、この関係に近付けるこ
とは可能である。即ち、矩形波パルス４００の幅に対す
る追従特性は第１図に示した抵抗８の抵抗値や周波数電
圧変換回路６の変換係数や、極性反転回路７の電圧利得
を適当に設定することにより、はぼ理想に近付けること
ができる。

従って、水平同期信号１００の周波数が高くなれば微分
パルスの平均電圧が高くなり、周波数が低いときは前記
微分パルスの平均値が低くなるため、結局ゲートバッフ
ァ５から出力される矩形波パルス４００のパルス幅は水
平同期信号１００の周波数に拘らず、はぼ一定になる。

本実施例によれば、コンデンサ３及び抵抗４．８により
微分された電圧の平均値を、水平同期信号の周波数に比
例した負極性電圧で制御することにより、水平同期信号
１００の周波数に依存することなく、バッファゲート５
から出力される矩形波パルス４００のパルス幅をほぼ一
定にすることができる。従って、このテストパターン信
号発生回路から発生された上記のようなテストパターン
信号を自動追従同期方式のモニタ受像機の画面に表示し
てコンバーゼンス調整を行う際に、コンバーゼンス調整
をし易くし、且つ調整精度を向上し得る効果がある。

第４図は本発明の他の実施例を示したブロック図である
。本例では、水平同期信号の周波数に比例した電圧を発
生させる周波数電圧変換図ＮＩ６の出力電圧をバッファ
ゲート５の電圧源ＶＤＤとして用いている。ここで、バ
ッファゲート５の入力閾値電圧■■ＨはＶ　ＤＤ／　２
程度の値になり、■ＤＤに依存する。

ところで、■ＴＨを■ＤＤで制御しない時には水平同期
信号１００の周波数が高ければ矩形波パルス４００のパ
ルス幅は広くなり、周波数が低ければ狭くなる傾向にあ
るのを、本回路のように水平同期信号の周波数が高いと
きには前記閾値■ＴＨを高くし、水平同期信号１００の
周波数が低いときには低くすれば、このバッファゲート
５に入力される微分パルスの波形にかかわりなく、この
バッファゲート５から出力される矩形波パルスのパルス
幅をほぼ一定とすることができ、上記と同様の効果があ
る。

尚、第１図及び第４図に用いた周波数電圧変換回路は自
動追従同期方式のモニタ受像器には通常備えられている
ため、テストパターン信号発生回路のためにあえて追加
することなく共用することができる。又、本発明はクロ
スハツチ・テストパターンを発生する上記実施例のよう
なテストパターン信号発生回路のみならず、十字テスト
パターンを発生するためのテストパターン信号発生回路
にも応用して、同様の効果を得ることができる。

〔発明の効果〕

以上記述した如く本発明のテストパターン信号発生回路
によれば、信号源の水平同期周波数が異なっても、発生
されるテストパターンの縦線の太さをほぼ一定とするこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のテストパターン信号発生回路の一実施
例を示したブロック図、第２図は第１図に示した回路の
動作を示す信号波形図、第３図は第２図に示した信号３
００と４００の拡大波形図、第４図は本発明の他の実施
例を示したブロック図、第５図は従来のテストパターン
発生回路の一例を示したブロック図、第６図は従来のテ
ストパターン発生回路の他の例を示したブロック図であ
る。 １・・・ＰＬＬ回路　　　２・・・分周器３・・・コン
デンサ　　　４．８・・・抵抗５・・・バッファゲート ６・・・周波数電圧変換回路 ７・・・極性反転回路 代理人　弁理士　則　近　憲　佑 同　　宇治　弘 第 図 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 水平同期周波数の異なる複数種の信号源を受像すること
   ができる同期周波数自動追従同期方式の受像機において
   、水平同期周波数もしくは水平偏向周波数に依存する直
   流電圧を発生する周波数電圧変換手段と、水平走査期間
   中に少なくとも１個以上のパルスを発生するパルス発生
   手段と、このパルス発生手段から発生されるパルスを微
   分する微分手段と、この微分手段から発生される微分波
   形を波形整形する波形整形手段とを備え、この波形整形
   手段の動作点もしくは前記微分波形の電位を前記周波数
   電圧変換手段から出力される前記直流電圧で制御するこ
   とを特徴としたテストパターン信号発生回路。