JPH0455790A - 地盤調査方法 - Google Patents
地盤調査方法Info
- Publication number
- JPH0455790A JPH0455790A JP2166320A JP16632090A JPH0455790A JP H0455790 A JPH0455790 A JP H0455790A JP 2166320 A JP2166320 A JP 2166320A JP 16632090 A JP16632090 A JP 16632090A JP H0455790 A JPH0455790 A JP H0455790A
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- JP
- Japan
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- ground
- penetration
- gamma ray
- density
- ray source
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は地盤または岩盤(以下「地盤」という)内の状
況を調査する地盤調査方法に係り、特にγ線透過法を採
用して地盤の密度を測定し、かつ同時に貫入抵抗パラメ
ータを測定することにより地盤状況を高精度に、かつ広
範囲に推定し得る地盤調査方法に関する。
況を調査する地盤調査方法に係り、特にγ線透過法を採
用して地盤の密度を測定し、かつ同時に貫入抵抗パラメ
ータを測定することにより地盤状況を高精度に、かつ広
範囲に推定し得る地盤調査方法に関する。
ラジオアイソトープ(RI)を用いる地盤調査方法とし
て、従来、散乱型(反射型)γ線密度計を用いる方法が
知られている。この反射型γ線密度計は一回の散乱をう
けたγ線を検出する方式であってコリメータを設けるこ
とにより注入状態の方向性は弁別できるが、測定可能範
囲はたかだか半径5〜10cm位である。また、測定値
は測定範囲内の密度分布に依存性があるので、平均密度
を表しているとは言えず、したがって、正確な測定がで
きない。
て、従来、散乱型(反射型)γ線密度計を用いる方法が
知られている。この反射型γ線密度計は一回の散乱をう
けたγ線を検出する方式であってコリメータを設けるこ
とにより注入状態の方向性は弁別できるが、測定可能範
囲はたかだか半径5〜10cm位である。また、測定値
は測定範囲内の密度分布に依存性があるので、平均密度
を表しているとは言えず、したがって、正確な測定がで
きない。
このように、反射型の測定器を用いる従来の測定方法で
は、測定範囲が5〜10c+nと狭いため、正確な地盤
状況を把握するには狭い間隔で多数の試験孔を掘削しな
ければならず、また、測定回数もこれに伴って多くなり
、多大の手間と時間を要するという難点があり、さらに
本質的に精度が低いという難点があった。
は、測定範囲が5〜10c+nと狭いため、正確な地盤
状況を把握するには狭い間隔で多数の試験孔を掘削しな
ければならず、また、測定回数もこれに伴って多くなり
、多大の手間と時間を要するという難点があり、さらに
本質的に精度が低いという難点があった。
さらに、γ線透過法によっても、地盤密度を正確に測定
できるという利点はあるものの、測定範囲がなお半径数
十1以内とせまく、かつγ線の検出に時間がかかるため
広範囲な地盤状況を把握することは困難である。
できるという利点はあるものの、測定範囲がなお半径数
十1以内とせまく、かつγ線の検出に時間がかかるため
広範囲な地盤状況を把握することは困難である。
一方、地盤の密度あるいはこれに関連する強度を知るた
めに各種サウンデイング法、例えばキコーブ型動貫人試
験、標準貫入試験、コーン型動貫入試験、動的円錐貫入
試験、静貫入試験、ポータプルコーン貫入試験、オラン
ダ式貫入試験、スエーデン式貫入試験、ベーン試験、簡
易ベーン試験、引抜き試験、イキスメーター試験等が知
られている。上述サウンデイングは貫入抵抗を測定する
ことにより密度あるいはこれに関連する強度を能率的に
測定し得るが、正確な密度を知るには不充分である。
めに各種サウンデイング法、例えばキコーブ型動貫人試
験、標準貫入試験、コーン型動貫入試験、動的円錐貫入
試験、静貫入試験、ポータプルコーン貫入試験、オラン
ダ式貫入試験、スエーデン式貫入試験、ベーン試験、簡
易ベーン試験、引抜き試験、イキスメーター試験等が知
られている。上述サウンデイングは貫入抵抗を測定する
ことにより密度あるいはこれに関連する強度を能率的に
測定し得るが、正確な密度を知るには不充分である。
また、最近、ポーリング削孔装置を用いて削孔時の先端
ピットに生じる削孔抵抗を知り、これから地盤の強度を
推定する方法も採用されている。
ピットに生じる削孔抵抗を知り、これから地盤の強度を
推定する方法も採用されている。
すなわち、削孔時の送水圧、回転トルク、推力、削孔速
度、回転速度、削孔時間、貫入力等を削孔パラメータと
して、モデル地盤による基礎試験から削孔パラメータと
地盤強度の関係を調べ、これから地盤状況あるいは改良
地盤の強度を測定するものである。この方法は短時間で
地盤の評価を得る点で優れているが、地盤密度を直接動
ることができないため、これらパラメータのみによって
は正確な地盤状況の把握は困難である。特に、モデル地
盤とパラメータを対応させるにせよ、多数のモデル地盤
と対応させるには自ずと限界がある。
度、回転速度、削孔時間、貫入力等を削孔パラメータと
して、モデル地盤による基礎試験から削孔パラメータと
地盤強度の関係を調べ、これから地盤状況あるいは改良
地盤の強度を測定するものである。この方法は短時間で
地盤の評価を得る点で優れているが、地盤密度を直接動
ることができないため、これらパラメータのみによって
は正確な地盤状況の把握は困難である。特に、モデル地
盤とパラメータを対応させるにせよ、多数のモデル地盤
と対応させるには自ずと限界がある。
また、多くのパラメータを用いないと正確な地盤状況が
把握できないため、非常に複雑となる。
把握できないため、非常に複雑となる。
本発明者は上述のサウンデイングあるいは削孔抵抗パラ
メータによる調査に対し、さらに密度の要素がとり入れ
られれば、きわめて正確に地盤の変化、土層の強度、改
良地盤の改良度合等を把握し得ることを見い出し、上述
のサウンデイング用貫入体あるいは削孔管を貫入体と称
し、この貫入体にT線源を装着して周辺土層の密度を測
定し、同時に貫入抵抗値あるいは抵抗パラメータを測定
し、両者を対応させることにより正確に地盤を把握する
ことを可能にした。
メータによる調査に対し、さらに密度の要素がとり入れ
られれば、きわめて正確に地盤の変化、土層の強度、改
良地盤の改良度合等を把握し得ることを見い出し、上述
のサウンデイング用貫入体あるいは削孔管を貫入体と称
し、この貫入体にT線源を装着して周辺土層の密度を測
定し、同時に貫入抵抗値あるいは抵抗パラメータを測定
し、両者を対応させることにより正確に地盤を把握する
ことを可能にした。
また、多くの抵抗パラメータを用いなくても、少ない抵
抗パラメータと密度とを組み合わせることにより充分な
地盤状況を把握できることも見い出した。例えば、削孔
速度と密度をある時点で測定しておけば、他の時点では
削孔条件を同じにして削孔し、削孔速度を測定すれば密
度を予測でき、このため極めて簡便に地盤条件を把握で
きる。
抗パラメータと密度とを組み合わせることにより充分な
地盤状況を把握できることも見い出した。例えば、削孔
速度と密度をある時点で測定しておけば、他の時点では
削孔条件を同じにして削孔し、削孔速度を測定すれば密
度を予測でき、このため極めて簡便に地盤条件を把握で
きる。
このように、広範囲な調査対象地盤の代表的な地盤で密
度と貫入抵抗を測定して地盤の性情を正確に把握してお
けば、他はサウンデイングや削孔抵抗を測定するのみで
容易に対象地盤全体を正確に把握できる。また、この方
法を用いれば、自然地盤の土質状況を調査できるのみな
らず、地盤法人を行なった場合の注入前後の改良効果を
適確に知ることができる。
度と貫入抵抗を測定して地盤の性情を正確に把握してお
けば、他はサウンデイングや削孔抵抗を測定するのみで
容易に対象地盤全体を正確に把握できる。また、この方
法を用いれば、自然地盤の土質状況を調査できるのみな
らず、地盤法人を行なった場合の注入前後の改良効果を
適確に知ることができる。
そこで、本発明の目的はγ線透過法を採用して地盤密度
を測定し、かつ同時に貫入抵抗パラメータを測定するこ
とにより地盤状況を高精度に、かつ、広範囲に推定し、
前述の公知技術に存する欠点を改良した地盤調査方法を
提供することにある。
を測定し、かつ同時に貫入抵抗パラメータを測定するこ
とにより地盤状況を高精度に、かつ、広範囲に推定し、
前述の公知技術に存する欠点を改良した地盤調査方法を
提供することにある。
前述の目的を達成するため、本発明によれば、少なくと
もTa2源を内装した貫入体を地盤中に貫入し、このT
線源からのγ線を検出器により検出して地盤密度を測定
し、かつ、同時に貫入抵抗パラメータを測定し、これに
より地盤状況を把握することを特徴とする。
もTa2源を内装した貫入体を地盤中に貫入し、このT
線源からのγ線を検出器により検出して地盤密度を測定
し、かつ、同時に貫入抵抗パラメータを測定し、これに
より地盤状況を把握することを特徴とする。
以下、本発明を添付図面を用いて詳述する。
第1図は本発明にかかる地盤調査方法を説明するための
断面図を示す。第1図に示されるように、地盤A中には
T線源およびr@検出器をそれぞれ挿入するための調査
孔1.4が所定距離を隔てた位置にほぼ平行に掘削され
る。さらに調査孔1には先端にγ線源2の収容された挿
入管(サウンデイング用貫入体)3が挿入され、かつ調
査孔4にはプローブ5が挿入される。このプローブ5は
下方にγ線検出器6、これに給電する高圧電源7、およ
び検出器6の出力信号を増幅するプリアンプ8を収容し
、信号線が併設されたケーブル9によって調査孔4内に
吊り下げて挿入される。10は信号線を経て送られるT
線検出信号をカウントする計数器である。
断面図を示す。第1図に示されるように、地盤A中には
T線源およびr@検出器をそれぞれ挿入するための調査
孔1.4が所定距離を隔てた位置にほぼ平行に掘削され
る。さらに調査孔1には先端にγ線源2の収容された挿
入管(サウンデイング用貫入体)3が挿入され、かつ調
査孔4にはプローブ5が挿入される。このプローブ5は
下方にγ線検出器6、これに給電する高圧電源7、およ
び検出器6の出力信号を増幅するプリアンプ8を収容し
、信号線が併設されたケーブル9によって調査孔4内に
吊り下げて挿入される。10は信号線を経て送られるT
線検出信号をカウントする計数器である。
上述の調査孔1内のγ線源2および調査孔4内のγ線検
出器6はそれぞれ調査孔1.4に沿って下方から上方に
移動され(上方から下方でもよい。
出器6はそれぞれ調査孔1.4に沿って下方から上方に
移動され(上方から下方でもよい。
以下も同様。)、γ線源2からのT線をγ線検出器6で
検出することにより地盤の密度を測定する。
検出することにより地盤の密度を測定する。
なお、本発明は第4図示のように、調査孔1の挿入管3
内に複数個のγ線源2.2・・2を軸方向に沿って所定
の間隔をあけて配置し、一方、調査孔4内には1個のγ
線検出器6を配置し、このγ線検出器6のみを調査孔4
に沿って下方から上方に移動して各γ線源2.2・・2
からのT線を1個のγ線検出器6で移動しながら検出す
ることによりそれぞれの地盤レベルの密度を測定するこ
ともできる。もちろん、図示しないがこの逆の場合、す
なわち、γ線源2を1個、γ線検出器6を複数個それぞ
れ調査孔1.4内に配置し、γ線源2のみを調査孔1に
沿って下方から上方に移動して前述と同様に測定しても
よい。
内に複数個のγ線源2.2・・2を軸方向に沿って所定
の間隔をあけて配置し、一方、調査孔4内には1個のγ
線検出器6を配置し、このγ線検出器6のみを調査孔4
に沿って下方から上方に移動して各γ線源2.2・・2
からのT線を1個のγ線検出器6で移動しながら検出す
ることによりそれぞれの地盤レベルの密度を測定するこ
ともできる。もちろん、図示しないがこの逆の場合、す
なわち、γ線源2を1個、γ線検出器6を複数個それぞ
れ調査孔1.4内に配置し、γ線源2のみを調査孔1に
沿って下方から上方に移動して前述と同様に測定しても
よい。
さらに、本発明では第3図示のように、γ線源2を挿入
する調査孔1を中心とし、この位置から所定間隔を隔て
た周囲(円周方向)にγ線検出器6を挿入する複数個の
調査孔4.4・・4を、例えば図示のように6個の調査
孔4.4・・4を、調査孔1とほぼ平行に掘削し、これ
ら調査孔1および4にそれぞれγ線源2およびγ線検出
器6を1個づつ挿入し、かつ、これらγ線源2およびγ
線検出器6を第1図示と同様にそれぞれ調査孔1.4に
沿って移動させながらγ線源2からのT線をγ線検出器
6.6・・6で検出することにより調査孔1を中心とし
たγ線検出器6.6・・6間の地盤状況をそれぞれ調査
することもできる。また、第3図において、γ線源2ま
たはγ線検出器6のいずれか一方を一つの調査孔1また
は4内に複数個、他方を1個それぞれ挿入し、第4図と
同様にして地盤状況を調査することもできる。
する調査孔1を中心とし、この位置から所定間隔を隔て
た周囲(円周方向)にγ線検出器6を挿入する複数個の
調査孔4.4・・4を、例えば図示のように6個の調査
孔4.4・・4を、調査孔1とほぼ平行に掘削し、これ
ら調査孔1および4にそれぞれγ線源2およびγ線検出
器6を1個づつ挿入し、かつ、これらγ線源2およびγ
線検出器6を第1図示と同様にそれぞれ調査孔1.4に
沿って移動させながらγ線源2からのT線をγ線検出器
6.6・・6で検出することにより調査孔1を中心とし
たγ線検出器6.6・・6間の地盤状況をそれぞれ調査
することもできる。また、第3図において、γ線源2ま
たはγ線検出器6のいずれか一方を一つの調査孔1また
は4内に複数個、他方を1個それぞれ挿入し、第4図と
同様にして地盤状況を調査することもできる。
さらに、第3図において、調査孔4は調査孔1を中心と
する円周上に正六角形となるように配設したが、この例
に限られるものではなく、他の正多角形としてもよい。
する円周上に正六角形となるように配設したが、この例
に限られるものではなく、他の正多角形としてもよい。
また必ずしも調査孔4から調査孔1の距離および調査孔
4同志の間隔も同一である必要はない。ただ、調査孔4
を正多角形に配置すれば、平面的な地盤の密度変化の解
析が容易となり、また調査孔1を中心として左右対象に
配置することにより断面的な地盤の密度変化の解析が容
易になる利点がある。
4同志の間隔も同一である必要はない。ただ、調査孔4
を正多角形に配置すれば、平面的な地盤の密度変化の解
析が容易となり、また調査孔1を中心として左右対象に
配置することにより断面的な地盤の密度変化の解析が容
易になる利点がある。
なお、本発明において、γ線源2ならびにT線検出器が
挿入される調査孔はできるだけ平行に設置されることが
必要である。その理由はT線の検出は距離の二乗に反比
例するため距離が変化すると土層の変化よりも距離の変
化による影響が大きくなり、正確な解析が困難となるた
めである。
挿入される調査孔はできるだけ平行に設置されることが
必要である。その理由はT線の検出は距離の二乗に反比
例するため距離が変化すると土層の変化よりも距離の変
化による影響が大きくなり、正確な解析が困難となるた
めである。
また、同じ理由で調査孔内のγ線源、T線検出器の移動
は両者がほぼ同一深度を保持するようになされることが
望ましい。
は両者がほぼ同一深度を保持するようになされることが
望ましい。
このことはすなわち、調査孔の最下部から同じ速度で両
者を引き上げながら(例えば1m/分)測定するとか、
あるいは0.5m毎に測定して引き上げる等の手段によ
って達成される。
者を引き上げながら(例えば1m/分)測定するとか、
あるいは0.5m毎に測定して引き上げる等の手段によ
って達成される。
上述の本発明は自然地盤の土質調査のみならず、改良地
盤の効果の確認にも用いることができる。
盤の効果の確認にも用いることができる。
たとえば、第3図において注入前の地盤を測定してのち
、調査孔から薬液あるいはセメントグラウト注入し、そ
の後再度調査孔から改良地盤を測定すれば各土層におけ
る密度の増加状況を連続的に測定できる。
、調査孔から薬液あるいはセメントグラウト注入し、そ
の後再度調査孔から改良地盤を測定すれば各土層におけ
る密度の増加状況を連続的に測定できる。
また、本発明における調査孔は垂直方向でなくても、斜
めまたは水平に設けてよいのはもちろんである。
めまたは水平に設けてよいのはもちろんである。
なお、前述の挿入管(サウンデイング用貫入体)3は削
孔管であってもよく、また、検出器6は貫入体3内に内
装されてもよい。さらに、本発明において、貫入抵抗パ
ラメータの測定は削孔管の先端に貫入抵抗測定センサを
装着して削孔管貫入時の押圧力を測定することにより行
なってもよい。
孔管であってもよく、また、検出器6は貫入体3内に内
装されてもよい。さらに、本発明において、貫入抵抗パ
ラメータの測定は削孔管の先端に貫入抵抗測定センサを
装着して削孔管貫入時の押圧力を測定することにより行
なってもよい。
第2図はγ線源、T線検出器および貫入抵抗測定センサ
の内蔵された本発明に用いる削孔管の断面図を示す。第
2図において、削孔管3aの先端部には貫入抵抗測定セ
ンサ11が内蔵され、その上部にはγ線源2が内蔵され
、その上に船速へい体12を経て、γ線検出器6が内蔵
される。このγ線検出器6はケーブル13を経てスケー
ラ14に連結される。15は先端ビットである。
の内蔵された本発明に用いる削孔管の断面図を示す。第
2図において、削孔管3aの先端部には貫入抵抗測定セ
ンサ11が内蔵され、その上部にはγ線源2が内蔵され
、その上に船速へい体12を経て、γ線検出器6が内蔵
される。このγ線検出器6はケーブル13を経てスケー
ラ14に連結される。15は先端ビットである。
もちろん、貫入抵抗パラメータの測定は第2図のような
貫入抵抗測定センサ11のほかに、削孔時の送水圧、回
転トルク、削孔速度、回転速度、削孔時間等を測定する
ことにより行なうこともでき、また抑圧装置から押圧力
を測定するこきにより行なってもよい。
貫入抵抗測定センサ11のほかに、削孔時の送水圧、回
転トルク、削孔速度、回転速度、削孔時間等を測定する
ことにより行なうこともでき、また抑圧装置から押圧力
を測定するこきにより行なってもよい。
上述の本発明では、第3図示の例の場合には、γ線源2
として10mC4を用い、γ線源2と検出器6の間隔を
50印とすると、約1分間の測定時間で必要な精度の測
定が可能である。まず、最下部で各検出器6の計数率を
所定の時間(この例では1分間)記録し、ついでγ線源
2と検出器6とを所定長ずつ引き上げながら測定を繰り
返すか、あるいは連続的に測定しながら1分間に1mと
いう速度で引き上げる。このようにすると、これらのデ
ータに基づいて地盤の密度変化の態様と地盤密度の分布
状態、土層の変化とその位置関係右よびこれらの立体的
な関係を知ることができるので、これらの情報から地盤
状況を精度よく推定することができる。
として10mC4を用い、γ線源2と検出器6の間隔を
50印とすると、約1分間の測定時間で必要な精度の測
定が可能である。まず、最下部で各検出器6の計数率を
所定の時間(この例では1分間)記録し、ついでγ線源
2と検出器6とを所定長ずつ引き上げながら測定を繰り
返すか、あるいは連続的に測定しながら1分間に1mと
いう速度で引き上げる。このようにすると、これらのデ
ータに基づいて地盤の密度変化の態様と地盤密度の分布
状態、土層の変化とその位置関係右よびこれらの立体的
な関係を知ることができるので、これらの情報から地盤
状況を精度よく推定することができる。
また、貫入抵抗パラメータの測定は調査孔1あるいは4
の削孔の際の削孔管(図示せず)の回転トルク、削孔速
度、回転速度、削孔時間等を測定することにより行なわ
れる。本発明ではこれら地盤密度ならびに貫入抵抗パラ
メータを測定することにより地盤状況を把握する。
の削孔の際の削孔管(図示せず)の回転トルク、削孔速
度、回転速度、削孔時間等を測定することにより行なわ
れる。本発明ではこれら地盤密度ならびに貫入抵抗パラ
メータを測定することにより地盤状況を把握する。
また、第2図示の例の場合には、削孔管3aを地盤中に
貫入する際の貫入抵抗パラメータを貫入する際の貫入抵
抗パラメータを貫入抵抗測定センサ11で測定し、同時
にγ線源2からのrllAをγ線検出器6で検出してケ
ーブル13を経てスケーラ14で測定し、これら両側定
値により地盤状況を把握する。
貫入する際の貫入抵抗パラメータを貫入する際の貫入抵
抗パラメータを貫入抵抗測定センサ11で測定し、同時
にγ線源2からのrllAをγ線検出器6で検出してケ
ーブル13を経てスケーラ14で測定し、これら両側定
値により地盤状況を把握する。
以上のとおり、本発明はγ線透過法を採用して地盤密度
を測定し、同時に貫入抵抗パラメータを測定することに
より地盤状況を高精度に、かつ広範囲に推定しつる地盤
調査方法である。
を測定し、同時に貫入抵抗パラメータを測定することに
より地盤状況を高精度に、かつ広範囲に推定しつる地盤
調査方法である。
7・・・高圧電源、 8・・・プリアンプ、9・・・
ケーブル、 10・・・計数器、11・・・貫入抵抗測
定センサ。
ケーブル、 10・・・計数器、11・・・貫入抵抗測
定センサ。
特許出願人 強化土エンジニャリング株式会社
第1図は本発明方法の原理を説明するための断面図、第
2図は本発明に用いる削孔管の一例の断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の他の具体例の断面図を示
す。 ■、4・・・調査孔、 2・・・γ線源、3・・・
挿入管、 3a・・・削孔管、5・・・プローブ、
6・・・T線検出器、子 図 @ @ 芽〆図 茅 図 手 続 補 正 書(方式) %式% 事件の表示 平成2年特 許 願第166320号 2゜ 発明の名称 地 盤 調 査 方 法 3゜ 補正をする者 事件との関係
2図は本発明に用いる削孔管の一例の断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の他の具体例の断面図を示
す。 ■、4・・・調査孔、 2・・・γ線源、3・・・
挿入管、 3a・・・削孔管、5・・・プローブ、
6・・・T線検出器、子 図 @ @ 芽〆図 茅 図 手 続 補 正 書(方式) %式% 事件の表示 平成2年特 許 願第166320号 2゜ 発明の名称 地 盤 調 査 方 法 3゜ 補正をする者 事件との関係
Claims (3)
- (1)少なくともγ線源を内装した貫入体を地盤中に貫
入し、このγ線源からのγ線を検出器により検出して地
盤密度を測定し、かつ、同時に貫入抵抗パラメータを測
定し、これにより地盤状況を把握することを特徴とする
地盤調査方法。 - (2)請求項第1項に記載の地盤調査方法において、貫
入体は削孔管またはサウンデイング用貫入体である方法
。 - (3)請求項第1項に記載の地盤調査方法において、検
出器は貫入体内に装着されるか、貫入体とほぼ平行な位
置に装着される方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2166320A JPH0455790A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 地盤調査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2166320A JPH0455790A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 地盤調査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0455790A true JPH0455790A (ja) | 1992-02-24 |
Family
ID=15829170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2166320A Pending JPH0455790A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 地盤調査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0455790A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7254981B2 (en) | 2003-09-04 | 2007-08-14 | Tyco Electronics Amp K.K | Crimping apparatus |
| JP2008539418A (ja) * | 2005-04-27 | 2008-11-13 | 韓國電子通信研究院 | 電位傾度と接地抵抗測定とを利用した土壌構造の探知方法 |
| JP2009259547A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Japan Automat Mach Co Ltd | 端子圧着方法、端子圧着装置及び端子圧着電線製造装置 |
| JP2010524005A (ja) * | 2007-12-14 | 2010-07-15 | シュルンベルジェ ホールディングス リミテッド | ベータートロン密度ゾンデからの半径方向の密度情報 |
| JP2011503521A (ja) * | 2007-12-21 | 2011-01-27 | シュルンベルジェ ホールディングス リミテッド | 岩石密度ツールに基づいてパルス加速器を用いた地層密度およびPeの抽出方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS6442337U (ja) * | 1987-09-10 | 1989-03-14 |
-
1990
- 1990-06-25 JP JP2166320A patent/JPH0455790A/ja active Pending
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