JPH0457212B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0457212B2 JPH0457212B2 JP60209050A JP20905085A JPH0457212B2 JP H0457212 B2 JPH0457212 B2 JP H0457212B2 JP 60209050 A JP60209050 A JP 60209050A JP 20905085 A JP20905085 A JP 20905085A JP H0457212 B2 JPH0457212 B2 JP H0457212B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- leaf spring
- load
- test piece
- main body
- pair
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は、セラミツクスの曲げ試験や疲労試験
等に好適なセラミツクス用試験装置に関するもの
である。
等に好適なセラミツクス用試験装置に関するもの
である。
(b) 従来技術と問題点
従来、セラミツクス用の試験装置は開発中であ
り、金属用の試験装置を利用しているのが現状で
ある。
り、金属用の試験装置を利用しているのが現状で
ある。
しかしながら、金属用の試験装置では、試験開
始直後、掴み具近傍での破壊が多く、そのような
破壊が予測される場合には試験が困難である。
始直後、掴み具近傍での破壊が多く、そのような
破壊が予測される場合には試験が困難である。
そのため、試験精度ならびに効率の優れたセラ
ミツクス用の試験装置の開発が要望されている。
ミツクス用の試験装置の開発が要望されている。
(c) 発明の目的
本発明は、上記の点に鑑み、ぜい性材料である
セラミツクスの試験用として、破壊の原因になる
ような掴み具等をなくして、セラミツクスに好適
なものとし、しかも試験精度が良く、簡易で効率
を良くした試験装置を提供することを目的とす
る。
セラミツクスの試験用として、破壊の原因になる
ような掴み具等をなくして、セラミツクスに好適
なものとし、しかも試験精度が良く、簡易で効率
を良くした試験装置を提供することを目的とす
る。
(d) 発明の構成
上記目的を達成するための本発明のセラミツク
ス用試験装置は、本体の上面に、間隔を隔てて平
行に配置した一対のローラー状の下部支点を備
え、本体に設けた一対のばね支持台に、下部支点
上に置いた試験片と直交する方向に向けて薄い板
ばねを架設し、この板ばねを介して本体に取付け
た板ばねホルダーに、試験片に負荷を加えるロー
ラー状の上部支点を設けることにより、その上部
支点に、試験片の長手方向の中心線を軸とする回
転運動に対する自由度を持たせると共に、下部支
点に対する平行と負荷位置精度を維持させ、上記
板ばねホルダーの上に、試験片に負荷を加えるた
めの加圧用鋼球を配置したことを特徴とするもの
である。
ス用試験装置は、本体の上面に、間隔を隔てて平
行に配置した一対のローラー状の下部支点を備
え、本体に設けた一対のばね支持台に、下部支点
上に置いた試験片と直交する方向に向けて薄い板
ばねを架設し、この板ばねを介して本体に取付け
た板ばねホルダーに、試験片に負荷を加えるロー
ラー状の上部支点を設けることにより、その上部
支点に、試験片の長手方向の中心線を軸とする回
転運動に対する自由度を持たせると共に、下部支
点に対する平行と負荷位置精度を維持させ、上記
板ばねホルダーの上に、試験片に負荷を加えるた
めの加圧用鋼球を配置したことを特徴とするもの
である。
(e) 発明の作用
本体上における一対の下部支点間に試験片を置
き、加圧用鋼球を通じて試験片に負荷を加えるに
際し、試験片は、上下部支点以外の部分で掴み具
等による拘束を受けることがない。また、上部支
点は、板ばねを介して本体に取付けた板ばねホル
ダーに保持させることにより、回転運動に対する
自由度を持たせると共に、下部支点に対する平行
と負荷位置精度を維持させるようにし、さらに、
加圧用鋼球によつて板ばねホルダーに試験用の負
荷を加えるようにしているので、下部支点と平行
を保ちつつ上部支点から試験片に垂直に負荷が加
えられ、正確で均一な負荷を試験片に加えること
が達成される。
き、加圧用鋼球を通じて試験片に負荷を加えるに
際し、試験片は、上下部支点以外の部分で掴み具
等による拘束を受けることがない。また、上部支
点は、板ばねを介して本体に取付けた板ばねホル
ダーに保持させることにより、回転運動に対する
自由度を持たせると共に、下部支点に対する平行
と負荷位置精度を維持させるようにし、さらに、
加圧用鋼球によつて板ばねホルダーに試験用の負
荷を加えるようにしているので、下部支点と平行
を保ちつつ上部支点から試験片に垂直に負荷が加
えられ、正確で均一な負荷を試験片に加えること
が達成される。
しかも、上部支点は、下部支点との位置関係を
保証するためのガイドとなる部分を必要とせず、
無接触で摩擦抵抗が加えられることがない。
保証するためのガイドとなる部分を必要とせず、
無接触で摩擦抵抗が加えられることがない。
これにより、ぜい性材料であるセラミツクスの
試験用として、破壊の原因になるような掴み具等
をなくし、セラミツクスに好適で、しかも試験精
度が良く、簡易で効率を良くした試験装置を提供
することができる。
試験用として、破壊の原因になるような掴み具等
をなくし、セラミツクスに好適で、しかも試験精
度が良く、簡易で効率を良くした試験装置を提供
することができる。
(f) 発明の実施例
以下、本発明の実施例を図面によつて説明す
る。
る。
第１図ないし第３図に示すように、試験装置の
本体１は、その上面に、間隔を隔てて平行に配置
した一対のローラー状の下部支点４を備えてい
る。試験片９は、これらの一対の平行な下部支点
４上に置かれ、本体１の左右中央の案内溝１０に
より支点４のローラー軸方向の位置決めがなさ
れ、試験片が支点４に対して直角に配置されるよ
うにしている。
本体１は、その上面に、間隔を隔てて平行に配置
した一対のローラー状の下部支点４を備えてい
る。試験片９は、これらの一対の平行な下部支点
４上に置かれ、本体１の左右中央の案内溝１０に
より支点４のローラー軸方向の位置決めがなさ
れ、試験片が支点４に対して直角に配置されるよ
うにしている。
一方、本体１上に設けた一対のばね支持台７に
は、試験片９と直交する方向に向けて極めて薄い
板ばね６を架設し、この板ばね６を介して本体１
に板ばねホルダー２を取付けている。この板ばね
ホルダー２に固定した一対の加圧子３には、一対
の下部支点４の間において試験片９に接触するロ
ーラー状の上部支点５をそれぞれ設けているが、
この板ばねホルダー２が板ばね６を介してばね支
持台７に取付けられることにより、上部支点５と
下部支点４との平行度および支点相対位置が保証
される。また、板ばねホルダー２の上には、試験
片に負荷を加えるための加圧用鋼球８を配置して
いる。
は、試験片９と直交する方向に向けて極めて薄い
板ばね６を架設し、この板ばね６を介して本体１
に板ばねホルダー２を取付けている。この板ばね
ホルダー２に固定した一対の加圧子３には、一対
の下部支点４の間において試験片９に接触するロ
ーラー状の上部支点５をそれぞれ設けているが、
この板ばねホルダー２が板ばね６を介してばね支
持台７に取付けられることにより、上部支点５と
下部支点４との平行度および支点相対位置が保証
される。また、板ばねホルダー２の上には、試験
片に負荷を加えるための加圧用鋼球８を配置して
いる。
試験片９に負荷を加える一対のローラー状の上
部支点５は、極めて薄い板ばね６を用いてばね支
持台７に支持させることにより、試験片の長手方
向の中心線を軸とする回転運動に対して自由度が
与えられているので、下部支点４に対する平行と
負荷位置精度を維持し、試験片上面に密着させる
ことができる。さらに、上部支点５の垂直運動に
対しても摺動部分を持たないため、摩擦抵抗が全
くないという構造上の特徴も持つている。
部支点５は、極めて薄い板ばね６を用いてばね支
持台７に支持させることにより、試験片の長手方
向の中心線を軸とする回転運動に対して自由度が
与えられているので、下部支点４に対する平行と
負荷位置精度を維持し、試験片上面に密着させる
ことができる。さらに、上部支点５の垂直運動に
対しても摺動部分を持たないため、摩擦抵抗が全
くないという構造上の特徴も持つている。
また、上記加圧用の鋼球８は、４つの上下部支
点面に均一な負荷を与えるために有効なものであ
る。
点面に均一な負荷を与えるために有効なものであ
る。
上記構成を有する試験装置は、本体１上におけ
る一対の下部支点４間に試験片９を置き、加圧用
鋼球８を通じて試験片に負荷を加えるに際し、試
験片９は、上下部支点以外の部分で掴み具等によ
る拘束を受けることがなく、また、上部支点５
は、板ばね６を介して本体１に取付けた板ばねホ
ルダー２に保持させることにより、回転運動に対
する自由度を持たせると共に、下部支点に対する
平行と負荷位置精度を維持させるようにし、さら
に、加圧用鋼球８によつて板ばねホルダー２に試
験用の負荷を加えるようにしているので、下部支
点４と平行を保ちつつ上部支点５から試験片９に
垂直に負荷が加えられ、正確で均一な負荷を試験
片に加えることが達成される。
る一対の下部支点４間に試験片９を置き、加圧用
鋼球８を通じて試験片に負荷を加えるに際し、試
験片９は、上下部支点以外の部分で掴み具等によ
る拘束を受けることがなく、また、上部支点５
は、板ばね６を介して本体１に取付けた板ばねホ
ルダー２に保持させることにより、回転運動に対
する自由度を持たせると共に、下部支点に対する
平行と負荷位置精度を維持させるようにし、さら
に、加圧用鋼球８によつて板ばねホルダー２に試
験用の負荷を加えるようにしているので、下部支
点４と平行を保ちつつ上部支点５から試験片９に
垂直に負荷が加えられ、正確で均一な負荷を試験
片に加えることが達成される。
しかも、上部支点５は、下部支点４との位置関
係を保証するためのガイドとなる部分を必要とせ
ず、無接触で摩擦抵抗が加えられることがない。
係を保証するためのガイドとなる部分を必要とせ
ず、無接触で摩擦抵抗が加えられることがない。
図示の試験装置を用いてセラミツクスの曲げ試
験を行つた結果、試験片は上部支点間の破断のみ
であり、また破断時の負荷検出も良好であつた。
さらに、上記装置を疲労試験機として用い、低サ
イクルから高サイクルまで、試験片に繰返し負荷
を加える試験を行つたが、各サイクルとも、与え
た負荷に対する検出度も良く、支点内破断で試験
できることが立証された。
験を行つた結果、試験片は上部支点間の破断のみ
であり、また破断時の負荷検出も良好であつた。
さらに、上記装置を疲労試験機として用い、低サ
イクルから高サイクルまで、試験片に繰返し負荷
を加える試験を行つたが、各サイクルとも、与え
た負荷に対する検出度も良く、支点内破断で試験
できることが立証された。
(g) 発明の効果
本発明によれば、セラミツクス用試験装置にお
いて、試験精度を左右する上下支点の設定位置、
平行度、試験片に対する均一な負荷などについて
の問題点が解消され、セラミツクスの試験結果で
も、支点部での破断がなく、破断荷重の検出でも
非常に低い荷重について検出することができた。
いて、試験精度を左右する上下支点の設定位置、
平行度、試験片に対する均一な負荷などについて
の問題点が解消され、セラミツクスの試験結果で
も、支点部での破断がなく、破断荷重の検出でも
非常に低い荷重について検出することができた。
第１図は本発明にかかる試験装置の実施例を示
す正面・断面図、第２図は同右側面図、第３図は
同平面図である。 １……本体、２……板ばねホルダー、４……下
部支点、５……上部支点、６……板ばね、７……
ばね支持台、８……加圧用鋼球、９……試験片。
す正面・断面図、第２図は同右側面図、第３図は
同平面図である。 １……本体、２……板ばねホルダー、４……下
部支点、５……上部支点、６……板ばね、７……
ばね支持台、８……加圧用鋼球、９……試験片。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 本体の上面に、間隔を隔てて平行に配置した
一対のローラー状の下部支点を備え、 本体に設けた一対のばね支持台に、下部支点上
に置いた試験片と直交する方向に向けて薄い板ば
ねを架設し、 この板ばねを介して本体に取付けた板ばねホル
ダーに、試験片に負荷を加えるローラー状の上部
支点を設けることにより、その上部支点に、試験
片の長手方向の中心線を軸とする回転運動に対す
る自由度を持たせると共に、下部支点に対する平
行と負荷位置精度を維持させ、 上記板ばねホルダーの上に、試験片に負荷を加
えるための加圧用鋼球を配置した、 ことを特徴とするセラミツクス用試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20905085A JPS6267426A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | セラミツクス用試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20905085A JPS6267426A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | セラミツクス用試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6267426A JPS6267426A (ja) | 1987-03-27 |
| JPH0457212B2 true JPH0457212B2 (ja) | 1992-09-10 |
Family
ID=16566419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20905085A Granted JPS6267426A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | セラミツクス用試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6267426A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10329012B4 (de) * | 2003-06-30 | 2014-09-25 | F + E Ingenieurgesellschaft mbH für Energieberatung und Festigkeitsanalyse | Verschleißfreier Biegewechselprüfstand |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5854545U (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-13 | トヨタ自動車株式会社 | 曲げ破壊試験装置 |
| JPS5892930A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Toyota Motor Corp | 曲げ破壊試験装置 |
-
1985
- 1985-09-20 JP JP20905085A patent/JPS6267426A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6267426A (ja) | 1987-03-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |