JPH04589A - 特徴抽出方法 - Google Patents

特徴抽出方法

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JPH04589A
JPH04589A JP2100830A JP10083090A JPH04589A JP H04589 A JPH04589 A JP H04589A JP 2100830 A JP2100830 A JP 2100830A JP 10083090 A JP10083090 A JP 10083090A JP H04589 A JPH04589 A JP H04589A
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JP2100830A
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Koichi Higuchi
浩一 樋口
Yoshiyuki Yamashita
山下 義征
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、媒体上の文字を光電変換して得られる文字パ
タンを、複数方向に走査して該文字パタンの特徴を抽出
する特徴抽出方法、特に高速で、安定な特徴抽出方法に
関するものである。
(従来の技術) 従来、この種の特徴抽出方法としては、特開昭57−2
3185号公報(文献1)、及び特公昭58−5555
1号公報(文献2)に記載されるものがあった。
文献1の技術では、媒体上の文字を光電変換して得られ
た文字パタンより、各方向の線素成分(ストローク成分
)を表わすサブパタンを抽出する。そして、該サブパタ
ンを複数の領域に分割してその分割された各領域毎に、
前記サブパタンの線素の量を表わす特徴を抽出して特徴
マトリクスを生成する。その後、該特徴マトリクスと、
予め用意した辞書とを、照合して前記文字を認識するも
のであった。
また、文献2の技術では、文字パタンの走査により、走
査線とストロークの交差数を特徴間として抽出するもの
であった。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記の特徴抽出方法では、次のような課
題があった。
(i)  第2図は、印刷文字の斜体字の例を示す図で
ある。この図における数字“O′を模式化した図を第3
図(a)〜(d>に示す。即ち、第3図(a)は斜体で
ない文字パタン“O′の例、同図(b)は斜体字101
の例、同図(C)は前記文献1の方法を用いて同図(a
)の文字パタンから抽出した垂直サブパタン、及び同図
(d)は前記文献1の方法を用いて同図(b)の文字パ
タンから抽出した垂直サブパタンである。
前記文献1の特徴抽出方法を用いて第3図(a)の文字
パタンの垂直サブパタンを抽出すると、第3図(C)の
ように、垂直成分を忠実に抽出できる。
しかし、第3図(b)の斜体字に対して垂直サブパタン
を抽出すると、第3図(d)に示すように、線素成分が
傾く。その上、第3図(d)の破線で示すような線素成
分が抽出されるべきところが、傾いた線素に対して垂直
に走査しているため、線素の両端部が欠けてしまう。そ
のため、同じ字形“O゛でありながら、抽出される特徴
が異なる(つまり、抽出される特徴が不安定となる)と
いう問題があった。また、手書文字の変形としては、一
般に右上がりのものが多く、水平線素が傾いているため
、前記と同様に、抽出される特徴が不安定となるという
問題があった。
従って、特徴抽出後、辞書と照合して文字認識を行う場
合、文字傾斜の変形に対応した多数の辞書を用意しなけ
ればならない。そのため、辞書容量が増大し、照合の長
時間化による処理速度の低下と、ハード規模(装置規模
)の増大を招くという不都合があった。
(ii)  前記文献2の技術では、走査線と線素の交
差数を特徴間としているので、第3図(b)のように線
素に傾斜があると、走査方向を固定したとき、抽出され
る交差数(特徴間)が大きく変動し、前記(i)と同様
の問題が生じる。
本発明は前記従来技術が持っていた課題として、抽出さ
れる特徴が不安定となる点と、処理速度の低下及び装置
の大型化の点について解決した特徴抽出方法を提供する
ものである。
(課題を解決するための手段) 前記課題を解決するために、第1の発明は、媒体上の文
字を光電変換して得られる文字パタンを、複数の方向に
走査して該文字パタンの特徴を抽出する特徴抽出方法に
おいて、次のような手段を講じたものである。
即ち、前記文字パタンを含むX−Y座標系で定義される
平面において、少なくとも2組の特定の実数α、βにつ
いて前記文字パタンの黒画素に関するαx十βy(但し
、x、yはX−Y座標系の座標値)の最大値及び最小値
を与える座標を求め、該座標に基づき前記文字パタンの
傾斜角を検出し、該傾斜角に基づき前記文字パタンを走
査して特徴を抽出するようにしている。
第2の発明では、媒体上の文字を光電変換して得られる
文字パタンを複数の方向に走査し、該走査方向の黒画素
の連続数と線幅との関係により、該走査方向の線素成分
を表わすサブパタンを抽出した後、前記サブパタンを複
数の領域に分割してその分割された領域毎に、前記サブ
パタンの線素量を表わす特徴を抽出する特徴抽出方法に
おいて、次のような手段を講じたものである。
即ち、前記文字パタンを含むX−Y座標系で定義される
平面において、少なくとも2組の特定の実数α、βにつ
いて前記文字バタンの黒画素に関するαX+βy(但し
、x、yはX−Y座標系の座標値〉の最大値及び最小値
を与える座標を求め、該座標に基づき前記文字バタンの
傾斜角を検出し、該傾斜角に従って前記サブパタンを抽
出するようにしている。
(作 用) 第1及び第2の発明によれば、以上のように特徴抽出方
法を構成したので、文字バタンか入力されると、その文
字バタンの黒画素に関するαx十βyの最大値及び最小
値を与える座標を検出し、その座標に基づき該文字バタ
ンの傾斜角を検出する。
そして第1の発明では、検出された傾斜角に従って前記
文字バタンを走査し、走査線とストロークの交差数等と
いった特徴間を抽出する。
また第2の発明では、検出された傾斜角に従ってサブパ
タンを抽出し、その後、そのサブパタンを複数の領域に
分割してその分割された領域毎に前記サブパタンの特徴
を抽出する。
これにより、傾斜がある文字バタンについても、抽出さ
れる特徴が安定となり、前記課題を解決できるのである
(実施例) 第1図は、本発明の実施例を示す特徴抽出方法を用いた
文字認識装置の機能ブロック図である。
この文字認識装置は、帳票等の媒体上の文字画像の光信
号INを量子化された電気信@(ディジタル信号)に変
換する光電変換部1を有し、その出力側には、行バッフ
ァ2が接続されている。行バッファ2は、例えば幅20
48X高さ128ビツトの大きさを有し、1行分の文字
画像のディジタル信号を格納する構成になっており、そ
の出力側には、文字切出部3を介してバタンレジスタ4
が接続されている。
文字切出部3は、メモリを有し、行バッファ2の出力か
ら1文字分のディジタル信号(これを、「文字バタン」
という)をバタンレジスタ4に格納する機能を有してい
る。バタンレジスタ4は、例えば64X64ビツトの記
憶容量を有し、その出力側には、文字枠検出部5、線幅
測定部6、文字傾斜検出部7、分割点検出部8、及びサ
ブパタン抽出部9が接続されている。線幅測定部6、分
割点検出部8、及びサブパタン抽出部9の出力側には、
特徴マトリクス抽出部10が接続され、ざらにその出力
側に、識別部11が接続されている。
文字枠検出部5は、バタンレジスタ4内の文字バタンを
走査して外接枠、つまり文字枠を検出し、その検出結果
を分割点検出部8に与える機能を有している。線幅測定
部6は、バタンレジスタ4の出力に対する線幅を測定し
、その測定結果をサブパタン抽出部9及び特徴マトリク
ス抽出部10に与える機能を有している。
文字傾斜検出部7は、バタンレジスタ4に格納された文
字バタンについて傾斜度を抽出し、その抽出結果をサブ
パタン抽出部9へ出力する機能を有している。分割点検
出部8は、外接枠内を複数の部分領域に分割するための
分割点座標を検出し、その検出結果を特徴マトリクス抽
出部10へ出力する機能を有している。
サブパタン抽出部9は、文字傾斜検出部7の出力傾斜度
に基づき、バタンレジスタ4を複数方向に走査して垂直
、水平、右斜め、左斜めサブパタンを抽出するもので、
垂直サブパタン抽出部9a。
水平サブパタン抽出部9b、右斜めサブパタン抽出部9
C1及び左斜めサブパタン抽出部9dより構成されてい
る。各抽出部9a〜9dは、それぞれバタン格納用のメ
モリを有している。
特徴マトリクス抽出部10は、サブパタン抽出部9から
出力される垂直、水平、右斜め、及び左斜めサブパタン
の各バタンから、特徴間を抽出して特徴マトリクスを作
成し、それを識別部11へ与える機能を有している。識
別部11は、標準文字の特徴マトリクス(標準文字マス
ク)G(k)と、この特徴マトリクスG (k)を有す
る標準文字の文字名とを、格納する辞書メモリを有して
いる。そして、特徴マトリクス抽出部10で抽出された
特徴マトリクスF (k)と、辞書メモリの特徴マトリ
クスG (k)とを、照合することにより、該特徴マト
リクスF (k)を得た外接枠内領域の文字図形の認識
を行い、文字名OUTを出力する機能を有している。
第4図は、第1図の文字傾斜検出部7における一構成例
を示す機能ブロック図である。
この文字傾斜検出部7は、バタンレジスタ4から入力さ
れる画像データMの画素にX座標を付与するためのX座
標発生手段21と、画像データMの画素にY座標を付与
するためのY座標発生手段22とを備え、それらの出力
側には座標検出手段30.40が接続されている。座標
検出手段30゜40は、X、Y座標と少なくとも2組の
特定のα値及びデータ値とを用いて被抽出バタンの画素
に関する最大及び最小の計篩値αx十βyを検出し、そ
の最大最小計算値を与える被抽出バタンの画素のX、Y
座標をそれぞれ特徴点座標として出力するものであり、
その出力側には、文字バタンの傾斜度を特徴点座標に基
づき算出する傾斜度算出手段50が接続されている。
座標検出手段30は、計算値αX+βyを算出するX十
Y計算手段31と、最大計算値を検出するだめの最大値
検出手段32と、最大計算値を与える画素のX、Y座標
を保存するための最大値座標保存手段33と、最小計算
値を検出するための最小値検出手段34と、最小計算値
を与える画素のX、Y座標を保存するための最小値座標
保存手段35とで、構成されている。同様に、座標検出
手段40は、X−Y計算手段41、最大値検出手段42
、最大値座標保存手段43、最小値検出手段44、及び
最小値座標保存手段45より構成されている。
この文字傾斜検出部7では、特徴点座標検出のために、
例えばα=B=1及びα−1、β=−1の2組のα値及
びβ値を用いるので、2つの座標検出手段30.40を
備えている。一方の座標検出手段30では計算値X+Y
に関する最大及び最小計算値を、他方の座標検出手段4
0では計算値X−Yに関する最大及び最小計算値を、そ
れぞれ与える画素の座標を検出する機能を有している。
例えば、X十Y計算手段31は加算回路で、XY計算手
段41は減算回路で、検出手段32゜34.42.44
はそれぞれ比較器及びレジスタで、座標保存手段33.
35.43.45はそれぞれレジスタ等で構成されてい
る。また、X座標発生手段21及びY座標発生手段22
は、座標検出手段30.40に対して共通に用いるよう
に構成されており、そのため座標検出手段30.40は
X座標発生手段21及びY座標発生手段22h)ら出力
されるX、Y座標をそれぞれ入力して特徴点座標の検出
を行う機能を有している。
次に、以上のように構成される文字認識装置を用いた特
徴抽出方法と、その抽出結果から文字認識を行う方法に
ついて、各機能ブロックの処理(I)〜(VI)につい
て説明する。
本実施例では、第2図に示すように、印刷文字における
斜体字のような、文字の垂直辺が傾斜するような文字を
含む文字列の特徴抽出とその認識処理について、以下説
明する。
(1)  文字バタン生成処理 帳票上に記入された文字画像の光信号INが光電変換部
1に入力されると、光電変換部1では、光信号]Nを2
値のデジタル信号、つまり文字線部を“1′、背景部を
“O′に変換する。光電変換部1で変換された1行分の
文字画像のデジタル信号は、行バッファ2に格納される
文字切出部3では、行バッノ72に格納された文字画像
のデジタル信号から、1文字分のデジタル信号(文字バ
タン)を読出し、バタンレジスタ4に格納する。本実施
例では、帳票フォーマットが予め指定されており、文字
切出部3のメモリに、行バツフア2内の文字位置を示す
アドレスが格納されている。そのため、文字切出し動作
は、該アドレスで指定された行バッフ12の内容を読み
出すことにより実行される。
(ff)  文字枠検出・線幅測定処理文字枠検出部5
では、バタンレジスタ4のバタンを走査してそのバタン
の左端座標X、I!、右端座標Xr、上端座標Yt及び
下端座標Ybを検出する。外接枠、つまり文字枠は(X
J!、Yt)、(XJI、Yb)、(Xr、Yt)、(
Xr、Yb)の4点を結ぶ矩形枠となる。
また、文字枠検出後は、特徴間の正規化を行うために、
必要な文字枠の大きさを算出する。即ち、バタンレジス
タ4のX軸に対し、平行な方向(水平方向)の文字枠の
大きさをWPhとしてWPh=Xr−XJ+1を、垂直
な方向(垂直方向)の文字枠の大きさをWPVとしてW
Pv=Yt−Yb+1を、それぞれ締出する。さらに、
右斜め及び左斜め45°方向の文字枠の大きさをWPr
及びWPNとして を締出する。
一方、線幅測定部6では、バタンレジスタ4からのディ
ジタル信号を入力し、例えば2X2の窓の全ての点が黒
ビットとなる状態の個数Qと、全黒ビットの個数Aとを
計数し、従来周知の(1)式に従って線幅WLを算出す
る。
WL=A/ (A−Q)       ・・・・・・(
1)(III)  文字傾斜検出処理 文字傾斜検出部7は、バタンレジスタ4に格納された文
字バタンについて傾斜度を抽出する。この抽出方法を、
第4図、第5図(a)、(b)及び第6図(a)、(b
)を参照しつつ説明する。
第5図(a>、(b)は傾斜度検出方法を説明するため
の特徴点の検出例を示す図である。X−Y座標系で表現
される平面には、被抽出バタンM2である傾きのない文
字(第5図(a))と斜体字(第5図(b))とが示さ
れている。BL、 BR,TL、TRは特徴点である。
第6図(a)。
(b)は、文字傾斜検出方法を説明するもので、同図(
a)は最大値処理のフローチャート、及び同図(b)は
最小値処理のフローチャートである。
この文字傾斜検出処理を、(A)特徴点TL、BR座標
の検出処理と、(B)特徴点BL、TR座標の検出処理
と、(C)傾斜度算出処理とに分けて以下説明する。
(A>特徴点TL、BR座標の検出処理この処理では、
第3図の座標検出手段30等により、次のような(1)
〜(5)の処理ステップで実行される。
(1) ステップ81〜S3 先ず、バタンレジスタ4の走査を開始し、そのバタンレ
ジスタ4より出力された画像データMを、文字傾斜検出
部7に入力する(ステップ31)。
この画像データMは、画素毎に座標検出手段30内の最
大値検出手段32及び最小値検出手段34に入力される
これと共に、X座標発生手段2つ及びY座標発生手段2
2は、画像データMの出力と同期させて、この画像デー
タMの各画素毎に対応付けたX、Y座標を発生する。そ
の結果、これら発生手段21゜22により、画像データ
MにX、Y座標の付与が行われる。そして出力されたX
、Y座標は、座標検出手段30内のX十Y計算手段31
、最大値座標保存手段33、及び最小値座標保存手段3
5に入力される(ステップ82>。
X+Y計輝手段31はX、Y座標を入力すると、これら
X、Y座標から計算値X十Yを算出し、算出した計算値
を最大値検出手段32及び最小値検出手段34へ出力す
る(ステップ33)。ステップ82〜S3[よって、最
大値検出手段32は画像データM及び計算値を、最小値
検出手段34は画像データM及び計算値を、最大値座標
保存手段33はX、Y座標を、最小値座標保存手段35
はX、Y座標を、それぞれ1画素毎に入力する。そして
、座標検出手段30は、後述のステップS4、S5a、
S5b或いはS7の判断を1画素毎に繰り返し実行し、
その判断結果に応じた処理を行う。
(2) ステップS4 最大値検出手段32及び最小値検出手段34は、入力さ
れた画像データMの画像が所定の画素値(例えば、“1
′)であるか否かを判断する。
■ 所定の画素値を有さないとき 最大値検出手段32及び最小値検出手段34は、格納し
ている比較値を書換えず、これと共に最大値座標保存手
段33及び最小値座標保存手段35も、格納されている
X、Y座標を書換えない。検出手段32.34は、ステ
ップS4の次に、ステップS7の判断を行う。
■ 所定の画素値を有するとき 最大値検出手段32はステップS4の次に比較値及び計
算値の比較(ステップ55a)を、最小値検出手段34
はステップS4の次に比較値及び計算値の比較(ステッ
プ55b)を、それぞれ行う。
(3) ステップS5a このステップでは、計算値が比較値より大きいか否かを
判断し、その判断結果に応じた次のような処理を実行す
る。
■ 計算値〉比較値のとき 最大値検出手段32は、先に格納されている比較値に代
えて、比較値よりも大きい計算値を新たな比較値として
格納しく比較値の書換え)、これと共にセットパルスを
最大値座標保存手段33へ出力する。セットパルスを入
力した最大値座標保存手段33は、格納されているX、
Y座標に代えて、比較値よりも大きな計算値を与える画
素のX、Y座標を新たに格納する( rX、Y座標の書
換え」ステップ36)。
■ 計算値≦比較値のとき 最大値検出手段32は、先に格納されている比較値を書
換えずにそのまま格納すると共に、最大値座標保存手段
33も、格納されているX、Y座標を書換えない。
最大値検出手段32は、前記■及び■のいずれの場合も
、ステップS5aの次に、ステップS7の判断を行う。
なあ、最大値検出手段32に格納される比較値の初期値
としては、例えば計算値αとして取り得る値よりも小さ
な値を用いれば良い。例えば、α=β=1で、画像デー
タMを1行m列の画素に分割した(従って、O≦X≦m
−1、及びO≦Y≦1−1となる)場合には、−1を比
較値の初期値とすることができる。或は比較値の初期値
として、最大値検出手段32に一番最初に入力された計
算値αX+βyを用いるようにしても良い。
また、最大値検出手段32は、比較値及びX、Y座標の
書換えを、計算値αx十βyが比較値よりも大きいとき
、及び計算値が比較値と等しいときに行うようにし、こ
れと共に計算値が比較値よりも小さいとき、比較値及び
X、Y座標の書換えを行わないようにしても良い。さら
に、最大値座標保存手段33のX、Y座標としては、任
意好適な数値を用いて良い。
(4) ステップS5b 第6図(b)のステップS5bでは、計算値が比較値よ
り小さいか否かの判断を行い、その判断結果に基づき次
のような処理を実行する。
■ 計算値く比較値のとき 最小値検出手段34は、先に格納されている比較値に代
えて、比較値よりも小さい計算値を比較値として新たに
格納する(比較値の書換え)と共に、最小値座標保存手
段35ヘセツトパルスを出力する。最小値座標保存手段
35は、セットパルスを入力すると、格納されているX
、Y座標を、比較値よりも小さな計算値を与える画素の
X、Y座標に書換える(rX、Y座標の書換え」ステッ
プ36)。
■ 計算値≧比較値のとき 最小値検出手段34は、先に格納されている比較値を書
換えずにそのまま格納すると共に、最小値座標保存手段
35も、格納されているX、Y座標を書換えない。
最小値検出手段34は、前記■及び■のいずれの場合に
も、ステップS5bの次に、ステップS7の判断を行う
なお、最小値検出手段34に格納される比較値の初期値
としては、例えば計算値αx十βyとして取り得る値よ
りも大きな値を用いれば良い。例えば、α=β=1で、
画像データMを1行m列の画素に分割した(従って、0
≦X≦m−1、及びO≦Y≦1−1となる)場合には、
m十n−1を比較値の初期値とすることができる。或は
比較値の初期値として最小値検出手段34に一番最初に
入力された計算値αx十βyを用いるようにしても良い
また、最小値検出手段34は、計算値が比較値よりも小
さいとき、及び計算値が比較値と等しいとき、比較値及
びX、Y座標の書換えを行い、これと共に計算値が比較
値よりも大きいとき、比較値及びX、Y座標の書換えを
行わないようにしても良い。ざらに、最小値座標保存手
段35のX、Y座標としては、任意好適な数値を用いて
良い。
(5) ステップS7 ステップS7では、画像データMの走査を終了したか否
かを判断し、その判断結果に応じて次のような処理を実
行する。
■ 画像データMの走査を終了したとき最大値検出手段
32及び最小値検出手段34は、画像データMの走査が
終了し、データMの全画素につき処理が終了すると、X
、Y座標の出力信号を、最大値座標保存手段33及び最
小値座標保存手段35へ出力する。すると、座標保存手
段33゜35は、格納しているX、Y座標を特徴点座標
として出力する。これと共に検出手段32.34は、比
較値の初期化を行う(ステップ38)。
全画素につき処理を終了した時点で、最大値座標保存手
段33及び最小値座標保存手段35に格納されているX
、Y座標が、最大及び最小計紳値を与える画素のX、Y
座標、すなわち特徴点座標となる。
座標検出手段30では、α=β−1としたので、全処理
終了時点で、例えば第5図に示す被抽出パタンM2の特
徴点BRの座標が、最大値座標保存手段33に格納され
ており、また特徴点下りの座標が、最小値座標保存手段
35に格納されている。
■ 画像データMの走査が終了しないとき座標検出手段
30は、画像データMの走査が終了せず、従ってデータ
Mの全画素につき処理か終了していなければ、画像デー
タMの残りの画素につき、ステップ34.S5a、S5
b或はS7の判断を行い、その判断結果に応じた処理を
行う。
(B)特徴点BL、TR座標の検出処理この処理は、座
標検出手段40等で行われる処理である。即ち、座標検
出手段40は、上述した座標検出手段30の動作と並行
してその座標検出手段30とほぼ同様の処理を行う。
この座標検出手段40では、α=1及びβ=−1とした
ので、全画素につき処理を終了した時点で、例えば、第
5図に示す被抽出パタンM2の特徴点TRの座標が、最
大値座標保存手段43に格納されており、また特徴点B
Lの座標が、最小値座標保存手段45に格納されている
(C)傾斜度算出処理 前記処理(A>、(B)で、特徴点TR,TL。
SR,BLの4点の座標(TRx、TRy>。
(TLX、TLV)、(BRx、BRy)、(BLX、
Blj’)が検出されると、傾斜度算出手段50では、
該4点の座標より、入力文字パタンの傾斜角度に相当す
る値(傾斜度)THを次式に従って計算する。
即ち、傾斜度算出手段50は、(2)式を用いて、4個
の特徴点を結んで得られる四辺形の右辺の上端と下端の
X座標値の差と、左辺の上端と下端のX座標値の差の平
均を、文字高さの平均で割った値を傾斜度THとして出
力し、サブパタン抽出部9へ与える。
(IV)  分割点検出処理 分割点検出部8では、外接枠内領域をNXXNY個の部
分領域に分割するためのX軸上及びY軸上の分割点座標
を、各外接枠毎に決定する。但し、NXはX軸方向にお
ける分割数、及びNYはY軸方向における分割数である
分割数NX及びNYは、文字の複雑さに応じて任意好適
な値に設定するのが好ましい。例えば、漢字・カタカナ
等の画数の少ない文字を認識対象とする場合は、(2X
2)〜(3X3)程度の少ない数の部分領域に、外接枠
内領域を分割する。
漢字が認識対象となる場合には、(4X4)〜(8X8
)程度の部分領域に、外接枠内領域を分割することが多
い。しかし、本実施例では、認識対象の複雑さにかかわ
らず、外接枠内領域を等分割、例えば(4X4)個に分
割するようにした。
X軸上の分割座標DX(n>、及びY軸上の分割座標D
Y (n)は、次式(4)、(5)で決定される。
DX(n> ・・・・・・(3〉 DY (m) 但し、n=1.2. ・−・−・、NX−lm=1.2
.−−−−−・、NY−1 本実施例では、例えば NX=NY=4 (V)  サブパタン抽出処理 第7図(a)、(b>は、サブパタンの抽出方法を示す
図であり、同図(a)は文字バタンの例、及び同図(b
)は垂直サブパタンの例である。第7図(a)中の矢印
Pは、垂直サブパタン抽出時の走査経路を示す。
サブパタン抽出部9では、文字傾斜検出部7で得られた
傾斜度に基づき、垂直サブパタン抽出部9a、水平サブ
パタン抽出部9b、右斜めサブパタン抽出部9C及び左
斜めサブパタン抽出部9dにより、それぞれバタンレジ
スタ4上に設定したX軸方向にほぼ垂直な方向(垂直方
向)及び平行な方向(水平方向)と、X軸から反時計方
向45°の方向(右斜め45°方向)及び時計方向45
°の方向(左斜め45°方向)とを、主走査方向として
バタンレジスタ4を走査し、各主走査方向に対応する垂
直、水平、右斜め及び左斜めサブパタンを抽出する。
本実施例においては、例えば第7図(a)の斜体字を認
識対象としているので、前記傾斜検出部7では、文字の
4個の特徴点の座標を結んで得られる四辺形の右辺と左
辺の傾斜から、文字の傾斜度を抽出している。この傾斜
は、垂直サブパタンの傾斜によるものであるので、文字
バタンを該傾斜に基づき走査し、垂直サブパタンを抽出
する。
この垂直ザブバタン抽出部9aの動作を説明する。
垂直サブパタン抽出部9aでは、文字傾斜検出部7で得
られた傾斜度に基づき、第7図(a)の文字バタンを走
査し、走査線上で連続する黒ビット(黒ラン)を検出す
る。そして、検出した黒ランのなかから次式(5)を満
足する長ざjの黒ランを抽出する。
g≧N−WL        ・・・・・・(5)但し
、g;主走査方向における黒ラ ンの長さ N;各サブパタンに対する任 意定数(例えば、2) 走査経路Pは次のとおりである。垂直走査は上辺から走
査を開始する。走査開始アドレス(Xa。
YT)からの走査経路Pの座標(xH,yH)は、次式
(6)で表わすことができる。
x1=xa y1=YT x ・=Xa+THx (y 1−YT)VH=Vi−
1+1 ・・・・・・(6) 但し、丁Hは実数、丁HX(V・−YT)の結果は小数
点以下切捨て、座標は全て整数である。
垂直サブパタン抽出部9aは、(5)式を満足する黒ラ
ンを、サブパタンを構成する黒ランとみなして図示しな
い垂直サブパタンメモリに格納する。(5)式を満足し
ない黒ランは白ビットとみなす。
同様に、水平、右斜め及び左斜めサブパタン抽出部9b
、9C,9dは、水平、右斜め及び左斜め方向を主走査
方向として原パタンを走査し、それぞれの主走査方向の
走査線上の黒ランのなかから、(5)式を満足する黒ラ
ンを抽出し、抽出した黒ランを、サブパタンを構成する
黒ランとみなして図示しない水平、右斜め及び左斜めサ
ブパタンメモリに格納する。
本実施例では、水平、右斜め、及び左斜めサブパタンの
抽出時には、文字の傾きは考慮しない。
(Vl)  特徴マトリクス抽出処理 文字枠検出部5が文字バタンの外接枠を規定する座標X
、I)、Xr、Yt、Ybを検出し、さらに分割点検出
部8が文字パタンについて対象分割点座標を検出すると
、特徴マトリクス抽出部10ては、垂直、水平、右斜め
、及び左斜めサブパタンの各バタンから特重量を抽出し
、特徴マトリクスを作成する。
即ち、特徴マトリクス抽出部10は、一つの外接枠内領
域を、対象分割点座標と座標XfJ、Xr。
Yt、YbとによってNXXNY個の部分領域に分割し
、各部分領域内のサブパタンの文字線量を表す特徴量を
抽出する。そして、一つの外接枠領域内の各サブパタン
から抽出したNXXNYX4個の特′重量から成る特徴
マトリクスを、当該外接枠内領域の特徴間マトリクスと
して抽出する。
まず、水平サブパタン(H3P)からの特徴量抽出につ
き説明する。
特徴マトリクス抽出部10は、対象分割点座標と座標X
JII 、Xr、Yt、Ybとに基づき、外接枠内領域
をNXXNY個の部分領域に分割しく対象分割点座標及
び座標X、!!、Xr、Y↑、Ybは分割点座標である
)、各部分領域毎に部分領域内の水平サブパタンH3P
の黒ビット数BH(i。
j)を計数する。
分割点座標から分割領域の決定は、次のように行う。ま
ず、X軸上の分割点座標DX(n>を、文字パタンの外
接枠の上端と下端の中点を通りX軸に平行な直線上に設
定する。この座標を起点として、次式(7)〜(9)で
求められる座標系列の左側を、第7図(b)に示すよう
な分割境界Sとする。
X□=DX(n> y□=(YT+YB)/2 ・・・・・・(7〉 (X□、 y□)から、下方への座標系列は、X・=D
X (n) INT (THx (y i−y□) +0.5)yi
=VH、+1 ・・・・・・(8) 但し、;=1.2.3゜ ((YT−YB)/2−YT) (x□、y□)から、上方への座標系列は、x j=D
X (n) 十INT (THX (V□  V j) +0.5)
yj=yj+1 1 ・・・・・・(9) 但し、j=−1,−2,−3,・・・・・・。
(YB−(YT−YB)/2) で求める。但し、INT()は、その()内の演算を実
数値を用いて行い、情果の小数点以下を切捨てて、整数
値とすることを表す。
水平方向の分割境界Sは、DY (m>より、水平方向
に設定する。
以上のように分割された分割領域毎に、水平サブパタン
H3Pの黒ビット数BH(i、j)を計数する。このB
H(i、j)は、一つの外接枠内領域に関する第i行第
j列の部分領域の黒ビット数である。次に、(10)式
に従って第i行第J列の部分領域に関する特徴間FH(
i、j>を計算する。
ざらに、H3Pの場合と同様にして、第i行第j列の部
分領域(7)VSP、H3P、LSP(7)黒1:jッ
ト数BV (i、 j)、 BR(i、 j>、 BL
(i、j>を計数し、次式(11)〜(13)に従って
第i行第j列の部分領域に関するVSP。
H3P、LSPの持重量FV(i、j>、FR(i、j
>、FL(i、j)を算出する。
但し、i=1.2.・・・・・・、NXj=1.2.−
・・・・・、NY WL;線幅 WPh;文字幅(=Xr−X、Q +1 )但し、 WPV:文字高さ(=Yb−Yt+1>WPr=WPl
 = (WPv+WPh>/2以上のようにして、外接
枠内領域の各部分領域毎にVSP、H3P、H3P、L
SPの特徴間を抽出し、これらNXXNYX4個の持重
量から成る特徴マトリクスF (k)(k=1.2.・
・・・・・。
NXxNYx4)を得る。特徴マトリクス抽出部10は
、特徴マトリクスF (k)を各外接枠領域毎に抽出し
、その抽出結果を識別部11へ送る。
(VI )  識別処理 識別部11は、抽出された特徴マトリクスF(k)と、
内部に設けられた辞書メモリ内の特徴マトリクスG (
k>とを、照合することにより、該特徴マトリクスF 
(k)を得た外接枠内領域の文字図形の認識を行う。こ
の認識では、次式(14)に従って特徴マトリクスF 
(k)とG (k)間の距離りを求め、距離りが最小と
なる特徴マトリクスG (k)の標準文字の文字名(例
えば、JIS規格に定められた文字コード)OUTを認
識結果として出力する。
以上のように、本実施例では、次のような利点を有して
いる。
(a>  本実施例では、バタンレジスタ4内の文字バ
タンを含むX−Y座標系で表現される平面において、文
字パタンの黒画素に関するαX十βyの最大値及び最小
値を与える座標を文字傾斜検出部7で検出し、さらにそ
の座標に基づき文字パタンの傾斜角を検出する。そして
、サブパタン抽出部9で、該傾斜角に従ってサブパタン
を抽出している。そのため、傾斜を有する文字パタンに
ついても、抽出される特徴が安定となる。従って、文字
傾斜の変形に対応した辞書を識別部11内に用意する必
要がなく、辞書容量の減少により、照合時間の短縮とそ
れによる処理速度の高速化が図れると共に、ハード規模
が小さく、認識精度の良い文字認識が可能となる。
(b)  上記実施例では、第2図のような印刷文字に
おける斜体字の特徴抽出方法と認識方法について説明し
たが、認識対象文字は、これに限定されない。例えば、
手書き文字の法学で、右上がりに記入された文字を認識
対象とする場合は、文字の水平辺が傾斜しているものと
して、上記実施例とほぼ同様の処理で認識することがで
きる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されず、種々の変形
が可能ある。その変形例としては、例えば次のようなも
のがある。
(i) 上記実施例の特徴抽出方法は、例えば前記文献
2に記載されたような、文字バタンの走査により特徴の
抽出を行う方法にも適用できる。例えば、前記文献2の
方法では、走査線とストロークの交差数を特徴量として
いるので、ストロークに傾斜があると、走査方向を固定
したとき、抽出される交差数が大きく変動する。そこで
、上記実施例の方法によって傾斜を抽出し、該傾斜に従
つて特徴抽出を行えば、上記実施例とほぼ同様の効果が
得られる。
(ii)  第4図の文字傾斜検出部7を、他の機能ブ
ロックで構成したり、あるいはそれらの機能ブロックを
、コンピュータを用いたプログラム制御等で実行する構
成にしてもよい。さらに、その文字傾斜検出処理を、第
6図(a)、(b)以外の処理フローチャートで実行し
てもよい。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、第1の発明によれば、文字
パタンを含むX−Y座標系で表現される平面において、
αX十βyの最大値及び最小値を与える座標を求め、そ
の座標に基づき文字パタンの傾斜角を検出する。次に、
その傾斜角に従って文字パタンを走査し、走査線とスト
ロークの交差数等といった特徴を抽出するようにしてい
る。そのため、傾斜を有する文字パタンについても、抽
出される特徴が安定となる。従って、文字傾斜の変形に
対応した辞書を用意する必要がなく、処理速度が速く、
小さなハード規模で、認識精度の良い文字認識が可能と
なる。
第2の発明では、検出された傾斜角に従ってサブパタン
を抽出し、その後、そのサブパタンの特徴を抽出してい
るので、前記第1の発明とほぼ同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す特徴抽出方法を用いた文
字認識装置の機能ブロック図、第2図は斜体字の例を示
す図、第3図(a)〜(d)は従来の特徴抽出方法を説
明するための図、第4図は第1図における文字傾斜検出
部の機能ブロック図、第5図(a)、(b)は傾斜度検
出方法を説明するための特徴点の検出例を示す図、第6
図(a)。 (b)は文字傾斜検出のフローチャート、第7図(a)
、(b>はサブパタン抽出方法を説明するための図であ
る。 1・・・・・・光電変換部、2・・・・・・行バッファ
、3・・・・・・文字切出部、4・・・・・・バタンレ
ジスタ、5・・・・・・文字枠検出部、6・・・・・・
線幅測定部、7・・・・・・文字傾斜検出部、8・・・
・・・分割点検出部、9・・・・・・サブパタン抽出部
、10・・・・・・特徴マトリクス抽出部、11・・・
・・・識別部、21・・・・・・X座標発生手段、22
・・・・・・Y座標発生手段、30,40・・・・・・
座標検出手段、50・・・・・・傾斜度算出手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、媒体上の文字を光電変換して得られる文字パタンを
    、複数の方向に走査して該文字パタンの特徴を抽出する
    特徴抽出方法において、 前記文字パタンを含むX−Y座標系で定義される平面に
    おいて、少なくとも2組の特定の実数α、βについて前
    記文字パタンの黒画素に関するαx+βy(但し、x、
    yはX−Y座標系の座標値)の最大値及び最小値を与え
    る座標を求め、該座標に基づき前記文字パタンの傾斜角
    を検出し、該傾斜角に基づき前記文字パタンを走査して
    特徴を抽出することを特徴とする特徴抽出方法。 2、媒体上の文字を光電変換して得られる文字パタンを
    複数の方向に走査し、該走査方向の黒画素の連続数と線
    幅との関係により、該走査方向の線素成分を表わすサブ
    パタンを抽出した後、 前記サブパタンを複数の領域に分割してその分割された
    領域毎に、前記サブパタンの線素量を表わす特徴を抽出
    する特徴抽出方法において、前記文字パタンを含むX−
    Y座標系で定義される平面において、少なくとも2組の
    特定の実数α、βについて前記文字パタンの黒画素に関
    するαx+βy(但し、x、yはX−Y座標系の座標値
    )の最大値及び最小値を与える座標を求め、該座標に基
    づき前記文字パタンの傾斜角を検出し、該傾斜角に従っ
    て前記サブパタンを抽出することを特徴とする特徴抽出
    方法。
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