JPH0460448A - 透明円筒状物の欠陥検査装置 - Google Patents

透明円筒状物の欠陥検査装置

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JPH0460448A
JPH0460448A JP17044190A JP17044190A JPH0460448A JP H0460448 A JPH0460448 A JP H0460448A JP 17044190 A JP17044190 A JP 17044190A JP 17044190 A JP17044190 A JP 17044190A JP H0460448 A JPH0460448 A JP H0460448A
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JP
Japan
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defect
light
area
ccd camera
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP17044190A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriaki Saito
斎藤 憲敬
Masaki Fuse
正樹 布施
Yukio Shibuya
澁谷 幸生
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Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Rayon Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0460448A publication Critical patent/JPH0460448A/ja
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、透明円筒状物、あるいは、円柱状物に含まれ
るカケなどの欠陥を検出することを目的とした透明円筒
状物の欠陥検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、透明円筒状物に含まれる凹凸等の欠陥を検出する
装置としては、CCDカメラを使用した検査装置が発表
されている。第7図は、その検査装置例を示す側面構成
図である。同図の検査装置700は、円筒状物706に
対して高周波点灯型蛍光灯等のライン状照明装置701
により光を照射し、その透過光をCCDカメラ702で
受光し、その受光信号を画像処理装置705て画像処理
することによって欠陥の検出を行うものであった。
この検査装置700は、ライン状照明装置701よりほ
ぼ垂直に円筒状物706を透過した光(以下、直接光と
称する。)をCCDカメラ702で受光するものである
。したがって、検査装置700の検査範囲は直接光によ
って、第8図(b)に示すようになる。第8図(a)は
、検査物を透過した直接光の状態を説明する図であり、
検査物の位置と入射光■、〜I、の位置による透過光T
〜T、の変化を示している。
■円筒状物外部:入射光1.は、検査物がない位置であ
り、透過光T、は 1.と同一である。
■円筒状物臨界部二人射光■、は、θが900付近であ
り、はとんど表面反射しCCDカメラでは受光されず、
暗出力となる。
■円筒状物内部二人射光Ic−I、は、θが±50’以
内であり、表面反射率は10%以下程度であるためCC
Dカメラ出力値としては比較的安定している。もし、欠
陥があれば暗出力となり「暗欠陥」として検出される。
第8図(b)は、同図(8)の各位置での透過光量の変
化を示したものである。なお同図中の各■〜■は、前述
した各部■〜■に対応する。ここで、■の円筒状物内部
が検査可能な範囲である。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の検査装置は、直接光をCCDカメラで受光して欠
陥検査を行うものであるので、第8図(b)に示した■
円筒状物内部を検査領域とするために、ライン状照明装
置とCCDカメラとを正確に軸合わせしなければならな
かった。またこの検査装置では、前述の軸合わせのみな
らず、第8図(b)の■円筒状物臨界部を検査領域から
外す必要があり、その設定が困難であった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、CCDカメラを使用した検査装置であるが、
次の手段により従来の問題点を解決した。
すなわち第1図にその構成概要を示す斜視図の通り、本
発明の透明円筒状物の欠陥検査装置100は、透明円筒
状物に照明するライン状照明装置101と、前記ライン
状照明装置で照明した透明円筒状物の透過光を受光する
CCDカメラ102と、前記CCDカメラ102で受光
した画像データ全体から、前記ライン状照明装置101
の直接光領域103を除いて設定した間接光領域104
より明欠陥を検出する画像処理装置105とからなるこ
とを特徴とする。
〔作用〕
本発明の透明円筒状物の欠陥検査装置(以下、欠陥検査
装置と略する。)の作用について説明する。
本発明の欠陥検査装置において、間接光とは次のような
光を指すものとする。第9図は間接光を説明するための
図である。直接光903は前述した通りであるが、間接
光904は、直接光903周辺の拡散光である。したが
って、ライン状照明装置901とCCDカメラとを対向
配置した場合、間接光904はCCDカメラに受光され
ない。
第1図の欠陥検査装置100において、ライン状照明装
置101は、前述した間接光を含む光を円筒状物106
に照射する。これによってCCDカメラ102では、円
筒状物106を透過した光を受光する。CCDカメラ1
02は、はとんどの場合直接光を受光するのであるが、
間接光領域に欠陥があるとその散乱光が受光される。次
に画像処理装置105は、そのCCDカメラで受光した
全画像データの内で直接光による画像データを除き、間
接光領域の画像データについて欠陥検出を行う。前述し
た通り、間接光領域に欠陥があると、CCDカメラで受
光されるので、「明欠陥」として検出できる。
ここで間接光領域104における透過光の状態を説明す
る。間接光領域104の場合、従来の直接領域と同様に
、検査範囲は■の円筒状物内部となる。しかし間接光領
域が、直接光領域を用いた場合と大きく異なるのは、■
円筒状物外部、■円筒状物臨界部、■円筒状物内部の各
部で受光される正常部出力が暗出力となり欠陥出力が明
出力となることにある。(第2図(a)参照)これより
CCDカメラとライン状照明装置との位置合わせが簡便
となる。
検出される欠陥は、直接光領域に境界に近い位置にある
程、大きな明欠陥として検出でき、離れる程小さな明欠
陥として検出される。また、検査可能範囲は±50°程
度であり、検査物の表裏が観測できるために、2台のC
CDカメラを設置すれば検査物の全周が検査できる。
〔実施例〕
以下、本発明の透明円筒状物の欠陥検査装置について説
明する。第3図は、本発明の欠陥検査装置は、ブラウン
管の検査に適用した例である。
同図において、211−1.2 m 、2 +++1が
検査物すなわちブラウン管である。ブラウン管は、映像
面のあるテーパー状透明部材と電子銃のある円筒部とを
接合して形成される。検査すべき欠陥は電子銃近傍の円
筒部に生じる凹凸等である。なお同図の装置では、移動
中のブラウン管を検査する例を示している。ここで、ブ
ラウン管は図示した方向に数秒7個の速度で等速移動し
、2.+、が検査前、2.が検査中、23−1が検査済
のものである。
ライン状照明装置15は、3の光源、4の光フアイバラ
イトガイド、51,5.の導光体からなる。一般にライ
ン状照明装置15の導光体5における光出射部は、その
検査物の直径に合わせるのがよく、例えば検査物が数十
mmφであれば、数mm×数十■と設定するのが好まし
い。ライン状照明装置15から検査物へ出射する光は、
平行に近い光が好ましい。
なおライン状照明装置15は、ライトガイドに限られる
ものではなく、図示を略するが、例えば光フアイバライ
トガイドの先端にアクリル樹脂と反射ミラーを取り付け
たものや拡散板からなる導光体を取りつけたもの、ある
いは高周波点灯蛍光灯の上方にスリットを取りつけたも
のでもよい。
1、.1.は、電子シャッタ機能付きCCDカメラであ
る。この電子シャッタ機能付きCCDカメラ1+、Is
(以下、CCDカメラと称する。)は、検査物2.の全
周を検査できるように2台配置しである。CCDCDカ
メラミIsは、検査物2、の直接光領域を含みさらに広
い範囲について画像入力する。
6は画像処理装置であり、ブラウン管2が検査位置にき
たときにスタート信号9を入力して、CCDカメラIt
、Isで同時に画像入力を行った後、画像処理を行う。
画像処理装置6は、CCDカメラIt、Isで画像入力
したの画像データで、直接光領域近傍の範囲を間接光領
域として設定する。間接光領域を検査した結果は、判定
信号8として、OKまたはNG信号を出力する。なお、
間接光領域の画像処理方法は、次のような一般的な方法
を採用している。
■画像の2値化(明欠陥=1、その他−〇)■間接光領
域内の「1」の面積を測定する。
■前記■でrlJが存在する場合は、NG信号を出力す
る。
7はCRTであり、ブラウン管2nの画像、および、検
査結果を表示している。
次にこの検査物に設定した間接光領域について説明する
。第4図は、本発明に照明、間接光領域の設定位置の関
係を説明するための図である。
同図において、10はブラウン管であり、11がブラウ
ン管の接合部である。接合部11の上方は映像面のある
側なのでテーバ状となっており、下方は電子銃のある側
のために円筒状となっている。12は欠陥であり、接合
部11の下方の境界部分発生している。13は間接光領
域であり、サイズはRIXRiの長方形である。また、
位置は照明の位置14と平行で、且つ、9□分離れた位
置に設定している。
従って、種々の検査物に対する間接光領域13は、9.
〜2.で決定し、通常91〜!、は次のように設定する
。なお、実際のサイズは、検査物lOのサイズ、CCD
カメラのレンズ条件等に合わせて設定すればよい。
・91は、検査物の上下位置の安定性を考慮してなるべ
く小さく設定する。
・9!は、欠陥部以外(検査物の正常部、および、背景
)が黒であるため、明欠陥として検出できる位置よりも
広いサイズに設定する。
・9.は、欠陥が明欠陥として検出できるサイズの範囲
に設定する。
次に本発明の装置によるブラウン管の検査結果について
説明する。なお装置構成は、第3図と同じ装置でありそ
の撮像条件は表1の通りである。
(以下、次頁) 表1 撮像条件 第5図は、本発明の装置で表1の撮像条件によって、円
筒状物をCCDカメラで読み取った場合のCRT画面で
ある。間接光領域13の中で、欠陥12のみが、明欠陥
として検出されている。また、上方の明欠陥は接合部1
1でのガラスの凹凸などであり、間接光領域13から除
外されている。
また、検査結果としては、次の項目が表示されている。
・欠陥の測定面積(S)が76画素であり、間接光領域
13の2%を占めていること。
・検査結果はNGと表示されている。
・図5のCCDカメラは1であること。
・検査時間は130+nsであること。
第6図は、第5図の検査物lOを回転させ、欠陥12を
間接光領域13の周辺に移動した場合であり、第5図よ
りも欠陥の測定面積が減少するが、検出は可能である。
なお、欠陥は裏側にあっても明欠陥として検出できる。
本発明の欠陥検査装置は、その円筒状物がブラウン管限
定されるものではなく、透明円筒状物であれば例えばガ
ラス瓶等でも欠陥検査が可能である。
〔発明の効果〕
本発明の透明円筒状物の欠陥検査装置は、前記CCDカ
メラの入力画像データから直接光による画像データ領域
を除いて間接光領域を設定し、その間接光領域内におけ
る明暗欠陥を検出するものであるために、照明とカメラ
との位置設定が簡便となる上にこれまで検出が難しかっ
た透明円筒上物のカケなどの欠陥を精度よく検査するこ
とができ、透明円筒状物の欠陥検査装置としての効果は
大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の装置構成を説明するための図、第2
図は、円筒状物の間接光領域での受光量を説明するため
の図、第3図は、本発明の詳細な説明するための図、第
4図は照明、間接光領域の設定位置の関係を説明するた
めの図、第5.6図は、本発明の検査結果を説明するた
めの図、第7図は、従来の検査装置を構成を示す図、第
8図は直接光領域による検査を説明するための図、第9
図はライン状照明装置の間接光を説明するための図であ
る。 1、、is、101.702 ・・・CCDカメラ、2
、−r 、2−.2−++ 、10・・・ブラウン管、
106.706 ・・・円筒状物、 3・・・光源、4・・・光フアイバライトガイド、5+
、5*・・・導光体、6・・・画像処理装置、7・・・
CRT、   8・・・判定信号、9・・・スタート信
号、  11・・・検査物の接合部、12・・・欠陥、
   13・・・間接光領域、14・・・照明の位置、 15.101.701,901・・・ライン状照明装置
、 103・・・直接光領域、104・・・間接光領域茅 図 ライン状jl朗夢115 第 ? 口 第 凹 第 図 第 す 凹

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 透明円筒状物に照明するライン状照明装置と、前記ライ
    ン状照明装置で照明した透明円筒状物の透過光を受光す
    るCCDカメラと、 前記CCDカメラで受光した画像データ全体から、前記
    ライン状照明装置の直接光領域を除いて設定した間接光
    領域から明欠陥を検出する画像処理装置と、 からなることを特徴とする透明円筒状物の欠陥検査装置
JP17044190A 1990-06-28 1990-06-28 透明円筒状物の欠陥検査装置 Pending JPH0460448A (ja)

Priority Applications (1)

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JP17044190A JPH0460448A (ja) 1990-06-28 1990-06-28 透明円筒状物の欠陥検査装置

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JP17044190A JPH0460448A (ja) 1990-06-28 1990-06-28 透明円筒状物の欠陥検査装置

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Publication Number Publication Date
JPH0460448A true JPH0460448A (ja) 1992-02-26

Family

ID=15904981

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17044190A Pending JPH0460448A (ja) 1990-06-28 1990-06-28 透明円筒状物の欠陥検査装置

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JP (1) JPH0460448A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009186281A (ja) * 2008-02-05 2009-08-20 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス物品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009186281A (ja) * 2008-02-05 2009-08-20 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス物品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置

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