JPH0461028A - ディジタル信号記録再生装置 - Google Patents
ディジタル信号記録再生装置Info
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- JPH0461028A JPH0461028A JP2170052A JP17005290A JPH0461028A JP H0461028 A JPH0461028 A JP H0461028A JP 2170052 A JP2170052 A JP 2170052A JP 17005290 A JP17005290 A JP 17005290A JP H0461028 A JPH0461028 A JP H0461028A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ディジタル信号を光ディスク等の記録媒体に
情報を記録再生する装置に係り、特に記録媒体と記録装
置との組合せによる記録特性に基づいて記録信号を制御
することにより、記録情報の高密度化、転送速度の高速
化、および信頼性の向上を実現するのに好適な記録再生
装置に関する。
情報を記録再生する装置に係り、特に記録媒体と記録装
置との組合せによる記録特性に基づいて記録信号を制御
することにより、記録情報の高密度化、転送速度の高速
化、および信頼性の向上を実現するのに好適な記録再生
装置に関する。
ディジタル信号を記録媒体上に記録する手段の１つとし
て光デイスク装置がある。光ディスクはレーザ光をレン
ズにより記録面上に集光し、その強度を記録すべき情報
に対応して変化させ、該レーザ光が当たっている領域の
記録膜の反射率、あるいは光磁気記録の場合、磁化方向
を外部磁化等により変化させることで情報の記録を行う
ものである。その記録された情報を再生する場合には、
記録の時よりも弱い強度のレーザ光を照射し、記録膜か
らの反射光からその光量変化、あるいは磁化方向の違い
による偏光面回転を検出することにより行う。記録密度
は主に記録面上に集光されるレーザ光のスポットの大き
さにより決まり、その大きさが現在約１μｍ程度と小さ
いため、磁気ディスクの約１０倍程度の高密度記録が実
現できる。
て光デイスク装置がある。光ディスクはレーザ光をレン
ズにより記録面上に集光し、その強度を記録すべき情報
に対応して変化させ、該レーザ光が当たっている領域の
記録膜の反射率、あるいは光磁気記録の場合、磁化方向
を外部磁化等により変化させることで情報の記録を行う
ものである。その記録された情報を再生する場合には、
記録の時よりも弱い強度のレーザ光を照射し、記録膜か
らの反射光からその光量変化、あるいは磁化方向の違い
による偏光面回転を検出することにより行う。記録密度
は主に記録面上に集光されるレーザ光のスポットの大き
さにより決まり、その大きさが現在約１μｍ程度と小さ
いため、磁気ディスクの約１０倍程度の高密度記録が実
現できる。
また、照射光パワーを変調して記録した記録マークの前
側、および後側の位置で情報を表すマーク長記録方式は
、１個の記録マークに２個以上のデータを記録するため
、記録の高密度化を実現するのに有効な方式である。
側、および後側の位置で情報を表すマーク長記録方式は
、１個の記録マークに２個以上のデータを記録するため
、記録の高密度化を実現するのに有効な方式である。
このように光ディスクに情報を高密度に情報の記録再生
を行うマーク長記録方式おいて、情報の高信頼性を実現
するためにデータの記録時、および再生時にいろいろな
信号処理が行われている。
を行うマーク長記録方式おいて、情報の高信頼性を実現
するためにデータの記録時、および再生時にいろいろな
信号処理が行われている。
例えば、一般に記録時の照射光パワーが小さいと形成さ
れる記録マーク形状が不安定になり易い。
れる記録マーク形状が不安定になり易い。
また記録線速度が異なれば、単位面積当りに加えられる
熱量、および熱分布が変わるため、記録マーク形状が異
なる。したがって、実際には安定な記録マーク形状を形
成して記録再生を行うため、ｒＰｂＴｂＳｅ膜へのピッ
トエツジ記録の適用」（電子通信学会創立７０周年記念
総合全国大会講演論文集、ｐ４−１７６）では、記録照
射光パルスは大きめに設定し、その線速度に応じてマー
ク長の過剰分がなくなるように記録時にレーザパルス長
を短くしたり、再生時に二値化後の信号においてパルス
の長さを削るなどの調整を行っている。
熱量、および熱分布が変わるため、記録マーク形状が異
なる。したがって、実際には安定な記録マーク形状を形
成して記録再生を行うため、ｒＰｂＴｂＳｅ膜へのピッ
トエツジ記録の適用」（電子通信学会創立７０周年記念
総合全国大会講演論文集、ｐ４−１７６）では、記録照
射光パルスは大きめに設定し、その線速度に応じてマー
ク長の過剰分がなくなるように記録時にレーザパルス長
を短くしたり、再生時に二値化後の信号においてパルス
の長さを削るなどの調整を行っている。
また、一般に記録されたマークの形状は主にその記録媒
体の記録感度、熱伝導度、および記録に用いる集光され
たレーザ光の強度分布、波面収差等に依存し、記録装置
と記録媒体の組合せが変わるとその特性が変化する。さ
らに装置側の記録時照射光パワーのレベルは時間と共に
変化する。この現象はレーザーパワー自動制御機構（Ａ
ＰＣ）が設けられている場合でもある範囲の変動分は避
けられず、この要因によっても記録再生特性の変動が起
こる。この変動は記録時の記録マーク長の変動、そして
再生時の再生信号のパルス間隔変動につながる。
体の記録感度、熱伝導度、および記録に用いる集光され
たレーザ光の強度分布、波面収差等に依存し、記録装置
と記録媒体の組合せが変わるとその特性が変化する。さ
らに装置側の記録時照射光パワーのレベルは時間と共に
変化する。この現象はレーザーパワー自動制御機構（Ａ
ＰＣ）が設けられている場合でもある範囲の変動分は避
けられず、この要因によっても記録再生特性の変動が起
こる。この変動は記録時の記録マーク長の変動、そして
再生時の再生信号のパルス間隔変動につながる。
そのため、記録補正量、記録光パワーが装置出荷時にあ
らかじめ一定値に設定されている場合、これらの設定仕
様は、数多くの記録媒体と記録装置の組合せで記録再生
特性を測定した上で決定する。そのとき、組合せの違い
による記録再生特性のばらつき範囲を考慮した上で、あ
らゆる場合に検出時での信頼性を保証するため、記録密
度に関して大きな余裕を持たせ、記録密度を犠牲にして
いる。
らかじめ一定値に設定されている場合、これらの設定仕
様は、数多くの記録媒体と記録装置の組合せで記録再生
特性を測定した上で決定する。そのとき、組合せの違い
による記録再生特性のばらつき範囲を考慮した上で、あ
らゆる場合に検出時での信頼性を保証するため、記録密
度に関して大きな余裕を持たせ、記録密度を犠牲にして
いる。
そこで、この記録媒体と記録装置の組合せによる特性の
ばらつき分を吸収し、記録高密度化を図るため、あらか
じめ試験パターンを記録してその再生信号により記録条
件調整用の情報を得る方法が提案されている。例えば特
開昭６１−２３９４４１号記載の装置では記録時の一定
値である照射光パワーレベルを、特開昭５１−７４１７
８号記載の装置では記録パルス幅に関する一定の調整量
を、また特開昭６１−３０４４２７号記載の装置ではそ
の両者、および再生時の自動等化係数を同時に調整して
いる。
ばらつき分を吸収し、記録高密度化を図るため、あらか
じめ試験パターンを記録してその再生信号により記録条
件調整用の情報を得る方法が提案されている。例えば特
開昭６１−２３９４４１号記載の装置では記録時の一定
値である照射光パワーレベルを、特開昭５１−７４１７
８号記載の装置では記録パルス幅に関する一定の調整量
を、また特開昭６１−３０４４２７号記載の装置ではそ
の両者、および再生時の自動等化係数を同時に調整して
いる。
また、光ディスクは基本的に熱拡散を用いた記録方式の
ため、記録マークに対応する前後複数の記録パルスによ
る熱分布が拡散することで発生する記録マーク形状の変
化する現象（以下、熱干渉と呼ぶ）が存在する。この現
象も再生時の再生信号のパルス間隔変動につながる。し
たがって記録時に最適な補正を行うためにはこの熱干渉
の影響も考慮する必要がある。この対策として特開昭６
３−４８６１７号記載の記録方式では各記録パルス幅を
その直前の記録パルスまでの間隔に応じて変化させてい
る。
ため、記録マークに対応する前後複数の記録パルスによ
る熱分布が拡散することで発生する記録マーク形状の変
化する現象（以下、熱干渉と呼ぶ）が存在する。この現
象も再生時の再生信号のパルス間隔変動につながる。し
たがって記録時に最適な補正を行うためにはこの熱干渉
の影響も考慮する必要がある。この対策として特開昭６
３−４８６１７号記載の記録方式では各記録パルス幅を
その直前の記録パルスまでの間隔に応じて変化させてい
る。
上記従来技術のうち、直前の記録パルスまでの間隔に応
じた記録パルス幅の調整方法では、以下のような問題点
がある。
じた記録パルス幅の調整方法では、以下のような問題点
がある。
すなわち、記録マーク形状、および記録マーク同士の間
隔が、記録膜面上に集光したレーザスポットの大きさと
同じ大きさ程度にまで記録の高密度化を実現しようとし
た場合、光ディスクの熱干渉が影響を及ぼす範囲は使用
する最短の記録マーク長よりも大きい６つまり、記録照
射光パルスの複数個の記録パルス間隔の長さが一つの記
録マークのエツジ位置の変動量に影響を与える。特に。
隔が、記録膜面上に集光したレーザスポットの大きさと
同じ大きさ程度にまで記録の高密度化を実現しようとし
た場合、光ディスクの熱干渉が影響を及ぼす範囲は使用
する最短の記録マーク長よりも大きい６つまり、記録照
射光パルスの複数個の記録パルス間隔の長さが一つの記
録マークのエツジ位置の変動量に影響を与える。特に。
レーザ光の強度に対する記録感度が高く、低いレーザパ
ワーでも記録できるような記録媒体の場合、一般に熱伝
導度が大きく、この熱干渉による影響を及ぼす範囲が大
きい。
ワーでも記録できるような記録媒体の場合、一般に熱伝
導度が大きく、この熱干渉による影響を及ぼす範囲が大
きい。
さらに、この記録パルス開帳の調整方法はその調整量に
関する情報はあらかじめ設定されている値を使用するた
め、記録特性の変動に関する調整量の変更ができず、記
録特性が設定時とずれている分だけ、調整に誤差として
現れ、正確な調整にはならなくなる。
関する情報はあらかじめ設定されている値を使用するた
め、記録特性の変動に関する調整量の変更ができず、記
録特性が設定時とずれている分だけ、調整に誤差として
現れ、正確な調整にはならなくなる。
一方、前述の記録条件調整用の情報を得る方法では、そ
の記録照射光パワー、および記録パルス幅の調整量は単
一の値であり、熱干渉による記録マーク長の変動を低減
することはできない。
の記録照射光パワー、および記録パルス幅の調整量は単
一の値であり、熱干渉による記録マーク長の変動を低減
することはできない。
従来、符号量干渉成分に対する対策として、通信や磁気
記録の分野では、再生側でトランスバーサルフィルタ等
の線形等化器が一般に用いられている。これは、信号再
生系の周波数帯域が狭いために、再生信号パルスの裾が
広がり、近傍の波形に重畳して発生する線形な符号量干
渉を低減するものである。
記録の分野では、再生側でトランスバーサルフィルタ等
の線形等化器が一般に用いられている。これは、信号再
生系の周波数帯域が狭いために、再生信号パルスの裾が
広がり、近傍の波形に重畳して発生する線形な符号量干
渉を低減するものである。
ところが、前述の熱拡散による影響は、再生時には主に
波形の時間方向のずれ、という形で現れる。これは単純
に記録情報に応じた基本波形の線形な重ね合わせとして
は表現できない、非線形の符号量干渉成分である。した
がって、この記録時に生じる熱干渉によるエツジ位置変
動成分は線形等化器では対応できず、再生側の方でこの
干渉成分に実時間で対応することは実際には非常に困難
である。
波形の時間方向のずれ、という形で現れる。これは単純
に記録情報に応じた基本波形の線形な重ね合わせとして
は表現できない、非線形の符号量干渉成分である。した
がって、この記録時に生じる熱干渉によるエツジ位置変
動成分は線形等化器では対応できず、再生側の方でこの
干渉成分に実時間で対応することは実際には非常に困難
である。
以上のような理由で、従来の方式では記録特性変動に関
して対応ができていても、熱干渉の影響による記録マー
ク長の変動が全く低減できていないか、あるいは熱干渉
の影響による記録マーク長の変動に調整誤差が存在し、
かつ記録特性変動には全く対応できない。特に、熱伝導
が大きい記録媒体を用いる光磁気記録でのマーク長記録
においては、これらの変動成分は大きく、その分の余裕
を設けるため、記録密度を大きく犠牲にせざるを得ない
。
して対応ができていても、熱干渉の影響による記録マー
ク長の変動が全く低減できていないか、あるいは熱干渉
の影響による記録マーク長の変動に調整誤差が存在し、
かつ記録特性変動には全く対応できない。特に、熱伝導
が大きい記録媒体を用いる光磁気記録でのマーク長記録
においては、これらの変動成分は大きく、その分の余裕
を設けるため、記録密度を大きく犠牲にせざるを得ない
。
本発明は、記録再生を行おうとしている記録媒体と記録
装置との組合せにおいて、様々な記録パターンを必要に
応じたタイミングで記録媒体上の複数の領域に記録し、
その記録データを再生することで記録特性を測定し、そ
の測定結果から記録パルス間隔調整量に関するデータ表
を作成し、そのデータ表に基づいて、各記録パルス間隔
ごとに、それまでに変換して得られている、直前の複数
個の記録照射光パルス間隔を使用して、パルスの前エツ
ジ、および後エツジの調整量を順次求め、割り当てて記
録照射光パルス間隔とすることで、所望の記録マーク長
、および再生信号のパルス間隔を得ることを特徴とする
。本発明によれば、マーク長記録による高密度記録のた
めの、より正確な記録マークのエツジ位置制御を実現で
きる。
装置との組合せにおいて、様々な記録パターンを必要に
応じたタイミングで記録媒体上の複数の領域に記録し、
その記録データを再生することで記録特性を測定し、そ
の測定結果から記録パルス間隔調整量に関するデータ表
を作成し、そのデータ表に基づいて、各記録パルス間隔
ごとに、それまでに変換して得られている、直前の複数
個の記録照射光パルス間隔を使用して、パルスの前エツ
ジ、および後エツジの調整量を順次求め、割り当てて記
録照射光パルス間隔とすることで、所望の記録マーク長
、および再生信号のパルス間隔を得ることを特徴とする
。本発明によれば、マーク長記録による高密度記録のた
めの、より正確な記録マークのエツジ位置制御を実現で
きる。
記録再生を行おうとしている記録媒体と記録装置との組
合せにおいて、その記録特性を事前に測定して、その結
果に基づいて各記録パルスに対してその直前の記録パタ
ーン列も考慮したパルスの前エツジ、および後エツジの
補正量を逐次割り当てていくことで、記録媒体と記録装
置の組合せの違いによる記録特性の違い、および熱干渉
の影響による記録パターン列が違った場合の記録マーク
長のばらつきを吸収することができる。
合せにおいて、その記録特性を事前に測定して、その結
果に基づいて各記録パルスに対してその直前の記録パタ
ーン列も考慮したパルスの前エツジ、および後エツジの
補正量を逐次割り当てていくことで、記録媒体と記録装
置の組合せの違いによる記録特性の違い、および熱干渉
の影響による記録パターン列が違った場合の記録マーク
長のばらつきを吸収することができる。
また、記録媒体上の異なる領域で測定した複数の記録特
性を利用することで、線速度が異なる場所での記録補正
も行うことができる。
性を利用することで、線速度が異なる場所での記録補正
も行うことができる。
また、装置の使用を開始したとき、および記録媒体を交
換したとき、および一定の時間ごと、あるいは記録膜上
の温度変化、および記録照射光パワーの変化に応じたタ
イミングで上記記録特性の測定を行うことで、経時的に
記録装置側の特性が変化する分も吸収することができる
。
換したとき、および一定の時間ごと、あるいは記録膜上
の温度変化、および記録照射光パワーの変化に応じたタ
イミングで上記記録特性の測定を行うことで、経時的に
記録装置側の特性が変化する分も吸収することができる
。
以上により、マーク長記録による高密度記録での、より
正確な記録マークのエツジ位置制御が可能となる。
正確な記録マークのエツジ位置制御が可能となる。
次に本発明の実施例を図面とともに説明する。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。また、第３図から第１１図までは、第１図中の要素
についてさらに詳しくその構成を示した図である。また
、この構成例では、熱干渉により一カ所の記録マークの
エツジ位置の変動量に影響を与え、エツジ変動量低減の
ために考慮する必要がある記録照射光パルス間隔数が、
記録照射光パルスの対応するエツジタイミング以前の３
個の場合について、説明を行うが１本発明はこれに限定
されない。
る。また、第３図から第１１図までは、第１図中の要素
についてさらに詳しくその構成を示した図である。また
、この構成例では、熱干渉により一カ所の記録マークの
エツジ位置の変動量に影響を与え、エツジ変動量低減の
ために考慮する必要がある記録照射光パルス間隔数が、
記録照射光パルスの対応するエツジタイミング以前の３
個の場合について、説明を行うが１本発明はこれに限定
されない。
第１図において、光ディスク１はスピンドルモータ２に
より一定角速度で回転しており、光ピツクアップ３によ
り記録再生用のレーザ光が絞り込みレンズでディスク１
上の記録膜面に集光される。
より一定角速度で回転しており、光ピツクアップ３によ
り記録再生用のレーザ光が絞り込みレンズでディスク１
上の記録膜面に集光される。
光ピツクアップ３は情報の記録位置に対応してディスク
半径方向に移動できるようになっている。
半径方向に移動できるようになっている。
光ピツクアップ３中の検出器により検出された信号は、
増幅器４により所望のレベルに増幅された後、等化回路
５により、記録面のレーザ光集光位置での光ディスクの
回転線速度に応じて波形の等化が行われる。この後、二
値化回路６によりディジタル信号である再生二値化信号
７に変換される。情報再生時には、この再生二値化信号
７がＰＬＬ （フェーズ・ロック・ループ）回路８によ
りデータ信号とクロック信号とに分離され、復調回路９
により再生データとなる。
増幅器４により所望のレベルに増幅された後、等化回路
５により、記録面のレーザ光集光位置での光ディスクの
回転線速度に応じて波形の等化が行われる。この後、二
値化回路６によりディジタル信号である再生二値化信号
７に変換される。情報再生時には、この再生二値化信号
７がＰＬＬ （フェーズ・ロック・ループ）回路８によ
りデータ信号とクロック信号とに分離され、復調回路９
により再生データとなる。
以上の部分が、マーク長記録方式を採用した光デイスク
システムにおけるデータ再生信号処理系である。この再
生信号処理系以外に、記録特性を検出して記録時のパル
ス間隔調整量、および記録パワーを算出したり更新した
りする記録特性測定モード時と、データ記録時に各セク
タごとのデータの前に記録される記録条件チエツク用の
パターンを用いて、その時の記録パワーや、環境温度な
どの記録条件のチエツクを行う記録条件チエツクモード
時に動作する記録特性測定系がある。この測定系はこの
光デイスクシステム全体の制御を行っているコントロー
ラから指令されて、記録特性測定モード時、および記録
条件チエツクモード時に動作する。
システムにおけるデータ再生信号処理系である。この再
生信号処理系以外に、記録特性を検出して記録時のパル
ス間隔調整量、および記録パワーを算出したり更新した
りする記録特性測定モード時と、データ記録時に各セク
タごとのデータの前に記録される記録条件チエツク用の
パターンを用いて、その時の記録パワーや、環境温度な
どの記録条件のチエツクを行う記録条件チエツクモード
時に動作する記録特性測定系がある。この測定系はこの
光デイスクシステム全体の制御を行っているコントロー
ラから指令されて、記録特性測定モード時、および記録
条件チエツクモード時に動作する。
記録特性測定モードには、パルス幅調整用テーブル作成
モードと記録パワー探索モードの２種類がある。記録特
性測定モード時には、最初に記録パワー探索モードが実
行され、その後にパルス幅調整用テーブル作成モードが
続けて実行される。
モードと記録パワー探索モードの２種類がある。記録特
性測定モード時には、最初に記録パワー探索モードが実
行され、その後にパルス幅調整用テーブル作成モードが
続けて実行される。
この両モードとも、それぞれ専用のテストパターン、お
よび記録パワー探索モートには記録パワーレベルがコン
トローラからレーザドライバ１２に入力され、これらの
信号に対応して光ピツクアップ３内のレーザが変調され
る。そのレーザ光が光ピツクアップ３から光デイスク面
上に集光され、テスト信号が記録される。そして、その
テスト信号に対応する記録マークの再生信号を用いて、
記録特性測定系で特性検出、変更操作が行われる。
よび記録パワー探索モートには記録パワーレベルがコン
トローラからレーザドライバ１２に入力され、これらの
信号に対応して光ピツクアップ３内のレーザが変調され
る。そのレーザ光が光ピツクアップ３から光デイスク面
上に集光され、テスト信号が記録される。そして、その
テスト信号に対応する記録マークの再生信号を用いて、
記録特性測定系で特性検出、変更操作が行われる。
以下、記録特性測定系について説明する。
記録特性測定モード時、および記録条件チエツクモード
時においても、二値化回路６までの動作は通常のデータ
再生時と同じであり、テスト信号に対する再生二値化信
号７が得られる。再生二値化信号７は、エツジタイミン
グ検出回路１３に入力され、ディジタル信号である極性
反転間隔信号１４、およびパルス信号である極性反転タ
イミング信号１５とに変換される。このエツジタイミン
グ検出回路１３は、パルス幅調整用テーブル作成モード
、記録パワー探索モード、および記録条件チエツクモー
ドで同じ動作を行う。極性反転間隔信号１４は、再生二
値化信号７での極性が変わる間隔の長さ情報をディジタ
ル値で表現したものであり、極性反転タイミング信号１
５は、再生二値化信号７の極性が変わるタイミングにパ
ルス状の波形を割り当てたものである。
時においても、二値化回路６までの動作は通常のデータ
再生時と同じであり、テスト信号に対する再生二値化信
号７が得られる。再生二値化信号７は、エツジタイミン
グ検出回路１３に入力され、ディジタル信号である極性
反転間隔信号１４、およびパルス信号である極性反転タ
イミング信号１５とに変換される。このエツジタイミン
グ検出回路１３は、パルス幅調整用テーブル作成モード
、記録パワー探索モード、および記録条件チエツクモー
ドで同じ動作を行う。極性反転間隔信号１４は、再生二
値化信号７での極性が変わる間隔の長さ情報をディジタ
ル値で表現したものであり、極性反転タイミング信号１
５は、再生二値化信号７の極性が変わるタイミングにパ
ルス状の波形を割り当てたものである。
エツジタイミング検出回路１３の８力信号は記録パワー
設定用判定回路１６、およびパルス幅設定用判定回路１
７に入力される。記録パワー設定用判定回路１６は記録
パワー探索モード時、および記録条件チエツクモード時
に、パルス幅設定用判定回路１７はパルス幅調整用テー
ブル作成モード時に動作する。
設定用判定回路１６、およびパルス幅設定用判定回路１
７に入力される。記録パワー設定用判定回路１６は記録
パワー探索モード時、および記録条件チエツクモード時
に、パルス幅設定用判定回路１７はパルス幅調整用テー
ブル作成モード時に動作する。
記録パワー設定用判定回路１６は、各記録パワー設定値
ごとに再生信号のデユーティ （厳密には二値化後の再
生信号に関する立ち上がり一立ち下がり間隔と立ち下が
り一立ち上がり間隔との差の平均値）を算出する。記録
パワー探索モード時にはさらに算出結果と同時にそのデ
ータの記録パワー設定値をレーザドライバ１２に送信し
、レーザドライバ１２ではデユーティが５０％になると
きの記録パワー設定値を設定する。記録条件チエツクモ
ード時にはその結果が一定範囲に入っているかどうかを
調べ、その結果をコントローラに送信する。コントロー
ラではこの信号を受けて一定範囲内でない場合に記録特
性測定モードに入る手続きを行う。
ごとに再生信号のデユーティ （厳密には二値化後の再
生信号に関する立ち上がり一立ち下がり間隔と立ち下が
り一立ち上がり間隔との差の平均値）を算出する。記録
パワー探索モード時にはさらに算出結果と同時にそのデ
ータの記録パワー設定値をレーザドライバ１２に送信し
、レーザドライバ１２ではデユーティが５０％になると
きの記録パワー設定値を設定する。記録条件チエツクモ
ード時にはその結果が一定範囲に入っているかどうかを
調べ、その結果をコントローラに送信する。コントロー
ラではこの信号を受けて一定範囲内でない場合に記録特
性測定モードに入る手続きを行う。
パルス幅設定用判定回路１７は、各パターンごとにエツ
ジ変動量の平均値を算出する。この回路には特性測定用
テストパターンの各パルス間隔情報を含むデータが参照
用データとして内部のＲＯＭに時系列順に並へて記憶さ
れている。極性反転間隔信号１４が受信されるたびに、
この参照用データを用いてエツジ変動量に変換される。
ジ変動量の平均値を算出する。この回路には特性測定用
テストパターンの各パルス間隔情報を含むデータが参照
用データとして内部のＲＯＭに時系列順に並へて記憶さ
れている。極性反転間隔信号１４が受信されるたびに、
この参照用データを用いてエツジ変動量に変換される。
そして、同し記録パターンごとの変換結果の累積値が内
部に記憶される。また、記録媒体の欠陥等による検出信
号のエラーはこの回路内で自動的に検出され、エラーが
起こったことをコントローラに伝えられる。エラーが起
こらなかった場合、極性反転間隔信号１４の受信終了時
点に記憶されている加算結果からエツジ変動量の平均値
が算出され、データ変換回路１７に送信される。
部に記憶される。また、記録媒体の欠陥等による検出信
号のエラーはこの回路内で自動的に検出され、エラーが
起こったことをコントローラに伝えられる。エラーが起
こらなかった場合、極性反転間隔信号１４の受信終了時
点に記憶されている加算結果からエツジ変動量の平均値
が算出され、データ変換回路１７に送信される。
データ変換回路１７はパルス幅調整用テーブル作成モー
ド時に動作する回路で、判定回路１７から送信されたエ
ツジ変動量のデータを基にパルス幅ｍｔｍ用テーブル１
９を作成する。
ド時に動作する回路で、判定回路１７から送信されたエ
ツジ変動量のデータを基にパルス幅ｍｔｍ用テーブル１
９を作成する。
以上、エツジタイミング検出回路１３からデータ変換回
路１７までが光デイスクシステム中の記録特性を検出し
、記録時のパルス間隔調整量、および記録パワーの算出
、更新、および各記録時に記録条件のチエツクを行う回
路系である。
路１７までが光デイスクシステム中の記録特性を検出し
、記録時のパルス間隔調整量、および記録パワーの算出
、更新、および各記録時に記録条件のチエツクを行う回
路系である。
通常の情報記録時には変調回路２０で符号変調されてき
たデータに対し、パルス幅調整回路２１においてパルス
幅調整用テーブル１９を参照しながら各記録パルスごと
にその立ち上がり位置、および立ち下がり位置の調整量
を求め、修正する。
たデータに対し、パルス幅調整回路２１においてパルス
幅調整用テーブル１９を参照しながら各記録パルスごと
にその立ち上がり位置、および立ち下がり位置の調整量
を求め、修正する。
そしてその記録パルスをレーザドライバ回路１２に入力
して、これに対応させて光ピツクアップ３内のレーザを
変調させ、ディスク１上に記録する。
して、これに対応させて光ピツクアップ３内のレーザを
変調させ、ディスク１上に記録する。
第２図は記録特性測定モードで使用される特性検出用テ
ストパターン波形の１例である。第２図（ａ）は記録パ
ワー探索モード用の波形で、マーク長記録に使用される
最短の記録パルス間隔の繰り返しである。そして所定の
繰り返し回数ごとにその記録パワー設定値を徐々に変え
、記録パワーをあげる。この記録パワー変更範囲は、装
置の使用環境が保証範囲内である限り、最適な記録パワ
ー時の信号振幅が含まれるように設定しておく。
ストパターン波形の１例である。第２図（ａ）は記録パ
ワー探索モード用の波形で、マーク長記録に使用される
最短の記録パルス間隔の繰り返しである。そして所定の
繰り返し回数ごとにその記録パワー設定値を徐々に変え
、記録パワーをあげる。この記録パワー変更範囲は、装
置の使用環境が保証範囲内である限り、最適な記録パワ
ー時の信号振幅が含まれるように設定しておく。
一般のデータを記録する時に、通常各セクタごとにデー
タの前に記録する記録条件チエツク用のパターンにもこ
の波形を使用する。ただし、そのときは記録パワー設定
値は既に設定されたまま変化させない。また、この実施
例中では簡単のため、その繰り返し回数も記録パワー探
索時の各記録パワーでの繰り返し回数と一致させておく
。
タの前に記録する記録条件チエツク用のパターンにもこ
の波形を使用する。ただし、そのときは記録パワー設定
値は既に設定されたまま変化させない。また、この実施
例中では簡単のため、その繰り返し回数も記録パワー探
索時の各記録パワーでの繰り返し回数と一致させておく
。
第２図（ｂ）はパルス幅調整用テーブル作成モード用の
波形であり、パルス間隔の長さの連続した３個の組合せ
が異なる複数のパターンが含まれた波形である。通常は
この組合せの数は多いほど正確な記録パルス調整用テー
ブルを作成することができる。パルス幅調整用テーブル
作成モード時にはこのパターンを繰り返して記録し、算
出されるエツジ変動量に関して平均値操作を行い、測定
精度の向上を計る。
波形であり、パルス間隔の長さの連続した３個の組合せ
が異なる複数のパターンが含まれた波形である。通常は
この組合せの数は多いほど正確な記録パルス調整用テー
ブルを作成することができる。パルス幅調整用テーブル
作成モード時にはこのパターンを繰り返して記録し、算
出されるエツジ変動量に関して平均値操作を行い、測定
精度の向上を計る。
なお、ここでは記録パワー探索モート時の特性測定用テ
ストパターンの各記録パワーでのくり返し数を２′Ｇ２
回、記録パワーの刻み数を５２１パルス幅調整用テーブ
ル作成モード時の特性測定用テストパターン−周期中に
含まれるパルス間隔数を８１、その繰り返し記録回数を
２゛Ｃ０回として説明を行う。
ストパターンの各記録パワーでのくり返し数を２′Ｇ２
回、記録パワーの刻み数を５２１パルス幅調整用テーブ
ル作成モード時の特性測定用テストパターン−周期中に
含まれるパルス間隔数を８１、その繰り返し記録回数を
２゛Ｃ０回として説明を行う。
なお第１図において、光ディスク１．スピンドルモータ
２．光ピツクアップ３．増幅器４．二値化回路６．ＰＬ
Ｌ回路８．復調回路９については従来の光デイスク装置
に用いられている構成、機能のもので良く、その詳細説
明は省略する。
２．光ピツクアップ３．増幅器４．二値化回路６．ＰＬ
Ｌ回路８．復調回路９については従来の光デイスク装置
に用いられている構成、機能のもので良く、その詳細説
明は省略する。
以下、その他の構成要素について説明する。
第３図は等化回路５の１構成例を示した図であり、第４
図はその動作を説明した図である。ここではタップ数を
３個にした場合の等化回路について説明する。第３図に
おいて、増幅器４で増幅されたデータ信号は、演算増幅
器による電圧フォロア３０１によって低インピーダンス
の信号に変換され、遅延素子３０２へ入力される。その
前後にある抵抗３０３，３０４は遅延素子３０２の特性
インピーダンスと整合をとるためのものである。
図はその動作を説明した図である。ここではタップ数を
３個にした場合の等化回路について説明する。第３図に
おいて、増幅器４で増幅されたデータ信号は、演算増幅
器による電圧フォロア３０１によって低インピーダンス
の信号に変換され、遅延素子３０２へ入力される。その
前後にある抵抗３０３，３０４は遅延素子３０２の特性
インピーダンスと整合をとるためのものである。
遅延素子３０２で遅延された信号のうち、その中央のタ
ップ位置からの出力信号である中央タップ信号は増幅器
で構成される加算回路３０５に直接入力される。中央の
タップ位置よりも遅延線入力側に近いタップ位置からの
出力はマルチプレクサ３０６によりその中の一つが選択
され、加算反転増幅回路３０７に入力される。同様に中
央のタップ位置よりも遅延線入力側から遠いタップ位置
からの出力はマルチプレクサ３０８によりその中の一つ
が選択され、加算反転増幅回路３０７に入力される。加
算反転増幅回路３０７での増幅率は帰還抵抗３０９の値
をマルチプレクサ３１０により切り替えて可変としてい
る。加算反転増幅回路３０７の出力信号は加算回路３０
５に入力され、等化回路５の出力信号として、二値化回
路６への入力となる。
ップ位置からの出力信号である中央タップ信号は増幅器
で構成される加算回路３０５に直接入力される。中央の
タップ位置よりも遅延線入力側に近いタップ位置からの
出力はマルチプレクサ３０６によりその中の一つが選択
され、加算反転増幅回路３０７に入力される。同様に中
央のタップ位置よりも遅延線入力側から遠いタップ位置
からの出力はマルチプレクサ３０８によりその中の一つ
が選択され、加算反転増幅回路３０７に入力される。加
算反転増幅回路３０７での増幅率は帰還抵抗３０９の値
をマルチプレクサ３１０により切り替えて可変としてい
る。加算反転増幅回路３０７の出力信号は加算回路３０
５に入力され、等化回路５の出力信号として、二値化回
路６への入力となる。
次に、第３図の等化回路５の動作を第４図を用いて説明
する。第４図においてｆ （ｔ）は第３図に示した等化
回路５へ入力されるデータ信号に対応する波形であり、
ここでは理解し易いように孤立の記録マークに対する再
生信号を表している。
する。第４図においてｆ （ｔ）は第３図に示した等化
回路５へ入力されるデータ信号に対応する波形であり、
ここでは理解し易いように孤立の記録マークに対する再
生信号を表している。
一般に光ディスクでは光スポットの大きさが有限のある
大きさを持っていて、記録マークの大きさと比べて無視
できない。そのため、例えば記録膜面上で光スポットの
中心が記録マークのない位置にあっても、光スポットの
端の方が隣接する記録マークの一部分にかかってしまう
場合があり、再生信号の振幅に隣接波形の干渉成分とし
て現れる。
大きさを持っていて、記録マークの大きさと比べて無視
できない。そのため、例えば記録膜面上で光スポットの
中心が記録マークのない位置にあっても、光スポットの
端の方が隣接する記録マークの一部分にかかってしまう
場合があり、再生信号の振幅に隣接波形の干渉成分とし
て現れる。
これが光学的な周波数帯域が低いために発生する符号量
干渉である。また、再生信号検出系の特性も高周波側が
低下しており、符号量干渉の要因となっている。
干渉である。また、再生信号検出系の特性も高周波側が
低下しており、符号量干渉の要因となっている。
これらの符号量干渉は、データ信号ｆ （ｔ）において
サンプリング点ｔ＝ＮＴでの信号振幅の立ち上がり、立
ち下がりが遅いため、その成分が近傍のサンプリング点
ｔ＝（Ｎ−１）Ｔ、（Ｎ＋１）Ｔでも信号振幅として残
るという形で再生信号に現れる。記録マークが複数存在
し、このような波形が重なっている一般の再生波形では
、この符号量干渉は再生信号の振幅劣化を引き起こし１
重畳している雑音の影響などで信号判定を誤り易くして
いる。
サンプリング点ｔ＝ＮＴでの信号振幅の立ち上がり、立
ち下がりが遅いため、その成分が近傍のサンプリング点
ｔ＝（Ｎ−１）Ｔ、（Ｎ＋１）Ｔでも信号振幅として残
るという形で再生信号に現れる。記録マークが複数存在
し、このような波形が重なっている一般の再生波形では
、この符号量干渉は再生信号の振幅劣化を引き起こし１
重畳している雑音の影響などで信号判定を誤り易くして
いる。
第３図の等化回路５はこのような高周波側での特性低下
を補償し、符号量干渉の影響を低減する効果を持つ。第
４図（ａ、）において、遅延素子３０２の出力信号は中
央タップ信号をｆ （ｔ）とした場合、それぞれｆ
（ｔ）を±τだけ遅延させた信号ｆ （を−で）、ｆ（
ｔ＋τ）に当たる。これらの遅延素子３０２の出力信号
は加算反転増幅回路３０７、および加算回路３０５での
信号処理により、 ｆ （ｔ）−Ｋ（ｆ （を−τ）＋ ｆ （を十τ））
の演算を行い、その結果、第４図（ｂ）のような出力信
号が得られている。この信号波形はｆ（ｔ）の波形と比
へて急峻であり、サンプリング点ｔ＝ＮＴでの信号振幅
の影響がその近傍のサンプリング点ｔ＝（Ｎ−１）Ｔ、
（Ｎ＋ｌ）Ｔで小さく抑えられ、符号量干渉の影響を低
減している。
を補償し、符号量干渉の影響を低減する効果を持つ。第
４図（ａ、）において、遅延素子３０２の出力信号は中
央タップ信号をｆ （ｔ）とした場合、それぞれｆ
（ｔ）を±τだけ遅延させた信号ｆ （を−で）、ｆ（
ｔ＋τ）に当たる。これらの遅延素子３０２の出力信号
は加算反転増幅回路３０７、および加算回路３０５での
信号処理により、 ｆ （ｔ）−Ｋ（ｆ （を−τ）＋ ｆ （を十τ））
の演算を行い、その結果、第４図（ｂ）のような出力信
号が得られている。この信号波形はｆ（ｔ）の波形と比
へて急峻であり、サンプリング点ｔ＝ＮＴでの信号振幅
の影響がその近傍のサンプリング点ｔ＝（Ｎ−１）Ｔ、
（Ｎ＋ｌ）Ｔで小さく抑えられ、符号量干渉の影響を低
減している。
第３図に示した等化回路５の特性を決定するパラメータ
として遅延時間でと増幅率Ｋがある。それぞれ遅延時間
ではマルチプレクサ３０６，３０８により、増幅率には
マルチプレクサ３１０によりその値を変化させることが
できる。光ディスクの場合、ディスクの内周側と外周側
とでの線速度の違いにより、光学的な周波数特性が異な
る。すなわち、例えば記録線密度がディスクの内外周で
同じで、記録マーク形状が同一である場合、空間的な周
波数特性は同じであるが線速度が内周側と外周側で違う
ため、時間的な周波数特性は異なる。
として遅延時間でと増幅率Ｋがある。それぞれ遅延時間
ではマルチプレクサ３０６，３０８により、増幅率には
マルチプレクサ３１０によりその値を変化させることが
できる。光ディスクの場合、ディスクの内周側と外周側
とでの線速度の違いにより、光学的な周波数特性が異な
る。すなわち、例えば記録線密度がディスクの内外周で
同じで、記録マーク形状が同一である場合、空間的な周
波数特性は同じであるが線速度が内周側と外周側で違う
ため、時間的な周波数特性は異なる。
実際の多くの場合、記録線密度、記録マーク形状ともデ
ィスク内外周で異なるため、周波数特性は空間的にも時
間的にも異なる。したがって、その最適な等化回路５の
特性もディスク内外周で変化するため、ディスク上のト
ラックアドレスの値により、ディスク半径位置に対して
遅延量τ、増幅率にの設定を行う。この操作により、デ
ィスク半径に関わらず、常に最適に近い等化条件を実現
できる。
ィスク内外周で異なるため、周波数特性は空間的にも時
間的にも異なる。したがって、その最適な等化回路５の
特性もディスク内外周で変化するため、ディスク上のト
ラックアドレスの値により、ディスク半径位置に対して
遅延量τ、増幅率にの設定を行う。この操作により、デ
ィスク半径に関わらず、常に最適に近い等化条件を実現
できる。
以上、ここでは等化回路５のタップ数が３個の場合につ
いて説明したが、この個数はｆ （ｔ）の波形での符号
量干渉の範囲からその影響を十分低減できるように設計
する必要がある。
いて説明したが、この個数はｆ （ｔ）の波形での符号
量干渉の範囲からその影響を十分低減できるように設計
する必要がある。
第５図は第１図におけるエツジタイミング検出回路１３
の１構成例を示した図であり、第６図はその動作を説明
した図である。
の１構成例を示した図であり、第６図はその動作を説明
した図である。
二値化回路６の出力である、再生二値化信号７はインパ
ルス信号発生回路５０１に入力される。
ルス信号発生回路５０１に入力される。
このインパルス信号発生回路５０１は入力信号の極性が
変わるタイミングごとにインパルス状の信号波形を出力
し、この出力信号が極性反転タイミング信号１５として
判定回路１６、およびＡ／Ｄ変換器５０２に入力される
。
変わるタイミングごとにインパルス状の信号波形を出力
し、この出力信号が極性反転タイミング信号１５として
判定回路１６、およびＡ／Ｄ変換器５０２に入力される
。
一方、再生二値化信号７は増幅器で構成される積分回路
５０３にも入力される。また、この積分回路５０３には
再生二値化信号７でのＩＩ ＨＩ＋レベＪｖ ヲＶ Ｈ
１＋１ Ｌ ７１１．ベルをＶｔ、とじたとき−（ＶＨ
＋ＶＬ）／２のレベルを表した積分基準信号５０４も入
力される。そして、この積分回路５０３からは再生二値
化信号７の積分基準信号５０４との差の積分信号５０５
が出力され、Ａ／Ｄ変換器５０２に入力される。
５０３にも入力される。また、この積分回路５０３には
再生二値化信号７でのＩＩ ＨＩ＋レベＪｖ ヲＶ Ｈ
１＋１ Ｌ ７１１．ベルをＶｔ、とじたとき−（ＶＨ
＋ＶＬ）／２のレベルを表した積分基準信号５０４も入
力される。そして、この積分回路５０３からは再生二値
化信号７の積分基準信号５０４との差の積分信号５０５
が出力され、Ａ／Ｄ変換器５０２に入力される。
また、コントローラからの信号である、特性測定モード
信号５０６、および記録条件チエツクモード信号５０７
はＯＲ回路５０８に入力され、その結果がフリップフロ
ップ５０９に入力される。
信号５０６、および記録条件チエツクモード信号５０７
はＯＲ回路５０８に入力され、その結果がフリップフロ
ップ５０９に入力される。
このフリップフロップ５０９には極性判定タイミング信
号１５もクロック信号として入力される。
号１５もクロック信号として入力される。
フリップフロップ５０９の出力は記録特性測定モード、
あるいは記録条件チエツクモードに入ってから最初の再
生二値化信号７の立ち上がりを検知して間隔測定期間を
表す信号としてアナログスイッチ５１０の切り替え端子
に入力される。この信号によって特性側定時以外には、
アナログスイッチ５１０は導通状態となり積分回路５０
３の出力は０に初期化されている。そして特性測定が始
まるとアナログスイッチ５１０は不通状態となり、積分
回路５０３の動作が開始される。
あるいは記録条件チエツクモードに入ってから最初の再
生二値化信号７の立ち上がりを検知して間隔測定期間を
表す信号としてアナログスイッチ５１０の切り替え端子
に入力される。この信号によって特性側定時以外には、
アナログスイッチ５１０は導通状態となり積分回路５０
３の出力は０に初期化されている。そして特性測定が始
まるとアナログスイッチ５１０は不通状態となり、積分
回路５０３の動作が開始される。
Ａ／Ｄ変換器５０２は極性反転タイミング信号１５をデ
ィジタル変換動作を行うタイミング用クロックとして使
用して、入力信号である積分信号５０５をディジタル信
号に変換する。変換結果は極性反転間隔信号１４として
出力され、判定回路１６．１７に入力される。Ａ／Ｄ変
換器５０２の変換精度、すなわち極性反転間隔信号１４
はその値がパルス間隔調整量として用いるだけの十分な
精度を有し、かつオーバーフローが起こらないように、
量子化精度、および各間隔の値を表すための桁数Ｃビッ
ト数）を有する。
ィジタル変換動作を行うタイミング用クロックとして使
用して、入力信号である積分信号５０５をディジタル信
号に変換する。変換結果は極性反転間隔信号１４として
出力され、判定回路１６．１７に入力される。Ａ／Ｄ変
換器５０２の変換精度、すなわち極性反転間隔信号１４
はその値がパルス間隔調整量として用いるだけの十分な
精度を有し、かつオーバーフローが起こらないように、
量子化精度、および各間隔の値を表すための桁数Ｃビッ
ト数）を有する。
次に、第Ｓ図のエツジタイミング検出回路１３の動作を
第６図を用いて説明する。再生二値化信号７は二値化回
路６の出力のディジタル信号であり、記録膜面上の照射
光スポット位置に記録マークが有るか無いかにより、１
″Ｈ”または１１ Ｌ ｙ＋のレベルをとる。この再生
二値化信号７はインパルス信号発生回路５０１を通って
、その極性が変わるタイミングでインパルス波形が割り
当てられた極性反転タイミング信号１５となり、判定回
路１６．１７、Ａ／Ｄ変換器５ｏ２でのトリガ信号、お
よび積分回路５０３の動作開始、終了タイミングを表す
信号を作るのに使用される。
第６図を用いて説明する。再生二値化信号７は二値化回
路６の出力のディジタル信号であり、記録膜面上の照射
光スポット位置に記録マークが有るか無いかにより、１
″Ｈ”または１１ Ｌ ｙ＋のレベルをとる。この再生
二値化信号７はインパルス信号発生回路５０１を通って
、その極性が変わるタイミングでインパルス波形が割り
当てられた極性反転タイミング信号１５となり、判定回
路１６．１７、Ａ／Ｄ変換器５ｏ２でのトリガ信号、お
よび積分回路５０３の動作開始、終了タイミングを表す
信号を作るのに使用される。
特性測定モード信号５０６と記録条件チエツクモード信
号とがＯＲ回路５０８を通った出力信号はこの回路の動
作状態を表すディジタル信号であり、この回路が動作状
態の時に＃（Ｈ１１−それ以外の時に（ｌ Ｌ”のレベ
ルをとる。この信号はフリップフロップ５０７において
極性反転タイミング信号１５を利用して正確な特性測定
期間を求め、その期間積分回路５０３を動作させる。
号とがＯＲ回路５０８を通った出力信号はこの回路の動
作状態を表すディジタル信号であり、この回路が動作状
態の時に＃（Ｈ１１−それ以外の時に（ｌ Ｌ”のレベ
ルをとる。この信号はフリップフロップ５０７において
極性反転タイミング信号１５を利用して正確な特性測定
期間を求め、その期間積分回路５０３を動作させる。
積分回路５０３では再生二値化信号７のパルス間隔が演
算され、出力される。この積分回路５０３は一般にその
入力信号をＸ （ｔ）とした場合、出力信号Ｙ （ｔ）
として Ｙ（ｔ）”ｆ Ｘ（τ）ｄ τ＋Ｙ（０）が得られる
。再生二値化信号７のパルス間隔をＰ工ｌ Ｐ２１ Ｐ
ａｌ・・・・・・、ＰＮで表すと、積分回路５０３の出
力信号レベル■。は極性反転タイミング信号１５での１
番目のパルスが立ち上がる時点では、ｉが偶数の場合、 ■。＝Ａ（−Ｐ、＋Ｐ２−Ｐ、＋・・・・・・−Ｐ＋−
０）ｊが奇数の場合、 ｖ ｏ ＝Ａ（ｐ ｘ ＋ ｐ ｚ ｐ ｘ ＋ ＝
・・−＋ ｐ ＋ −ｚ ）となる。ここで、上式中の
Ａは積分回路５０３の増幅率で決まる定数である。すな
わち、この時点での出力信号レベルは再生二値化信号７
のパルス間隔について“ＨＰ＋レベルを負の値、ＲＬ
Ｐ＋レベルを正の値で表したときのパルス間隔を積算し
た結果を表している。したがって、Ａ／Ｄ変換器５０２
により極性判定タイミング信号１５を用いてその時点の
積分信号レベルをディジタル値に変換し、その変換結果
を極性反転間隔信号１４として判定回路１６に入力して
いる。
算され、出力される。この積分回路５０３は一般にその
入力信号をＸ （ｔ）とした場合、出力信号Ｙ （ｔ）
として Ｙ（ｔ）”ｆ Ｘ（τ）ｄ τ＋Ｙ（０）が得られる
。再生二値化信号７のパルス間隔をＰ工ｌ Ｐ２１ Ｐ
ａｌ・・・・・・、ＰＮで表すと、積分回路５０３の出
力信号レベル■。は極性反転タイミング信号１５での１
番目のパルスが立ち上がる時点では、ｉが偶数の場合、 ■。＝Ａ（−Ｐ、＋Ｐ２−Ｐ、＋・・・・・・−Ｐ＋−
０）ｊが奇数の場合、 ｖ ｏ ＝Ａ（ｐ ｘ ＋ ｐ ｚ ｐ ｘ ＋ ＝
・・−＋ ｐ ＋ −ｚ ）となる。ここで、上式中の
Ａは積分回路５０３の増幅率で決まる定数である。すな
わち、この時点での出力信号レベルは再生二値化信号７
のパルス間隔について“ＨＰ＋レベルを負の値、ＲＬ
Ｐ＋レベルを正の値で表したときのパルス間隔を積算し
た結果を表している。したがって、Ａ／Ｄ変換器５０２
により極性判定タイミング信号１５を用いてその時点の
積分信号レベルをディジタル値に変換し、その変換結果
を極性反転間隔信号１４として判定回路１６に入力して
いる。
Ａ／Ｄ変換器５０２の量子化精度は再生二値化信号のエ
ツジ変動量を検出するのに十分なだけの精度が得られる
よう設計する必要がある。また、この積分信号５０５．
および極性判定間隔信号１４は再生二値化信号７の累積
数を表しているため、この値が常に積分回路５０３で使
用できる範囲、かつＡ／Ｄ変換器５０２で変換できる範
囲に収まるように特性測定用テストパターンを工夫する
方が望ましい。
ツジ変動量を検出するのに十分なだけの精度が得られる
よう設計する必要がある。また、この積分信号５０５．
および極性判定間隔信号１４は再生二値化信号７の累積
数を表しているため、この値が常に積分回路５０３で使
用できる範囲、かつＡ／Ｄ変換器５０２で変換できる範
囲に収まるように特性測定用テストパターンを工夫する
方が望ましい。
第７図は第１図における記録パワー設定用判定回路１６
の１構成例である。この回路にはコントローラから特性
測定モード信号５０６．パワー／パルス幅信号７０１、
および記録条件チエツクモード信号５０７が入力されて
いる。特性測定モード信号５０６は特性測定モード時に
ｒｔ Ｈｐｐレベル、それ以外の時にｔｔＬ”レベルを
示す。パワー／パルス幅信号７０１は記録パワー探索モ
ード時にＨ”レベル、パルス幅調整用テーブル作成モー
ド時に“Ｌ″レベル示す。記録条件チエツクモード信号
５０７は記録条件チエツクモード時に“ＨＩＴレベル、
それ以外の時は“Ｌ”レベルとなる。したがって、これ
らの信号がＡＮＤ回路７０２、およびＯＲ回路７０３を
通った結果は記録パワー探索モード時、および記録条件
チエツクモード時にＬＬ ＨＩＩレベルとなり、そのと
きカウンタ回路７０４．７０５、フリップフロップで構
成されるラッチ回路７０６、およびフリップフロップ７
０７゜７０８のクリアレベルが解除となり、記録パワー
設定用判定回路１６が動作する。
の１構成例である。この回路にはコントローラから特性
測定モード信号５０６．パワー／パルス幅信号７０１、
および記録条件チエツクモード信号５０７が入力されて
いる。特性測定モード信号５０６は特性測定モード時に
ｒｔ Ｈｐｐレベル、それ以外の時にｔｔＬ”レベルを
示す。パワー／パルス幅信号７０１は記録パワー探索モ
ード時にＨ”レベル、パルス幅調整用テーブル作成モー
ド時に“Ｌ″レベル示す。記録条件チエツクモード信号
５０７は記録条件チエツクモード時に“ＨＩＴレベル、
それ以外の時は“Ｌ”レベルとなる。したがって、これ
らの信号がＡＮＤ回路７０２、およびＯＲ回路７０３を
通った結果は記録パワー探索モード時、および記録条件
チエツクモード時にＬＬ ＨＩＩレベルとなり、そのと
きカウンタ回路７０４．７０５、フリップフロップで構
成されるラッチ回路７０６、およびフリップフロップ７
０７゜７０８のクリアレベルが解除となり、記録パワー
設定用判定回路１６が動作する。
エツジタイミング検出回路１３からの極性反転間隔信号
１４のデータが更新されるごとに加算回路７０９により
そのデータと、ラッチ回路７０６の出力データとの和が
計算される。そして極性反転間隔信号１４のデータ更新
時と同じタイミングで送られてくる極性反転タイミング
信号１５が遅延素子７１０を通り、加算回路７０９での
結果が求められたタイミングでラッチ回路７０６にクロ
ック信号として入力される。ラッチ回路７０６ではその
時点で加算結果をラッチし、その結果を次のクロックが
入力されるまで出力信号として保持する。したがってこ
の出力信号はその時点までの極性反転間隔信号１４の累
積結果を表している。
１４のデータが更新されるごとに加算回路７０９により
そのデータと、ラッチ回路７０６の出力データとの和が
計算される。そして極性反転間隔信号１４のデータ更新
時と同じタイミングで送られてくる極性反転タイミング
信号１５が遅延素子７１０を通り、加算回路７０９での
結果が求められたタイミングでラッチ回路７０６にクロ
ック信号として入力される。ラッチ回路７０６ではその
時点で加算結果をラッチし、その結果を次のクロックが
入力されるまで出力信号として保持する。したがってこ
の出力信号はその時点までの極性反転間隔信号１４の累
積結果を表している。
また極性反転間隔信号１４は再生二値化信号７がＩｔ
Ｌ ７ルベルの長さを正、ＩＩ Ｈ１１レベルの長さを
負として表しているので、この累積結果は再生二値化信
号のｍｌ ＨＩ＋レベルの長さと１１ Ｌ Ｉ！レベル
の長さの差の累積値を表している。
Ｌ ７ルベルの長さを正、ＩＩ Ｈ１１レベルの長さを
負として表しているので、この累積結果は再生二値化信
号のｍｌ ＨＩ＋レベルの長さと１１ Ｌ Ｉ！レベル
の長さの差の累積値を表している。
また、遅延素子７１０の出力はカウンタ回路７０４にも
クロック信号として入力される。そしてそのカウント数
がデコーダ回路７１１に入力され、テストパターンの各
パワー設定値ごとの繰り返し回数（正確にはパルス間隔
数）Ｃ□に一致した時点でデコーダ回路７１１の出力が
（ｌ Ｈ７ルベルとなる。この信号はＮＯＴ回路’Ｍ２
．ＡＮＤ回路７１３を通り、ラッチ回路７０６に入力さ
れてその内容がゼロクリアされる。また、ＡＮＤ回路７
１３の出力はカウンタ回路７０５、フリップフロップ７
０７，７０８にもクロック信号として入力される。カウ
ンタ回路７０５ではその出力値が１カウントアツプされ
１次の記録パワー設定値を示す、フリップフロップ７０
７，７０８ではラッチ回路７０６がゼロクリアされる直
前の出力データでの加算回路７０９．減算回路７１４，
７１５の演算結果がラッチされる。
クロック信号として入力される。そしてそのカウント数
がデコーダ回路７１１に入力され、テストパターンの各
パワー設定値ごとの繰り返し回数（正確にはパルス間隔
数）Ｃ□に一致した時点でデコーダ回路７１１の出力が
（ｌ Ｈ７ルベルとなる。この信号はＮＯＴ回路’Ｍ２
．ＡＮＤ回路７１３を通り、ラッチ回路７０６に入力さ
れてその内容がゼロクリアされる。また、ＡＮＤ回路７
１３の出力はカウンタ回路７０５、フリップフロップ７
０７，７０８にもクロック信号として入力される。カウ
ンタ回路７０５ではその出力値が１カウントアツプされ
１次の記録パワー設定値を示す、フリップフロップ７０
７，７０８ではラッチ回路７０６がゼロクリアされる直
前の出力データでの加算回路７０９．減算回路７１４，
７１５の演算結果がラッチされる。
加算回路７０９の出力信号のうちフリップフロップ７０
７に入力されているのはＭ Ｓ Ｂ （ＭｏｓｔＳｉｇ
ｎｉｆｉｃａｎｔ Ｂｉｔ）信号である。この信号は加
算回路７０９の加算結果の符号を表しており、正の時は
ＩＩ Ｌ Ｉｔ、負の時には１１８ ＩＩとなっている
。すなわち、この信号は記録パワー設定値切り替え時か
ら現時点までで、再生二値化信号のｉｉ Ｌ ｕレベル
が“Ｈ”レベルより長い場合ＩＩ Ｌ ｎとなり、＃
ＨＩ＋レベルが１１ Ｌ Ｉｔレベルよりも長いときに
は“Ｈ１１となっている。したがってＡＮＤ回路７１３
の出力信号であるクロック信号によりフリップフロップ
７０７でラッチしたデータが“Ｌ １１の時は再生二値
化信号で１１ Ｌ”レベルの方が“Ｈ”レベルよりも長
く、そのデータの記録パワーが低かったことを意味して
いる。また、逆に（（ＨＩ＋レベルの時はそのときの記
録パワーが高かったことを意味している。したがって記
録パワーを徐々に上げて記録した記録特性測定用テスト
パターンを再生すると途中でこのデータが“Ｌ”から＃
Ｈ１７に切り替わるので、そのときのカウンタ回路７
０５の出力値を最適な記録パワーとして設定する。
７に入力されているのはＭ Ｓ Ｂ （ＭｏｓｔＳｉｇ
ｎｉｆｉｃａｎｔ Ｂｉｔ）信号である。この信号は加
算回路７０９の加算結果の符号を表しており、正の時は
ＩＩ Ｌ Ｉｔ、負の時には１１８ ＩＩとなっている
。すなわち、この信号は記録パワー設定値切り替え時か
ら現時点までで、再生二値化信号のｉｉ Ｌ ｕレベル
が“Ｈ”レベルより長い場合ＩＩ Ｌ ｎとなり、＃
ＨＩ＋レベルが１１ Ｌ Ｉｔレベルよりも長いときに
は“Ｈ１１となっている。したがってＡＮＤ回路７１３
の出力信号であるクロック信号によりフリップフロップ
７０７でラッチしたデータが“Ｌ １１の時は再生二値
化信号で１１ Ｌ”レベルの方が“Ｈ”レベルよりも長
く、そのデータの記録パワーが低かったことを意味して
いる。また、逆に（（ＨＩ＋レベルの時はそのときの記
録パワーが高かったことを意味している。したがって記
録パワーを徐々に上げて記録した記録特性測定用テスト
パターンを再生すると途中でこのデータが“Ｌ”から＃
Ｈ１７に切り替わるので、そのときのカウンタ回路７
０５の出力値を最適な記録パワーとして設定する。
加算回路の出力信号は減算回路７１４，７１５にも入力
される。減算回路７１４．および７１５ではもう一方の
入力信号として記録条件チエンクモート時での許容範囲
の上限、および下限の値が設定されている。したがって
両減算結果のＭＳＢ信号だけをＡＮＤ回路７１６に入力
することで、その出力信号として記録条件チエツクモー
ト時で許容範囲から外れている場合にＩＩ Ｌ Ｉ＋レ
ベルが出力さ九る。この信号はフリップフロップに入力
され、ＡＮＤ回路の出力であるクロック信号が入力され
たとき、すなわち記録条件チエツク用のパターンが終了
した時に判定結果としてラッチされ、コントローラ側に
送られる。コントローラの方でこの信号がｔｌＬ”レベ
ルとなっているのを検品した場合、記録特性測定モード
に入る手続きを行う。
される。減算回路７１４．および７１５ではもう一方の
入力信号として記録条件チエンクモート時での許容範囲
の上限、および下限の値が設定されている。したがって
両減算結果のＭＳＢ信号だけをＡＮＤ回路７１６に入力
することで、その出力信号として記録条件チエツクモー
ト時で許容範囲から外れている場合にＩＩ Ｌ Ｉ＋レ
ベルが出力さ九る。この信号はフリップフロップに入力
され、ＡＮＤ回路の出力であるクロック信号が入力され
たとき、すなわち記録条件チエツク用のパターンが終了
した時に判定結果としてラッチされ、コントローラ側に
送られる。コントローラの方でこの信号がｔｌＬ”レベ
ルとなっているのを検品した場合、記録特性測定モード
に入る手続きを行う。
第８図は第１図におけるパルス幅設定用判定回路１７の
１構成例である。この回路にはコントローラから特性測
定モード信号５０６、およびパワー／パルス幅信号７０
１が入力されている。これらの信号がＮＯＴ回路８０１
、およびＡＮＤ回路８０２を通った結果はパルス幅調整
用テーブル作成モード時に１１ ＨＩＩレベルとなり、
そのときカウンタ回路８０３，８０４、Ｍ−１段のシフ
トレジスタ８０５〜８１０、フリップフロップで構成さ
れるラッチ回路８１１、およびフリップフロップ８１２
．８１３のクリアレベルが解除となり、記録パワー設定
用判定回路１７が動作する。
１構成例である。この回路にはコントローラから特性測
定モード信号５０６、およびパワー／パルス幅信号７０
１が入力されている。これらの信号がＮＯＴ回路８０１
、およびＡＮＤ回路８０２を通った結果はパルス幅調整
用テーブル作成モード時に１１ ＨＩＩレベルとなり、
そのときカウンタ回路８０３，８０４、Ｍ−１段のシフ
トレジスタ８０５〜８１０、フリップフロップで構成さ
れるラッチ回路８１１、およびフリップフロップ８１２
．８１３のクリアレベルが解除となり、記録パワー設定
用判定回路１７が動作する。
エツジタイミング検出回路１３からの極性反転タイミン
グ信号１５はカウンタ回路８０３の入力信号となってお
り、パルス信号が入力されるごとにカウンタ回路８０３
の呂カデータが１増加し、その値がＲＯＭ回路８１４に
アドレス信号として入力される。そしてそのときＲＯＭ
回路８１４からは対応するアドレスのデータが読み出さ
れ、加算回路８１５に入力される。この加算回路８１５
には極性反転タイミング信号１５のパルス信号と同時に
更新された、エツジタイミング検出回路１３からの極性
反転間隔信号１４も入力されており、それらの加算結果
が出力される。
グ信号１５はカウンタ回路８０３の入力信号となってお
り、パルス信号が入力されるごとにカウンタ回路８０３
の呂カデータが１増加し、その値がＲＯＭ回路８１４に
アドレス信号として入力される。そしてそのときＲＯＭ
回路８１４からは対応するアドレスのデータが読み出さ
れ、加算回路８１５に入力される。この加算回路８１５
には極性反転タイミング信号１５のパルス信号と同時に
更新された、エツジタイミング検出回路１３からの極性
反転間隔信号１４も入力されており、それらの加算結果
が出力される。
ＲＯＭ回路８０３には特性測定用テストパターンの″Ｈ
′″レベルの長さを正、ｒｒ Ｌ ｕレベルの長さを負
として、各極性反転位置までの累積値を表すデータがア
ドレス０から順に格納されている。
′″レベルの長さを正、ｒｒ Ｌ ｕレベルの長さを負
として、各極性反転位置までの累積値を表すデータがア
ドレス０から順に格納されている。
すなわち、特性測定用テストパターンのパルス間隔をＴ
□＋ Ｔ２１ Ｔ３＋ ”””＋ ＴＮで表すと、Ｒ
ＯＭ回路８０３のアドレスｉ （ｉ≦Ｍ）のデータＲ
１はｉが偶数の場合。
□＋ Ｔ２１ Ｔ３＋ ”””＋ ＴＮで表すと、Ｒ
ＯＭ回路８０３のアドレスｉ （ｉ≦Ｍ）のデータＲ
１はｉが偶数の場合。
ＲＩ＝Ａ（Ｔ１−Ｔ、＋Ｔ、＋・・・・・＋Ｔｉ−□）
ｉが奇数の場合、 Ｒｌ＝ Ａ （Ｔ□−Ｔ２＋Ｔ、＋・・・・・・−Ｔｔ
−０）となる。また、そのパルス間隔の量子化精度は再
生二値化信号７のパルス間隔を極性反転間隔信号１４に
変換したときの量子化精度と等しい。つまり、上式中の
Ａは積分回路５０３の増幅率で決まる定数Ａと等しい。
ｉが奇数の場合、 Ｒｌ＝ Ａ （Ｔ□−Ｔ２＋Ｔ、＋・・・・・・−Ｔｔ
−０）となる。また、そのパルス間隔の量子化精度は再
生二値化信号７のパルス間隔を極性反転間隔信号１４に
変換したときの量子化精度と等しい。つまり、上式中の
Ａは積分回路５０３の増幅率で決まる定数Ａと等しい。
そこで、例えば記録時と再生時のパルス間隔が等しい、
すなわちＰ□＝Ｔ１、Ｐ、＝Ｔ２．・・・・・・ＰＮ：
ＴＮの場合、ＲＯＭ回路８０３に格納されたアドレスｊ
のデータＲＪ とパルス幅設定用判定回路１７に入力さ
れるＪ番目の極性反転間隔のデータ■。とは符号が違い
、絶対値が等しい関係にある。つまり、加算回路８１５
のに番目の出力は記録パルス、再生二値化信号のパルス
での各先頭のパルスエツジ位置をＯとして、ｋ番目の記
録パルスのエツジ位置とに番目の再生二値化信号のパル
スエツジの位置とのずれ量、すなわちエツジ変動量を表
している。
すなわちＰ□＝Ｔ１、Ｐ、＝Ｔ２．・・・・・・ＰＮ：
ＴＮの場合、ＲＯＭ回路８０３に格納されたアドレスｊ
のデータＲＪ とパルス幅設定用判定回路１７に入力さ
れるＪ番目の極性反転間隔のデータ■。とは符号が違い
、絶対値が等しい関係にある。つまり、加算回路８１５
のに番目の出力は記録パルス、再生二値化信号のパルス
での各先頭のパルスエツジ位置をＯとして、ｋ番目の記
録パルスのエツジ位置とに番目の再生二値化信号のパル
スエツジの位置とのずれ量、すなわちエツジ変動量を表
している。
加算回路８１５の出力信号は加算回路８１６に入力され
、シフトレジスタ８０５〜８１０の出力との加算が行わ
れる。その結果はラッチ回路８１１に入力され、次にシ
フトレジスタ８０５〜８１０に入力される。シフトレジ
スタ８０５〜８１０とラッチ回路８１１とでリング状の
記憶回路（Ｍ段）が構成されており、加算回路８１６に
より、エツジ変動量についてＭ個おきに累積値が計算さ
れ記憶される。パルス幅調整用テーブル作成モードでの
テストパターン−周期中でのパルス間隔数がＭなので、
これにより、同じパターンごとに累積値が計算される。
、シフトレジスタ８０５〜８１０の出力との加算が行わ
れる。その結果はラッチ回路８１１に入力され、次にシ
フトレジスタ８０５〜８１０に入力される。シフトレジ
スタ８０５〜８１０とラッチ回路８１１とでリング状の
記憶回路（Ｍ段）が構成されており、加算回路８１６に
より、エツジ変動量についてＭ個おきに累積値が計算さ
れ記憶される。パルス幅調整用テーブル作成モードでの
テストパターン−周期中でのパルス間隔数がＭなので、
これにより、同じパターンごとに累積値が計算される。
シフトレジスタ８０５〜８１０のクロック信号には極性
反転タイミング信号が、そしてラッチ回路８１１のクロ
ック信号には極性反転タイミング信号が遅延素子８１７
を通った信号が入力され、計算結果が確定するのを待っ
てランチを行う。
反転タイミング信号が、そしてラッチ回路８１１のクロ
ック信号には極性反転タイミング信号が遅延素子８１７
を通った信号が入力され、計算結果が確定するのを待っ
てランチを行う。
加算回路８１５，８１６の演算結果でオーバーフローが
発生した場合、各キャリー信号のレベルが′Ｈ”となる
。これは光ディスク１の欠陥等で記録特性測定用パター
ンが正常に記録できなかった場所を検出した場合に発生
する。この結果はＯＲ回路８１８を通して一方でもオー
バーフローが発生していた場合に測定エラーとして１１
ＨＩＴレベルを発生させる。そして遅延素子８１７の
出力信号をクロック信号としてフリップフロップ８１２
に入力し、データが確定したタイミングでデータをラッ
チしてそのデータをコントローラ側に伝え、エラーが発
生したときに特性測定を中止させる。
発生した場合、各キャリー信号のレベルが′Ｈ”となる
。これは光ディスク１の欠陥等で記録特性測定用パター
ンが正常に記録できなかった場所を検出した場合に発生
する。この結果はＯＲ回路８１８を通して一方でもオー
バーフローが発生していた場合に測定エラーとして１１
ＨＩＴレベルを発生させる。そして遅延素子８１７の
出力信号をクロック信号としてフリップフロップ８１２
に入力し、データが確定したタイミングでデータをラッ
チしてそのデータをコントローラ側に伝え、エラーが発
生したときに特性測定を中止させる。
カウンタ回路８０３の出力はデコーダ回路８１９にも入
力される。デコーダ回路８１９ではカウンタ回路８０３
の出力値がＭ−１になった時点で（Ｌ ＨＩ＋レベルを
出力する。その信号はＮＯＴ回路８２０、およびＡＮＤ
回路８２１を通ってカウンタ回路８０３のクリア信号と
して入力され、特性測定用テストパターンが１周期再生
し終わるたびにカウンタ回路８０３を初期化する。
力される。デコーダ回路８１９ではカウンタ回路８０３
の出力値がＭ−１になった時点で（Ｌ ＨＩ＋レベルを
出力する。その信号はＮＯＴ回路８２０、およびＡＮＤ
回路８２１を通ってカウンタ回路８０３のクリア信号と
して入力され、特性測定用テストパターンが１周期再生
し終わるたびにカウンタ回路８０３を初期化する。
デコーダ回路８１９の出力信号はカウンタ回路８０４に
も入力され、再生した特性測定用テストパターンの周期
数をカウントする。カウンタ回路８０４の出力はデコー
ダ回路８２２に入力され、特性測定用テストパターンが
２ ” Ｃ２−１周期めに入った時にデコーダ回路８２
２からｒｔ ＨＩ＋レベルが出力され、変換開始信号８
２３としてデータ変換回路１８にデータ送信開始を伝え
る。またデータ送信回路１８にデータ送信が開始される
とデータ変換回路１８では同時にパルス幅調整用テーブ
ル１９の更新を開始し、この時点でエラーが発生しても
特性測定を中止させられないため、エラー信号はこの時
点でデコーダ回路８２２の出力をＮＯＴ回路８２４、お
よびＡＮＤ回路８２５によりマスクする。ただし、その
ときにはフリップフロップ８１３、およびセレクタ回路
８２６〜８３１により、エラーを含んだラッチ回路８１
１の出力信号を出力される代わりに、前回までの累積値
を出力するように制御している。この出力信号はエツジ
シフト信号８３２としてデータ変換回路１８に送られる
。
も入力され、再生した特性測定用テストパターンの周期
数をカウントする。カウンタ回路８０４の出力はデコー
ダ回路８２２に入力され、特性測定用テストパターンが
２ ” Ｃ２−１周期めに入った時にデコーダ回路８２
２からｒｔ ＨＩ＋レベルが出力され、変換開始信号８
２３としてデータ変換回路１８にデータ送信開始を伝え
る。またデータ送信回路１８にデータ送信が開始される
とデータ変換回路１８では同時にパルス幅調整用テーブ
ル１９の更新を開始し、この時点でエラーが発生しても
特性測定を中止させられないため、エラー信号はこの時
点でデコーダ回路８２２の出力をＮＯＴ回路８２４、お
よびＡＮＤ回路８２５によりマスクする。ただし、その
ときにはフリップフロップ８１３、およびセレクタ回路
８２６〜８３１により、エラーを含んだラッチ回路８１
１の出力信号を出力される代わりに、前回までの累積値
を出力するように制御している。この出力信号はエツジ
シフト信号８３２としてデータ変換回路１８に送られる
。
また、その転送タイミングとして、セレクタ回路８２６
〜８３１の出力データが確定したタイミング信号８３３
として遅延素子８１７の出力をさらに遅延素子８３４を
通してタイミングを遅らせた信号をつくり、データ変換
回路１８に送信している。
〜８３１の出力データが確定したタイミング信号８３３
として遅延素子８１７の出力をさらに遅延素子８３４を
通してタイミングを遅らせた信号をつくり、データ変換
回路１８に送信している。
第９図は第１図におけるデータ変換回路１８、およびパ
ルス幅調整用テーブル１９の１構成例である。この回路
にはパルス幅設定用判定回路１７から変換開始信号８２
３、エツジシフト信号８３２、およびタイミング信号８
３３が入力されている。
ルス幅調整用テーブル１９の１構成例である。この回路
にはパルス幅設定用判定回路１７から変換開始信号８２
３、エツジシフト信号８３２、およびタイミング信号８
３３が入力されている。
タイミング信号８３３でパルス信号が入力されるごとに
カウンタ回路９０１の出力データが１増加し、その値が
ＲＯＭ回路９０２〜９０４にアドレス信号として入力さ
れる。またこのカウンタ回路９０１の出力信号はデコー
ト回路９０５に入力され、その値が１のとき、すなわち
最初のタイミング信号のパルス波形入力を受けたときだ
けデコード回路９０５の出力は“Ｈ′ルベルとなる。こ
の信号はパルス幅調整用テーブル１９のクリア端子に入
力されており、デコード回路９０５の出力はＩＩ Ｈ＋
＋レベルとなったとき、すなわちテーブル更新がスター
トする時点でテーブルの内容がゼロクリアされる。
カウンタ回路９０１の出力データが１増加し、その値が
ＲＯＭ回路９０２〜９０４にアドレス信号として入力さ
れる。またこのカウンタ回路９０１の出力信号はデコー
ト回路９０５に入力され、その値が１のとき、すなわち
最初のタイミング信号のパルス波形入力を受けたときだ
けデコード回路９０５の出力は“Ｈ′ルベルとなる。こ
の信号はパルス幅調整用テーブル１９のクリア端子に入
力されており、デコード回路９０５の出力はＩＩ Ｈ＋
＋レベルとなったとき、すなわちテーブル更新がスター
トする時点でテーブルの内容がゼロクリアされる。
ＲＯＭ回路９０２には特性測定用テストパターンのパル
ス間隔Ｔ工ｌ Ｔ、、 ”ｒ、、・・・・・・、ＴＮの
値が先頭アドレス＋２（アドレス２）から順に格納され
ている。またＲＯＭ回路９０３にはＴ Ｌ Ｉ Ｔ２１
Ｔ３．・・・・・・＋ＴＮの値が先頭アドレス＋１ （
アドレス１）から順に格納され、ＲＯＭ回路９０４には
Ｔ１．Ｔ２．Ｔ、、・・・・・・、ＴＮの値が先頭アド
レス（アドレスＯ）から順に格納されている。ＲＯＭ回
路９０２のアドレス０，１、およびＲＯＭ回路９０３の
アドレス０にはデータ０が入っている（実際には記録パ
ルス間隔で取り得ない任意の値で良い）。
ス間隔Ｔ工ｌ Ｔ、、 ”ｒ、、・・・・・・、ＴＮの
値が先頭アドレス＋２（アドレス２）から順に格納され
ている。またＲＯＭ回路９０３にはＴ Ｌ Ｉ Ｔ２１
Ｔ３．・・・・・・＋ＴＮの値が先頭アドレス＋１ （
アドレス１）から順に格納され、ＲＯＭ回路９０４には
Ｔ１．Ｔ２．Ｔ、、・・・・・・、ＴＮの値が先頭アド
レス（アドレスＯ）から順に格納されている。ＲＯＭ回
路９０２のアドレス０，１、およびＲＯＭ回路９０３の
アドレス０にはデータ０が入っている（実際には記録パ
ルス間隔で取り得ない任意の値で良い）。
ＲＯＭ回路９０２〜９０３の出力はゲート回路９０６〜
９０７を通ってパルス幅調整用テーブル１９にアドレス
信号として入力される。一方、ＲＯＭ回路９０４の出力
はゲート回路９０８を通ってパルス幅調整用テーブル１
９にデータ信号として入力される。また同じＲＯＭ回路
９０４の出力信号が加算／減算回路９０９に入力され、
パルス幅設定用判定回路１７からのエツジシフト信号８
３２と加算、もしくは減算が行われる。この加算／減算
回路９０９にはカウンタ回路９０１出力信号のＬ Ｓ
Ｂ （Ｌｅａｓｔ ５１ｇｎ１ｆｉｃａｎｔ Ｂｉｔ）
がセレクタ信号として入力される。これはエツジシフト
信号８３２の値が正の時のエツジシフト方向が交互に変
わっているため、ここで１個ごとに加算と減算とを切り
替えてエツジシフト方向を一定にするためである。この
加算／減算回路９０９の出力はゲート回路９１０を通っ
てパルス幅調整用テーブル１９にアドレス信号として入
力されている。グー１−回路９０６〜９０８，９１０は
エツジシフト信号８３２が送信されている最中はＲＯＭ
回路９０２〜９０４、および加算／減算回路９０９から
の信号がこれらの出力信号としてパルス幅調整用テーブ
ル１９に送られる。また、パルス幅調整用テーブル１９
の前エツジ用、後ろエツジ用データを振り分けるために
タイミング信号８３３をＮＯＴ回路９１１．ＡＮＤ回路
９１２，９１３を通して両方のパルス幅調整用テーブル
１９のチップセレクト端子に入力している。
９０７を通ってパルス幅調整用テーブル１９にアドレス
信号として入力される。一方、ＲＯＭ回路９０４の出力
はゲート回路９０８を通ってパルス幅調整用テーブル１
９にデータ信号として入力される。また同じＲＯＭ回路
９０４の出力信号が加算／減算回路９０９に入力され、
パルス幅設定用判定回路１７からのエツジシフト信号８
３２と加算、もしくは減算が行われる。この加算／減算
回路９０９にはカウンタ回路９０１出力信号のＬ Ｓ
Ｂ （Ｌｅａｓｔ ５１ｇｎ１ｆｉｃａｎｔ Ｂｉｔ）
がセレクタ信号として入力される。これはエツジシフト
信号８３２の値が正の時のエツジシフト方向が交互に変
わっているため、ここで１個ごとに加算と減算とを切り
替えてエツジシフト方向を一定にするためである。この
加算／減算回路９０９の出力はゲート回路９１０を通っ
てパルス幅調整用テーブル１９にアドレス信号として入
力されている。グー１−回路９０６〜９０８，９１０は
エツジシフト信号８３２が送信されている最中はＲＯＭ
回路９０２〜９０４、および加算／減算回路９０９から
の信号がこれらの出力信号としてパルス幅調整用テーブ
ル１９に送られる。また、パルス幅調整用テーブル１９
の前エツジ用、後ろエツジ用データを振り分けるために
タイミング信号８３３をＮＯＴ回路９１１．ＡＮＤ回路
９１２，９１３を通して両方のパルス幅調整用テーブル
１９のチップセレクト端子に入力している。
以上によりエツジシフト信号８３２からｉ番目のデータ
が入ってきたとき、そのエツジ変動量をｅｔ （スポ
ット進行方向を正とする）と表すと、パルス幅調整用テ
ーブル１９のアドレス（Ｔ１−２゜Ｔ Ｉ−０，Ｔｔ＋
ｅｌ）にデータＴ、を代入する操作が行われる。したが
って、実際にデータを記録する際に、例えばその記録パ
ターン中にＴニー２１ＴＩ−Ｌ＋Ｔ ｉ ＋ ｅ １な
るパターンが現れた場合にはこのパルス幅調整用テーブ
ル１９のアドレス（Ｔニー２゜Ｔ ｔ −ｘ ＋ Ｔ
ｔ ＋ ｅ Ｉ）を参照して、その位置に格納されでい
るデータＴＩをＴ ｒ ＋ ｅ ｉに変えて記録パルス
間隔として使用する。その結果、記録マークはｅＩだけ
エツジシフトを起こして所望のパルス間隔Ｔ ＋、 ＋
ｅ ｌとなり、エツジシフトの効果をキャンセルする
ことができる。
が入ってきたとき、そのエツジ変動量をｅｔ （スポ
ット進行方向を正とする）と表すと、パルス幅調整用テ
ーブル１９のアドレス（Ｔ１−２゜Ｔ Ｉ−０，Ｔｔ＋
ｅｌ）にデータＴ、を代入する操作が行われる。したが
って、実際にデータを記録する際に、例えばその記録パ
ターン中にＴニー２１ＴＩ−Ｌ＋Ｔ ｉ ＋ ｅ １な
るパターンが現れた場合にはこのパルス幅調整用テーブ
ル１９のアドレス（Ｔニー２゜Ｔ ｔ −ｘ ＋ Ｔ
ｔ ＋ ｅ Ｉ）を参照して、その位置に格納されでい
るデータＴＩをＴ ｒ ＋ ｅ ｉに変えて記録パルス
間隔として使用する。その結果、記録マークはｅＩだけ
エツジシフトを起こして所望のパルス間隔Ｔ ＋、 ＋
ｅ ｌとなり、エツジシフトの効果をキャンセルする
ことができる。
ただし、特性測定用テストパターンのパルス間隔は一般
に全ての場合を含む数だけ用意することは困難であり、
実際にはこのパルス幅調整用テーブル１９の空き領域を
埋めて完成させるために、エツジシフト信号８３２を全
て受信し終わった後にデータ内挿回路９１４を動作させ
る。この回路ではパルス幅調整用テーブル１９の内容が
Ｏの部分をその近傍でＯではないデータを見つけ出して
、内挿計算を行う。その計算が終了した時点でデータ内
挿回路９１４はコントローラに特性測定／パルス幅調整
用テーブル更新操作が完了したことを伝え、記録特性測
定モードが終了する。
に全ての場合を含む数だけ用意することは困難であり、
実際にはこのパルス幅調整用テーブル１９の空き領域を
埋めて完成させるために、エツジシフト信号８３２を全
て受信し終わった後にデータ内挿回路９１４を動作させ
る。この回路ではパルス幅調整用テーブル１９の内容が
Ｏの部分をその近傍でＯではないデータを見つけ出して
、内挿計算を行う。その計算が終了した時点でデータ内
挿回路９１４はコントローラに特性測定／パルス幅調整
用テーブル更新操作が完了したことを伝え、記録特性測
定モードが終了する。
第１０図は第１図におけるパルス幅調整回路２１、およ
びパルス幅調整用テーブル１９の１構成例である。変調
回路２０の出力信号である記録データは符号変調後の符
号ＩＩ Ｉ Ｉ＋と１”の間にある符号″０”の個数を
定数倍したもので、その量子化精度はパルス幅調整用テ
ーブル１９の精度（すなわち、Ａ／Ｄ変換器５０２の変
換精度）と一致させておき、ラッチ回路１００１．１０
０２に入力される。この記録データは、ラッチ回路１０
０１．１００２にはクロック信号が交互に入力されてお
り、データを双方で交互にラッチし、出力している。こ
の出力信号は加算回路１００３゜１００４において、そ
の直前のエツジ位置調整量（スポット進行方向と逆向き
が正）との加算が行われる。この操作で前回のエツジ位
置調整分だけここで長めにパルス間隔をとることで、エ
ツジ位置が変換前と同じ位置に来るようにしている。
びパルス幅調整用テーブル１９の１構成例である。変調
回路２０の出力信号である記録データは符号変調後の符
号ＩＩ Ｉ Ｉ＋と１”の間にある符号″０”の個数を
定数倍したもので、その量子化精度はパルス幅調整用テ
ーブル１９の精度（すなわち、Ａ／Ｄ変換器５０２の変
換精度）と一致させておき、ラッチ回路１００１．１０
０２に入力される。この記録データは、ラッチ回路１０
０１．１００２にはクロック信号が交互に入力されてお
り、データを双方で交互にラッチし、出力している。こ
の出力信号は加算回路１００３゜１００４において、そ
の直前のエツジ位置調整量（スポット進行方向と逆向き
が正）との加算が行われる。この操作で前回のエツジ位
置調整分だけここで長めにパルス間隔をとることで、エ
ツジ位置が変換前と同じ位置に来るようにしている。
そしてこの加算回路１００３，１００４の出力データを
用いてパルス幅調整用テーブル１９を参照して調整後の
パルス間隔を求めている。パルス幅調整用テーブル１９
を参照する際には、同時にラッチ回路１００５，１００
６から前回のパルス間隔（調整後）、ラッチ回路１００
６．１００５から前々回のパルス間隔（調整後）が入力
されて調整後のパルス間隔決定用に用いられている。こ
の出力信号はラッチ回路１００７．１００８でラッチ、
保持される。
用いてパルス幅調整用テーブル１９を参照して調整後の
パルス間隔を求めている。パルス幅調整用テーブル１９
を参照する際には、同時にラッチ回路１００５，１００
６から前回のパルス間隔（調整後）、ラッチ回路１００
６．１００５から前々回のパルス間隔（調整後）が入力
されて調整後のパルス間隔決定用に用いられている。こ
の出力信号はラッチ回路１００７．１００８でラッチ、
保持される。
そして、その出力信号はこの記録パルス幅を実現するた
め、変調回路２０の出力である記録データの量子化精度
を一周期としたクロック信号１００９と共にダウンカウ
ンタ回路１０１０．１０１１にそれぞれ初期値、および
タロツクとして入力される。そして初期値をセントして
からその出力値がＯになるまでの時間が記録パルス間隔
であるので、ＯＲ回路１０１２．１０１３でダウンカウ
ンタ回路１０１０，１０１１の呂力値が０になるのを検
出してＮＡＮＤ回路１０１４、およびフリップフロップ
１０１５で創出力を合成して、パルスを生成してパルス
信号１０１６としてレーザドライバ回路１２に入力して
いる。
め、変調回路２０の出力である記録データの量子化精度
を一周期としたクロック信号１００９と共にダウンカウ
ンタ回路１０１０．１０１１にそれぞれ初期値、および
タロツクとして入力される。そして初期値をセントして
からその出力値がＯになるまでの時間が記録パルス間隔
であるので、ＯＲ回路１０１２．１０１３でダウンカウ
ンタ回路１０１０，１０１１の呂力値が０になるのを検
出してＮＡＮＤ回路１０１４、およびフリップフロップ
１０１５で創出力を合成して、パルスを生成してパルス
信号１０１６としてレーザドライバ回路１２に入力して
いる。
またＯＲ回路の出力はラッチ回路１００１゜１００２．
１００５．１００６にりｏ７り信号トして入力され、次
のデータをラッチするタイミングとしている。またこの
信号は遅延素子１０１７゜１０１８を通してラッチ回路
１００７，１００８にクロック信号として入力され、デ
ータが確定したタイミングでラッチを行っている。また
、テーブル参照前の信号とテーブル参照後の信号の差が
エツジ位置の調整量であり、この値を減算回路１０１９
．１０２０で計算し、加算回路１００４゜１００３に入
力している。
１００５．１００６にりｏ７り信号トして入力され、次
のデータをラッチするタイミングとしている。またこの
信号は遅延素子１０１７゜１０１８を通してラッチ回路
１００７，１００８にクロック信号として入力され、デ
ータが確定したタイミングでラッチを行っている。また
、テーブル参照前の信号とテーブル参照後の信号の差が
エツジ位置の調整量であり、この値を減算回路１０１９
．１０２０で計算し、加算回路１００４゜１００３に入
力している。
以上の回路により、記録データに対して、パルス幅調整
用テーブル１９を参照して、そのパルス間隔をパターン
に応じて逐次調整している。
用テーブル１９を参照して、そのパルス間隔をパターン
に応じて逐次調整している。
第１１図は第１図におけるレーザドライバ回路１２の１
構成例である。この図において半導体レーザ１１０１を
駆動する回路はＮＰＮトランジスタ１１０２．１１０３
で構成される電流スイッチである。
構成例である。この図において半導体レーザ１１０１を
駆動する回路はＮＰＮトランジスタ１１０２．１１０３
で構成される電流スイッチである。
パルス信号１０１６はセレクタ回路１１０４に入力され
る。この回路には入力信号を選択する端子があり、コン
トローラからの信号が入力されて、その出力信号が選択
されている。通常データを記録するときはパルス信号の
方が出力信号として選択される。そして、記録特性測定
モートのときだけもう一方の入力信号である。コントロ
ーラからのパルス幅調整用テストパターン、あるいは記
録パワー探索用テストパターンのパルスが信号出力信号
として選択される。
る。この回路には入力信号を選択する端子があり、コン
トローラからの信号が入力されて、その出力信号が選択
されている。通常データを記録するときはパルス信号の
方が出力信号として選択される。そして、記録特性測定
モートのときだけもう一方の入力信号である。コントロ
ーラからのパルス幅調整用テストパターン、あるいは記
録パワー探索用テストパターンのパルスが信号出力信号
として選択される。
この出力信号はＥＣＬ （エミッタカップル１〜ロジツ
ク）のＡＮＤ回路１１０５に入力される。この回路の非
反転信号、および反転信号はツェナーダイオード１１０
６．１１０７によりレベルシフトした後、電流スイッチ
の構成要素であるトランジスタ１１０２．１１０３のベ
ース端子に入力される。この電流スイッチではトランジ
スタ１１０３がオンになったときトランジスタ１１０８
で設定される電流値の分だけ重畳される。トランジスタ
１１０９は半導体レーザが再生レベルで点灯するだけの
電流を供給するための電流源を構成している。一方トラ
ンジスタ回路１１０８は記録時に重畳される電流を設定
するものであり、Ｄ／Ａ変換器１１１０の出力電圧をト
ランジスタ１１ｏ８のベース端子に印加し、トランジス
タ１１ｏ８のエミッタ端子と電圧−■との間の電位差を
抵抗１１１１の値で割った値の電流が流れる。演算増幅
器１１．１２は電圧フォロアを構成しており、トランジ
スタ１１０８のベース−エミッタ間の電位差のばらつき
を抑圧している。
ク）のＡＮＤ回路１１０５に入力される。この回路の非
反転信号、および反転信号はツェナーダイオード１１０
６．１１０７によりレベルシフトした後、電流スイッチ
の構成要素であるトランジスタ１１０２．１１０３のベ
ース端子に入力される。この電流スイッチではトランジ
スタ１１０３がオンになったときトランジスタ１１０８
で設定される電流値の分だけ重畳される。トランジスタ
１１０９は半導体レーザが再生レベルで点灯するだけの
電流を供給するための電流源を構成している。一方トラ
ンジスタ回路１１０８は記録時に重畳される電流を設定
するものであり、Ｄ／Ａ変換器１１１０の出力電圧をト
ランジスタ１１ｏ８のベース端子に印加し、トランジス
タ１１ｏ８のエミッタ端子と電圧−■との間の電位差を
抵抗１１１１の値で割った値の電流が流れる。演算増幅
器１１．１２は電圧フォロアを構成しており、トランジ
スタ１１０８のベース−エミッタ間の電位差のばらつき
を抑圧している。
記録パワーはＤ／Ａ変換器１１１ｏの入力データにより
決まる。この値はセレクタ回路１１１３＝１１１６によ
りコントローラから設定された値、もしくはフリップフ
ロップ１１１７の出力データの値に設定される。この選
択を行う信号はコントローラから入力されている。通常
のデータ記録時にはセレクタ回路１１１２〜１１１５に
よりフリップフロップ１１１７の出力データの値が選択
され、記録パワー探索モードで特性測定用テストパター
ンを記録するときだけコントローラから設定された値が
選択される。
決まる。この値はセレクタ回路１１１３＝１１１６によ
りコントローラから設定された値、もしくはフリップフ
ロップ１１１７の出力データの値に設定される。この選
択を行う信号はコントローラから入力されている。通常
のデータ記録時にはセレクタ回路１１１２〜１１１５に
よりフリップフロップ１１１７の出力データの値が選択
され、記録パワー探索モードで特性測定用テストパター
ンを記録するときだけコントローラから設定された値が
選択される。
特性測定用テストパターン記録時にはまず、コントロー
ラから設定値１がＤ／Ａ変換器にセットされ、テストパ
ターンを２°Ｃ工回繰り返すごとに設定値を１ずつ増加
させ、徐々に記録パワーをあげていく。そしてその記録
マークを再生し、エツジタイミング検出回路１３、およ
び記録パワー設定用判定回路１６により何番目の記録パ
ワーが最適であったかを求める。その番号をフリップフ
ロップ１１１７に記憶させ、Ｄ／Ａ変換器にセットする
ことで最適な記録パワーの設定が実現する。
ラから設定値１がＤ／Ａ変換器にセットされ、テストパ
ターンを２°Ｃ工回繰り返すごとに設定値を１ずつ増加
させ、徐々に記録パワーをあげていく。そしてその記録
マークを再生し、エツジタイミング検出回路１３、およ
び記録パワー設定用判定回路１６により何番目の記録パ
ワーが最適であったかを求める。その番号をフリップフ
ロップ１１１７に記憶させ、Ｄ／Ａ変換器にセットする
ことで最適な記録パワーの設定が実現する。
最適な記録パワーの番号はＮ Ａ、 Ｎ Ｄ回路１１１
ｇ。
ｇ。
ＯＲ回路１１１９により記録パワー探索モードで記録パ
ワーが確定したときにフリップフロップ１１１６がラッ
チするように、特性測定モード信号５０６．パワー／パ
ルス幅信号７０１．記録パワー設定用判定回路１６中の
フリップフロップ７０７の８力を入力信号として用いて
いる。
ワーが確定したときにフリップフロップ１１１６がラッ
チするように、特性測定モード信号５０６．パワー／パ
ルス幅信号７０１．記録パワー設定用判定回路１６中の
フリップフロップ７０７の８力を入力信号として用いて
いる。
以上が本発明の一実施例についての各構成要素の動作説
明である。この記録パルスエツジ調整量算出方式を用い
ることで、同一記録パルスにおいてその前の記録パター
ンが違うために発生する。
明である。この記録パルスエツジ調整量算出方式を用い
ることで、同一記録パルスにおいてその前の記録パター
ンが違うために発生する。
熱干渉による再生波形でのエツジ位置の変動分をなくす
ことができる。
ことができる。
以上の実施例では記録線速度が一定の場合について説明
した。しかし多くの光ディスクでは回転数一定となって
いるため、実際には記録半径によって線速度が異なり、
記録特性も違ってくる。そして光ディスクの場合、ラン
ダムアクセス性が要求されることを考慮すると、記録特
性測定時にはディスク面上の線速度が異なる複数位置で
特性測定用テストパターンを記録して検出操作を行う必
要があり、そのためにパルス幅調整用テーブル１９は複
数用意しておく。
した。しかし多くの光ディスクでは回転数一定となって
いるため、実際には記録半径によって線速度が異なり、
記録特性も違ってくる。そして光ディスクの場合、ラン
ダムアクセス性が要求されることを考慮すると、記録特
性測定時にはディスク面上の線速度が異なる複数位置で
特性測定用テストパターンを記録して検出操作を行う必
要があり、そのためにパルス幅調整用テーブル１９は複
数用意しておく。
この測定に用いる領域はディスクの内周側、外周側、お
よびその間からなる複数箇所を用いるが、その領域は特
別に設けても、あるいは一般のデータ記録領域でも構わ
ない。後者の場合ですでにその領域に記録データが存在
するときには、他の空き領域を利用するか、もしくはそ
の領域を使用するために該領域に書かれている情報を一
時コントローラ内のメモリなど、別の場所に退避させる
処理を行う。
よびその間からなる複数箇所を用いるが、その領域は特
別に設けても、あるいは一般のデータ記録領域でも構わ
ない。後者の場合ですでにその領域に記録データが存在
するときには、他の空き領域を利用するか、もしくはそ
の領域を使用するために該領域に書かれている情報を一
時コントローラ内のメモリなど、別の場所に退避させる
処理を行う。
パルス幅設定用判定回路１７ではテストパターンごと（
ｌパルス間隔ごとではなく、連続した複数のパルス間隔
の組合せごと）に分類してエツジ変動量の平均値を計算
している。これは再生波形のエツジ位置が記録装置と記
録媒体の組合せ、および線速度以外にさらに熱干渉のた
め該再生波形エツジに対応する記録時のレーザ光パルス
エツジ近傍の記録パルスパターンにも依存しているため
である。
ｌパルス間隔ごとではなく、連続した複数のパルス間隔
の組合せごと）に分類してエツジ変動量の平均値を計算
している。これは再生波形のエツジ位置が記録装置と記
録媒体の組合せ、および線速度以外にさらに熱干渉のた
め該再生波形エツジに対応する記録時のレーザ光パルス
エツジ近傍の記録パルスパターンにも依存しているため
である。
一般にある記録時のレーザパルスエツジに対応する再生
波形のエツジ位置はその直前に記録されたパターンから
の影響が大きい。それに比べ、その後の記録パルスパタ
ーンからの影響は小さく、記録媒体の熱伝導度が極端に
大きい場合や、記録時の線速度が過度に小さく非常に熱
干渉の影響が大きい場合、記録信号のエツジ間隔が極め
て短い場合、および記録マーク形成時点での記録媒体の
磁壁エネルギーの影響が大きい場合を除いてこの影響は
無視できる。
波形のエツジ位置はその直前に記録されたパターンから
の影響が大きい。それに比べ、その後の記録パルスパタ
ーンからの影響は小さく、記録媒体の熱伝導度が極端に
大きい場合や、記録時の線速度が過度に小さく非常に熱
干渉の影響が大きい場合、記録信号のエツジ間隔が極め
て短い場合、および記録マーク形成時点での記録媒体の
磁壁エネルギーの影響が大きい場合を除いてこの影響は
無視できる。
また前述の影響を及ぼす前側の記録パルスパターンの範
囲は主にその長さで規定できる。これは線速度によって
異なり５時間軸で考えると内周はどその範囲は広くなる
が、実際の系ではこの条件が悪い内周側に合わせるか、
もしくは線速度によってその範囲を切り替えてもよい。
囲は主にその長さで規定できる。これは線速度によって
異なり５時間軸で考えると内周はどその範囲は広くなる
が、実際の系ではこの条件が悪い内周側に合わせるか、
もしくは線速度によってその範囲を切り替えてもよい。
また、この範囲は時間の長さとして扱うのは一般的に難
しいため、多少冗長になるが、記録パターンの個数で扱
い、その量を最悪条件、すなわち最小極性反転間隔のパ
ターンが連続した場合の影響個数で決定する方がよい。
しいため、多少冗長になるが、記録パターンの個数で扱
い、その量を最悪条件、すなわち最小極性反転間隔のパ
ターンが連続した場合の影響個数で決定する方がよい。
したがってこの実施例ではこの範囲を記録パターンの個
数を３個とした場合の例について説明した。
数を３個とした場合の例について説明した。
この記録特性測定操作は装置の電源を入れたとき、ディ
スクを交換したとき、および毎データ記録時に行う記録
条件のチエツク時にエラー（すなわち記録条件が設定値
から外れた事）を検出したときに行うように設計する。
スクを交換したとき、および毎データ記録時に行う記録
条件のチエツク時にエラー（すなわち記録条件が設定値
から外れた事）を検出したときに行うように設計する。
また、しばらく記録動作がない場合には定期的にこの操
作を行うように設計した方が望ましい。
作を行うように設計した方が望ましい。
本発明は、書換えが可能であり、その原理が熱を用いた
記録方法である、あらゆる情報記録方式、および記録媒
体にあてはまる記録パワーや記録パルス間隔という記録
条件の制御に関する基本的な方式に関する記述である。
記録方法である、あらゆる情報記録方式、および記録媒
体にあてはまる記録パワーや記録パルス間隔という記録
条件の制御に関する基本的な方式に関する記述である。
特に熱拡散効果が高く、かつ記録条件に敏感、すなわち
記録パワーや環境温度、記録媒体の構成、および記録装
置の特性等のわずかな変化で記録特性の差として現れる
様な記録方式、および記録媒体の場合、記録データの信
頼性を確保する上で有効である。例えば光磁気ディスク
、および交換結合力を利用した、重ね書きが可能な光磁
気ディスク、重ね書きが可能な相変化を利用した光ディ
スクなどにおいて特に有用である。
記録パワーや環境温度、記録媒体の構成、および記録装
置の特性等のわずかな変化で記録特性の差として現れる
様な記録方式、および記録媒体の場合、記録データの信
頼性を確保する上で有効である。例えば光磁気ディスク
、および交換結合力を利用した、重ね書きが可能な光磁
気ディスク、重ね書きが可能な相変化を利用した光ディ
スクなどにおいて特に有用である。
本発明によれば、熱干渉による再生信号のエツジ位置に
関する変動分をなくすことができる。また各記録媒体と
記録装置との組合せが変わる事に必ず、しかも時間の経
過と共にときどきこの記録特性を測定し、更新するため
、常に最適な記録条件を実現しており、マーク長記録を
用いた、より高密度な記録が製作時の厳密な調整なしに
容易に実現でき、しかも記録データに関する信頼性を大
幅に向上させる。
関する変動分をなくすことができる。また各記録媒体と
記録装置との組合せが変わる事に必ず、しかも時間の経
過と共にときどきこの記録特性を測定し、更新するため
、常に最適な記録条件を実現しており、マーク長記録を
用いた、より高密度な記録が製作時の厳密な調整なしに
容易に実現でき、しかも記録データに関する信頼性を大
幅に向上させる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は記録特性測定モードで使用される特性検出用テス
トパターン波形の１例を示す図、第３図は等化回路の１
構成例を示す図、第４図は等化回路の動作説明図、第５
図はエツジタイミング検出回路の１構成例を示す図、第
６図はエツジタイミング検出回路の動作説明図、第７図
は記録パワー設定用判定回路の１構成例を示す図、第８
図はパルス幅設定用判定回路の１構成例を示す図、第９
図はデータ変換回路、およびパルス幅調整用テーブルの
１構成例を示す図、第１０図はパルス幅調整回路、およ
びパルス幅調整用テーブルの１構成例を示す図、第１１
図はレーザドライバ回路の１構成例を示す図である。 １・・光ディスク、２・・・スピンドルモータ、３・・
・光ピンクアップ、４・・・増幅器、５・・等化回路、
６二値化回路、７・・・再生二値化信号、８− Ｐ Ｌ
Ｌ（フェーズ・ロック・ループ）回路、９−復調回路
、１２−・レーザトライバ、１３・・エツジタイミング
検出回路、１４・・極性反転間隔信号、１５極性反転タ
イミング信号、１６ ・記録パワー設定用判定回路、１
７・・パルス幅設定用判定回路、１８・・データ変換回
路、１９・パルス幅調整用テーブル、２０・・変調回路
、２１・・パルス幅調整回路２１，３０１・電圧フォロ
ア、３０２・・遅延素子、３０５−・加算回路、３０６
・マルチプレクサ、３０７・・加算反転増幅回路、３０
８・・・マルチプレクサ、５０１・・・インパルス信号
発生回路５０１゜５０２・・Ａ／Ｄ変換器、５０３・・
・積分回路、５０４積分基準信号、５０５・・・積分信
号、５０６・・特性測定モード信号、５０７・・・記録
条件チエツクモード信号、５０９・・・フリップフロッ
プ、５１０・・・アナログスイッチ、７０トパワ一／パ
ルス幅信号、７０４，７０５・・・カウンタ回路、７０
６・・・ラッチ回路、７０７，７０８・・フリップフロ
ップ、７０９・・加算回路、７１０・・・遅延素子、７
１１・・デコーダ回路、７１４，７１５・・減算回路、
８０３゜８０＝１ ・カウンタ回路、８０５〜８１０・
・シフトレジスタ、８１１−ラッチ回路、８１２，８１
３フリツプフロツプ、８１４・・・ＲＯＭ回路、８１５
゜８１６・加算回路、８１７・・遅延素子、８１９゜８
２２・デコーダ回路、８２３・・・変換開始信号、８２
６〜８３１・・・セレクタ回路、８３２・・・エツジシ
フト信号、８３３・・タイミング信号、８３４・・遅延
素子、９０１・・カウンタ回路、９０２〜９０４ＲＯＭ
回路、９０５・デコード回路、９０６〜９０８．９１０
・ゲート回路、９０９・・加算／減算回路、９１４
・データ内挿回路、１００１゜１００２．１００３〜１
００８・・・ラッチ回路、１００３．１００４−加算回
路、１００９ ・／ｙ ロック信号、１０１０，１ｏｌ
ｌ・・ダウンカウンタ回路、１０１５・・・フリップフ
ロップ、１０１６・・パルス信号、１０１７，１０１８
・・遅延素子、１０１９．１０２０・・減算回路、００
１・・半導体レーザ、１１０２，１１０３，１１０８，
１．１０９・・・トランジスタ、１１ｏ４・・セレクタ
回路、１１．０６゜１１０７・・・ツェナーダイオード
、１１１０・・・Ｄ／Ａ変換器、 ■ １２・・・演算増幅器、 １１３〜 ・・セレクタ回路、 １７・・・フリップフ 図 （λ） （ｂ） ′ハ （ （； １さ 不 図 第 図 位） （ｂ） ■ 図
２図は記録特性測定モードで使用される特性検出用テス
トパターン波形の１例を示す図、第３図は等化回路の１
構成例を示す図、第４図は等化回路の動作説明図、第５
図はエツジタイミング検出回路の１構成例を示す図、第
６図はエツジタイミング検出回路の動作説明図、第７図
は記録パワー設定用判定回路の１構成例を示す図、第８
図はパルス幅設定用判定回路の１構成例を示す図、第９
図はデータ変換回路、およびパルス幅調整用テーブルの
１構成例を示す図、第１０図はパルス幅調整回路、およ
びパルス幅調整用テーブルの１構成例を示す図、第１１
図はレーザドライバ回路の１構成例を示す図である。 １・・光ディスク、２・・・スピンドルモータ、３・・
・光ピンクアップ、４・・・増幅器、５・・等化回路、
６二値化回路、７・・・再生二値化信号、８− Ｐ Ｌ
Ｌ（フェーズ・ロック・ループ）回路、９−復調回路
、１２−・レーザトライバ、１３・・エツジタイミング
検出回路、１４・・極性反転間隔信号、１５極性反転タ
イミング信号、１６ ・記録パワー設定用判定回路、１
７・・パルス幅設定用判定回路、１８・・データ変換回
路、１９・パルス幅調整用テーブル、２０・・変調回路
、２１・・パルス幅調整回路２１，３０１・電圧フォロ
ア、３０２・・遅延素子、３０５−・加算回路、３０６
・マルチプレクサ、３０７・・加算反転増幅回路、３０
８・・・マルチプレクサ、５０１・・・インパルス信号
発生回路５０１゜５０２・・Ａ／Ｄ変換器、５０３・・
・積分回路、５０４積分基準信号、５０５・・・積分信
号、５０６・・特性測定モード信号、５０７・・・記録
条件チエツクモード信号、５０９・・・フリップフロッ
プ、５１０・・・アナログスイッチ、７０トパワ一／パ
ルス幅信号、７０４，７０５・・・カウンタ回路、７０
６・・・ラッチ回路、７０７，７０８・・フリップフロ
ップ、７０９・・加算回路、７１０・・・遅延素子、７
１１・・デコーダ回路、７１４，７１５・・減算回路、
８０３゜８０＝１ ・カウンタ回路、８０５〜８１０・
・シフトレジスタ、８１１−ラッチ回路、８１２，８１
３フリツプフロツプ、８１４・・・ＲＯＭ回路、８１５
゜８１６・加算回路、８１７・・遅延素子、８１９゜８
２２・デコーダ回路、８２３・・・変換開始信号、８２
６〜８３１・・・セレクタ回路、８３２・・・エツジシ
フト信号、８３３・・タイミング信号、８３４・・遅延
素子、９０１・・カウンタ回路、９０２〜９０４ＲＯＭ
回路、９０５・デコード回路、９０６〜９０８．９１０
・ゲート回路、９０９・・加算／減算回路、９１４
・データ内挿回路、１００１゜１００２．１００３〜１
００８・・・ラッチ回路、１００３．１００４−加算回
路、１００９ ・／ｙ ロック信号、１０１０，１ｏｌ
ｌ・・ダウンカウンタ回路、１０１５・・・フリップフ
ロップ、１０１６・・パルス信号、１０１７，１０１８
・・遅延素子、１０１９．１０２０・・減算回路、００
１・・半導体レーザ、１１０２，１１０３，１１０８，
１．１０９・・・トランジスタ、１１ｏ４・・セレクタ
回路、１１．０６゜１１０７・・・ツェナーダイオード
、１１１０・・・Ｄ／Ａ変換器、 ■ １２・・・演算増幅器、 １１３〜 ・・セレクタ回路、 １７・・・フリップフ 図 （λ） （ｂ） ′ハ （ （； １さ 不 図 第 図 位） （ｂ） ■ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、記録媒体上にレーザビームを照射して記録、及び再
生を行う光学的記録再生装置であって、該記録媒体上に
所定のデータパターンを記録し、その記録データに対す
る再生波形の前、および後エッジ位置に関して、書き込
み時のレーザパルスエッジ位置とのずれ量を測定する手
段と、その検出したエッジ位置のずれ量を対応する書き
込み時のレーザパルスエッジまでの、書き込んだレーザ
パルスの高いレベル、および低いレベルの長さに関する
複数の情報列ごとに分類して分布をとる手段と、それら
の分布から各ずれ量における平均値を算出して、エッジ
位置に関する記録特性を測定する手段とを有することを
特徴とするディジタル信号記録再生装置。 ２、測定されたエッジ位置に関する記録特性を、その特
性に関与する連続した複数の記録パルス間隔ごとに、記
録時の記録パルス間隔の調整量に変換し、記録時に参照
するデータ表を作る手段を有することを特徴とする請求
項１に記載のディジタル信号記録再生装置。３、上記デ
ータ表を、記録時の各記録パルス間隔ごとに参照して、
該パルス間隔の調整を行い、その結果を記録照射光パル
スの間隔として用いることで、記録膜上での所望の記録
マーク長、および再生信号での所望のパルス間隔が得ら
れることを特徴とする請求項２に記載のディジタル信号
記録再生装置。 ４、記録時の記録パルス間隔の調整量は該記録パルス間
隔と、前後の記録照射光のパルス間隔の組合せにより、
異なる値とすることを特徴とする請求項３に記載のディ
ジタル信号記録再生装置。 ５、上記エッジ位置に関する記録特性の測定を、線速度
の違う複数の記録領域で行うことを特徴とする請求項１
乃至４のいずれかに記載のディジタル信号記録再生装置
。 ６、上記エッジ位置に関する記録特性の測定は、特性測
定用に各セクタごと、あるいは各トラックごとに設けら
れた領域、または各ディスクごとにあらかじめ設けられ
た特定領域、または任意の記録可能領域で行うことを特
徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載のディジタル
信号記録再生装置。 ７、上記データ表を更新するタイミングは、装置調整時
、および該装置の使用開始時、および該装置が利用可能
となっている時間中の一定時間ごと、あるいは記録媒体
、もしくは装置内の温度、および記録媒体上での記録照
射光パワーが前回の記録特性検出、データ表更新時の状
態からある程度以上変動した事を検出した時、またその
装置中の記録媒体が可換性を有する場合、その記録媒体
の交換時である事を特徴とする請求項２に記載のディジ
タル信号記録再生装置。 ８、上記エッジ位置に関する記録特性変動は情報記録時
ごとにセクタヘッダ部分に記録する記録マークを利用し
、その特定パターンの再生信号について、パルス間隔の
データ表更新時からの変動量をもって判定を行う事を特
徴とする請求項７に記載のディジタル信号記録再生装置
。 ９、上記エッジ位置に関する記録特性変動は情報記録時
ごとの任意の記録マークを利用し、その再生信号につい
て、パルス間隔のデータ表更新時からの変動量をもって
判定を行う事を特徴とする請求項７に記載のディジタル
信号記録再生装置。 １０、上記エッジ位置に関する記録特性の測定結果にお
いて、各分布の広がり量に応じて記録時のレーザパワー
を変更する手段を有することを特徴とする請求項１乃至
９のいずれかに記載のディジタル信号記録再生装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2170052A JP2915098B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | ディジタル信号記録再生装置 |
| US07/764,922 US5418770A (en) | 1990-06-29 | 1991-09-24 | Method of and apparatus for correcting edge interval of pit in optical recording/read-out apparatus |
| US08/087,777 US5642343A (en) | 1990-06-29 | 1992-11-10 | Magnetooptic disc apparatus and recording medium |
| US08/091,003 US5590111A (en) | 1990-06-29 | 1993-07-13 | Method of controlling recording of optical records |
| US08/144,608 US5345434A (en) | 1990-06-29 | 1993-11-01 | Method and apparatus for correcting edge interval of record signal in an optical record/read-out apparatus |
| US08/149,931 US5513165A (en) | 1990-06-29 | 1993-11-10 | Method for controlling the farm of a magnetic domain of a magneto-optical disk using pre-write testing |
| US08/731,243 US5732061A (en) | 1990-06-29 | 1996-10-11 | Recording method using trial write test pattern |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2170052A JP2915098B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | ディジタル信号記録再生装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11003686A Division JP3107076B2 (ja) | 1999-01-11 | 1999-01-11 | ディジタル信号記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0461028A true JPH0461028A (ja) | 1992-02-27 |
| JP2915098B2 JP2915098B2 (ja) | 1999-07-05 |
Family
ID=15897732
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2170052A Expired - Lifetime JP2915098B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | ディジタル信号記録再生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5345434A (ja) |
| JP (1) | JP2915098B2 (ja) |
Cited By (7)
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1993
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|---|---|
| US5345434A (en) | 1994-09-06 |
| JP2915098B2 (ja) | 1999-07-05 |
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